專(zhuān)利名稱(chēng)：液晶顯示裝置及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示裝置及其測(cè)試方法，更具體地說(shuō)，涉及一種適 于提高測(cè)試過(guò)程的可靠性的液晶顯示裝置及其測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
通常，液晶顯示裝置通過(guò)根據(jù)視頻信號(hào)來(lái)控制在液晶顯示板上以矩 陣結(jié)構(gòu)排列的液晶單元中的光透射率，而顯示所期望的圖像。
液晶顯示裝置包括薄膜晶體管基板、濾色器基板和液晶層，其中這 兩個(gè)基板在它們之間插設(shè)有液晶層的狀態(tài)下通過(guò)密封劑而彼此接合。
濾色器基板在上基板上設(shè)置有濾色器陣列，其中該濾色器陣列包括-
防止漏光的黑底(blackmatrix);用于實(shí)現(xiàn)彩色圖像的濾色器；用于與像 素電極一起形成垂直電場(chǎng)的公共電極；以及涂覆在其上以對(duì)液晶分子進(jìn) 行配向的上配向膜(alignment film)。此外，薄膜晶體管基板在下基板上 設(shè)置有薄膜晶體管陣列，其中該薄膜晶體管陣列包括多條選通線；多 條數(shù)據(jù)線，各條數(shù)據(jù)線與各條選通線交叉；多個(gè)薄膜晶體管TFT，各個(gè) 薄膜晶體管TFT形成在選通線和數(shù)據(jù)線的各個(gè)交叉部分附近；與薄膜晶 體管TFT相連的像素電極；以及涂覆在其上以對(duì)液晶分子進(jìn)行配向的下 配向膜。
該液晶顯示板的制造方法包括構(gòu)圖過(guò)程，用于形成薄膜晶體管陣 列和濾色器陣列；接合過(guò)程，用于在薄膜晶體管基板和濾色器基板之間 設(shè)置有液晶層的狀態(tài)下將薄膜晶體管基板和濾色器基板彼此接合；以及 測(cè)試過(guò)程，用于檢測(cè)有缺陷的液晶顯示板。
通過(guò)該測(cè)試過(guò)程，在將驅(qū)動(dòng)集成電路粘附到液晶顯示板上之前，測(cè) 試該液晶顯示板是否有缺陷。更具體地說(shuō)，將液晶顯示板加載到測(cè)試設(shè) 備上，該測(cè)試設(shè)備被保持在與組裝了背光單元和驅(qū)動(dòng)集成電路的成品的
液晶顯示裝置模塊相同的環(huán)境中。在將液晶顯示裝置加載到測(cè)試設(shè)備上 之后，向液晶顯示板施加與在驅(qū)動(dòng)液晶顯示裝置模塊時(shí)施加的驅(qū)動(dòng)信號(hào) 相同的測(cè)試信號(hào)，從而在液晶顯示板上顯示圖像。此時(shí)，如果在加載到 測(cè)試設(shè)備上的液晶顯示板中存在有缺陷的信號(hào)線，則與該有缺陷的信號(hào) 線相連的像素會(huì)顯示和與正常信號(hào)線相連的像素不同的圖像。因此，工 作人員可以識(shí)別出液晶顯示板中的缺陷。
為了在測(cè)試過(guò)程中向信號(hào)線提供測(cè)試信號(hào)，與信號(hào)線相連的信號(hào)焊
盤(pán)一一對(duì)應(yīng)地分別與探針(probe pin)相連。但是，由于大尺寸的液晶顯 示板而導(dǎo)致信號(hào)焊盤(pán)的數(shù)量增加，因此會(huì)出現(xiàn)雜質(zhì)(particle),探針可能 受損，或者在信號(hào)焊盤(pán)與探針之間可能會(huì)出現(xiàn)未對(duì)準(zhǔn)。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明致力于一種液晶顯示裝置及其測(cè)試方法，其基本上克 服了由于現(xiàn)有技術(shù)的局限和缺點(diǎn)而導(dǎo)致的一個(gè)或多個(gè)問(wèn)題。
本發(fā)明的目的是提供一種適于提高測(cè)試過(guò)程的可靠性的液晶顯示裝 置及其測(cè)試方法。
本發(fā)明的附加優(yōu)點(diǎn)、目的和特征將在下面的描述中部分地闡述，并 且對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀了以下描述之后將部分地變得明了 ，或者 可以從本發(fā)明的實(shí)踐中得知。本發(fā)明的目的和其它優(yōu)點(diǎn)可以通過(guò)在所寫(xiě) 說(shuō)明書(shū)及其權(quán)利要求以及附圖中具體指出的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。
為了實(shí)現(xiàn)這些目的和其它優(yōu)點(diǎn)并且根據(jù)本發(fā)明的意圖，如在此實(shí)施 和廣泛描述的， 一種液晶顯示裝置包括圖像顯示單元，該圖像顯示單 元被劃分成多個(gè)塊；分別與所述多個(gè)塊相對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組；以及 多個(gè)測(cè)試晶體管組，用于將提供給所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組的測(cè)試信號(hào)提供 給多個(gè)液晶單元。
此時(shí)，所述多個(gè)測(cè)試晶體管組由對(duì)用于實(shí)現(xiàn)相同顏色而劃分的對(duì)應(yīng) 液晶單元獨(dú)立地進(jìn)行開(kāi)關(guān)的測(cè)試晶體管構(gòu)成。
所述多個(gè)測(cè)試晶體管組包括第一測(cè)試晶體管，該第一測(cè)試晶體管 連接到與用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的紅色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的信號(hào)線；第二測(cè)試
晶體管，該第二測(cè)試晶體管連接到與用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的綠色的液晶單元 相對(duì)應(yīng)的信號(hào)線；以及第三測(cè)試晶體管，該第三測(cè)試晶體管連接到與用 于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的藍(lán)色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的信號(hào)線。
所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組包括第一至第三測(cè)試控制焊盤(pán)，用于分別向 所述第一至第三測(cè)試晶體管提供測(cè)試控制信號(hào)；以及第一至第三測(cè)試數(shù) 據(jù)焊盤(pán)，用于分別向所述第一至第三測(cè)試晶體管提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
另外，所述液晶顯示裝置還包括第一至第三測(cè)試控制線，用于通 過(guò)各個(gè)塊將所述第一至第三測(cè)試晶體管分別與所述第一至第三測(cè)試控制 焊盤(pán)相連接；以及第一至第三測(cè)試數(shù)據(jù)線，用于通過(guò)各個(gè)塊將所述第一 至第三測(cè)試晶體管分別與所述第一至第三測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)相連接。
此外，與所述圖像顯示單元中的信號(hào)線相連的信號(hào)焊盤(pán)形成在所述 圖像顯示單元的具有所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組的一側(cè)，并且所述多個(gè)測(cè)試焊 盤(pán)組形成在所述圖像顯示單元的其上沒(méi)有設(shè)置所述信號(hào)焊盤(pán)的其余區(qū) 域。
此外，與所述圖像顯示單元中的信號(hào)線相連的信號(hào)焊盤(pán)形成在所述 圖像顯示單元的一側(cè)，并且所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組形成在所述圖像顯示單 元的另一側(cè)。
在另一方面， 一種液晶顯示裝置的測(cè)試方法包括以下步驟制備液 晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括被劃分成多個(gè)塊的圖像顯示單元、分 別與所述多個(gè)塊相對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組、以及用于將提供給所述多個(gè) 測(cè)試焊盤(pán)組的測(cè)試信號(hào)提供給多個(gè)液晶單元的多個(gè)測(cè)試晶體管組；向所 述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組提供對(duì)應(yīng)的測(cè)試信號(hào)；以及通過(guò)使用分別與所述多個(gè) 測(cè)試焊盤(pán)組相連的所述多個(gè)測(cè)試晶體管組來(lái)測(cè)試所述液晶單元是否有缺 陷。
此時(shí)，測(cè)試所述液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟使用由
對(duì)用于實(shí)現(xiàn)相同顏色而劃分的對(duì)應(yīng)液晶單元獨(dú)立地進(jìn)行開(kāi)關(guān)的測(cè)試晶體 管構(gòu)成的所述多個(gè)測(cè)試晶體管組來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
此外，測(cè)試所述液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟通過(guò)使 用在所述多個(gè)測(cè)試晶體管組中的每一個(gè)中所包括的第一測(cè)試晶體管，來(lái) 檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的紅色的液晶單元是否有缺陷；通過(guò)使用在所述多 個(gè)測(cè)試晶體管組中的每一個(gè)中所包括的第二測(cè)試晶體管，來(lái)檢査用于實(shí) 現(xiàn)各個(gè)塊的綠色的液晶單元是否有缺陷；以及通過(guò)使用在所述多個(gè)測(cè)試 晶體管組中的每一個(gè)中所包括的第三測(cè)試晶體管，來(lái)檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè) 塊的藍(lán)色的液晶單元是否有缺陷。
此外，檢査用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的紅色的液晶單元是否有缺陷的步驟包
括以下步驟通過(guò)各個(gè)塊所形成的第一測(cè)試控制焊盤(pán)和第一測(cè)試控制線 向所述第一測(cè)試晶體管的柵極提供測(cè)試控制信號(hào)；以及通過(guò)各個(gè)塊所形 成的第一測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和第一測(cè)試數(shù)據(jù)線向所述第一測(cè)試晶體管的源極 提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
此外，檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的綠色的液晶單元是否有缺陷的步驟包 括以下步驟通過(guò)各個(gè)塊所形成的第二測(cè)試控制焊盤(pán)和第二測(cè)試控制線 向所述第二測(cè)試晶體管的柵極提供測(cè)試控制信號(hào)；以及通過(guò)各個(gè)塊所形 成的第二測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和第二測(cè)試數(shù)據(jù)線向所述第二測(cè)試晶體管的源極 提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
此外，檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的藍(lán)色的液晶單元是否有缺陷的步驟包 括以下步驟通過(guò)各個(gè)塊所形成的第三測(cè)試控制焊盤(pán)和第三測(cè)試控制線 向所述第三測(cè)試晶體管的柵極提供測(cè)試控制信號(hào)；以及通過(guò)各個(gè)塊所形 成的第三測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和第三測(cè)試數(shù)據(jù)線向所述第三測(cè)試晶體管的源極 提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
應(yīng)該理解，對(duì)本發(fā)明的以上概述和下面的詳述都是示例性和說(shuō)明性 的，并旨在提供對(duì)所要求保護(hù)的本發(fā)明的進(jìn)一步說(shuō)明。


包括附圖以提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并入附圖而構(gòu)成本申請(qǐng)的 一部分，附圖示出了本發(fā)明的實(shí)施方式并與說(shuō)明書(shū)一起用于解釋本發(fā)明 的原理。在附圖中
圖1是表示根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置的圖2是表示圖1中所示的其它形狀的測(cè)試焊盤(pán)組和測(cè)試電路的圖3是表示用于向圖1或圖2所示的測(cè)試焊盤(pán)提供測(cè)試信號(hào)的探針
的立體圖；以及
圖4A至圖4C是表示用于圖1所示的液晶顯示裝置的測(cè)試方法的圖。
具體實(shí)施例方式
下面將詳細(xì)地說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，在附圖中示出了其實(shí)施 例。只要可能，在所有的附圖中使用相同的附圖標(biāo)記來(lái)表示相同或相似 的部分。
下面將參照附圖來(lái)說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式的液晶顯示裝置 及其測(cè)試方法。
圖1是表示根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置的圖。如圖1所示，根據(jù)本 發(fā)明的液晶顯示裝置包括圖像顯示單元130、用于向圖像顯示單元130提 供信號(hào)的信號(hào)焊盤(pán)單元150、以及用于對(duì)圖像顯示單元130進(jìn)行測(cè)試的測(cè) 試電路單元140。
圖像顯示單元130設(shè)置有多條選通線GL1至GLm;多條數(shù)據(jù)線 Rll至B2n;多個(gè)薄膜晶體管TFT，各個(gè)薄膜晶體管形成在選通線和數(shù)據(jù) 線的各個(gè)交叉點(diǎn)附近；以及分別與這些薄膜晶體管TFT相連的多個(gè)像素 電極PXL。通過(guò)選通驅(qū)動(dòng)器(未示出)向各條選通線GL提供掃描脈沖。 通過(guò)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器(未示出)向各條數(shù)據(jù)線Rll至B2n提供模擬型的像素 電壓信號(hào)。圖像顯示單元130被劃分成多個(gè)塊。在測(cè)試時(shí)，通過(guò)對(duì)應(yīng)的 測(cè)試電路單元140向各個(gè)塊提供測(cè)試信號(hào)。這里，將如下示例性地說(shuō)明 將圖像顯示單元130劃分成兩個(gè)塊A1、 A2的情況。
信號(hào)焊盤(pán)單元150設(shè)置有信號(hào)焊盤(pán)(未示出)，這些信號(hào)焊盤(pán)與選通 線GL1至GLm和數(shù)據(jù)線Rll至B2n當(dāng)中的至少任意一條信號(hào)線相連。 在信號(hào)焊盤(pán)單元150的沒(méi)有信號(hào)焊盤(pán)的其余區(qū)域上，具有與圖像顯示單 元130的第一塊Al相對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試焊盤(pán)組110、以及與圖像顯示單元 130的第二塊A2相對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試焊盤(pán)組120。第一測(cè)試焊盤(pán)組110和 第二測(cè)試焊盤(pán)組120相對(duì)于圖像顯示單元130形成在下側(cè)。更具體地說(shuō)， 第一測(cè)試焊盤(pán)組110和第二測(cè)試焊盤(pán)組120被形成為與相對(duì)于圖像顯示
單元130位于上側(cè)的信號(hào)焊盤(pán)152相對(duì)，如圖2所示。
第一測(cè)試焊盤(pán)組110和第二測(cè)試焊盤(pán)組120包括測(cè)試控制焊盤(pán)110b、 110d、 110f、 120b、 120d、 120f和測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110a、 110c、 110e、 120a、 120c、 120e。測(cè)試控制焊盤(pán)110b、 110d、 110f、 120b、 120d、 120f分別 通過(guò)測(cè)試控制線144R、 144G和144B向與紅色、綠色和藍(lán)色液晶單元相 連的測(cè)試晶體管SWR、 SWG、 SWB提供控制信號(hào)。測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110a、 110c、 110e、 120a、 120c、 120e通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)線142R、 142G和142B向 測(cè)試晶體管SWR、 SWG、 SWB提供測(cè)試信號(hào)。通過(guò)固定到探針體(probe body) 164上的探針162向測(cè)試控制焊盤(pán)110b、 110d、 110f、 120b、 120d、 120f和測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110a、 110c、 110e、 120a、 120c、 120e提供控制信 號(hào)和測(cè)試信號(hào)。
測(cè)試電路單元140包括與第一塊Al相對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試晶體管組 SWR1、 SWG1、 SWB1，以及與第二塊A2相對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試晶體管組 SWR2、 SWG2、 SWB2。第一測(cè)試晶體管組SWR1、 SWG1、 SWB1和第 二測(cè)試晶體管組SWR2、SWG2、SWB2包括R測(cè)試晶體管SWR1、SWR2，
其連接到與用于實(shí)現(xiàn)紅色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的R數(shù)據(jù)線Rll、 R12.....
Rln、 R21、 R22、…、R2n; G測(cè)試晶體管SWG1、 SWG2，其連接到與
用于實(shí)現(xiàn)綠色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的G數(shù)據(jù)線Gll、 G12.....Gln、 G21、
G22、 ...、 G2n;以及B測(cè)試晶體管SWB1 、 SWB2，其連接到與用于實(shí) 現(xiàn)藍(lán)色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的B數(shù)據(jù)線Bll、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、...、 B2n。 R、 G和B測(cè)試晶體管SWR、 SWG、 SWB由與位于圖像顯示單元 130中的薄膜晶體管TFT相同的多晶硅或非晶硅型薄膜晶體管構(gòu)成，如 圖3所示。
R測(cè)試晶體管SWR1、 SWR2包括與R測(cè)試控制焊盤(pán)110b、 120b 和測(cè)試控制線144R相連的柵極；與R測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110a、 120a和測(cè)試 數(shù)據(jù)線142R相連的源極；以及與R數(shù)據(jù)線Rll、 R12、 ...、 Rln、 R21、 R22、…、R2n相連的漏極。因此，R測(cè)試晶體管SWR1、 SWR2響應(yīng)于 從R測(cè)試控制焊盤(pán)110b、120b提供的控制信號(hào)，從R測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110a、 120a向R數(shù)據(jù)線Rll、 R12、…、Rln、 R21、 R22、…、R2n提供測(cè)試信
號(hào)。
G測(cè)試晶體管SWG1、 SWG2包括與G測(cè)試控制焊盤(pán)110d、 120d 和測(cè)試控制線144G相連的柵極；與G測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110c、 120c和測(cè)試 數(shù)據(jù)線142G相連的源極；以及與G數(shù)據(jù)線Gll、 G12、 ...、 Gln、 G21、 G22、 ...、 G2n相連的漏極。因此，G測(cè)試晶體管SWG1、 SWG2響應(yīng)于 從G測(cè)試控制焊盤(pán)110d、120d提供的控制信號(hào)，從G測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110c、 120c向G數(shù)據(jù)線Gll、 G12、…、Gln、 G21、 G22、…、G2n提供測(cè)試 信號(hào)。
B測(cè)試晶體管SWB1、 SWB2包括與B測(cè)試控制焊盤(pán)110f、 120f 和測(cè)試控制線144B相連的柵極；與B測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110e、 120e和測(cè)試
數(shù)據(jù)線142B相連的源極；以及與B數(shù)據(jù)線Bll、 B12.....Bln、 B21、
B22、 ...、 B2n相連的漏極。因此，B測(cè)試晶體管SWB1、 SWB2響應(yīng)于 從B測(cè)試控制焊盤(pán)110f、 120f提供的控制信號(hào)，從B測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110e、 120e向B數(shù)據(jù)線B11、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、…、B2n提供測(cè)試信 號(hào)。
根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置通過(guò)使用與各個(gè)塊相對(duì)應(yīng)的測(cè)試晶體管 組來(lái)對(duì)各個(gè)塊中所包括的液晶單元進(jìn)行測(cè)試。由于在根據(jù)本發(fā)明的液晶 顯示裝置中通過(guò)多個(gè)測(cè)試晶體管組對(duì)圖像顯示單元進(jìn)行測(cè)試，所以與通 過(guò)使用一個(gè)測(cè)試晶體管組對(duì)整個(gè)圖像顯示單元進(jìn)行測(cè)試的情況相比，與 各個(gè)測(cè)試晶體管組相連的測(cè)試數(shù)據(jù)線和測(cè)試控制線的長(zhǎng)度減小。因此， 可以防止由于測(cè)試控制線和測(cè)試數(shù)據(jù)線中包括的阻抗分量而導(dǎo)致測(cè)試信 號(hào)的延遲，從而減少測(cè)試信號(hào)的失真。
參照?qǐng)D4A至圖4C來(lái)說(shuō)明使用圖1或圖2中所示的R、 G和B測(cè)試 晶體管SWR、 SWG、 SWB的測(cè)試過(guò)程。
在第一周期ti期間，如果將來(lái)自r測(cè)試控制焊盤(pán)110b、 120b的控 制信號(hào)提供給R測(cè)試晶體管SWR1、 SWR2的柵極，則R測(cè)試晶體管 SWR1、 SWR2導(dǎo)通。然后，導(dǎo)通的R測(cè)試晶體管SWR1、 SWR2向R數(shù) 據(jù)線Rll、 R12、 ...、 Rln、 R21、 R22、…、R2n提供通過(guò)探針162提供 的R測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110a、 120a的測(cè)試信號(hào)。通過(guò)使薄膜晶體管TFT導(dǎo)通，
向與R數(shù)據(jù)線Rll、 R12、…、Rln、 R21、 R22、…、R2n相連的液晶單 元提供測(cè)試信號(hào)，如圖4A所示。此后，工作人員通過(guò)肉眼測(cè)試或使用光 學(xué)裝置的自動(dòng)測(cè)試，基于所顯示的圖像來(lái)辨別圖像顯示單元是否有缺陷。 如果圖像顯示單元有缺陷，則與有缺陷的信號(hào)線相連的R液晶單元表現(xiàn) 出和與正常信號(hào)線相連的R液晶單元上顯示的圖像不同的圖像，從而可 以檢查R液晶單元中的缺陷。
在第二周期T2期間，如果將來(lái)自G測(cè)試控制焊盤(pán)110d、 120d的控 制信號(hào)提供給G測(cè)試晶體管SWG1、 SWG2的柵極，則G測(cè)試晶體管 SWG1、 SWG2導(dǎo)通。然后，導(dǎo)通的G測(cè)試晶體管SWG1、 SWG2向G 數(shù)據(jù)線Gll、 G12、…、Gln、 G21、 G22、…、G2n提供通過(guò)探針162 提供的G測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110c、 120c的測(cè)試信號(hào)。通過(guò)使薄膜晶體管TFT .導(dǎo)通，向與G數(shù)據(jù)線Gll、 G12、 ...、 Gln、 G21、 G22、 ...、 G2n相連 的液晶單元提供測(cè)試信號(hào)，如圖4B所示。此后，工作人員通過(guò)肉眼測(cè)試 或使用光學(xué)裝置的自動(dòng)測(cè)試，基于所顯示的圖像來(lái)辨別圖像顯示單元是 否有缺陷。如果圖像顯示單元有缺陷，則與有缺陷的信號(hào)線相連的G液 晶單元表現(xiàn)出和與正常信號(hào)線相連的G液晶單元上顯示的圖像不同的圖 像，從而可以檢査G液晶單元中的缺陷。
在第三周期T3期間，如果將來(lái)自B測(cè)試控制焊盤(pán)110f、 120f的控 制信號(hào)提供給B測(cè)試晶體管SWB1、 SWB2的柵極，則B測(cè)試晶體管 SWB1、 SWB2導(dǎo)通。然后，導(dǎo)通的B測(cè)試晶體管SWB1、 SWB2向B數(shù) 據(jù)線Bll、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、…、B2n提供通過(guò)探針162提供 的B測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)110e、 120e的測(cè)試信號(hào)。通過(guò)使薄膜晶體管TFT導(dǎo)通， 向與B數(shù)據(jù)線Bll、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、 ...、 B2n相連的液晶單 元提供測(cè)試信號(hào)，如圖4C所示。此后，工作人員通過(guò)肉眼測(cè)試或使用光 學(xué)裝置的自動(dòng)測(cè)試，基于所顯示的圖像來(lái)識(shí)別圖像顯示單元是否有缺陷。 如果圖像顯示單元有缺陷，則與有缺陷的信號(hào)線相連的B液晶單元表現(xiàn) 出和與正常信號(hào)線相連的B液晶單元上顯示的圖像不同的圖像，從而可 以檢查B液晶單元中的缺陷。
由于獨(dú)立地向相應(yīng)的R、 G和B液晶單元提供測(cè)試信號(hào)，所以對(duì)于
根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置中的各條R、 G和B數(shù)據(jù)線，可以獨(dú)立地執(zhí)
行測(cè)試過(guò)程。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置及其測(cè)試方法具有以下優(yōu)點(diǎn)。 由于在根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置中通過(guò)使用多個(gè)測(cè)試晶體管組對(duì) 圖像顯示單元進(jìn)行測(cè)試，因此與通過(guò)使用一個(gè)測(cè)試晶體管組對(duì)整個(gè)圖像 顯示單元進(jìn)行測(cè)試的情況相比，與各個(gè)測(cè)試晶體管組相連的測(cè)試數(shù)據(jù)線 和測(cè)試控制線的長(zhǎng)度減小。因此，可以防止由于測(cè)試控制線和測(cè)試數(shù)據(jù) 線中所包括的阻抗分量而導(dǎo)致的測(cè)試信號(hào)的延遲，從而減少測(cè)試信號(hào)的 失真。具體地說(shuō)，根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置及其測(cè)試方法可以減少測(cè) 試控制線和測(cè)試數(shù)據(jù)線中包括的阻抗分量，測(cè)試控制線和測(cè)試數(shù)據(jù)線的 長(zhǎng)度隨著液晶顯示板的高分辨率和大尺寸的趨勢(shì)而相對(duì)增大。
此外，根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置及其測(cè)試方法提供了這樣的結(jié)構(gòu)
R、 G和B測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和測(cè)試控制焊盤(pán)通過(guò)各個(gè)塊與探針相連，從而與
現(xiàn)有技術(shù)相比可以減少與探針相連的測(cè)試焊盤(pán)的數(shù)量，由此提高測(cè)試過(guò) 程的可靠性。
對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員顯而易見(jiàn)的是，可以在不脫離本發(fā)明的精神或 范圍的情況下對(duì)本發(fā)明作出各種修改和變化。因此，本發(fā)明旨在覆蓋對(duì) 本發(fā)明的這些修改和變化，只要它們落入所附權(quán)利要求及其等同物的范 圍內(nèi)。
本申請(qǐng)要求于2006年11月30日提交的韓國(guó)專(zhuān)利申請(qǐng) No.2006-119547的優(yōu)先權(quán)，在此通過(guò)引用將其并入，如同在這里進(jìn)行了 完全闡述一樣。
權(quán)利要求
1、一種液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括圖像顯示單元，該圖像顯示單元被劃分成多個(gè)塊；多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組，這些測(cè)試焊盤(pán)組分別與所述多個(gè)塊相對(duì)應(yīng)；以及多個(gè)測(cè)試晶體管組，用于將提供給所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組的測(cè)試信號(hào)提供給多個(gè)液晶單元。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的液晶顯示裝置，其中，所述多個(gè)測(cè)試晶體管組由對(duì)用于實(shí)現(xiàn)相同顏色而劃分的對(duì)應(yīng)液晶單元獨(dú)立地進(jìn)行開(kāi)關(guān)的測(cè) 試晶體管構(gòu)成。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示裝置，其中，所述多個(gè)測(cè)試晶體管組包括第一測(cè)試晶體管，該第一測(cè)試晶體管連接到與用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的紅 色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的信號(hào)線；第二測(cè)試晶體管，該第二測(cè)試晶體管連接到與用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的綠 色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的信號(hào)線；以及第三測(cè)試晶體管，該第三測(cè)試晶體管連接到與用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的藍(lán) 色的液晶單元相對(duì)應(yīng)的信號(hào)線。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置，其中，所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán) 組包括第一至第三測(cè)試控制焊盤(pán)，用于分別向所述第一至第三測(cè)試晶體管提供測(cè)試控制信號(hào)；以及第一至第三測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)，用于分別向所述第一至第三測(cè)試晶體管 提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置還包括 第一至第三測(cè)試控制線，用于通過(guò)各個(gè)塊將所述第一至第三測(cè)試晶體管分別與所述第一至第三測(cè)試控制焊盤(pán)相連；以及第一至第三測(cè)試數(shù)據(jù)線，用于通過(guò)各個(gè)塊將所述第一至第三測(cè)試晶 體管分別與所述第一至第三測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)相連。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的液晶顯示裝置，其中，與所述圖像顯示單 元中的信號(hào)線相連的所述信號(hào)焊盤(pán)形成在所述圖像顯示單元的具有所述 多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組的一側(cè)，并且所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組形成在所述圖像顯示 單元的其上沒(méi)有設(shè)置所述信號(hào)焊盤(pán)的其余區(qū)域。
7、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的液晶顯示裝置，其中，與所述圖像顯示單 元中的信號(hào)線相連的所述信號(hào)焊盤(pán)形成在所述圖像顯示單元的一側(cè)，并 且所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組形成在所述圖像顯示單元的另一側(cè)。
8、 一種液晶顯示裝置的測(cè)試方法，該測(cè)試方法包括以下步驟 制備液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括被劃分成多個(gè)塊的圖像顯示單元、分別與所述多個(gè)塊相對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組、以及用于將提供 給所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組的測(cè)試信號(hào)提供給多個(gè)液晶單元的多個(gè)測(cè)試晶體 管組；向所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組提供對(duì)應(yīng)的測(cè)試信號(hào)；以及 通過(guò)使用分別與所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組相連的所述多個(gè)測(cè)試晶體管組 來(lái)測(cè)試所述液晶單元是否有缺陷。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試方法，其中，測(cè)試所述液晶單元是否 有缺陷的步驟包括以下步驟使用由對(duì)用于實(shí)現(xiàn)相同顏色而劃分的對(duì)應(yīng)液晶單元獨(dú)立地進(jìn)行開(kāi)關(guān)的測(cè)試晶體管構(gòu)成的所述多個(gè)測(cè)試晶體管組來(lái) 進(jìn)行測(cè)試。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試方法，其中，測(cè)試所述液晶單元是 否有缺陷的步驟包括以下步驟通過(guò)使用在所述多個(gè)測(cè)試晶體管組中的每一個(gè)中所包括的第一測(cè)試晶體管，來(lái)檢査用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的紅色的液晶單元是否有缺陷；通過(guò)使用在所述多個(gè)測(cè)試晶體管組中的每一個(gè)中所包括的第二測(cè)試晶體管，來(lái)檢査用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的綠色的液晶單元是否有缺陷；以及 通過(guò)使用在所述多個(gè)測(cè)試晶體管組中的每一個(gè)中所包括的第三測(cè)試晶體管，來(lái)檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的藍(lán)色的液晶單元是否有缺陷。
11、 根據(jù)權(quán)利要求10所述的測(cè)試方法，其中，檢査用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊 的紅色的液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟 通過(guò)各個(gè)塊所形成的第一測(cè)試控制焊盤(pán)和第一測(cè)試控制線向所述第 一測(cè)試晶體管的柵極提供測(cè)試控制信號(hào)；以及通過(guò)各個(gè)塊所形成的第一測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和第一測(cè)試數(shù)據(jù)線向所述第 一測(cè)試晶體管的源極提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
12、 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的測(cè)試方法，其中，檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊的綠色的液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟通過(guò)各個(gè)塊所形成的第二測(cè)試控制焊盤(pán)和第二測(cè)試控制線向所述第二測(cè)試晶體管的柵極提供測(cè)試控制信號(hào)；以及通過(guò)各個(gè)塊所形成的第二測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和第二測(cè)試數(shù)據(jù)線向所述第 二測(cè)試晶體管的源極提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的測(cè)試方法，其中，檢查用于實(shí)現(xiàn)各個(gè)塊 的藍(lán)色的液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟通過(guò)各個(gè)塊所形成的第三測(cè)試控制焊盤(pán)和第三測(cè)試控制線向所述第三測(cè)試晶體管的柵極提供測(cè)試控制信號(hào)；以及通過(guò)各個(gè)塊所形成的第三測(cè)試數(shù)據(jù)焊盤(pán)和第三測(cè)試數(shù)據(jù)線向所述第 三測(cè)試晶體管的源極提供測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種液晶顯示裝置及其測(cè)試方法，其適于提高測(cè)試過(guò)程的可靠性，該液晶顯示裝置包括圖像顯示單元，該圖像顯示單元被劃分成多個(gè)塊；多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組，這些測(cè)試焊盤(pán)組分別與所述多個(gè)塊相對(duì)應(yīng)；以及多個(gè)測(cè)試晶體管組，用于將提供給所述多個(gè)測(cè)試焊盤(pán)組的測(cè)試信號(hào)提供給多個(gè)液晶單元。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101191910SQ20071019634
公開(kāi)日2008年6月4日 申請(qǐng)日期2007年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月30日
發(fā)明者金慶奐 申請(qǐng)人:Lg.菲利浦Lcd株式會(huì)社