專(zhuān)利名稱(chēng)：：光纖的自動(dòng)測(cè)試和測(cè)量的方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明一般涉及光纖制造的改進(jìn)。更明確的說(shuō)，本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試?yán)p繞在線盤(pán)上光纖的方法和設(shè)備。
背景技術(shù)：
：在當(dāng)前的光纖制造工藝中，光纖一般盤(pán)繞在線盤(pán)上用于測(cè)量和測(cè)試，運(yùn)給用戶(hù)，和隨后在用戶(hù)設(shè)備上的處理。現(xiàn)在，通過(guò)許多技師和用手推著的裝載著許多個(gè)線盤(pán)的手推車(chē)來(lái)往于測(cè)試臺(tái)之間來(lái)用手進(jìn)行光纖的測(cè)量和測(cè)試。在一個(gè)測(cè)試臺(tái)，技師從手推車(chē)上取下線盤(pán)并把線盤(pán)放在測(cè)量架上。技師然后剝?nèi)ス饫w兩端的塑料光纖外層，清除過(guò)多的外層和任何殘留的碎片。技師把光纖端部放入切割機(jī)并切割。然后，技師把光纖端部裝入計(jì)算機(jī)控制的測(cè)量系統(tǒng)并開(kāi)始一個(gè)測(cè)量次序來(lái)測(cè)試光纖的至少一個(gè)參數(shù)，比如，光纖截止波長(zhǎng)，衰減，光纖扭曲，包層直徑，或涂層直徑。然后從測(cè)試系統(tǒng)取下光纖并把線盤(pán)放回手推車(chē)?？梢园葱枰獪y(cè)試手推車(chē)上的所有線盤(pán)或只是選擇的線盤(pán)。接著用手把手推車(chē)推到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)進(jìn)行另一系列測(cè)試。大量的手工勞動(dòng)導(dǎo)致了光纖高的勞動(dòng)成本和更高的制造成本。因此，使光纖測(cè)試和測(cè)量的手工步驟自動(dòng)化將十分有利，它可以減少測(cè)試和測(cè)量區(qū)域需要的時(shí)間從而減小光纖制造的成本并提供更快的光纖制造工序反饋。另外，提供光纖自動(dòng)測(cè)試的方法和設(shè)備也十分有利，它可以減小人為差錯(cuò)幾率并提供重復(fù)性更好的工序。發(fā)明概要本發(fā)明為光纖測(cè)試自動(dòng)化提供了有利的方法和設(shè)備。本發(fā)明包括了一個(gè)自動(dòng)轉(zhuǎn)運(yùn)系統(tǒng)，它把裝在托板架上的光纖線盤(pán)從一個(gè)測(cè)試臺(tái)移到另一個(gè)測(cè)試臺(tái)。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，單一的線盤(pán)由一個(gè)特別設(shè)計(jì)的托板架運(yùn)送，下面會(huì)另外描述托板架的許多有利特點(diǎn)。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，當(dāng)線盤(pán)一到達(dá)該設(shè)備時(shí)，該設(shè)備就自動(dòng)的對(duì)光纖端部剝離，清潔并切割。光纖端部然后被自動(dòng)地放入合適的位置來(lái)進(jìn)行預(yù)定測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，一個(gè)設(shè)備自動(dòng)地獲得光纖的一段樣品并對(duì)樣品的光纖端部剝離，清潔并切割。光纖的一段樣品然后被放入一個(gè)合適的位置以來(lái)進(jìn)行第二個(gè)預(yù)定測(cè)試。那些技術(shù)上的能手將通過(guò)下面的詳細(xì)描述和附圖一起清楚本發(fā)明的這些和其它的特征，方面和優(yōu)點(diǎn)。附圖概述圖1示出了按照本發(fā)明使用的線盤(pán)圖。圖2示出了按照本發(fā)明的托板架的等比例圖。圖3A，3B，3C，3D分別示出了按照本發(fā)明的托板架的頂部，前面，側(cè)面和等比例圖。圖4示出了圖2中的托板架裝載著圖1中的線盤(pán)的等比例圖。圖5示出了按照本發(fā)明的另一個(gè)方面的托板架裝載著圖1中的線盤(pán)的等比例圖。圖6A，6B，6C，6D分別示出了按照?qǐng)D5的托板架的頂部，前面，側(cè)面和等比例圖。圖7示出了圖5中的托板架裝載著圖1中的線盤(pán)的等比例圖。圖8是按照本發(fā)明的光纖自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的全貌圖。圖9是適合用作圖8中系統(tǒng)的準(zhǔn)備臺(tái)的詳細(xì)圖。圖10A是適合用作圖8中系統(tǒng)的光學(xué)時(shí)域反射計(jì)和光學(xué)色散測(cè)試臺(tái)。圖10B是按照本發(fā)明的自動(dòng)執(zhí)行圖10A中光學(xué)時(shí)域反射計(jì)和光學(xué)色散測(cè)試方法的流程圖。圖11A是適合用作圖8中系統(tǒng)的玻璃測(cè)量和截止波長(zhǎng)測(cè)試臺(tái)的詳細(xì)圖。圖11B和圖11C是按照本發(fā)明的自動(dòng)執(zhí)行圖11A中玻璃測(cè)量和截止波長(zhǎng)測(cè)試方法的流程圖。圖12A是適合用作圖8中系統(tǒng)的光纖偏差測(cè)試臺(tái)和涂層幾何測(cè)試臺(tái)的詳細(xì)圖。圖12B是按照本發(fā)明的自動(dòng)執(zhí)行圖12A中光纖偏差測(cè)試和涂層幾何測(cè)試方法的流程圖。圖13A是適合用作圖8中系統(tǒng)的偏振模式色散測(cè)試臺(tái)的詳細(xì)結(jié)構(gòu)圖。圖13B和圖13C是按照本發(fā)明的自動(dòng)執(zhí)行圖13A中偏振模式色散測(cè)試方法的流程圖。圖14示出了適合用作圖8中系統(tǒng)的卸載臺(tái)的詳細(xì)圖。詳細(xì)描述現(xiàn)在引用附圖更詳細(xì)的描述本發(fā)明，示出了本發(fā)明的幾個(gè)現(xiàn)在最好的實(shí)施例。但是，本發(fā)明可以實(shí)施于各種形式而決不局限于這里列出的示范實(shí)施例。相反，這些典型的實(shí)施例被詳細(xì)描述，這樣所揭示的東西將徹底完整，并把范圍，結(jié)構(gòu)，操作，功能和本發(fā)明的潛在應(yīng)用向那些技術(shù)能手充分的展示。在提及的圖中，圖1示出了有利的用于本發(fā)明的線盤(pán)10的頂部圖。線盤(pán)10包括了主桶14和引線器(leadmeter)桶15，它們由外側(cè)凸緣16分開(kāi)。在制造過(guò)程中在主桶14和引線器桶15上纏繞上一段光纖12。在現(xiàn)在較好的實(shí)施例中，比如，線盤(pán)10可以是一個(gè)“單”桶，它在主桶14上纏繞了25公里的光纖，也可以是一個(gè)“雙”桶，它在主桶14上纏繞了50公里的光纖。引線器桶15上纏繞了一段短的光纖12。外側(cè)凸緣16有一個(gè)槽17，它為在引線器桶15和主桶14之間的光纖12提供了一條路徑。如圖1所示，光纖12的外端部12a從主桶14的下側(cè)延伸出來(lái)，且內(nèi)端部12b從引線器桶15內(nèi)側(cè)延伸出來(lái)。光纖12一般包括了塑料涂層13。現(xiàn)在用于本發(fā)明的更好的線盤(pán)10的更為詳細(xì)的描述參見(jiàn)美國(guó)專(zhuān)利應(yīng)用序號(hào)60/115,540，歸檔于1999年1月12日，標(biāo)題是“SystemAndMethodsForProvidingUnder-WrapAccessToOpticalfiberWoundOntoSpools”，在這里合并引用使之完整。圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的第一個(gè)實(shí)施例的托板架50的等比例圖。托板架50適合裝載帶著光纖12的線盤(pán)10，這樣光纖端部12a和12b可用于下面描述的自動(dòng)化光纖測(cè)量系統(tǒng)100的測(cè)試設(shè)備。托板架50包括裝在基板54上的滾筒裝置52的適合裝載線盤(pán)10。滾筒裝置52包括了一對(duì)滾筒56和一對(duì)基座58。在基板54上還裝著垂直支架60和62以及一個(gè)垂直導(dǎo)向滾筒64。如圖3A和圖3C所示，基板54上裝著導(dǎo)向條66。在垂直支架60上旋轉(zhuǎn)地安裝了供給指狀裝置68，拾取裝置70和接合裝置71。裝在拾取裝置70上的是包括了孔眼74的光纖引導(dǎo)72。在垂直支架62上裝著一個(gè)供給指狀裝置76，一個(gè)導(dǎo)向滾筒80和包括了孔眼83的光纖引導(dǎo)81。從圖4中可極好的看到，中間孔84通過(guò)供給指狀裝置68，拾取裝置70和垂直支架60的旋轉(zhuǎn)中心延伸。如圖3D所示，識(shí)別線盤(pán)10的射頻(RF)識(shí)別標(biāo)簽82貼在垂直支架60上。除了識(shí)別線盤(pán)10以外，射頻標(biāo)簽82能夠儲(chǔ)存寫(xiě)在它上的信息，允許射頻標(biāo)簽82在線盤(pán)10通過(guò)系統(tǒng)100時(shí)為它提供傳播數(shù)據(jù)庫(kù)。射頻標(biāo)簽82為單個(gè)測(cè)試臺(tái)提供處理指導(dǎo)并為測(cè)試結(jié)果儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。當(dāng)每個(gè)線盤(pán)10經(jīng)過(guò)系統(tǒng)100的單個(gè)測(cè)試臺(tái)的處理后，每個(gè)測(cè)試結(jié)果寫(xiě)在射頻標(biāo)簽82上。這樣，當(dāng)線盤(pán)10經(jīng)過(guò)每個(gè)合適的測(cè)試臺(tái)處理后，射頻標(biāo)簽82包括了所有進(jìn)行的測(cè)試的測(cè)試結(jié)果。另外，射頻標(biāo)簽82也包括了線盤(pán)10的路線指導(dǎo)，指示了處理線盤(pán)10的測(cè)試臺(tái)。圖4示出了裝載線盤(pán)10的托板架50的圖。為把線盤(pán)10裝上托板架50，一個(gè)操作員手動(dòng)的把線盤(pán)10放上滾筒56并且把光纖內(nèi)端部12b從引線器桶15串過(guò)孔眼74，中心孔84并且送到供給指狀裝置68，這樣端部12b從供給指狀裝置68向外延伸。來(lái)自主桶14的光纖外端部12a首先纏繞過(guò)導(dǎo)向滾筒64，再是導(dǎo)向滾筒80，穿過(guò)孔眼83并送到供給指狀裝置76，這樣外端部12a從供給指狀裝置76向外延伸。這樣，如圖4所示，托板架50為自動(dòng)和手動(dòng)的測(cè)試設(shè)備都提供了對(duì)光纖端部12a和12b的方便的連接。此外，線盤(pán)10和托板架50可以方便的使光纖12從內(nèi)端部12b或外端部12a獨(dú)立的松散開(kāi)，或從從內(nèi)端部12b和外端部12a同時(shí)松散開(kāi)而不弄亂另一端。這使自動(dòng)和手動(dòng)的測(cè)試設(shè)備都可以從光纖端部12a和12b的一個(gè)或兩個(gè)中容易的取得光纖的樣品。光纖端部12a和12b也可以方便的使用并拉向或引向測(cè)試臺(tái)，允許光纖12纏繞在線盤(pán)10上被測(cè)試。接合裝置71包括了與線盤(pán)10強(qiáng)迫接觸的至少一個(gè)輪子150。接合裝置71上的輪子150沿一個(gè)方向旋轉(zhuǎn)，這使光纖沿光纖端部12b被拉出，在這里用箭頭151指示方向。當(dāng)光纖12從外端部12a散開(kāi)時(shí)，線盤(pán)10沿逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)(如圖4所示的箭頭85)并分出光纖12。因?yàn)榻雍涎b置71的輪子150沒(méi)有沿箭頭151指示方向的相反方向旋轉(zhuǎn)，由線盤(pán)10逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的力導(dǎo)致了接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68沿供給指狀裝置68的中心孔84的軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。旋轉(zhuǎn)阻止了光纖12的內(nèi)端部12b從線盤(pán)10移開(kāi)。當(dāng)光纖12的外端部12b從線盤(pán)散開(kāi)時(shí)，由光纖導(dǎo)向孔眼74提供的對(duì)光纖12內(nèi)端部12b的張力對(duì)光纖導(dǎo)向74施加了逆時(shí)針的力，導(dǎo)致了接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68與線盤(pán)10同步旋轉(zhuǎn)。換言之，當(dāng)通過(guò)沿外端部12a散開(kāi)的光纖12使線盤(pán)10逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，通過(guò)光纖導(dǎo)向72的孔眼74的從線盤(pán)10中延伸的光纖12把接合裝置71，拾取裝置70，和供給指狀裝置68連同旋轉(zhuǎn)的線盤(pán)10一起牽引。當(dāng)光纖12從內(nèi)端部12b散開(kāi)時(shí)，接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)(如箭頭85所示)，導(dǎo)致了輪子150沿箭頭151指示的方向旋轉(zhuǎn)，從而在線盤(pán)10保持固定時(shí)把光纖12從引線器桶15移出，并防止光纖12在外端部12a從線盤(pán)10松開(kāi)。當(dāng)光纖12從內(nèi)端部12b散開(kāi)時(shí)，線盤(pán)10的重量防止了線盤(pán)10旋轉(zhuǎn)。通過(guò)光纖導(dǎo)向孔眼74牽引著光纖12產(chǎn)生的張力對(duì)光纖導(dǎo)向72，和接合裝置71，拾取裝置70以及供給指狀裝置68施加了逆時(shí)針的力，并在光纖12沿供給指狀裝置68牽引時(shí)，導(dǎo)致了這些組件沿逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。做為選擇，同時(shí)簡(jiǎn)單的拉光纖的兩端能夠從線盤(pán)10中把光纖同時(shí)拉出。圖5示出了按照本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施例的托板架90的等比例圖。因?yàn)樵S多組件是以第一個(gè)實(shí)施例的相同方式布置的，所以用相似的參考數(shù)值來(lái)標(biāo)明兩個(gè)實(shí)施例共同的元件。托板架90適用于裝載帶有光纖12的線盤(pán)10，這樣光纖端12a和12b可用于上述的系統(tǒng)20的測(cè)試裝置。托板架90包括了安裝在基座54上適用于裝載線盤(pán)10的滾筒裝置52。滾筒裝置52包括了一對(duì)滾筒56和一對(duì)基板58。在基座54上安裝了垂直支架60和62。如圖6A和6C所示，基座54上還安裝了垂直支架92。如圖5所示，在垂直支架60上旋轉(zhuǎn)地安裝了供給指狀裝置68，拾取裝置70和接合裝置71。安裝到拾取裝置70上的是包括了孔眼74的光纖導(dǎo)向72。在垂直支架62上安裝了供給指狀裝置76和包括了孔眼83的光纖導(dǎo)向81。如圖6B所示，在垂直支架92上安裝了包括孔眼95的光纖導(dǎo)向94和包括了孔眼97的光纖導(dǎo)向96。中心孔84延伸至供給指狀裝置68，拾取裝置70和垂直支架60的旋轉(zhuǎn)中心。如圖6D所示，在垂直支架60上放置了鑒別線盤(pán)10的射頻識(shí)別標(biāo)簽82。除了鑒別線盤(pán)10之外，射頻標(biāo)簽82能夠儲(chǔ)存寫(xiě)在它上的信息，允許射頻標(biāo)簽82在線盤(pán)10通過(guò)系統(tǒng)20時(shí)提供線盤(pán)10的行進(jìn)數(shù)據(jù)庫(kù)。射頻標(biāo)簽82為獨(dú)立的測(cè)試臺(tái)提供處理指示并儲(chǔ)存測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)。當(dāng)每一個(gè)線盤(pán)10經(jīng)過(guò)系統(tǒng)20的各個(gè)測(cè)試臺(tái)處理后，測(cè)試結(jié)果寫(xiě)在射頻標(biāo)簽82上。射頻標(biāo)簽82也包括了線盤(pán)10的路線指示，指示了需要處理線盤(pán)10的測(cè)試臺(tái)。圖7示出了裝載著線盤(pán)10的托板架90。為了把線盤(pán)10裝上托板架90，一個(gè)操作員用手把線盤(pán)10放在滾筒56上并且使光纖的內(nèi)端部12b通過(guò)孔眼74，中心孔84和供給指狀裝置68，這樣端部12b延伸到供給指狀裝置68的外側(cè)。光纖的外端部12a分別通過(guò)孔眼97，95和83，然后通過(guò)供給指狀裝置76，這樣端部12a延伸至供給指狀裝置76的外面。因此，如圖5和7所示，托板架90為自動(dòng)和手動(dòng)的測(cè)試設(shè)備都提供了與光纖的光纖端部12a和12b的方便的接口。另外，線盤(pán)10和托板架90允許光纖12方便地從內(nèi)端部12b或外端部12a的一邊松開(kāi)，或從內(nèi)端部12b和外端部12a同時(shí)松開(kāi)而不使另一端弄亂。當(dāng)光纖從外端部12a松開(kāi)時(shí)，線盤(pán)沿逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)并發(fā)送光纖(如圖7箭頭85所示)。當(dāng)線盤(pán)沿逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)時(shí)，接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68也沿逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)，防止光纖12離開(kāi)供給指狀裝置68。當(dāng)光纖12從外端部12a松開(kāi)時(shí)，由光纖導(dǎo)向74支持的在光纖12的內(nèi)端部12b上的張力施加了一個(gè)逆時(shí)針的力在光纖導(dǎo)向74上，導(dǎo)致了接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68與線盤(pán)10同步旋轉(zhuǎn)。換言之，由于光纖12從外端部12a松開(kāi)而導(dǎo)致的線盤(pán)10沿逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，光纖12通過(guò)光纖導(dǎo)向74從線盤(pán)10中延伸出來(lái)，將接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68連同旋轉(zhuǎn)的線盤(pán)10一起牽引。當(dāng)光纖12從內(nèi)端部12b松開(kāi)時(shí)，接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68沿逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)來(lái)使光纖12在線盤(pán)10保持固定時(shí)從引線器桶15中離開(kāi)，并防止光纖12在外端部12a從線盤(pán)10松開(kāi)。由光纖導(dǎo)向74支持的在光纖12上的張力施加了一個(gè)逆時(shí)針的力(如箭頭85所示)在接合裝置71，拾取裝置70和供給指狀裝置68上，導(dǎo)致了這些元件在光纖12從供給指狀裝置68中被拉出時(shí)沿逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。在光纖12從內(nèi)端部12b松開(kāi)時(shí)，線盤(pán)10的重量防止了線盤(pán)10旋轉(zhuǎn)。圖8示出了根據(jù)本發(fā)明的光纖自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)100的全貌圖。系統(tǒng)100可以適宜的包括一個(gè)裝載臺(tái)102和一個(gè)自動(dòng)準(zhǔn)備臺(tái)104以準(zhǔn)備儲(chǔ)藏在光纖儲(chǔ)藏線盤(pán)里的一段光纖的兩端。比如，這樣一個(gè)線盤(pán)可以是一個(gè)桶裝儲(chǔ)藏線盤(pán)或一個(gè)實(shí)際的光纖運(yùn)送線盤(pán)。這里使用的運(yùn)送線盤(pán)指的是容納了一段光纖的線盤(pán)或卷軸并被運(yùn)送給顧客。系統(tǒng)100還包括了一個(gè)光學(xué)時(shí)域反射計(jì)(OTDR)和一個(gè)光學(xué)色散測(cè)試臺(tái)106，一個(gè)玻璃幾何測(cè)量和一個(gè)光纖截止波長(zhǎng)測(cè)試臺(tái)108，一個(gè)光纖偏差和一個(gè)光纖涂層幾何測(cè)試臺(tái)110，一個(gè)偏振模式色散(PMD)測(cè)試臺(tái)112，一個(gè)視覺(jué)檢查臺(tái)114和一個(gè)卸載臺(tái)116。在這里揭示了目前較好的光纖測(cè)試和測(cè)試臺(tái)后，一個(gè)工藝上的能手將清楚本發(fā)明可以用于更少的或更多的測(cè)試和測(cè)試臺(tái)，而不能解釋為僅限于這里描述和示出的測(cè)試和測(cè)試臺(tái)。自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)100包括了一個(gè)運(yùn)送系統(tǒng)118，它把裝載帶有光纖12的線盤(pán)10的托板架50或90在測(cè)試臺(tái)之間傳送。一個(gè)局域程序邏輯控制器(PLC)121控制了裝載臺(tái)102，準(zhǔn)備臺(tái)104，視覺(jué)檢查臺(tái)114和卸載臺(tái)116的操作。如下面另外所述，附加局域PLCs可以用于控制其它臺(tái)的操作。下面另外討論適于向放置在托板架50或90的RF標(biāo)簽82讀和/或?qū)懙亩鄠€(gè)RF裝置，它們位于鄰接傳送系統(tǒng)118的多個(gè)位置上。經(jīng)過(guò)局域PLCs從RF標(biāo)簽82上讀取的指示控制了托板架50或90通過(guò)傳送系統(tǒng)118的進(jìn)程。為了開(kāi)始進(jìn)程，線盤(pán)10被裝載在托板架50或90上，光纖端部12a和12b被放置在容易接入如上所述的系統(tǒng)100的各個(gè)測(cè)試臺(tái)的位置上。如圖8所示，在裝載臺(tái)102的傳送系統(tǒng)118的托板架50或90上裝載了線盤(pán)。傳送系統(tǒng)118然后將托板架50或90移到準(zhǔn)備臺(tái)104。如圖9所示，準(zhǔn)備臺(tái)104包括了用于剝?nèi)ス饫w保護(hù)涂層的剝離裝置130和光纖的光纖涂層被剝離后用于清潔光纖的清潔裝置132。剝離裝置和清潔裝置較適宜通過(guò)氣動(dòng)控制技術(shù)操作，這些裝置的較適宜的操作是在局域PLC121的控制下(如圖8所示)。另外，當(dāng)托板架50或90被準(zhǔn)備臺(tái)104處理時(shí)，PLC121控制了托板架50或90的移動(dòng)。在PLC121放置好托板架50或90并使端部12a鄰接裝置130后，剝離裝置130進(jìn)行操作，它先在端部12a下面移動(dòng)，然后升起并圍繞著端部12a定位。一個(gè)輔助光纖夾(沒(méi)有顯示)用于夾住并保持控制端部12a在剝離裝置130和托板架50或90之間。然后剝離裝置130包圍住端部12a并相對(duì)托板架方向后退并使包層13從端部12a上剝離。剝離裝置也包括了一個(gè)光纖切割裝置，它能夠在光纖進(jìn)行粗糙的切割來(lái)獲得延伸來(lái)自供給指狀裝置的所需長(zhǎng)度的光纖。比如，在一個(gè)實(shí)施例中，從供給指狀裝置延伸出大約10cm的光纖，其中大約5cm是保護(hù)涂層被剝?nèi)サ墓饫w。然后一個(gè)真空管道把這些涂層碎片吸入中央真空系統(tǒng)。這里使用的移去保護(hù)聚合物的光纖剝離裝置能夠是常規(guī)的光纖剝離裝置，比如它用于MillerRipleyCompany，MillerDivision，Cromwell，Conn，USA。這里使用的較適宜的剝離裝置連接著可由計(jì)算機(jī)控制的氣動(dòng)閥以來(lái)控制剝離裝置的操作。使用能夠在光纖上進(jìn)行粗切割的常規(guī)切刀能夠進(jìn)行光纖切割。托板架50或90然后向前移動(dòng)這樣端部12a鄰接清潔裝置132。清潔裝置132開(kāi)動(dòng)并從光纖端部12a移去任何的碎片。裝置132可以包括一個(gè)清潔頭，它包括了帶有兩臂的夾鉗裝置，兩臂帶有氈或海綿墊或可選擇基于聚亞胺酯的開(kāi)室泡沫材料。首先，一根針在墊子上噴上酒精以使它們變濕。接著，夾鉗向前靠住光纖端部12a，而酒精弄濕的墊子則接近光纖端部12a，然后夾鉗從托板架50或90向后拉，從而清潔了光纖端部12a。接著夾鉗較適宜地旋轉(zhuǎn)90°再進(jìn)行清潔步驟。接著PLC121把托板架50或90放在使端部12b鄰近剝離裝置130的位置上。然后對(duì)端部12b重復(fù)進(jìn)行剝離，切割和清潔步驟?；蜻x擇手工剝離涂層13并清潔光纖。剝離和切割裝置130和清潔裝置132較適宜放在這樣的位置而使得當(dāng)光纖的一段被剝離并切割到需要的長(zhǎng)度時(shí)，光纖的另一端可以得到清潔。自動(dòng)剝離臺(tái)，切割臺(tái)和清潔臺(tái)的重要意義在于，這是第一次一根光纖可以不通過(guò)操作者的任何手工動(dòng)作來(lái)自動(dòng)準(zhǔn)備測(cè)試，此測(cè)試包括了去除保護(hù)復(fù)合物涂層和切割光纖末端。在圖8中的實(shí)施例示出了，在每個(gè)光纖端部12a和12b的適宜的長(zhǎng)度被剝離，切割和清潔后，托板架50或90傳送到測(cè)試臺(tái)106。不過(guò)，托板架或者可以被選擇運(yùn)送到一個(gè)需要的可選擇的測(cè)試臺(tái)。如圖10A所示，OTDR和光學(xué)色散測(cè)試臺(tái)106包括了切割裝置140，切斷裝置142，光纖校正器144和光纖丟棄裝置146。本發(fā)明適合使用的一個(gè)光纖校正器是Model1100單光纖校正器(PKTechnologyInc.，Beaverton，Oregon97008).測(cè)試臺(tái)106包括了一個(gè)OTDR測(cè)試器148和一個(gè)光學(xué)色散測(cè)試臺(tái)150，它們都與光纖校正機(jī)144光纖耦合并由一個(gè)或更多的計(jì)算機(jī)154控制。測(cè)試臺(tái)106還包括了與計(jì)算機(jī)154通信相連的一個(gè)局域PLC152，一個(gè)RF標(biāo)簽讀取裝置160和一個(gè)RF標(biāo)簽寫(xiě)入裝置162。一個(gè)光纖夾鉗156和安裝在隨動(dòng)滑片158上并由局域PLC152控制。由局域PLC152控制包括了計(jì)算機(jī)154的測(cè)試臺(tái)106的操作。圖10B示出了使用圖10A中顯示的測(cè)試臺(tái)106的自動(dòng)進(jìn)行OTDR和光學(xué)色散測(cè)試的方法概貌170。在第一步171中，RF標(biāo)簽讀取裝置160讀取RF鑒別標(biāo)簽52，決定了線盤(pán)10的路線指示和處理指示。在第二步172中，PLC決定了是否路線指示指明了需要由測(cè)試臺(tái)106處理線盤(pán)10。如果局域PLC152決定了不由測(cè)試臺(tái)106處理線盤(pán)，在步驟173中，托板架50或90移動(dòng)到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。如果局域PLC152決定由測(cè)試臺(tái)106處理線盤(pán)，在步驟174中，托板架50或90移動(dòng)到鄰近隨動(dòng)滑片158處，如圖10所示。使用夾鉗156夾住光纖的端部。適合用作夾鉗156的鉗子被稱(chēng)作光學(xué)光纖鉗，它可采用EG&GFiberOptics，Wokingham，Berge，Unitedkingdom，或被采用PKTechnologysInc.，BeavertonOregon，USA.光纖鉗156在這里有一個(gè)較適宜的V型槽，平行這個(gè)方向在夾鉗了插入光纖，并由夾鉗夾住光纖。較適宜由氣動(dòng)控制方法控制夾鉗的打開(kāi)和閉合。由隨動(dòng)滑片158將夾鉗156移向端部12a和12b，在那里夾鉗156用于固定光纖端部12a和12b。在步驟175中，隨動(dòng)滑片158移動(dòng)夾鉗156把光纖端部固定在切割裝置142上，在那里光纖端部12a，12b將被截取即精確切割，留下了從每個(gè)夾鉗156中突出的預(yù)定長(zhǎng)度的光纖12。切割裝置最好能夠在一個(gè)將產(chǎn)生一個(gè)適于光纖耦合的切割平面的方法中切割光纖，比如它能耦合到這里所述的測(cè)試裝置。使用諸如德國(guó)Seimens產(chǎn)的光纖切割裝置能夠完成這樣的切割。更宜以氣動(dòng)計(jì)算機(jī)控制裝置控制這些光纖切割裝置。在完成了光學(xué)質(zhì)量的切割后，在步驟176中隨動(dòng)滑片158移動(dòng)夾鉗156到光纖校正器144，把適宜長(zhǎng)度的光纖端部12a，12b插入光纖校正器144。接著在步驟178中，計(jì)算機(jī)154控制了與上述的光纖校正器144光學(xué)連接的OTDR測(cè)試器148來(lái)測(cè)試光纖12。OTDR測(cè)試器148提供了對(duì)光纖12在一個(gè)選定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光纖衰減的測(cè)量。在預(yù)先選定范圍內(nèi)的多個(gè)波長(zhǎng)上都可以進(jìn)行OTDR衰減測(cè)量。分析所測(cè)量的衰減可以產(chǎn)生一條代表衰減的曲線，也就是，在所選波長(zhǎng)范圍的光譜衰減。接著，在步驟180中，計(jì)算機(jī)154控制了光學(xué)色散測(cè)試機(jī)150，它與上面所述的光纖校正器144光學(xué)連接來(lái)測(cè)試光纖12。光纖色散測(cè)試在光信號(hào)于光纖12中傳播時(shí)進(jìn)行光信號(hào)的變形測(cè)量。接著在步驟182中，使用光纖丟棄裝置146夾住光纖端部12a和12b，切割裝置156切割光纖12的剝皮端12a和12b，而光纖丟棄裝置146則把危害測(cè)試區(qū)域的光纖段移開(kāi)。光纖丟棄裝置146使用安裝在一根棒上的夾鉗夾住危害的光纖段并把它們移到一個(gè)碎片槽中?？梢赃x擇使用一個(gè)安裝或移動(dòng)到距離光纖碎片足夠近的位置的吸塵器移開(kāi)光纖碎片。下面，在步驟184中，用RF標(biāo)簽寫(xiě)入裝置162較適宜的把OTDR的結(jié)果和光纖色散測(cè)試的結(jié)果寫(xiě)在RT鑒別標(biāo)簽52上。然后傳送器118把托板架50或90傳送到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。如圖11A所示，玻璃幾何測(cè)量和截止波長(zhǎng)測(cè)試臺(tái)108包括了放在調(diào)度滑片202上的光纖鉗200，一個(gè)切割裝置204和一個(gè)光纖丟棄裝置206。測(cè)試臺(tái)208還包括了安裝在調(diào)度盤(pán)210上的心軸208a，208b，208c和208d。在每一個(gè)心軸208a，208b，208c和208d上安裝了位于伸展臂215(a)和215(b)的光纖夾鉗212，213。在滑片220上安裝了一個(gè)剝離裝置214，一個(gè)清潔裝置216和一個(gè)切割裝置218。截止波長(zhǎng)測(cè)試器222和玻璃測(cè)量測(cè)試器224與一個(gè)視頻對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)226通信連接。測(cè)試臺(tái)108還包括了RF標(biāo)簽讀取裝置232和RF標(biāo)簽寫(xiě)入裝置234。測(cè)試臺(tái)108的操作包括了由局域PLC228控制的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)230。圖11B和11C示出了使用如圖11A所示的測(cè)試臺(tái)108的自動(dòng)進(jìn)行玻璃測(cè)量和截止波長(zhǎng)測(cè)試的方法250。在第一步251中，RF標(biāo)簽讀取裝置232讀取RF鑒別標(biāo)簽52，決定線盤(pán)10的路線指示和傳送指示。在第二步252中，局域PLC228決定了是否路線指示指明了由測(cè)試臺(tái)208處理線盤(pán)10。如局域PLC228確定不由測(cè)試臺(tái)108處理該線盤(pán)10，則托板架50或90則在步驟253中被移到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。如果局域PLC228決定由測(cè)試臺(tái)108處理線盤(pán)10，托板架50或90則如圖11A所示在步驟254中移到鄰近滑片202的位置。光纖鉗200由調(diào)度滑片移向線盤(pán)10，在那里使用光纖鉗200并夾住光纖端部12a。調(diào)度滑片202然后移到夾鉗200離開(kāi)托板架50或90，配置了一段光纖12。在步驟255中，光纖鉗200把光纖端部12a移到安裝在心軸208a上的光纖鉗212中。在該步驟中，光纖鉗200從滑片202側(cè)向移開(kāi)并與在心軸伸展臂215(a)上的夾鉗212交換。下面，在步驟256中，心軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)1.5圈，在心軸208a上纏繞了大約兩米的光纖12，心軸基本上是一個(gè)有11英寸即280cm直徑的圓筒。在該步驟中，光纖導(dǎo)向在光纖纏繞在心軸時(shí)保證了纏繞心軸208(a)而適當(dāng)遏制了光纖12。接著，在步驟258中，放在心軸208a上的夾鉗213夾住光纖12并且切割裝置204在光纖12上進(jìn)行切割，并留下大約兩英寸的光纖用于測(cè)試。這樣，測(cè)試臺(tái)108得到了纏繞在心軸(208)上并由夾鉗212和213固定的一段光纖12的樣品。當(dāng)然，該技術(shù)并不限于使用11英寸直徑的心軸，它也可用于其它不同替代直徑的心軸，比如3英寸的直徑。在步驟260中，調(diào)度盤(pán)210逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)90°，使心軸208a鄰近滑片220。在下一步262中，由夾鉗212，213固定的光纖端被剝離裝置214剝?nèi)ニ鼈兊乃芰贤繉?，由清潔裝置216清潔殘余的碎片，由切割裝置218切割，就象上面圖9所示的剝離臺(tái)，切割臺(tái)和清潔臺(tái)一樣。剝離裝置214，清潔裝置216和切割裝置可移動(dòng)的沿著滑片220安裝，而且還提供了橫向滑片(沒(méi)有顯示)，它能把這些裝置橫向移向滑片220來(lái)對(duì)端部12a和12b方便的進(jìn)行剝離，切割和清潔操作。在這些操作后，在步驟264中，調(diào)度盤(pán)210逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)90°，如心軸208(c)所指示的把心軸面向截止波長(zhǎng)測(cè)試器222。每個(gè)旋轉(zhuǎn)心軸安裝在位于心軸下的滑片上，滑片使心軸沿如箭頭217所示的方向移動(dòng)。為使光纖端部12a和12b接合截止波長(zhǎng)測(cè)試器222，整個(gè)心軸208(c)移向截止波長(zhǎng)測(cè)試器222并把光纖端部12a和12b插入截止波長(zhǎng)測(cè)試器222。接著，在步驟266中，PLC228控制計(jì)算機(jī)230運(yùn)行截止波長(zhǎng)測(cè)試器222來(lái)測(cè)試光纖樣品。在該步驟266中，計(jì)算機(jī)230指導(dǎo)視頻裝置226對(duì)準(zhǔn)截止波長(zhǎng)測(cè)試器222和由鉗子212和213固定的光纖端部之間的透鏡。計(jì)算機(jī)230然后指導(dǎo)截止波長(zhǎng)測(cè)試器222測(cè)試光纖樣品。截止波長(zhǎng)測(cè)試決定了光纖開(kāi)始象一根單模光纖一樣工作的截止波長(zhǎng)。然后，在步驟268中，心軸后退，使光纖端部12a和12b脫離截止波長(zhǎng)操作器，而調(diào)度盤(pán)210逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)90°使心軸208a鄰接玻璃測(cè)量測(cè)試器224。在步驟270中，PLC228控制計(jì)算機(jī)230測(cè)試光纖樣品。在該步驟270中，視頻裝置226將玻璃測(cè)量裝置224的透鏡對(duì)準(zhǔn)光纖端部來(lái)用玻璃測(cè)量測(cè)試器224測(cè)量光纖。玻璃測(cè)量測(cè)試器224決定了光纖樣品的纖芯和包層部分的相對(duì)幾何參數(shù)。另外，玻璃測(cè)量測(cè)試器224可以測(cè)量纖芯和包層同心度。如步驟272所示，調(diào)度盤(pán)210逆時(shí)針心軸90°，把心軸208a面向托板架50或90。下面，在步驟274中，光纖丟棄裝置206夾住了光纖端部的一端，光纖鉗子212，213松開(kāi)了光纖端部，而光纖丟棄裝置206移開(kāi)并丟棄了光纖樣品。然后，在步驟276中，RF標(biāo)簽寫(xiě)入裝置234把截止波長(zhǎng)和玻璃測(cè)量測(cè)試的結(jié)果寫(xiě)在RF鑒別標(biāo)簽52上。傳送器118然后在把托板架50或90傳送到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)之前，傳送托板架50或90到準(zhǔn)備臺(tái)104。四個(gè)心軸208a，208b，208c，208d有利的允許四個(gè)光纖樣品同時(shí)處理，減少了設(shè)備花費(fèi)并提高了吞吐量。當(dāng)?shù)谝粋€(gè)光纖樣品到達(dá)并纏繞到心軸208a時(shí)，纏繞在心軸208b上的第二個(gè)光纖樣品可以被剝離，清潔和切割，纏繞在心軸208c上的第三個(gè)光纖樣品可以進(jìn)行截止波長(zhǎng)測(cè)試，而纏繞在心軸208d上的第四個(gè)光纖樣品可以進(jìn)行玻璃測(cè)量測(cè)試。如圖12A所示，光纖偏差測(cè)試和涂層幾何測(cè)試臺(tái)110包括了放置在調(diào)度滑片302上的一個(gè)光纖鉗300，一個(gè)調(diào)度滑片302，一個(gè)切割裝置304，一個(gè)光纖丟棄裝置306和一個(gè)涂層幾何測(cè)試器308。光纖偏差測(cè)試器310包括了一個(gè)旋轉(zhuǎn)裝置312。測(cè)試臺(tái)110也包括了一個(gè)RF標(biāo)簽鑒別讀取裝置318和一個(gè)RF標(biāo)簽鑒別寫(xiě)入裝置320。測(cè)試臺(tái)110的操作包括了由局域PLC314控制的一個(gè)或更多的計(jì)算機(jī)316。根據(jù)本發(fā)明的較適宜的實(shí)施例，每個(gè)線盤(pán)的兩個(gè)樣品可同時(shí)處理。圖12B示出了使用如圖12A所示的測(cè)試臺(tái)110自動(dòng)進(jìn)行光纖卷曲和包層幾何測(cè)試的方法350。在第一步351，RF標(biāo)簽讀取裝置318讀取RF讀取標(biāo)簽52，決定了線盤(pán)10的路線指示和處理指示。在第二步352，局域PLC314決定了是否路線指示指明了由測(cè)試臺(tái)110處理線盤(pán)10。如果局域PLC314決定了不用測(cè)試臺(tái)110處理線盤(pán)10，那么托板架50或90在步驟353中被移到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。如果局域PLC314決定了用測(cè)試臺(tái)110處理線盤(pán)10，那么如圖12A所示，在步驟354中托板架50或90移到了鄰接滑片302的位置。調(diào)度滑片302移動(dòng)光纖鉗子300到線盤(pán)10處，在那里使用光纖鉗子300固定光纖端部12a。調(diào)度滑片302把鉗子300移開(kāi)托板架50或90，調(diào)度了一段長(zhǎng)度的(比如8英寸)光纖。在步驟355中，切割裝置304切割光纖并留下由鉗子300固定的一個(gè)光纖樣品。在步驟356中，光纖鉗子300沿著滑片302移動(dòng)并把光纖樣品轉(zhuǎn)到末端握住光纖樣品的旋轉(zhuǎn)裝置312。接著，在步驟358中，PLC314控制計(jì)算機(jī)316運(yùn)行光纖彎曲測(cè)試器310。當(dāng)相對(duì)一個(gè)參考物周期的進(jìn)行偏差測(cè)量時(shí)，由旋轉(zhuǎn)裝置312使光纖樣品繞它的軸旋轉(zhuǎn)。從這個(gè)數(shù)據(jù)決定了光纖彎曲的尺寸。在步驟360中，鉗子300從旋轉(zhuǎn)裝置312中再取得樣品然后沿滑片302把樣品滑向涂層幾何測(cè)試器308。在步驟362中，光纖樣品轉(zhuǎn)到一個(gè)夾鉗或光纖夾鉗裝置，該裝置然后旋轉(zhuǎn)光纖樣品到一個(gè)垂直方向并把它插入涂層幾何測(cè)試器308。PLC314控制計(jì)算機(jī)316運(yùn)行涂層幾何測(cè)試器308。在該測(cè)試中，當(dāng)測(cè)量相對(duì)涂層和玻璃光纖幾何數(shù)據(jù)時(shí)，由涂層幾何測(cè)試器308垂直的放置光纖樣品并使之沿它的軸旋轉(zhuǎn)。從這個(gè)數(shù)據(jù)決定涂層內(nèi)的光纖的放置的不同參數(shù)。下面，在步驟364中，由夾鉗把光纖樣品從涂層幾何測(cè)試器308移開(kāi)并轉(zhuǎn)到鉗子300中。鉗子300使樣品沿調(diào)度滑片302移動(dòng)到光纖丟棄裝置306，它得到并丟棄光纖樣品。在步驟366，RF標(biāo)簽寫(xiě)入裝置320把涂層幾何和光纖偏差測(cè)量的結(jié)果寫(xiě)在RF鑒別標(biāo)簽52上。傳送器118然后傳送托板架50或90到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。如圖13A所示，PMD測(cè)試臺(tái)112包括了一個(gè)光纖鉗子400和一個(gè)放置在得到滑片402上的夾鉗401，一個(gè)切割裝置404和一個(gè)PMD測(cè)試器408。帶著鉗子414的V型槽工具410位于鄰近得到滑片402的位置。測(cè)試臺(tái)112也包括了帶著光纖夾鉗413的傳送滑片412。剝離裝置416，清潔裝置418，切割裝置420位于鄰近傳送滑片412的位置。PMD測(cè)試器408包括了夾鉗421。測(cè)試臺(tái)112也包括了RF標(biāo)簽鑒別讀取裝置424和RF標(biāo)簽鑒別寫(xiě)入裝置426。測(cè)試臺(tái)112的操作包括了有局域PLC430控制的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)。一個(gè)適合用于本發(fā)明的PMD測(cè)試器的范例描述于美國(guó)臨時(shí)專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)朜o.60/127107上，歸檔于1999年3月31日，標(biāo)題為“SystemandMethodforMeasuringPolarizationModeDispersionSuitableforaProductionEnvironment”在這里合并引用使之完整。圖13B和13C示出了使用如圖13A所示的測(cè)試臺(tái)112的自動(dòng)進(jìn)行光纖PMD測(cè)試的方法450。在第一步451中，RF標(biāo)簽讀取裝置424讀取RF鑒別標(biāo)簽52，決定了線盤(pán)10的路線指示和處理指示。在第二步452中，局域PLC430決定了是否路線指示指明了由測(cè)試臺(tái)112處理線盤(pán)10。如果局域PLC430決定了不由測(cè)試臺(tái)110處理線盤(pán)10，托板架50或90在步驟453中移到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。如局域PLC430決定了由測(cè)試臺(tái)112處理線盤(pán)10，則如圖13A所示，在步驟454中托板架50或90移到鄰近滑片402的位置。由滑片402使光纖夾鉗400向線盤(pán)10移動(dòng)，在那里使用夾鉗400固定光纖端部12a并且調(diào)度滑片402把夾鉗400從托板架50或90上移開(kāi)，在V型槽工具410上的V型槽上布置了一段光纖(比如12英寸)。在步驟455，V型槽工具410上的夾鉗414在夾鉗400松開(kāi)光纖時(shí)提起并得到光纖。在步驟456，切割裝置404切割光纖，留下由夾鉗414固定的一個(gè)光纖樣品。在步驟457，夾鉗414放低光纖樣品到V型槽的底部并松開(kāi)靠近傳送器118的夾鉗414。而且在步驟457中，空氣被強(qiáng)迫通過(guò)V型槽的底部的洞而制造了一個(gè)空氣床，它允許光纖樣品使用它自己扭曲性放松到一個(gè)非扭曲的狀態(tài)。在步驟458，放在滑片402上的氈末端的夾子放低并夾住末端由夾子414握住的光纖樣品。夾子401然后移向樣品的長(zhǎng)度方向并弄直它。在步驟457中松開(kāi)光纖樣品的夾鉗414再次得到樣品。然后，在步驟459，夾鉗413沿著滑片412移向V型槽并從夾鉗414得到光纖樣品。夾鉗得到樣品后，它們之間相對(duì)稍微移動(dòng)，允許光纖樣品少量下垂。在步驟460，夾鉗413沿滑片412移動(dòng)樣品，在那里光纖樣品的末端被剝離裝置416剝離，由清潔裝置418清潔，由切割裝置420切割。在步驟461，夾鉗413沿滑片412移動(dòng)并把樣品轉(zhuǎn)到測(cè)試光纖樣品的PMD測(cè)試器408的夾鉗421上。在步驟464，丟棄裝置406丟棄了光纖樣品。在步驟466，RF標(biāo)簽寫(xiě)入裝置426把PMD測(cè)試的結(jié)果寫(xiě)在RF鑒別標(biāo)簽52上。然后傳送器118傳送托板架50或90到下一個(gè)測(cè)試臺(tái)。在如圖8所示的視頻檢查臺(tái)114中，一個(gè)操作員在視頻檢查臺(tái)114手工檢查線盤(pán)10。在線盤(pán)10通過(guò)了所述的所有測(cè)試后，局域PLC121把托板架50或90送到視頻檢查臺(tái)114。除了檢查線盤(pán)10以外，操作員把光纖端部12a，12b用帶子扎在線盤(pán)10上。當(dāng)托板架50或90離開(kāi)視頻檢查臺(tái)114時(shí)，RF標(biāo)簽讀取裝置讀取Rf鑒別標(biāo)簽52并把測(cè)試結(jié)果傳送到生產(chǎn)線上，允許從系統(tǒng)100可時(shí)間反饋的調(diào)整生產(chǎn)過(guò)程。傳送器118傳送托板架50或90到卸載臺(tái)。如圖14所示，卸載臺(tái)116包括了一個(gè)卸載裝置500，一個(gè)拒絕隊(duì)列502，一個(gè)重做隊(duì)列504和一個(gè)通過(guò)隊(duì)列506。在線盤(pán)10被手工檢查后或沒(méi)有通過(guò)上述的一個(gè)測(cè)試后，局域PLC121指定托板架50或90的路線到卸載臺(tái)116。當(dāng)托板架50或90到達(dá)臺(tái)116，PLC121指導(dǎo)卸載裝置500從托板架50或90上移下線盤(pán)10并把線盤(pán)放置在一個(gè)合適的隊(duì)列。然后空的托板架50或90移到另一個(gè)線盤(pán)被裝載的裝載臺(tái)。那些工藝上的能手將清楚在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下能夠?qū)Ρ景l(fā)明實(shí)施不同的修改和變化。這樣，意味著本發(fā)明覆蓋了在附加的權(quán)利要求和它們的等價(jià)物的范圍內(nèi)的本發(fā)明的修改和變化。權(quán)利要求1.一個(gè)自動(dòng)測(cè)試光纖的系統(tǒng)，其特征在于，包括至少一個(gè)自動(dòng)測(cè)試臺(tái)適合于引導(dǎo)光纖的第一端到第一個(gè)測(cè)試裝置并對(duì)光纖進(jìn)行測(cè)試；以及適合傳送光纖到測(cè)試臺(tái)的自動(dòng)傳送系統(tǒng)。2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述至少一個(gè)測(cè)試臺(tái)另外適合于剝離光纖第一端的涂層。3.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述至少一個(gè)測(cè)試臺(tái)另外適合于剝離光纖第二端的涂層；并且引導(dǎo)光纖的第二端到第一個(gè)測(cè)試裝置。4.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述至少一個(gè)測(cè)試臺(tái)另外適合于切割光纖的第一端。5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述至少一個(gè)測(cè)試臺(tái)另外適合于清潔光纖的第一端。6.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述至少一個(gè)測(cè)試臺(tái)另外適合于得到光纖的一段樣品；并且對(duì)光纖的這段樣品進(jìn)行測(cè)試。7.一個(gè)自動(dòng)測(cè)試光纖的系統(tǒng)，其特征在于，包括光纖繞于其上的線盤(pán)；第一個(gè)臺(tái)子用于自動(dòng)從光纖的第一端和第二端剝?nèi)ネ繉?；切割光纖的第一端和第二端；第二個(gè)臺(tái)子，它包括了第一個(gè)測(cè)試裝置，所述第一個(gè)或第二個(gè)臺(tái)子中的一個(gè)適于引導(dǎo)光纖的第一端和第二端到第一個(gè)測(cè)試裝置；對(duì)光纖進(jìn)行第一個(gè)測(cè)試；并且適合用于把線盤(pán)從第一個(gè)臺(tái)子傳送到第二個(gè)臺(tái)子的自動(dòng)傳送系統(tǒng)。8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一個(gè)臺(tái)子另外適于清潔光纖的第一端和第二端；并且第二個(gè)臺(tái)子另外適于切割光纖的第一端和第二端。9.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第二個(gè)臺(tái)子另外適于牽引光纖的第一端和第二端；從第一端切割第一段光纖；從第二端切割第二段光纖；丟棄第一和第二段光纖。10.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一個(gè)測(cè)試包括了使用光學(xué)時(shí)域反射計(jì)確定光纖的光學(xué)衰減的測(cè)量。11.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一個(gè)測(cè)試包括了確定光纖的光學(xué)色散的測(cè)量。12.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，另外包括了用于裝載線盤(pán)的一個(gè)托板架；一個(gè)附在托板架上的適于容納數(shù)據(jù)的射頻(RF)標(biāo)簽，數(shù)據(jù)包括了線盤(pán)識(shí)別數(shù)據(jù)，測(cè)試過(guò)程指示和測(cè)試結(jié)果；以及位于鄰近自動(dòng)傳送系統(tǒng)的多個(gè)RF標(biāo)簽裝置，它們適于對(duì)RF標(biāo)簽讀出和寫(xiě)入數(shù)據(jù)。13.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，另外包括了第三個(gè)臺(tái)子，它適于得到光纖的一段測(cè)試樣品；引導(dǎo)光纖的這段測(cè)試樣品到第二個(gè)測(cè)試裝置；并且對(duì)光纖的這段測(cè)試樣品進(jìn)行第二個(gè)測(cè)試；其中，這里的自動(dòng)傳送系統(tǒng)適合把線盤(pán)從第二個(gè)測(cè)試臺(tái)傳送到第三個(gè)測(cè)試臺(tái)。14.一個(gè)自動(dòng)測(cè)試光纖的系統(tǒng)，光纖包括了第一端和第二端，其特征在于，系統(tǒng)包括了一個(gè)線盤(pán)，上面纏繞著光纖；第一個(gè)測(cè)試臺(tái)，第一個(gè)測(cè)試臺(tái)適于操作光纖的第一端和第二端；引導(dǎo)光纖的第一端到第一個(gè)測(cè)試裝置；并且對(duì)光纖進(jìn)行第一個(gè)測(cè)試；以及第二個(gè)測(cè)試臺(tái)，第二個(gè)測(cè)試臺(tái)適于得到光纖的一段測(cè)試樣品；引導(dǎo)這段測(cè)試樣品到第二個(gè)測(cè)試裝置；對(duì)光纖的這段樣品進(jìn)行第二個(gè)測(cè)試；自動(dòng)傳送系統(tǒng)適合把線盤(pán)從第一個(gè)測(cè)試臺(tái)傳送到第二測(cè)試臺(tái)。15.一種自動(dòng)測(cè)試光纖的方法，其特征在于，它包括以下步驟從一個(gè)光纖儲(chǔ)藏線盤(pán)得到至少光纖的一端，并且引導(dǎo)所述至少光纖的一端到光纖測(cè)試裝置；并且用光纖測(cè)試裝置測(cè)試所述光纖。16.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，另外包括了，在所述取得步驟以前，傳送所述的儲(chǔ)藏在光纖儲(chǔ)藏線盤(pán)上的光纖到一個(gè)位置，在那里，所述光纖能夠到達(dá)并被引導(dǎo)到所述測(cè)試裝置。17.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試裝置是光學(xué)時(shí)域反射計(jì)。18.如權(quán)利要求16所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試裝置是光學(xué)時(shí)域反射計(jì)。19.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，在取得至少一端的步驟以后并且在所述引導(dǎo)之前，另外包括了以下步驟用測(cè)試裝置剝?nèi)ス饫w至少一端的涂層；用測(cè)試裝置切割光纖的至少一端；以及用測(cè)試裝置清潔光纖的至少一端。20.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于，在測(cè)試光纖的步驟之后，另外包括了以下步驟用測(cè)試裝置從光纖的至少一端切割一端長(zhǎng)度的光纖；由測(cè)試裝置丟棄這段光纖。21.如權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，另外包括了提供和所述線盤(pán)一起的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置有該位置上的所需測(cè)試，測(cè)試結(jié)果。22.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述取得步驟包括了把所述光纖自動(dòng)纏繞上一個(gè)柱狀心軸。23.如權(quán)利要求22所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試裝置測(cè)量光纖截止波長(zhǎng)。24.一種自動(dòng)測(cè)試光纖的方法，其特征在于，它包括以下步驟通過(guò)自動(dòng)傳送系統(tǒng)傳送儲(chǔ)藏在光纖儲(chǔ)藏線盤(pán)上的一段光纖到第一個(gè)測(cè)試臺(tái)；通過(guò)測(cè)試裝置取得一段光纖樣品；通過(guò)測(cè)試裝置引導(dǎo)一段光纖樣品到一個(gè)光纖測(cè)試器；并且通過(guò)光纖測(cè)試器測(cè)試這段光纖樣品。25.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，在取得了一段光纖樣品后，另外包括了以下步驟用測(cè)試裝置剝?nèi)ス饫w樣品至少一端的涂層；用測(cè)試裝置切割光纖樣品的至少一端；用測(cè)試裝置清潔光纖樣品的至少一端。26.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，在測(cè)試一段樣品之后，另外包括了步驟丟棄這段光纖樣品。27.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，另外包括了在所述測(cè)試步驟之后，傳送所述光纖線盤(pán)到第二個(gè)測(cè)試臺(tái)。28.一個(gè)適合裝載光纖線盤(pán)的托板架，其特征在于，它包括一個(gè)適合固定光纖線盤(pán)的安裝裝置；適合固定第一根光纖的第一個(gè)結(jié)構(gòu)使光纖的第一端以提供容易接入第一端的方式向外延伸。29.如權(quán)利要求28所述的托板架，其特征在于，另外包括了適合固定光纖第二端的第二結(jié)構(gòu)使光纖的第二端以提供容易接入第二端的方式向外延伸。30.如權(quán)利要求29所述的托板架，其特征在于，第一結(jié)構(gòu)另外適合在不弄亂光纖第二端的情況下松開(kāi)第一端；第二結(jié)構(gòu)另外適合在不弄亂光纖第一端的情況下松開(kāi)第二端。31.如權(quán)利要求30所述的托板架，其特征在于，第一和第二結(jié)構(gòu)另外適合使光纖從第一和第二端同時(shí)松開(kāi)。32.如權(quán)利要求28所述的托板架，其特征在于，另外適合裝載光纖線盤(pán)到光纖測(cè)試臺(tái)。33.如權(quán)利要求28所述的托板架，其特征在于，另外適合用于與自動(dòng)光纖測(cè)試系統(tǒng)一起使用。34.如權(quán)利要求1所述的托板架，其特征在于，另外適合用于與一個(gè)傳送系統(tǒng)一起使用，把光纖線盤(pán)從第一個(gè)自動(dòng)測(cè)試臺(tái)傳送到第二個(gè)自動(dòng)測(cè)試臺(tái)。35.如權(quán)利要求28所述的托板架，其特征在于，另外包括了附在托板架上的適合讀出寫(xiě)入的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。36.如權(quán)利要求35所述的托板架，其特征在于，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置識(shí)別光纖線盤(pán)并且提供了至少一個(gè)測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)庫(kù)。37.適合裝載一個(gè)光纖線盤(pán)的托板架，其特征在于，它包括一個(gè)基座；安裝在基座上適合固定光纖線盤(pán)的線盤(pán)固定裝置；裝在基座上適合固定光纖第一端的第一個(gè)供給指狀裝置；裝在基座上適合固定光纖第二端的第二個(gè)供給指狀裝置；其中，所述托板架使得在不弄亂光纖第二端時(shí)松開(kāi)第一端，并且在不弄亂光纖第一端時(shí)松開(kāi)第二端。38.一個(gè)適合裝載光纖線盤(pán)的托板架，其特征在于，它包括一個(gè)基座；安裝在基座上用來(lái)保持光纖線盤(pán)的線盤(pán)保持裝置；安裝在基座上的第一個(gè)垂直支架；安裝在基座上的第二個(gè)垂直支架；旋轉(zhuǎn)安裝在第一個(gè)垂直支架上的用于固定光纖第一端的第一供給指狀裝置，允許松開(kāi)光纖的第一端而不弄亂光纖的第二端；并且安裝在第二個(gè)垂直支架上的用于固定光纖第二端的第二供給指狀裝置，允許松開(kāi)光纖的第二端而不弄亂光纖的第一端。39.如權(quán)利要求38所述的托板架，其特征在于，所述線盤(pán)運(yùn)載裝置包含了包括一對(duì)滾筒的滾筒裝置。40.如權(quán)利要求38所述的托板架，其特征在于，另外包括了旋轉(zhuǎn)安裝在第一個(gè)垂直支架上的拾取裝置；包括了孔眼的第一個(gè)引線器，它從拾取裝置延伸出來(lái)適于容納光纖；安裝在拾取裝置上的適合接合線盤(pán)的接合裝置，當(dāng)光纖從第二端松開(kāi)時(shí)，拾取裝置，第一個(gè)引線器，和接合裝置與線盤(pán)同步旋轉(zhuǎn)，或當(dāng)光纖從第二端松開(kāi)時(shí)，線盤(pán)大體保持固定而拾取裝置，第一個(gè)引線器，和接合裝置旋轉(zhuǎn)。41.如權(quán)利要求40所述的托板架，其特征在于，另外包括了一個(gè)安裝在基座上的適合引導(dǎo)光纖的垂直引導(dǎo)滾筒；安裝在第二個(gè)垂直支架上的適合引導(dǎo)光纖的第二個(gè)滾筒；和從第二個(gè)垂直支架上延伸出來(lái)適合包含光纖的包括了第二個(gè)孔眼的第二個(gè)引線器。42.一個(gè)線盤(pán)和托板架系統(tǒng)，其特征在于，包括了帶有光纖的第一和第二端的線盤(pán)；和一個(gè)固定光纖線盤(pán)的托板架，使光纖的第一端以提供容易接入第一端的方式延伸出來(lái)，并且光纖的第二端以提供容易接入第二端的方式延伸出來(lái)。43.如權(quán)利要求42所述的系統(tǒng)，其特征在于，托板架適合允許在不弄亂光纖第二端時(shí)松開(kāi)第一端，并且不弄亂光纖第一端時(shí)松開(kāi)第二端。44.如權(quán)利要求43所述的系統(tǒng)，其特征在于，托板架另外適合允許光纖從第一和第二端同時(shí)松開(kāi)。45.如權(quán)利要求42所述的系統(tǒng)，其特征在于，安裝在托板架上適于讀出寫(xiě)入的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置。46.如權(quán)利要求42所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述線盤(pán)另外包括一個(gè)主桶；一個(gè)引線桶；分開(kāi)所述主桶和所述引線桶的一個(gè)外側(cè)凸緣，所述外側(cè)凸緣包括了適于為光纖在所述主桶和所述引線桶之間提供一條路徑的一個(gè)槽。47.一種適于運(yùn)載線盤(pán)的裝載光纖線盤(pán)到托板架上的方法，其特征在于，它包括以下步驟把光纖線盤(pán)放上托板架；把光纖的第一端穿過(guò)適于固定第一端的第一結(jié)構(gòu)來(lái)使第一端以能提供容易接入第一端的方式向外延伸；把光纖的第二端穿過(guò)適于固定第二端的第二結(jié)構(gòu)來(lái)使第二端以能提供容易接入第二端的方式向外延伸。48.一種測(cè)試光纖線盤(pán)的方法，其特征在于把光纖線盤(pán)放上托板架，這樣光纖的第一和第二端以能提供都容易接入第一和第二端的方式向外延伸；把托板架傳送到測(cè)試臺(tái)；把光纖的第一端拉到測(cè)試裝置，使第一段光纖從線盤(pán)松開(kāi)；把光纖的第二端拉到測(cè)試裝置，使第二段光纖從線盤(pán)松開(kāi)；測(cè)試?yán)p繞在線盤(pán)上的光纖。49.如權(quán)利要求48所述的方法，其特征在于，把光纖第一端拉出的步驟不弄亂光纖的第二端。50.如權(quán)利要求48所述的方法，其特征在于，把光纖第二端拉出的步驟不弄亂光纖的第一端。51.如權(quán)利要求48所述的方法，其特征在于，另外包括了步驟切割從線盤(pán)里拉出的第一段光纖的一部分；并且切割從線盤(pán)里拉出的第二段光纖的一部分。52.測(cè)試光纖線盤(pán)的方法，其特征在于把光纖線盤(pán)放上托板架，這樣光纖的第一端以能提供容易接入第一端的方式向外延伸；把托板架傳送到測(cè)試臺(tái)；把光纖的第一端拉到測(cè)試裝置，使第一段光纖從線盤(pán)松開(kāi)；切割具有取樣長(zhǎng)度的光纖第一端；引導(dǎo)所述光纖樣品段到測(cè)試裝置；并且對(duì)該段光纖樣品進(jìn)行測(cè)試。全文摘要描述了測(cè)試光纖的一個(gè)系統(tǒng)和方法。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,一個(gè)自動(dòng)傳送裝置把包含在托板架上的光纖線盤(pán)從一個(gè)測(cè)試臺(tái)傳送到另一個(gè)測(cè)試臺(tái)。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,單個(gè)線盤(pán)裝載在特別設(shè)計(jì)的托板架上。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,當(dāng)線盤(pán)一到達(dá)裝置,一個(gè)裝置自動(dòng)剝離,切割,清潔光纖端部。光纖端部然后被自動(dòng)操縱到一個(gè)合適的位置來(lái)進(jìn)行預(yù)定測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,一個(gè)裝置自動(dòng)的取得光纖的一段樣品并且剝離,清潔和切割這段光纖樣品。光纖的這段樣品然后被自動(dòng)操縱到一個(gè)合適的位置來(lái)進(jìn)行第二個(gè)預(yù)定測(cè)試。文檔編號(hào)G02B6/00GK1390299SQ00815808公開(kāi)日2003年1月8日申請(qǐng)日期2000年10月24日優(yōu)先權(quán)日1999年11月17日發(fā)明者E·R·安德森,R·E·布拉熱克,W·J·基什申請(qǐng)人:康寧股份有限公司