專(zhuān)利名稱(chēng)：液晶顯示面板及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示面板及其測(cè)試方法，特別是涉及一種可利用液晶盒測(cè)試墊片(cell test pad)作為薄膜晶體管電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試墊片(TFT I-Vcurve test pad)的液晶顯示面板。
背景技術(shù)：
參考圖1a、1b，公知的中小尺寸的液晶顯示面板10大部份的面板配置(panel layout)的空間都很緊，由于面板內(nèi)有可能沒(méi)有空間置放電性測(cè)試組件群(TEG mark)11，所以電性測(cè)試組件群11置放在面板外緣，供數(shù)組測(cè)試(arraytest)使用，但在切成小片時(shí)，電性測(cè)試組件群11會(huì)被一并去除，假若發(fā)生電性方面的問(wèn)題，需測(cè)量電流電壓曲線(xiàn)時(shí)，由于面板內(nèi)沒(méi)有置放電性測(cè)試組件群，測(cè)試探針需直接測(cè)量面板內(nèi)部的像素(pixel)，但因?yàn)橄袼氐木€(xiàn)路很細(xì)，會(huì)增加測(cè)量困難度及降低準(zhǔn)確性。
另外，在液晶盒測(cè)試之后，位于面板左方的短路金屬條(shorting bar)12可通過(guò)磨邊或雷射方式去除，這將使得液晶盒測(cè)試墊片13失去作用。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種液晶顯示面板，其可利用液晶盒測(cè)試墊片作為薄膜晶體管電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試墊片。
根據(jù)本發(fā)明，提供一種液晶顯示面板，其包括一顯示區(qū)以及一外部接腳壓合區(qū)，其中外部接腳壓合區(qū)位于顯示區(qū)周邊，且具有一第一測(cè)試墊片、一第二測(cè)試墊片、一第三測(cè)試墊片、以及一測(cè)試像素，而第一測(cè)試墊片、第二測(cè)試墊片、和第三測(cè)試墊片分別與測(cè)試像素電連接。
在一較佳實(shí)施例中，第一測(cè)試墊片是為測(cè)試像素的控制極，而第二測(cè)試墊片是為測(cè)試像素的第一極，且第三測(cè)試墊片是為測(cè)試像素的第二極。
應(yīng)了解的是第一測(cè)試墊片可為測(cè)試像素的柵極，而第二測(cè)試墊片和第三測(cè)試墊片可分別為測(cè)試像素的源極或源極。
在另一較佳實(shí)施例中，顯示區(qū)具有多個(gè)顯示像素，而第一測(cè)試墊片和第二測(cè)試墊片是為顯示像素的測(cè)試墊片。
又在本發(fā)明中，提供一種液晶顯示面板的測(cè)試方法，包括下列步驟首先，提供一液晶顯示面板以及多個(gè)測(cè)試探針，其中液晶顯示面板具有一第一測(cè)試墊片、一第二測(cè)試墊片、一第三測(cè)試墊片、以及一測(cè)試像素，且第一測(cè)試墊片、第二測(cè)試墊片、和第三測(cè)試墊片分別與測(cè)試像素電連接；接著，將測(cè)試探針?lè)謩e與第一測(cè)試墊片、第二測(cè)試墊片、和第三測(cè)試墊片接觸，且將一測(cè)試訊號(hào)傳導(dǎo)至測(cè)試像素，以得到測(cè)試像素的電流電壓曲線(xiàn)。
在一較佳實(shí)施例中，測(cè)試方法還包括提供一電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)，其分別與測(cè)試探針電連接，以經(jīng)由測(cè)試探針、第一測(cè)試墊片、第二測(cè)試墊片、和第三測(cè)試墊片提供測(cè)試訊號(hào)至測(cè)試像素。
又，測(cè)試像素將一訊號(hào)經(jīng)由第一測(cè)試墊片、第二測(cè)試墊片、第三測(cè)試墊片、和測(cè)試探針傳導(dǎo)至電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)，電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)將來(lái)自測(cè)試像素的訊號(hào)進(jìn)行運(yùn)算分析，以得到測(cè)試像素的電流電壓曲線(xiàn)為了使本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并結(jié)合附圖，作詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1a是為公知的液晶顯示面板的示意圖；圖1b是為圖1a中的A部份的放大圖；圖2a是為本發(fā)明的液晶顯示面板的示意圖；圖2b是為圖2a中的B部份的放大圖；圖2c是為圖2b中的C部份的放大圖；以及圖3是為本發(fā)明的液晶顯示面板的電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試方法的流程圖。
附圖符號(hào)說(shuō)明10液晶顯示面板11電性測(cè)試組件群12短路金屬條13液晶盒測(cè)試墊片20液晶顯示面板
21顯示區(qū)22外部接腳壓合區(qū)22a第一測(cè)試墊片22b第二測(cè)試墊片22c第三測(cè)試墊片22d測(cè)試像素22e、22f、22g線(xiàn)路具體實(shí)施方式
參考圖2a、2b、2c，本發(fā)明的液晶顯示面板20包括一顯示區(qū)21以及一外部接腳壓合區(qū)(OLB，outer lead bonding)22，其中顯示區(qū)21中具有多個(gè)顯示像素(未圖示)，以顯示所需的影像。
外部接腳壓合區(qū)22位于顯示區(qū)21周邊，且具有一第一測(cè)試墊片22a、一第二測(cè)試墊片22b、一第三測(cè)試墊片22c、以及一測(cè)試像素22d，其中第一測(cè)試墊片22a和第二測(cè)試墊片22b是為顯示區(qū)21中的顯示像素的測(cè)試墊片，也即，第一測(cè)試墊片22a和第二測(cè)試墊片22b如圖1b中的測(cè)試墊片13般，是為液晶盒測(cè)試墊片(cell test pad)。
本發(fā)明的液晶顯示面板20與公知的液晶顯示面板的不同處在于外部接腳壓合區(qū)22中更設(shè)有第三測(cè)試墊片22c以及測(cè)試像素22d，且通過(guò)將第一測(cè)試墊片22a、第二測(cè)試墊片22b、和第三測(cè)試墊片22c分別經(jīng)由線(xiàn)路22e、22f、22g與測(cè)試像素22d電連接，可使公知的無(wú)用的液晶盒測(cè)試墊片(第一測(cè)試墊片22a和第二測(cè)試墊片22b)，作為薄膜晶體管電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試墊片(TFT I-V curve test pad)。
總而言之，在薄膜晶體管電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試時(shí)，第一測(cè)試墊片22a可作為測(cè)試像素22d的控制極(柵極)，而第二測(cè)試墊片22b是為測(cè)試像素22d的第一極(源極或源極)，且第三測(cè)試墊片22c是為測(cè)試像素22d的第二極(源極或源極)。
應(yīng)了解的是，第一測(cè)試墊片22a、第二測(cè)試墊片22b、和第三測(cè)試墊片22c的表面上皆覆蓋有ITO(氧化銦錫)，且分別通過(guò)外部接腳壓合區(qū)22中的穿孔與位于下方的金屬層導(dǎo)通，由于這是本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員所熟知的，所以在此省略其詳細(xì)說(shuō)明。
本發(fā)明的液晶顯示面板的構(gòu)成如上所述，以下說(shuō)明其電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試方法。
參考圖3，測(cè)試方法包括下列步驟首先，如步驟s11所示，提供上述液晶顯示面板20、一電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)(未圖示)、以及多個(gè)測(cè)試探針(未圖標(biāo))，其中電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)分別與測(cè)試探針電連接，以經(jīng)由測(cè)試探針提供一測(cè)試訊號(hào)至測(cè)試像素22d；接著，如步驟s12所示，將測(cè)試探針?lè)謩e與第一測(cè)試墊片22a、第二測(cè)試墊片22b、和第三測(cè)試墊片22c接觸，以將測(cè)試訊號(hào)經(jīng)由第一測(cè)試墊片22a、第二測(cè)試墊片22b、和第三測(cè)試墊片22c傳導(dǎo)至測(cè)試像素22d；最后，如步驟s13所示，測(cè)試像素22d內(nèi)的訊號(hào)經(jīng)由第一測(cè)試墊片22a、第二測(cè)試墊片22b、第三測(cè)試墊片22c、和測(cè)試探針傳導(dǎo)至電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)，并進(jìn)行運(yùn)算分析，即可得到測(cè)試像素22d的電流電壓曲線(xiàn)。
如上述，由于可充分利用公知的在液晶顯示面板中無(wú)用的液晶盒測(cè)試墊片，將其轉(zhuǎn)變成薄膜晶體管電流電壓曲線(xiàn)測(cè)試墊片，且只需再放置一測(cè)試墊片和一測(cè)試像素，即可測(cè)量電流電壓曲線(xiàn)，無(wú)需在面板內(nèi)尋找空間放置電性測(cè)試組件群(TEG mark)或另外放置兩個(gè)測(cè)試墊片，可使玻璃的空間達(dá)到最佳的利用率。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例披露如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，任何本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)然可作些更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求書(shū)范圍所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示面板，包括一顯示區(qū)；以及一外部接腳壓合區(qū)，該外部接腳壓合區(qū)位于該顯示區(qū)周邊，且具有一第一測(cè)試墊片、一第二測(cè)試墊片、一第三測(cè)試墊片、以及一測(cè)試像素，其中該第一測(cè)試墊片、該第二測(cè)試墊片、和該第三測(cè)試墊片分別與該測(cè)試像素連接。
2.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于該第一測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的控制極，而該第二測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的第一極，且該第三測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的第二極。
3.如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板，其特征在于該第一測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的柵極，而該第二測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的源極，且該第三測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的源極。
4.如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板，其特征在于該第一測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的柵極，而該第二測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的源極，且該第三測(cè)試墊片是為該測(cè)試像素的源極。
5.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于該顯示區(qū)具有多個(gè)顯示像素，而該第一測(cè)試墊片和該第二測(cè)試墊片是為這些顯示像素的測(cè)試墊片。
6.一種液晶顯示面板的測(cè)試方法，包括提供一液晶顯示面板以及多個(gè)測(cè)試探針，其中該液晶顯示面板具有一第一測(cè)試墊片、一第二測(cè)試墊片、一第三測(cè)試墊片、以及一測(cè)試像素，且該第一測(cè)試墊片、該第二測(cè)試墊片、和該第三測(cè)試墊片分別與該測(cè)試像素電連接；以及將這些測(cè)試探針?lè)謩e與該第一測(cè)試墊片、該第二測(cè)試墊片、和該第三測(cè)試墊片接觸，且將一測(cè)試訊號(hào)傳導(dǎo)至該測(cè)試像素，以得到該測(cè)試像素的電流電壓曲線(xiàn)。
7.如權(quán)利要求6所述的液晶顯示面板的測(cè)試方法，其特征在于還包括提供一電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)，其分別與這些測(cè)試探針電連接，以經(jīng)由這些測(cè)試探針、該第一測(cè)試墊片、該第二測(cè)試墊片、和該第三測(cè)試墊片提供該測(cè)試訊號(hào)至該測(cè)試像素。
8.如權(quán)利要求7所述的液晶顯示面板的測(cè)試方法，其特征在于還包括該測(cè)試像素將一訊號(hào)經(jīng)由該第一測(cè)試墊片、該第二測(cè)試墊片、該第三測(cè)試墊片、和這些測(cè)試探針傳導(dǎo)至該電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)，該電流電壓曲線(xiàn)測(cè)量機(jī)臺(tái)將來(lái)自該測(cè)試像素的訊號(hào)進(jìn)行運(yùn)算分析，以得到該測(cè)試像素的電流電壓曲線(xiàn)。
全文摘要
一種液晶顯示面板及其測(cè)試方法，其中液晶顯示面板包括一顯示區(qū)以及一外部接腳壓合區(qū)，該外部接腳壓合區(qū)位于顯示區(qū)周邊，且具有一第一測(cè)試墊片、一第二測(cè)試墊片、一第三測(cè)試墊片、以及一測(cè)試像素，而第一測(cè)試墊片、第二測(cè)試墊片、和第三測(cè)試墊片分別與測(cè)試像素電連接。
文檔編號(hào)G02F1/13GK1603928SQ200410094679
公開(kāi)日2005年4月6日 申請(qǐng)日期2004年11月12日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月12日
發(fā)明者曾圣嘉 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司