專利名稱：液晶顯示裝置的點缺陷修復方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，特別涉及能將將點缺陷 修復成正常顯示點的修復方法。
背景技術(shù)：
液晶面板由眾多的顯示點組成，靠每個顯示點上的液晶材料在電信號控制
下改變光的透過量成像的。例如，在一個分辨率為1024 x 768的液晶面板中就 有786432個顯示點，在液晶顯示面板陣列基板一側(cè)，每個顯示點都對應有三個 像素；在液晶顯示面板彩色濾光膜基板一側(cè)，分別對應著紅R、綠G、藍B三種 濾光單元。每個濾光單元對應的是一個像素。液晶面板中的點以及對應這些點 的驅(qū)動成分、背光成分等結(jié)構(gòu)的任何一處發(fā)生問題，在這235萬個液晶像素中 都會使這個像素成為一個點缺陷，點缺陷就是液晶顯示板上不可修復的像素。
液晶面板上如此多的顯示點，使得制造商很難完全保證沒有壞點。就目前 的一般水平來看，每批生產(chǎn)出來的液晶板至少有20%以上的產(chǎn)品有點缺陷。點缺 陷分為壞點、亮點和暗點三種。壞點就是在白屏情況下為純黑色的點或者在黑 屏下為純白色的點。在切換至紅、綠、藍三色顯示模式下此點始終在同一位置 上并且始終為純黑色或純白色的點。這種情況說明該像素的R、 G、 B三個子像 素點均已損壞，此類點稱為壞點。在黑屏的情況下呈現(xiàn)的R、 G、 B(紅、綠、藍) 點叫做亮點。亮點的出現(xiàn)分為兩種情況1、在黑屏的情況下單純地呈現(xiàn)R或者 G或者B色彩的點。2、在切換至紅、綠、藍三色顯示模式下，只有在R或者G 或者B中的一種顯示模式下有白色點，同時在另外兩種模式下均有其他色點的 情況，這種情況是在同一像素中存在兩個亮點。在白屏的情況下出現(xiàn)非單純R、 G、 B的色點叫做暗點。暗點的出現(xiàn)分為兩種情況1、在切換至紅、綠、藍三色 顯示模式下，在同一位置只有在R或者G或者B —種顯示^t式下有黑點的情況， 這種情況表明此像素內(nèi)只有一個暗點；2、在切換至紅、綠、藍三色顯示模式下， 在同一位置上在R或者G或者B中的兩種顯示模式下都有黑點的情況，這種情 況表明此像素內(nèi)有兩個暗點。國際標準化組織(International Standards Organization, ISO)在2001 年制定關(guān)于液晶面板壞點的標準，其定義了4個等級的品質(zhì)。第一等級(Class 1)不允許有壞點，是最高等級，最差等級是第四等級(Class 4),此第四等級 容許有10個壞點。而一般情況下，都使用的是第二等級(Class 2)這個級另" 它允許有3個壞點，但如果只有兩個壞點卻出現(xiàn)在5*5像素的范圍內(nèi)，同樣是 不被允許的，完全可以要求經(jīng)銷商換貨。
此外，雖然液晶顯示器有3個以下的亮/壞點是在被允許的范圍之內(nèi)，但越 來越多的消費者不會愿意在購買液晶時去買一臺有幾個亮點/壞點的顯示器，所 以一般有亮/壞點的液晶廠家目前很難賣掉，為了獲取利益， 一些廠商不會廢掉 這些液晶屏，多數(shù)情況下是將這些面板使用 一種專業(yè)設備對亮點/壞點進行處理 使之變成更容易讓人接受的暗點。
現(xiàn)有技術(shù)的液晶面板點缺陷修復方法，主要有下面幾點不足對亮點缺陷 只能修復成暗點缺陷；暗點缺陷基本不能再進行修復；難以修復連續(xù)的點缺陷， 比如把連續(xù)的亮點缺陷修復成連續(xù)的暗點缺陷還是不合規(guī)格的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，通過該方 法將點缺陷修復成正常顯示點。
為達到上述目的，本發(fā)明提供一種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，該液 晶顯示裝置若干條數(shù)據(jù)線，分別與數(shù)據(jù)線對應連接的晶體管，與晶體管連接的 像素電極，其中，該點缺陷修復方法包括以下步驟在位于點缺陷所在子像素 和該子像素相鄰子像素之間涂敷一層導電條；隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子 像素的像素電極的連接。
本發(fā)明的另一技術(shù)方案是提供一種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，該液 晶顯示裝置若干條數(shù)據(jù)線，分別與數(shù)據(jù)線對應連接的晶體管，與晶體管連接的 像素電極，穿過像素電極的修復線，其中，該點缺陷修復方法包括以下步驟 利用激光束分別在修復線與點缺陷所在的子像素的像素電極交叉處打點進行電 位連接；隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接。
本發(fā)明由于采用了上述的技術(shù)方案，使之與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu)點
5和積極效果本發(fā)明的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法將亮點、暗點缺陷修復 成正常顯示點，且能同時完成多個點缺陷修復。


圖1為本發(fā)明點缺陷修復方法第一實施例示意圖； 圖2為本發(fā)明點缺陷修復方法第二實施例示意圖； 圖3為本發(fā)明點缺陷修復方法第三實施例示意圖。
具體實施例方式
以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明液晶顯示裝置的點缺陷修復方法作進一步的詳細 描述。
圖1為本發(fā)明點缺陷修復方法第一實施例示意圖。在圖1中，液晶面板的 顯示區(qū)域有許多的顯示單元組成，每個顯示單元是由紅、綠、藍三個子像素al、 a2、 a3組成，每個子像素由像素電極Pl、 P2、 P3,存儲電容C1、 C2、 C3,晶體 管Tl、 T2、 T3以及連接晶體管柵極的掃描線Sl和連接在晶體管源極的數(shù)據(jù)線 Dl、 D2、 D3構(gòu)成。存儲電容C1、 C2、 C3分別連接著公共電極線Bl和像素電極 Pl、 P2、 P3。
在液晶面板陣列工程的后期，也就是在完成透明導電層圖形的處理后，可 以通過自動外觀檢查等操作，檢查出陣列基板顯示區(qū)域內(nèi)存在點缺陷。如果具 有像素電極P2的子像素a2出現(xiàn)了點缺陷，這個子像素的像素電極與對向公共 電極之間形成的電壓差要么是一個固定的黑態(tài)電壓，要么是一個固定的白態(tài)電 壓。總之，這個子像素的像素電壓狀態(tài)使這個子像素呈現(xiàn)為一個點缺陷。
采用本發(fā)明所提供的點缺陷修復方法，可以利用相鄰兩個正常的子像素來 修復點缺陷。具體方法如下在通過自動外觀檢查等方式檢查出具有點缺陷的 子像素a2后，利用化學氣相沉積方法(Chemical Vapor Deposition, CVD)在子 像素al和子像素a2的像素電極之間涂敷一層導電條El，通過導電條使得子像 素al和子像素a2的像素電極保持同等電位，都呈現(xiàn)子像素al的正常電位。然 后，繼續(xù)陣列工程后面的工藝，在形成液晶面板并完成面板顯示檢查后，找到 有點缺陷的子像素a2。如圖1中的箭頭所示，把點缺陷所在的子像素a2的晶體管進行切斷處理，通過激光束切斷晶體管T2的漏極或者晶體管T2的源極，就 是切斷相鄰數(shù)據(jù)線上的信號對這個子像素的影響。這樣，具有點缺陷的子像素 aZ就和子像素al—樣正常顯示，只是顯示電壓的極性不再是正負相間，而是呈 同一種;f及性電壓。
圖2為本發(fā)明點缺陷修復方法第二實施例示意圖。如圖2所示，作為CVD 生成導電條的代替設計，可以沿著穿過每一行像素電極設計一條修復線Rl。當 需要對具有點缺陷的子像素a2進行修復時，就用激光束分別在^^復線Rl與點 缺陷所在的子像素a2的像素電極P2交叉處H2打點進行電位連接，同時，在修 復線Rl與相鄰正常子像素al的像素電極Pl交叉處Hl打點進行電位連接。所 用的修復線材料可以是各種導電材料。
除了上述用同一行的子像素來帶動點缺陷子像素之外，還可以用同一列的 正常子像素來帶動相鄰的點缺陷子像素，基于這種由縱向正常子像素帶動點缺 陷子像素的修復原理，可以推廣到對連續(xù)2個以及2個以上的點缺陷的修復。
圖3為本發(fā)明點缺陷修復方法第三實施例示意圖。如圖3所示，為本發(fā)明。 當顯示區(qū)域中出現(xiàn)兩個具有點缺陷的相鄰子像素a2、 a3時，可以利用CVD方法 在子像素al和子像素a2的像素電極之間涂敷一層導電條E2,以及子像素a2和 子像素a3的像素電極之間涂敷一層導電條E3。通過導電條E2和導電條E3使得 子像素al、子像素a2和子像素a3的像素電極保持同等電位。然后，繼續(xù)后面 的工藝。在形成面板并完成面板顯示檢查后，找到點缺陷的子像素a2、 a3,將 具有點缺陷的子像素a2、 a3的晶體管T2、 T3進行切斷處理，通過激光束切斷 晶體管T2、 T3的漏極或者晶體管T2的源極，切斷相鄰數(shù)據(jù)線D2、 D3上的信號 對這個子像素a2、 a3的影響。當然上述實施例中也可以采用修復線的方法進行 修復。
以上介紹的僅僅是基于本發(fā)明的較佳實施例，并不能以此來限定本發(fā)明的范 圍。任何對本發(fā)明的測量裝置作本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)熟知的步驟的替換、組合、分立， 以及對本發(fā)明實施步驟作本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)熟知的等同改變或替換均不超出本發(fā)明 的揭露以及保護范圍。
權(quán)利要求
1. 一種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，該液晶顯示裝置若干條數(shù)據(jù)線，分別與數(shù)據(jù)線對應連接的晶體管，與晶體管連接的像素電極，其特征在于，該點缺陷修復方法包括以下步驟在位于點缺陷所在子像素和該子像素相鄰子像素之間涂敷一層導電條；隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接。
2. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述涂敷的導電條分別與點缺陷所在子像素和所述子像素相鄰子像素的像素電極 連接。
3. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述點缺陷所在子像素相鄰的子像素為正常顯示的子像素。
4. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述點缺陷所在子像素相鄰的子像素為也具有點缺陷的子像素時，點缺陷所在子 像素的另一端和該子像素相鄰子像素之間涂敷另一層導電條，并隔斷數(shù)據(jù)線與 位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接。
5. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接步驟是通過激光束切 斷點缺陷所在子像素中晶體管的漏極完成的。
6. 如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接步驟是通過激光束切 斷點缺陷所在子像素中晶體管的源極完成的。
7. —種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，該液晶顯示裝置若干條數(shù)據(jù)線， 分別與數(shù)據(jù)線對應連接的晶體管，與晶體管連接的像素電極，穿過像素電極的 修復線，其特征在于，該點缺陷修復方法包括以下步驟利用激光束分別在修復線與點缺陷所在的子像素的像素電極交叉處打點進 行電位連接；隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接。
8. 如權(quán)利要求7所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述點缺陷所在子像素相鄰的子像素為正常顯示的子像素。
9. 如權(quán)利要求7所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于，所 述點缺陷所在子像素相鄰的子像素為也具有點缺陷的子像素時，點缺陷所在子 像素的另一端和該子像素相鄰子像素之間涂敷另一層導電條，并隔斷數(shù)據(jù)線與 位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接。
10. 如權(quán)利要求7所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于， 所述隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接步驟是通過激光束 切斷點缺陷所在子像素中晶體管的漏極完成的。
11. 如權(quán)利要求7所述的液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，其特征在于， 所述隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接步驟是通過激光束 切斷點缺陷所在子像素中晶體管的源極完成的。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種液晶顯示裝置的點缺陷修復方法，該液晶顯示裝置若干條數(shù)據(jù)線，分別與數(shù)據(jù)線對應連接的晶體管，與晶體管連接的像素電極，其中，該點缺陷修復方法包括以下步驟在位于點缺陷所在子像素和該子像素相鄰子像素之間涂敷一層導電條；隔斷數(shù)據(jù)線與位于點缺陷所在子像素的像素電極的連接。本發(fā)明的點缺陷修復方法能將亮點、暗點缺陷修復成正常顯示點，且能同時完成多個點缺陷修復。
文檔編號G02F1/1362GK101424792SQ200710047728
公開日2009年5月6日 申請日期2007年11月2日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月2日
發(fā)明者馬群剛 申請人:上海廣電Nec液晶顯示器有限公司