專利名稱：顯微鏡支架檢測(cè)器具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及檢夾具領(lǐng)域，尤其涉及一種用于對(duì)顯微鏡支架壓鑄件同步 進(jìn)行多項(xiàng)精度綜合檢測(cè)的專用檢測(cè)器具。
背景技術(shù)：
目前，國(guó)內(nèi)顯微鏡支架壓鑄件的各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)檢測(cè)大多采用三維坐標(biāo)測(cè)量 儀等常規(guī)檢測(cè)方法，檢測(cè)過(guò)程費(fèi)時(shí)費(fèi)力，大大地增加了檢測(cè)成本，且檢測(cè)效率 低，不能滿足流水線的要求。同時(shí)，通常情況下需要對(duì)顯微鏡支架壓鑄件的寬 度、高度、偏斜度、同軸度、垂直度等多項(xiàng)精度實(shí)現(xiàn)全數(shù)檢驗(yàn)，現(xiàn)有的常規(guī)檢 測(cè)方法無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢驗(yàn)產(chǎn)品的上述精度的全數(shù)檢驗(yàn)，只能分用多個(gè)檢具經(jīng)多 道程序完成，即耗費(fèi)人力，檢測(cè)精度也差。本領(lǐng)域技術(shù)人員雖曾設(shè)計(jì)制造過(guò)數(shù) 種檢具，但經(jīng)實(shí)際使用檢驗(yàn)，均未能滿足產(chǎn)品的各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)，使產(chǎn)品檢測(cè)過(guò) 程成為長(zhǎng)期困擾產(chǎn)品質(zhì)量的 一大難點(diǎn)。

實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種 使用便利、成本低、效率高、精確性好、穩(wěn)定性高的顯微鏡支架檢測(cè)器具。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種顯微鏡支架檢測(cè)器具，包括一基 板，所述基板上滑動(dòng)設(shè)置有用于將待檢工件定位并送入檢測(cè)區(qū)域的滑板裝置； 所述基板一側(cè)還固定設(shè)置有用于檢測(cè)待檢工件高度、寬度及上下寬度偏斜度的 立柱裝置；所述立柱裝置上端設(shè)置有用于檢測(cè)待檢工件同軸度、垂直度的擺桿 裝置。
較佳地，所述滑板裝置包括分別設(shè)置在所述基板兩側(cè)的左側(cè)板、右側(cè)板， 及借助所述左側(cè)板、右側(cè)板與所述基板滑動(dòng)設(shè)置的滑板，所述滑板上間隔設(shè)置
有定位軸及定位銷，所述定位軸頂端設(shè)置有一中心孔。
較佳地，所述立柱裝置包括立柱體，所述立柱體兩側(cè)上下分別固定設(shè)置有 兩上定位板及兩下定位塊，所述立柱體上端正面還固定設(shè)置有高度定位塊。
較佳地，所述擺桿裝置包括固定設(shè)置在所述立柱體頂端的擱架及活動(dòng)架， 所述活動(dòng)架在對(duì)應(yīng)所述立柱體的一端通過(guò)一定芯軸可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置有一帶軸套 的活動(dòng)套座，所述活動(dòng)套座的所述軸套中設(shè)置有一可上下移動(dòng)的檢測(cè)軸。
本實(shí)用新型的顯微鏡支架檢測(cè)器具，用于對(duì)顯微鏡支架壓鑄件進(jìn)行多項(xiàng)精 度檢測(cè)。由于采用了上述特別設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型的顯微鏡支架檢測(cè)器具 集顯微鏡支架壓鑄件的各項(xiàng)尺寸指標(biāo)檢測(cè)于一體，使顯微鏡支架檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn) 化、迅速，檢測(cè)結(jié)果正確直觀，效率大大提高，獲得了使用便利、效率高、精 確性好、穩(wěn)定性高的有益效果，使精度檢測(cè)直接穿插于生產(chǎn)過(guò)程中，使產(chǎn)品質(zhì) 量始終處于受控狀態(tài)。并且采用本實(shí)用新型獲得的檢測(cè)結(jié)果正確直觀。據(jù)測(cè)算， 用常規(guī)測(cè)量方法檢測(cè)與用本實(shí)用新型的檢測(cè)器具檢測(cè)，后者檢測(cè)效率可提高10 倍，完全可滿足對(duì)產(chǎn)品的寬度、高度、偏斜度、同軸度、垂直度等多項(xiàng)精度實(shí) 現(xiàn)全數(shù)檢驗(yàn)的技術(shù)要求。
以下將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進(jìn)一 步說(shuō)明，以充分地了解本實(shí)用新型的目的、特征和效果。


圖1是本實(shí)用新型一具體實(shí)施例使用狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖2是圖1所示實(shí)施例的俯視局部剖視圖； '
圖3是圖1中沿A向的局部剖視圖。
具體實(shí)施方式
如圖l、圖2所示為本實(shí)用新型一具體實(shí)施例，包括基板15，基板15上滑 動(dòng)設(shè)置有滑板裝置?；?5 —側(cè)還固定設(shè)置有立柱裝置。立柱裝置上端設(shè)置 有擺桿裝置。
具體地，本實(shí)施例中，上述滑板裝置用于將待檢工件17定位并送入檢測(cè)區(qū)
域，包括分別設(shè)置在基板15兩側(cè)的左、右側(cè)板14，左、右側(cè)板14上設(shè)置有四
個(gè)滾動(dòng)軸承16。借助左、右側(cè)板14上的滾動(dòng)軸承16，滑板13與基板15形成 滑動(dòng)設(shè)置。滑板13上間隔設(shè)置有定位軸IO及定位銷11，定位軸10頂端設(shè)置 有一中心孔101。
上述立柱裝置用于檢測(cè)待檢工件17高度、寬度及上下寬度偏斜度，包括立 柱體9，立柱體9兩側(cè)上下分別固定設(shè)置有兩上定位板7及兩下定位塊12，立 柱體9上端正面還固定設(shè)置有高度定位塊6。
上述擺桿裝置用于檢測(cè)待檢工件17同軸度、垂直度，包括固定設(shè)置在立 柱體9頂端的擱架1及活動(dòng)架4，活動(dòng)架4在對(duì)應(yīng)立柱體9的一端通過(guò)一定芯 軸2可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置有一帶軸套5的活動(dòng)套座3，活動(dòng)套座3的軸套5中設(shè)置有 一可上下移動(dòng)的檢測(cè)軸8。
本實(shí)用新型的工作過(guò)程如下
將滑板13向外拉出，遠(yuǎn)離立柱體9，將待檢工件17放在滑板13上，使之 處于定位軸10與定位銷11的定位位置上。
將待檢工件17隨滑板13緩慢推向立柱體9，此時(shí)安裝于立柱體9 二側(cè)上 下的四塊定位板7、 12，安裝于立柱體9正面的高度定位塊6同時(shí)對(duì)待檢工件 17作上下寬度、高度及上下寬度偏斜等誤差的檢測(cè)。
將擺桿裝置的活動(dòng)套座3、軸套5、檢測(cè)軸8，從擱架1上繞定芯軸2沿逆 時(shí)針方向轉(zhuǎn)下，將活動(dòng)架4沿水平方向移動(dòng)，使軸套5對(duì)準(zhǔn)待檢工件17上部 沉坑18并-沿垂直方向向下移動(dòng)至進(jìn)入待檢工件17上部沉坑18內(nèi)，再將檢測(cè) 軸8順著軸套5中間孔向下移動(dòng)直至進(jìn)入定位軸10的中心孔101為止，用以 檢測(cè)待檢工件17上下孔的同軸度，上下孔軸與工件基面的垂直度等的誤差。
按上述順序反向操作，直至取出待檢工件17，就完成一次檢測(cè)全過(guò)程。
本實(shí)用新型由于采用了上述結(jié)構(gòu)，檢測(cè)待檢工件17時(shí)，將待檢工件17放 置于滑板13上通過(guò)滑板13上的定位軸10、定位銷11對(duì)待檢工件17進(jìn)行定位， 隨后推動(dòng)滑板13使其沿側(cè)板14、滾動(dòng)軸承16組成的導(dǎo)軌將待檢工件17送入 檢測(cè)區(qū)域；安裝于立柱體9上的定位板7、 12和高度定位塊6同時(shí)對(duì)待檢工件 17的寬度、上下寬度偏斜度及高度等誤差實(shí)行檢測(cè)，通過(guò)的為合格品，反之為 不良品，需對(duì)不良品進(jìn)行再加工以校正其不合格之處。對(duì)已通過(guò)寬度、高度方 向檢測(cè)的待檢工件17，再將擺桿裝置中的檢測(cè)軸8從擱架l上放下，通過(guò)前后
調(diào)整活動(dòng)架4位置，將軸套5插入待檢工件17上部的沉坑18內(nèi)，然后將檢測(cè) 軸8再通過(guò)軸套5插入設(shè)于滑板13上的定位軸10中心孔101中，對(duì)待檢工件 17的同軸度、垂直度誤差進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)的為合格品，反之為不良品，需對(duì)不 良品進(jìn)行再加工以校正其不合格之處。
本實(shí)用新型檢測(cè)效率高，檢測(cè)結(jié)果直觀迅速，僅需一道工序就可以完成對(duì) 顯微鏡支架壓鑄件的寬度、高度、偏斜度、同軸度、垂直度等多項(xiàng)精度實(shí)現(xiàn)全 數(shù)檢驗(yàn)，提高了工作效率也提高了檢測(cè)精度，滿足了對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量全數(shù)檢測(cè)的要 求。
綜上所述，本說(shuō)明書中所述的只是本實(shí)用新型的幾種較佳具體實(shí)施例，以 上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非限制。凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人 員依本實(shí)用新型的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過(guò)邏輯分析、推理或者有限的實(shí) 驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案，皆應(yīng)在本實(shí)用新型的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種顯微鏡支架檢測(cè)器具，包括一基板，其特征在于所述基板上滑動(dòng)設(shè)置有用于將待檢工件定位并送入檢測(cè)區(qū)域的滑板裝置；所述基板一側(cè)還固定設(shè)置有用于檢測(cè)待檢工件高度、寬度及上下寬度偏斜度的立柱裝置；所述立柱裝置上端設(shè)置有用于檢測(cè)待檢工件同軸度、垂直度的擺桿裝置。
2、 如權(quán)利要求1所述的顯微鏡支架檢測(cè)器具，其特征在于所述滑板裝置 包括分別設(shè)置在所述基板兩側(cè)的左側(cè)板、右側(cè)板，及借助所述左側(cè)板、 右側(cè)板與所述基板滑動(dòng)設(shè)置的滑板，所述滑板上間隔設(shè)置有定位軸及定 位銷，所述定位軸頂端設(shè)置有一中心孔。
3、 如權(quán)利要求1所述的顯微鏡支架檢測(cè)器具，其特征在于所述立柱裝置 包括立柱體，所述立柱體兩側(cè)上下分別固定設(shè)置有兩上定位板及兩下定 位塊，所述立柱體上端正面還固定設(shè)置有高度定位塊。
4、 如權(quán)利要求1所述的顯微鏡支架檢測(cè)器具，其特征在于所述擺桿裝置 包括固定設(shè)置在所述立柱體頂端的擱架及活動(dòng)架，所述活動(dòng)架在對(duì)應(yīng)所 述立柱體的一端通過(guò)一定芯軸可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置有一帶軸套的活動(dòng)套座，所 述活動(dòng)套座的所述軸套中設(shè)置有一可上下移動(dòng)的檢測(cè)軸。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種顯微鏡支架檢測(cè)器具，包括一基板，所述基板上滑動(dòng)設(shè)置有用于將待檢工件定位并送入檢測(cè)區(qū)域的滑板裝置；所述基板一側(cè)還固定設(shè)置有用于檢測(cè)待檢工件高度、寬度及上下寬度偏斜度的立柱裝置；所述立柱裝置上端設(shè)置有用于檢測(cè)待檢工件同軸度、垂直度的擺桿裝置。由于采用了上述結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型獲得了使用便利、成本低、效率高、精確性好、穩(wěn)定性高的有益效果。
文檔編號(hào)G02B21/00GK201075148SQ20072007423
公開日2008年6月18日 申請(qǐng)日期2007年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月30日
發(fā)明者方立新, 陳阿芳 申請(qǐng)人:上海廣瀨-關(guān)勒銘精密機(jī)械有限公司