專利名稱：電致發(fā)光顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在各個(gè)像素中具備電致發(fā)光元件的顯示裝置，特別是帶顯示散差(Sbo含)校正功能的顯示裝置。
技術(shù)背景在各個(gè)像素的顯示元件中采用作為自發(fā)光元件的電致發(fā)光元件(以下稱為EL元件)等的EL顯示裝置，正在研究開發(fā)，期待成為下一代的平 面顯示裝置。在這樣的EL顯示裝置中，作成在玻璃或塑料等基板上形成有EL元 件和按照每個(gè)像素驅(qū)動(dòng)該EL元件的薄膜晶體管(TFT)等的EL面板，然 后經(jīng)由多次的檢查而作為產(chǎn)品出廠。在當(dāng)前的有源矩陣型EL顯示裝置中，各個(gè)像素中具備TFT，會(huì)發(fā)生 起因于該TFT的顯示不均、特別是由于TFT的閾值Vth的散差而發(fā)生EL 元件的亮度散差，是導(dǎo)致成品率低的主要原因。提高這樣產(chǎn)品的成品率是 非常重要的，要求根據(jù)元件設(shè)計(jì)、材料、制造方法等的改良降低顯示缺陷 或顯示不均(顯示散差)，而且，在特開2005—316408號(hào)公報(bào)(以下，專 利文獻(xiàn)l)等當(dāng)中，嘗試在發(fā)生顯示不均等情況下，通過對(duì)其進(jìn)行校正使 其成為良品面板。在專利文獻(xiàn)1中提出了如下的方案使EL元件發(fā)光來(lái)測(cè)量其亮度散 差，對(duì)供給像素的數(shù)據(jù)信號(hào)(視頻信號(hào))進(jìn)行校正。另外，作為其他方法 提出了對(duì)各個(gè)像素，安裝用于校正對(duì)流入EL元件的電流進(jìn)行控制的元件 驅(qū)動(dòng)晶體管Vth的散差的電路。專利文獻(xiàn)l的使EL面板發(fā)光、用照相機(jī)對(duì)其進(jìn)行拍攝來(lái)測(cè)量亮度散 差的方法，在出廠后不能執(zhí)行，對(duì)于面板隨時(shí)間變化等所需要的校正不能 實(shí)行。另外，在EL面板高精細(xì)化而增大像素?cái)?shù)量時(shí)，為了按照各個(gè)像素測(cè)量其亮度散差需要增加測(cè)量和校正對(duì)象，需要照相機(jī)的高分辨率、擴(kuò)大 校正信息的存儲(chǔ)部的容量等。另外，即使Vth補(bǔ)償用的電路元件未安裝在像素中的情況下，也非常 強(qiáng)烈地要求校正起因于TFT的Vth的散差的顯示不均。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明其目的在于，提供一種即使是在出廠后，也能夠迅速地執(zhí)行EL顯示裝置的顯示散差的測(cè)量及其校正。本發(fā)明技術(shù)方案一的電致發(fā)光顯示裝置，具備顯示部，其具備矩陣 配置的多個(gè)像素；驅(qū)動(dòng)部，其用于基于自外部供給的視頻信號(hào)來(lái)控制上述顯示部的動(dòng)作，上述驅(qū)動(dòng)部具備驅(qū)動(dòng)器，其用于進(jìn)行上述顯示部的行方 向的驅(qū)動(dòng)和列方向的驅(qū)動(dòng)；散差檢測(cè)部，其檢測(cè)在各個(gè)像素的顯示散差的 檢査結(jié)果；和校正部，其用于校正顯示散差，上述顯示部的上述多個(gè)像素 的每一個(gè)具備電致發(fā)光元件；元件驅(qū)動(dòng)晶體管，其與該電致發(fā)光元件連 接，用于控制在該電致發(fā)光元件中流動(dòng)的電流。在上述顯示部中，在矩陣 的列方向設(shè)置用于對(duì)上述各個(gè)像素的上述電致發(fā)光元件的陰極電極供給 電源的多條電源線，上述散差檢測(cè)部具備檢查用信號(hào)發(fā)生部，其發(fā)生供 給到檢查行的像素的檢査用信號(hào)，并將該檢査用信號(hào)供給到該像素；電流 檢測(cè)放大器，其用于檢測(cè)在上述電致發(fā)光元件中流動(dòng)的電流；和模擬數(shù)字 變換部，其將來(lái)自上述電流檢測(cè)放大器的模擬電流檢測(cè)信號(hào)變換為數(shù)字信 號(hào)。上述電流檢測(cè)放大器相對(duì)矩陣的多列對(duì)應(yīng)地設(shè)置一個(gè)，并與上述電源 線連接，在消隱期間中，由上述驅(qū)動(dòng)器選擇規(guī)定的檢查行的像素，且在該 像素中，將供給使該電致發(fā)光元件達(dá)到發(fā)光電平的檢査用導(dǎo)通顯示信號(hào)時(shí) 的上述電致發(fā)光元件中所流動(dòng)的電流作為所述檢查用信號(hào)，通過對(duì)應(yīng)的上 述電源線檢測(cè)出。上述模擬數(shù)字變換部是與上述電流檢測(cè)放大器對(duì)應(yīng)，對(duì) 上述多列設(shè)置一個(gè)的逐次比較型模擬數(shù)字變換部，具備比較器，其比較 來(lái)自上述電流檢測(cè)放大器的上述模擬電流檢測(cè)信號(hào)和基準(zhǔn)信號(hào)；逐次近似 寄存器，其考慮來(lái)自上述比較器的比較信號(hào)，從高位比特側(cè)開始逐次變更數(shù)據(jù)值并供給到數(shù)字模擬變換部；和數(shù)字模擬變換部，其將來(lái)自上述逐次 近似寄存器的數(shù)字信號(hào)變換為模擬信號(hào)，并作為基準(zhǔn)信號(hào)供給到上述比較器，上述數(shù)字模擬變換部，在多個(gè)上述模擬數(shù)字變換部中被共用。本發(fā)明的另一技術(shù)方案，在上述裝置中，上述檢查用信號(hào)發(fā)生部，在 上述消隱期間中，對(duì)上述檢査行的像素供給上述檢查用導(dǎo)通信號(hào)以及使上 述電致發(fā)光元件達(dá)到不發(fā)光電平的檢查用截止信號(hào)來(lái)作為上述檢查用信 號(hào)，上述電流檢測(cè)放大器檢測(cè)在自上述電源線得到的上述檢查用導(dǎo)通信號(hào) 的施加時(shí)在上述電致發(fā)光元件中流動(dòng)的電流和上述檢査用截止信號(hào)施加 時(shí)的截止電流，上述模擬數(shù)字變換部，將來(lái)自上述電流檢測(cè)放大器的輸出 變換為對(duì)應(yīng)的數(shù)字導(dǎo)通電流檢測(cè)信號(hào)、數(shù)字截止電流檢測(cè)信號(hào)，減法運(yùn)算 部求取上述數(shù)字導(dǎo)通電流檢測(cè)信號(hào)和數(shù)字截止電流檢測(cè)信號(hào)之差，上述校 正部使用與檢測(cè)出的上述導(dǎo)通電流和上述截止電流之間的電流差對(duì)應(yīng)的 電流差信號(hào)來(lái)進(jìn)行校正。本發(fā)明另一技術(shù)方案，在上述裝置中，上述驅(qū)動(dòng)部具備顯示數(shù)據(jù)用數(shù) 字模擬變換部，該顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部對(duì)上述顯示部的各個(gè)像素， 將作為數(shù)字信號(hào)處理且與顯示內(nèi)容相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)作為模擬數(shù)據(jù)信號(hào) 供給，該顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部的電阻串與上述逐次比較型模擬數(shù)字 變換部的上述數(shù)字模擬變換部的電阻串共用。本發(fā)明的另一技術(shù)方案，在上述裝置中，上述多個(gè)像素的每一個(gè)，還 具備保持電容，該保持電容用于保持上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極電位，上 述保持電容的第一電極與上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極連接，該保持電容的 第二電極與在每一行所設(shè)置的電容線連接，上述驅(qū)動(dòng)部具備電容線控制 部，該電容線控制部，在上述消隱期間中的上述檢查用信號(hào)的寫入期間中， 將上述檢查行的電容線的電位設(shè)為使上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極電位為 不動(dòng)作的第一電位，在該消隱期間的結(jié)束為止的上述數(shù)據(jù)信號(hào)的再寫入期 間中，將上述檢查行的電容線的電位設(shè)置為使上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管為可動(dòng) 作的第二電位。本發(fā)明的另一技術(shù)方案，在上述裝置中，上述電容線控制部還在上述 消隱期間，將上述顯示部的上述檢查行以外的所有行的電容線的電位固定 為上述第一電位。本發(fā)明的另一技術(shù)方案，在上述裝置中，上述電致發(fā)光元件中所流動(dòng) 的電流為陰極電流。本發(fā)明的另一技術(shù)方案，在上述裝置中，上述電致發(fā)光元件的電極為 陰極電極，上述電源線為陰極電流線。在本發(fā)明中，在視頻信號(hào)的消隱期間中，驅(qū)動(dòng)在各個(gè)像素中設(shè)置的EL元件的元件驅(qū)動(dòng)晶體管在飽和區(qū)域工作，使EL元件發(fā)光，測(cè)量此時(shí)的 EL元件中所流動(dòng)的電流例如陰極電流。在EL元件中，流過元件的電流與 發(fā)光亮度具有相關(guān)關(guān)系，通過測(cè)量在EL元件中流動(dòng)的電流可以檢測(cè)EL 元件的顯示散差。進(jìn)而，在通常的顯示動(dòng)作之間的消隱期間中執(zhí)行該檢測(cè)， 因此即使在顯示裝置出廠后發(fā)生的顯示散差(顯示不均)，也可以實(shí)時(shí)地 校正該顯示散差。另外，測(cè)量對(duì)象不是發(fā)光亮度，而是在EL元件中流動(dòng)的電流，因此 以簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)可以進(jìn)行測(cè)量。進(jìn)而，使EL元件導(dǎo)通截止，測(cè)量此時(shí)的導(dǎo) 通截止電流值，則以截止電流為基準(zhǔn)可以正確地知道導(dǎo)通電流，容易進(jìn)行 正確且高速的測(cè)量和校正處理。針對(duì)來(lái)自電流檢測(cè)放大器的檢測(cè)信號(hào)，由模擬數(shù)字變換部變換為數(shù)字 信號(hào)而用于校正，因此可以高速地執(zhí)行校正處理，作為該模擬數(shù)字變換部， 采用逐次比較型模擬數(shù)字變換部，因此以簡(jiǎn)單的構(gòu)成可以實(shí)現(xiàn)變換功能。 電流檢測(cè)和模擬數(shù)字變換所需要的時(shí)間，通過將多個(gè)列與一個(gè)電流檢測(cè)放 大器對(duì)應(yīng)，而同時(shí)執(zhí)行對(duì)于多個(gè)列的電流檢測(cè)，且通過執(zhí)行模擬數(shù)字變換， 實(shí)現(xiàn)處理時(shí)間的縮短。因而，與象素?cái)?shù)目、列數(shù)目相比使用少量的放大器 和變換部即可，有助于顯示裝置的小型化。另外，對(duì)于在面板整體設(shè)置多個(gè)逐次比較型模擬數(shù)字變換部，通過將 該數(shù)字模擬變換部在各個(gè)模擬數(shù)字變換部中共用，實(shí)現(xiàn)模擬數(shù)字變換部的 小面積化。


圖1是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式相關(guān)的EL元件顯示裝置的概略電路構(gòu) 成的一例的等效電路圖。圖2 (a)和圖2 (b)是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式相關(guān)的元件驅(qū)動(dòng)晶體 管的特性散差測(cè)量原理的圖。圖3是表示具備本發(fā)明的實(shí)施方式相關(guān)的顯示散差校正功能的EL顯示裝置的構(gòu)成例的圖。圖4是表示比圖3的驅(qū)動(dòng)部更具體的構(gòu)成的一部分的圖。圖5是表示對(duì)元件驅(qū)動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值的偏差和對(duì)該偏差的校正方法 進(jìn)行說(shuō)明的圖。圖6是說(shuō)明與動(dòng)作閾值的偏差相對(duì)應(yīng)的校正數(shù)據(jù)的求取方法的圖。 圖7是表示本發(fā)明的實(shí)施方式相關(guān)的電流檢測(cè)部330的概略構(gòu)成的圖。圖8是表示本發(fā)明的實(shí)施方式相關(guān)的電流檢測(cè)部和源極驅(qū)動(dòng)器的布局 的一例的圖。圖9是說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式相關(guān)的驅(qū)動(dòng)方式的時(shí)序圖。
具體實(shí)施方式
以下，使用附圖對(duì)本發(fā)明的最佳實(shí)施方式(以下、稱為實(shí)施方式)進(jìn) 行說(shuō)明。(檢測(cè)原理)在本實(shí)施方式中，顯示裝置，具體地說(shuō)是有源矩陣型的有機(jī)EL顯示 裝置，在EL面板100中形成具備多個(gè)像素的顯示部。圖1是表示與該實(shí) 施方式相關(guān)的有源矩陣型EL顯示裝置的等效電路的一例的圖。EL面板 100的顯示部中，多個(gè)像素被配置成矩陣狀，在矩陣的水平(H)掃描方 向(行方向)形成依次輸出選擇信號(hào)的選擇線(line)(柵極線GL) 10， 在作為被驅(qū)動(dòng)元件的有機(jī)EL元件(以下，簡(jiǎn)單地稱為EL元件)18中形 成用于供給驅(qū)動(dòng)電源PVDD的電源線16 (VL)。在垂直(V)掃描方向(列 方向)，形成用于輸出數(shù)據(jù)信號(hào)(Vsig)的數(shù)據(jù)線12 (DL)。另外，在列 方向形成與各個(gè)EL元件的陰極電極一體的條紋(stripe)狀的陰極電源線 18 (CV)。各個(gè)像素大致設(shè)置在由這些線所劃分的區(qū)域中，各個(gè)像素作為被驅(qū)動(dòng) 元件具備EL元件18，另外，設(shè)置有由n溝道的TFT構(gòu)成的選擇晶體管 Trl (以下，為"選擇Trl")、保持電容Cs、由p溝道的TFT構(gòu)成的元件 驅(qū)動(dòng)晶體管Tr2 (以下，為"元件驅(qū)動(dòng)Tr2")。選擇Trl，其漏極與數(shù)據(jù)線12連接，該數(shù)據(jù)線12對(duì)在垂直掃描方向排列的各個(gè)像素供給數(shù)據(jù)電壓(Vsig)，柵極與柵極線10連接，該柵極線 10用于選擇在一水平掃描線上排列的像素，其源極與元件驅(qū)動(dòng)Tr2的柵極 連接。另外，元件驅(qū)動(dòng)Tr2的源極與電源線16連接，漏極與EL元件18的 陽(yáng)極連接。EL元件的陰極與公共的陰極電源CV連接。EL元件18，為二極管結(jié)構(gòu)，在下部電極和上部電極之間具備發(fā)光元 件層。發(fā)光元件層，例如至少具備包括有機(jī)發(fā)光材料的發(fā)光層，根據(jù)用于 發(fā)光元件層的材料特性等，可以采用單層結(jié)構(gòu)或2層、3層或4層以上的 多層結(jié)構(gòu)。在本實(shí)施方式中，按照每個(gè)像素將下部電極圖案化為個(gè)別形狀， 起到上述陽(yáng)極的功能，與元件驅(qū)動(dòng)Tr2連接。另外，上部電極在多個(gè)像素 中共同起到陰極的作用。在每個(gè)像素具備上述電路結(jié)構(gòu)的有源矩陣型EL顯示裝置中，元件驅(qū) 動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值Vth存在散差時(shí)，即使對(duì)各個(gè)像素供給同一數(shù)據(jù)信號(hào)， 在EL元件中也不能從驅(qū)動(dòng)電源PVDD供給同一電流，這是導(dǎo)致亮度散差 (顯示散差)的原因。圖2表示了元件驅(qū)動(dòng)Tr2發(fā)生特性散差(電流供給特性散差、例如動(dòng) 作閾值Vth的散差)時(shí)的像素的等效電路(圖2 (b))，和元件驅(qū)動(dòng)TV2和 EL元件的Vds—Ids特性(圖2 (a))。元件驅(qū)動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值Vth存在 散差時(shí)，在電路上如圖2 (b)所示，可以視為在元件驅(qū)動(dòng)Tr2的漏極側(cè)連 接了比正常的電阻大或小的電阻。因而，EL元件所流動(dòng)的電流(在本實(shí) 施方式中，陰極電流Icv)特性不能變化為正常像素，實(shí)際在EL元件中流 動(dòng)的電流按照元件驅(qū)動(dòng)Tr2的特性散差而變化。對(duì)元件驅(qū)動(dòng)Tr2施加電壓滿足Vgs—Vth<Vds時(shí)，元件驅(qū)動(dòng)Tr2在飽 和區(qū)域動(dòng)作。在元件驅(qū)動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值Vth比正常像素高的像素中，如 圖2 (a)所示，該晶體管的漏源極間電流Ids比正常的晶體管小，供給到 EL元件的電流量，即EL元件的流過電流比正常像素小(AI大)，其結(jié)果，該像素的發(fā)光亮度比正常像素的發(fā)光亮度低，導(dǎo)致顯示散差。反之，在元件驅(qū)動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值Vth比正常像素低的像素中，該晶 體管的漏源極間電流Ids比正常的晶體管大，EL元件的流動(dòng)電流比正常像 素大，發(fā)光亮度高。另夕卜，對(duì)元件驅(qū)動(dòng)Tr2的施加電壓滿足Vgs—Vth〉Vds時(shí)，該元件驅(qū) 動(dòng)Tr2在線性區(qū)域動(dòng)作，在該線性區(qū)域中，閾值Vth高的元件驅(qū)動(dòng)Tr2與 閾值Vth低的元件驅(qū)動(dòng)Tr2中，因?yàn)閂ds—Ids特性差小，所以對(duì)EL元件 的供給電流量的差(AI)也小。因此，EL元件與元件驅(qū)動(dòng)Tr2的特性散 差的有無(wú)無(wú)關(guān)，大致顯示同樣的發(fā)光亮度，在線性區(qū)域中難以檢測(cè)由特性 散差導(dǎo)致的顯示散差。但是如上所述，通過使元件驅(qū)動(dòng)Tr2在飽和區(qū)域動(dòng) 作，可以檢測(cè)出起因于該元件驅(qū)動(dòng)Tr2的特性散差的顯示散差。另外，基于檢測(cè)出的電流值，校正供給到各個(gè)像素的數(shù)據(jù)信號(hào)，由此 可以可靠地校正顯示散差。例如在元件驅(qū)動(dòng)Tr2的閾值的絕對(duì)值I Vth I 比正常低時(shí)，供給基準(zhǔn)的數(shù)據(jù)信號(hào)時(shí)的EL元件的發(fā)光亮度比通常高。因 此，此時(shí)，按照對(duì)于閾值的絕對(duì)值I Vth I的基準(zhǔn)的偏差來(lái)減小數(shù)據(jù)信號(hào) 的絕對(duì)值I Vsig I ，由此可以校正亮度散差。在元件驅(qū)動(dòng)Tr2的閾值的絕 對(duì)值I Vth 1比正常高時(shí)，按照相對(duì)于閾值的絕對(duì)值I Vth i的基準(zhǔn)的偏差 增加數(shù)據(jù)信號(hào)的絕對(duì)值I Vsig I ，由此可以校正亮度散差。另外，在以上的像素電路中，作為元件驅(qū)動(dòng)晶體管，采用P溝道的TFT， 但是也可以使用N溝道的TFT。進(jìn)而，在上述的像素電路中，對(duì)于一個(gè)像 素，作為晶體管，采用具備選擇晶體管和驅(qū)動(dòng)晶體管這兩個(gè)晶體管的結(jié)構(gòu) 的例子進(jìn)行說(shuō)明，但是，晶體管并不局限于兩種類型和上述電路構(gòu)成。在本實(shí)施方式中，如以上那樣，根據(jù)EL元件的陰極電流可以檢測(cè)出 起因于各個(gè)像素的元件驅(qū)動(dòng)Tr的特性散差的EL元件的亮度散差并對(duì)其進(jìn) 行校正。而且，該電流檢測(cè)(散差檢測(cè))和校正在顯示裝置的通常動(dòng)作時(shí)， 在視頻信號(hào)的 一個(gè)消隱期間中執(zhí)行。更具體地說(shuō)，陰極電流的檢測(cè)處理，在視頻信號(hào)的一個(gè)消隱期間中， 選擇顯示部的規(guī)定的1行作為檢査行，向?qū)?yīng)的像素供給檢查用信號(hào)，檢 測(cè)從該像素的EL元件的陰極電極流出到陰極端子的陰極電流Icv。消隱期 間，為垂直消隱期間或水平消隱期間，采用任何一個(gè)都可以，以下，根據(jù) 電流檢測(cè)處理速度的余度優(yōu)先的觀點(diǎn)，以在垂直消隱期間進(jìn)行檢查的方法 為例進(jìn)行說(shuō)明。另外，在本實(shí)施方式中，為了縮短對(duì)所有像素得到檢査結(jié) 果為止的時(shí)間，如上所述，將陰極電極在列方向分割為多個(gè)(在圖l的例 子中按照每一列進(jìn)行分割)，分時(shí)對(duì)每一列進(jìn)行檢查。這樣將陰極電極按照每一列分割為多個(gè)，在垂直消隱期間中，執(zhí)行陰 極電流的檢測(cè)的情況下，在一個(gè)垂直消隱期間中對(duì)屬于規(guī)定的1個(gè)檢查行 (第n行)的所有像素分別供給檢查用信號(hào)，檢測(cè)各列中的陰極電流。按 照每個(gè)垂直消隱期間變更檢查行來(lái)執(zhí)行該步驟，對(duì)所有行進(jìn)行檢測(cè)，從而 得到所有像素的陰極電流。在該方式中，對(duì)于矩陣的各列一對(duì)一地設(shè)置電流檢測(cè)部的情況下，VGA面板合計(jì)用大約8秒(二1/60秒X480行)對(duì)所 有像素執(zhí)行陰極電流檢測(cè)。對(duì)矩陣的各列一對(duì)一地設(shè)置電流檢測(cè)部，即需要設(shè)置與列數(shù)量相等的 電流檢測(cè)部，可以妨礙顯示裝置的小型化。因此，在本實(shí)施方式中，電流 檢測(cè)部的模擬數(shù)字(AD)變換部，采用結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的逐次比較型AD變換 部，進(jìn)而，在多個(gè)AD變換電路中共用用于該AD變換電路的DA變換部， 可以削減電流檢測(cè)部的設(shè)置面積。另外，逐次比較型AD變換部，如上所述為簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)，采用從最高 位比特(MSB)開始依次比較值的處理，因此數(shù)字信號(hào)的比特?cái)?shù)越多處理 越需要時(shí)間。因此，對(duì)于顯示部的像素的全列，由單一的電流檢測(cè)部，在 一次檢査期間(例如，1個(gè)垂直掃描(V)期間的垂直消隱期間)中，進(jìn) 行電流檢測(cè)，得到其結(jié)果的數(shù)字信號(hào)不容易。因此，在本實(shí)施方式中，作為電流檢測(cè)部的AD變換部，采用逐次比 較型AD變換部，而且可以以更短的時(shí)間執(zhí)行對(duì)所有的像素的電流檢測(cè)和 校正，因此按照多個(gè)列分配一個(gè)電流檢測(cè)部，由時(shí)分割處理實(shí)現(xiàn)處理速度 的提高。例如，上述VGA面板的四分之一大小的QVGA面板(240行X320 歹iJXVGA)為例，R、 G、 B合計(jì)存在960列，將其分割為10份，執(zhí)行電 流檢測(cè)。即每96列設(shè)置一個(gè)電流檢測(cè)部。此時(shí)，大約40秒(1/60秒X240 X10)可以對(duì)所有像素執(zhí)行電流檢測(cè)，另一方面，電流檢測(cè)部的配置數(shù)量 也可以是10個(gè)，可以不妨礙顯示裝置的小型化，執(zhí)行后述的電流檢測(cè)和 散差校正。另外，陰極電流線18，按照列的分割數(shù)，按照每個(gè)與最低限相 等的列數(shù)分割即可，但是，從后來(lái)的分割數(shù)的變更的對(duì)應(yīng)或降低顯示部?jī)?nèi) 的每個(gè)像素的結(jié)構(gòu)差異的觀點(diǎn)出發(fā)，在本實(shí)施方式中，將該陰極電源線18 如圖l所示按照每一列分別設(shè)置，如后所述，電流檢測(cè)部與對(duì)應(yīng)的列數(shù)相等的條數(shù)的陰極電源線18連接。 (裝置構(gòu)成例)接著，參照?qǐng)D3和圖4對(duì)具備與本實(shí)施方式相關(guān)的散差校正功能的電致發(fā)光顯示裝置的構(gòu)成例進(jìn)行說(shuō)明。圖3表示電致發(fā)光顯示裝置的整體的 構(gòu)成的一例。該顯示裝置，具備EL面板100，其形成具備上述的像素的 顯示部；驅(qū)動(dòng)部200，其控制顯示部的顯示和動(dòng)作，驅(qū)動(dòng)部200大致具備 顯示控制部210和散差檢測(cè)部300。另外，顯示控制部210，具有信號(hào)處理部230、散差校正部250、時(shí)鐘 信號(hào)生成(T/C)部240、驅(qū)動(dòng)器220等。信號(hào)處理部230，根據(jù)來(lái)自外部的彩色視頻信號(hào)生成適于在EL面板 100中顯示的顯示數(shù)據(jù)信號(hào)，定時(shí)(timing)信號(hào)生成部240，根據(jù)外部供 給的像點(diǎn)時(shí)鐘(DOTCLK)、同步信號(hào)(HsynoVsyno)等，生成H方向、 V方向的時(shí)鐘CKH、 CKV、水平、垂直起動(dòng)信號(hào)STH、 STV等、顯示部 所需要的各種定時(shí)信號(hào)。散差校正部250，使用散差檢測(cè)部300所供給的 校正數(shù)據(jù)，校正視頻信號(hào)，使其與作為驅(qū)動(dòng)對(duì)象的EL面板的特性匹配。驅(qū)動(dòng)器220，根據(jù)自定時(shí)信號(hào)生成部240得到各種定時(shí)信號(hào)，生成在 H方向、V方向驅(qū)動(dòng)EL面板100的信號(hào)，并供給到像素，并且將顯示數(shù) 據(jù)信號(hào)(Vsig)供給到與從散差校正部250供給的校正后的視頻信號(hào)相對(duì) 應(yīng)的各個(gè)像素。另外，驅(qū)動(dòng)器220，如圖1所例示，具備控制顯示部的H (行)方向的驅(qū)動(dòng)的H驅(qū)動(dòng)器220H和控制V (列)方向的驅(qū)動(dòng)的V驅(qū)動(dòng) 器220V。如圖1所示，該H驅(qū)動(dòng)器220H和V驅(qū)動(dòng)器220V，可以配置在 EL面板100的顯示區(qū)域的周邊，也可以與圖1的像素電路同樣地內(nèi)置在 面板基板上，也可以與EL面板IOO分體地，與圖3的驅(qū)動(dòng)部200 —起或 其他的集成電路(IC)構(gòu)成。散差檢測(cè)部300，在EL面板100的通常使用環(huán)境下的消隱期間執(zhí)行 檢測(cè)顯示散差而得到校正值的動(dòng)作。在圖3的例子中，具備控制散差檢 查的檢查控制部310;用于發(fā)生檢查用信號(hào)并供給到EL面板的檢查行的 像素的檢查用信號(hào)發(fā)生電路320;在供給上述檢查用信號(hào)時(shí)檢測(cè)從陰極電 極得到的陰極電流的陰極電流檢測(cè)部330;存儲(chǔ)陰極電流檢測(cè)結(jié)果的存儲(chǔ) 器340;根據(jù)檢測(cè)出的陰極電流生成校正數(shù)據(jù)的校正數(shù)據(jù)生成部350等。另外，在檢查時(shí)，用于選擇檢查行的像素，為了進(jìn)行檢查所需要的選擇信 號(hào)的生成或用于后述的規(guī)定行的電位控制的控制信號(hào)發(fā)生電路，可以按照安裝在驅(qū)動(dòng)器220內(nèi)的檢查控制部310的控制執(zhí)行。另外，該構(gòu)成，也可 以由專用的檢查用的控制信號(hào)發(fā)生電路執(zhí)行，也可以由檢查控制部310執(zhí)行。圖4表示圖3的驅(qū)動(dòng)部200更具體的構(gòu)成的一部分。陰極電流檢測(cè)部 330與顯示部的矩陣的多列對(duì)應(yīng)地設(shè)置一個(gè)，該陰極電流檢測(cè)部330具備 電流檢測(cè)放大器370、模擬數(shù)字(AD)變換部380、減法運(yùn)算部332。電 流檢測(cè)放大器370在圖4的例子中，在放大器的輸出和電流輸入側(cè)之間具 備電阻R，根據(jù)該陰極電流lev流過電阻R所產(chǎn)生的電壓[IR]和基準(zhǔn)電壓 Vref，得到自EL面板的多個(gè)陰極電極端子Tcv內(nèi)、對(duì)應(yīng)的端子Tcv所得 到陰極電流Icv，作為用[Vref+IR]所表示的電流檢測(cè)數(shù)據(jù)(電壓數(shù)據(jù))。 AD變換部380將電流檢測(cè)放大器370所得到的電流檢測(cè)數(shù)據(jù)變換為規(guī)定 比特?cái)?shù)的數(shù)字信號(hào)。作為該AD變換部380詳細(xì)地在后面描述，但采用逐 次比較型AD變換電路，在多個(gè)AD變換部380中共用DA變換部。減法運(yùn)算部332中，被供給從AD變換部380得到的數(shù)字檢測(cè)數(shù)據(jù)。 這里，作為檢查信號(hào)通過供給使EL元件的發(fā)光達(dá)到發(fā)光電平的檢查用導(dǎo) 通顯示信號(hào)，可以在原理上檢測(cè)與元件驅(qū)動(dòng)Tr2的閾值散差對(duì)應(yīng)的顯示不 均。但是，作為檢査用信號(hào)，還對(duì)檢查行的像素供給上述檢查用導(dǎo)通顯示 信號(hào)和使EL元件達(dá)到不發(fā)光電平的檢査用截止顯示信號(hào)，檢查在檢查用 導(dǎo)通顯示信號(hào)施加時(shí)的導(dǎo)通陰極電流和上述檢查用截止顯示信號(hào)施加時(shí) 的截止陰極電流，通過求得其差值A(chǔ)Icv，可以實(shí)現(xiàn)檢查的高速化和檢查的高精度化。這樣可以測(cè)量截止陰極電流ICV。ff，以該ICV。ff為基礎(chǔ)可以相對(duì)地把握作為基準(zhǔn)的導(dǎo)通顯示信號(hào)時(shí)的導(dǎo)通陰極電流Icv。n，因此不需要準(zhǔn) 確地判斷導(dǎo)通陰極電流Icv。n的絕對(duì)值，也不需要測(cè)量作為其他基準(zhǔn)的截止 陰極電流ICV。ff。即使用導(dǎo)通陰極電流和截止陰極電流之間的差量(陰極電 流差)，由此從該陰極電流中消除了上述電流檢測(cè)放大器332的特性散差 等影響，另外，也可以由于不需要用于判斷導(dǎo)通陰極電流值的絕對(duì)值的基 準(zhǔn)值的緣故。具體地說(shuō)，分別讀入Vref+Icv。nXR、 Vref+Icv。ffXR，用 AD變換部380進(jìn)行數(shù)字變換，通過由減法運(yùn)算部332減去與導(dǎo)通陰極電流和截止陰極電流對(duì)應(yīng)而依次分別得到的數(shù)字電流檢測(cè)信號(hào)，最終可以求得(Icv0ll —Icvoff) XR、 AIcv=Icvon — Icvoffo存儲(chǔ)器340，如上所述，作為一例，用40秒左右，存儲(chǔ)針對(duì)所有像素 的陰極電流檢測(cè)數(shù)據(jù)，存儲(chǔ)器340保存對(duì)該所有像素的陰極電流檢測(cè)數(shù)據(jù) 直到至少下一次對(duì)所有的像素得到新陰極電流檢測(cè)數(shù)據(jù)為止。校正數(shù)據(jù)生成部350，基于保存在存儲(chǔ)器340中的每個(gè)象素的陰極電 流檢測(cè)數(shù)據(jù)，針對(duì)視頻數(shù)據(jù)生成校正數(shù)據(jù)，該校正數(shù)據(jù)用于對(duì)由于各個(gè)像 素的元件驅(qū)動(dòng)Tr2的特性散差所引起的顯示散差進(jìn)行校正。例如，如圖5所示，在施加使EL元件處于發(fā)光狀態(tài)的同一檢査用信 號(hào)的時(shí)候，測(cè)量對(duì)象的像素的元件驅(qū)動(dòng)Tr2的閾值Vth移動(dòng)到比正常的元 件驅(qū)動(dòng)Tr2的閾值Vth高的高壓側(cè)時(shí)(圖中單點(diǎn)劃線)，得到的陰極電流 對(duì)于正常像素為Icva，在移動(dòng)后的像素中為Icvb。因此，校正數(shù)據(jù)生成部350，如圖5所示，元件驅(qū)動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值 Vth偏離正常的TFT時(shí)，根據(jù)陰極電流檢測(cè)數(shù)據(jù)求得補(bǔ)償該動(dòng)作閾值Vth 的偏差的校正數(shù)據(jù)。在概念上，根據(jù)該校正數(shù)據(jù)，如圖5中的虛線所示的 特性，按照動(dòng)作閾值Vth的偏差大小來(lái)移動(dòng)供給到各個(gè)像素的數(shù)據(jù)信號(hào)的 電壓。這里，對(duì)用于移動(dòng)這樣的數(shù)據(jù)信號(hào)的電壓的校正數(shù)據(jù)的生成方法的一 例進(jìn)行具體地說(shuō)明。首先，各個(gè)像素的動(dòng)作閾值與基準(zhǔn)的偏差可以根據(jù)下 式(1)求出。 (數(shù)l)<formula>formula see original document page 15</formula>(1)義<在式(1)中，Vth (i)、 V (Icv)、 Vsigon以及7是按照以下進(jìn)行定 Vth (i):檢測(cè)對(duì)象像素的動(dòng)作閾值的偏差V (AIcv):檢查對(duì)象像素的導(dǎo)通截止陰極電流值(電壓數(shù)據(jù))V (AIcvref):基準(zhǔn)導(dǎo)通截止陰極電流值(電壓數(shù)據(jù))15Vsigon:檢査用導(dǎo)通顯示信號(hào)的灰度等級(jí) 7:顯示面板的發(fā)光效率特性(常數(shù)值)將檢查用導(dǎo)通顯示信號(hào)的灰度等級(jí)(level) [Vsigon]例如設(shè)定在240 (0 255)的情況下，根據(jù)該灰度等級(jí)240、檢査對(duì)象像素的導(dǎo)通截止陰 極電流值[V (AIcv)]、基準(zhǔn)的導(dǎo)通截止陰極電流值[V (AIcvrref)]、 常數(shù)的發(fā)光效率特性7，能夠用上述式(1)求得針對(duì)各個(gè)像素的基準(zhǔn)的動(dòng) 作閾值偏差Vth (i)。例如，對(duì)于A E像素，如以下所示，分別求得距離 基準(zhǔn)的閾值偏差量Vth (i)。V t h (A) =0V t h (B) =13. 4V t h (G) =17. 0V t h (D) = 3. 2V t〖，(E) =20. 7在上述例子中，像素E的閾值Vth偏差最大，對(duì)各個(gè)像素供給同一灰 度等級(jí)的數(shù)據(jù)信號(hào)時(shí)，像素E在顯示部當(dāng)中以最大的低灰度發(fā)光。另一方 面，可供給到各個(gè)像素的數(shù)據(jù)信號(hào)的最大值是有限度的。因此，以該Vth(i),的像素E為基準(zhǔn)來(lái)決定數(shù)據(jù)信號(hào)的最大值Vsigmax。即從求得的各 個(gè)像素的Vth (i)當(dāng)中求得最大值Vth (i) max，并分別求得其他的像素的 Vth相對(duì)于該Vth (i) ^的差A(yù)Vth (i)。進(jìn)而，作為應(yīng)該供給該像素的 數(shù)據(jù)信號(hào)的最大值Vsigmax (i)，從Vsig^中減去得到的AVth (i)求得 [Vsig,— AVth (i)]，作為反映后述的式(2)的校正值的初始校正數(shù) RSFT (init)供給到散差校正部250。另外，如上所述，在校正數(shù)據(jù)生成部350所生成的各個(gè)像素的初始校 正數(shù)據(jù)，例如可以存儲(chǔ)在圖3所示的校正值存儲(chǔ)部280等中。散差校正部250，使用該存儲(chǔ)的校正數(shù)據(jù)直至得到新的校正數(shù)據(jù)為止， 對(duì)于從信號(hào)處理部230供給的視頻信號(hào)，按照各個(gè)像素執(zhí)行散差校正(二 次顯示不均校正)。信號(hào)處理部230，為將來(lái)自外部的彩色視頻信號(hào)變換為適于在EL面板 IOO中顯示的顯示信號(hào)用的信號(hào)處理電路，作為其一例，具有如圖4所示的構(gòu)成。串行/并行變換部232，將外部供給的視頻信號(hào)變換為并行數(shù)據(jù)，得到的并行視頻信號(hào)被供給到矩陣變換部236。在矩陣變換部236中，在 外部供給的視頻信號(hào)為YUV形式的情況下，進(jìn)行與EL面板的顯示色調(diào)對(duì) 應(yīng)的偏置處理。另外，Y是亮度信號(hào)、U是亮度信號(hào)與藍(lán)色成分之差、V 是亮度信號(hào)與紅色成分之差，YUN形式用這三個(gè)信息表示了顏色。另外， 矩陣變換部236，對(duì)并行視頻信號(hào)進(jìn)行適于該EL面板100的形式的間隔提 取等變換處理。另外， 一起還進(jìn)行色空間校正、明亮度/對(duì)比度度校正等。 進(jìn)而7值設(shè)定部238對(duì)矩陣變換部236來(lái)的視頻信號(hào)，進(jìn)行與EL面板100 對(duì)應(yīng)的7值的設(shè)定(7校正)，7校正后的視頻信號(hào)供給到上述散差校正部 250。這里，在散差校正部250中，作為一例使用下式(2)執(zhí)行二維顯示 不均校正。 (數(shù)2)<formula>formula see original document page 17</formula>在式(2)中，RSFT (init)是在校正數(shù)據(jù)生成部350中求得的反映校正 值的初始校正數(shù)據(jù)(在出廠前存在對(duì)各個(gè)像素的校正數(shù)據(jù)的情況下也是反 映了該校正數(shù)據(jù)后的值)。Rin是從信號(hào)處理部230供給的輸入視頻信號(hào)， 這里，為9位數(shù)據(jù)，具備0 5U中任意一個(gè)值。ADJ—SFT為校正值調(diào)整(力口 權(quán))參數(shù)，R—SFT是二維顯示不均校正后的顯示數(shù)據(jù)。根據(jù)圖5可理解，在元件驅(qū)動(dòng)Tr2的動(dòng)作閾值Vth產(chǎn)生偏差的情況下， 該TFT的特性曲線的斜率e與正常的TFT特性曲線的斜率不同。因此，僅 將數(shù)據(jù)信號(hào)簡(jiǎn)單地移動(dòng)Vth偏差大小的話就可以表現(xiàn)準(zhǔn)確的灰度。因此， 在散差校正部250中，使用上述式(2)等，考慮斜率3即上述式(2)的 加權(quán)參數(shù)，按照實(shí)際視頻信號(hào)的值(亮度等級(jí))實(shí)施最佳的校正，調(diào)整為 符合正常的TFT特性的陰極電流在EL元件中流動(dòng)。通過這樣的校正，可 以可靠地防止僅在簡(jiǎn)單的A Vth的移動(dòng)補(bǔ)正的情況下由于TFT特性的斜率 的不同而發(fā)生的低灰度側(cè)的偏白(向高灰度側(cè)的偏差)等。如以上所述，實(shí)施了二維顯示不均校正后的視頻信號(hào)被供給到數(shù)字模擬(DA)變換部260，在此變換為用于供給到各個(gè)像素的模擬數(shù)據(jù)信號(hào)。 該模擬數(shù)據(jù)信號(hào)，為應(yīng)該輸出到與顯示部對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線12的數(shù)據(jù)，輸出 到設(shè)置在面板100中的視頻線，按照V驅(qū)動(dòng)器220V的控制被供給到對(duì)應(yīng) 的數(shù)據(jù)線12。(陰極電流檢測(cè)部)接著，參照?qǐng)D7和圖8，對(duì)本實(shí)施方式的陰極電流檢測(cè)部330的構(gòu)成 進(jìn)行說(shuō)明。圖7表示陰極電流檢測(cè)部330的電流檢測(cè)放大器370和AD變 換部380的構(gòu)成，圖8表示電流檢測(cè)放大器370和AD變換部380和源極 驅(qū)動(dòng)器(H驅(qū)動(dòng)器)220H的概略布局。如已說(shuō)明的那樣，電流檢測(cè)部330，與矩陣的多列對(duì)應(yīng)地設(shè)置一個(gè)， 在電流檢測(cè)放大器370的輸入部，分別連接有對(duì)應(yīng)的多列的陰極電源線18 (例如，將QVGA面板的所有列分割為10份的情況下，18[k] 18[k + 95])。 另外，在多個(gè)的各個(gè)陰極電源線18與對(duì)應(yīng)的該電流檢測(cè)放大器370的輸 入端之間，設(shè)置有用于將來(lái)自各個(gè)線18的輸出選擇地供給到電流檢測(cè)放 大器370的開關(guān)SW30;和統(tǒng)一控制多個(gè)陰極電源線18和電流檢測(cè)放大器 370之間的連接的開關(guān)SW20。另外，在陰極電源CV和各個(gè)陰極電源線18 之間，設(shè)置用于在正常動(dòng)作時(shí)(驅(qū)動(dòng)時(shí)、檢查信號(hào)施加時(shí))對(duì)各個(gè)電源線 18供給陰極電源SWIO。逐次比較型AD變換部380，與電流檢測(cè)放大器370對(duì)應(yīng)設(shè)置(對(duì)于多 列設(shè)置一個(gè))，具備比較器382和逐漸近似寄存器(SAR) 384、數(shù)字模擬 (DA)變換部386。比較器382，將來(lái)自電流檢測(cè)放大器370的模擬電流檢測(cè)信號(hào)(電壓 信號(hào))與DA變換部386供給的模擬基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較，將比較結(jié)果供給 到逐漸近似寄存器384。SAR384,具備與輸出的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的比特?cái)?shù)相等的多個(gè)寄存器，考慮來(lái) 自上述比較器382的比較信號(hào)，從高位比特(MSB)側(cè)開始依次逐從變更 數(shù)據(jù)值而供給到DA變換部386。首先，自未圖示的控制部向SAR384供給比較開始信號(hào)時(shí)，SAR384將 分配給MSB的寄存器的輸出作為"1"，余下的比特輸出"0"的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。DA變換部386，將該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)"1000…"變換為對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)，并將其 作為基準(zhǔn)信號(hào)供給到比較器382的輸入端子，與從上述電流檢測(cè)放大器 370供給的模擬電流檢測(cè)信號(hào)相比較。如果模擬電流檢測(cè)信號(hào)比基準(zhǔn)信號(hào) 大，則比較器382作為比較結(jié)果將例如"1"輸出到SAR384， SAR384將MSB 的寄存器的輸出固定在"1"，將下一個(gè)比特位置的值從"0"變?yōu)?1"， 余下的位輸出仍為"0"的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。這在DA變換部386中作為對(duì)應(yīng)的 模擬基準(zhǔn)信號(hào)供給到比較器382，再次與來(lái)自電流檢測(cè)放大器370的電流 檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行比較。比較的結(jié)果，如果電流檢測(cè)信號(hào)一方大，則根據(jù)對(duì)應(yīng) 的比較輸出將SAR384的MSB和第二比特固定為"1"，接著，將第3比特 從"0"變?yōu)?1"，將余下作為"0"，輸出這樣的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。電流檢測(cè)信 號(hào)如果小于第2比特也為"1"時(shí)的基準(zhǔn)信號(hào)，則第2比特返回"0"，變 更第3比特。將這樣的比較處理從高位比特依次到最低位比特(LSB)重 復(fù)與比特?cái)?shù)對(duì)應(yīng)次，在SAR384中得到與輸入的模擬電流檢測(cè)信號(hào)對(duì)應(yīng)的 數(shù)字信號(hào)，并將其作為數(shù)字電流檢測(cè)信號(hào)供給到圖4所示的減法運(yùn)算部 332。另夕卜，圖7中未示出，但是在電流檢測(cè)放大器370和比較器382之間， 設(shè)置信號(hào)保持部，由該保持部在AD變換部386的逐次比較期間中保持電 流檢測(cè)信號(hào)。這里，DA變換部386，如圖7、圖8所示，在多個(gè)AD變換部380中共 用，來(lái)自各個(gè)AD變換部380的SAR384的數(shù)字信號(hào)例如使用公共的電阻串 (string) (R串)來(lái)變換為對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)。如已經(jīng)說(shuō)明過的那樣，通過 在多個(gè)AD變換部380中共用DA變換部386，可以降低其設(shè)置面積，但是 如上所述，通過共用電阻串，也可以有助于防止對(duì)模擬信號(hào)的變換誤差在 每個(gè)AD變換部380中存在散差。在用于供給與顯示部的數(shù)據(jù)線12對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)器(H驅(qū)動(dòng) 器源極驅(qū)動(dòng)器)220H中，因?yàn)閷?duì)顯示部輸出模擬數(shù)據(jù)信號(hào)，所以采用圖 4所示的DA變換部260。在本實(shí)施方式中，針對(duì)該源極驅(qū)動(dòng)器220H的DA 變換部260也與上述AD變換部380的DA變換部386共用。這樣通過共用 源極驅(qū)動(dòng)器的DA變換部260可以實(shí)現(xiàn)顯示裝置進(jìn)一步的小型化。DA變換 部的共用，不是其全部也可以，但是在使用R串的情況下，共用該R串這一點(diǎn)從顯示裝置小面積化的觀點(diǎn)來(lái)看是有效的。另外，在本實(shí)施方式中，將上述源極驅(qū)動(dòng)器220H按多個(gè)列對(duì)應(yīng)設(shè)定一個(gè)，此時(shí)，將源極驅(qū)動(dòng)器220的DA變換部260與AD變換部380的DA 變換部386共用，從小面積化的角度是特別有效的。通過在一個(gè)顯示裝置 中設(shè)置多個(gè)源極驅(qū)動(dòng)器220H,可以使供給到顯示部的數(shù)據(jù)信號(hào)的供給處理 并行化并使處理負(fù)載分散。另外，使與一個(gè)源極驅(qū)動(dòng)器220H相對(duì)應(yīng)的列 和與一個(gè)電流檢測(cè)部330所對(duì)應(yīng)的列一致，如圖8所示，通過將與一列對(duì) 應(yīng)的源極驅(qū)動(dòng)器220H和電流檢測(cè)部330交替接近配置，將這些電路形成 在單一的集成電路內(nèi)的情況下等，可以提高布局效率和布線效率，實(shí)現(xiàn)顯示散差的降低。 (驅(qū)動(dòng)方式)接著，對(duì)執(zhí)行基于上述原理的陰極電流的檢查的本實(shí)施方式相關(guān)的顯 示裝置的驅(qū)動(dòng)方法進(jìn)行說(shuō)明。在以下的驅(qū)動(dòng)方法中，對(duì)于檢査行的像素， 作為檢查用顯示信號(hào)Vsig，采用將檢查用導(dǎo)通顯示信號(hào)(EL發(fā)光)和檢 査用截止顯示信號(hào)(EL不發(fā)光)連續(xù)地施加的高速檢查方法的情況為例進(jìn) 行說(shuō)明。另外，檢查用導(dǎo)通顯示信號(hào)和截止顯示信號(hào)的順序沒有特別地限 制，但是在以下的例子中采用截止、導(dǎo)通的順序。接著，參照?qǐng)D9對(duì)驅(qū)動(dòng)方式具體地進(jìn)行說(shuō)明。在本方式中，如上述圖 1所示的面板構(gòu)成例中，按照每一列分割陰極電極，陰極電極線18設(shè)置 18[1] 18[x]根。另外，陰極電流的檢測(cè)，如圖9所示，在第n次的一個(gè) 垂直掃描期間的1V消隱期間中，選擇l個(gè)檢査行(第n行)，在該第n行 的所有像素中(第l列 第x列的像素)中賦予一個(gè)電流檢測(cè)部330，與 該檢測(cè)部330連接的多列中分別檢測(cè)1列量的像素的陰極電流(A Icv)。 另外，此時(shí)，優(yōu)選僅對(duì)于與圖7、圖8所示的開關(guān)SW30對(duì)應(yīng)的檢查列控制 為關(guān)閉狀態(tài)。另外，在檢查用信號(hào)寫入期間結(jié)束后，到對(duì)應(yīng)的V消隱期間的結(jié)束為 止之間，對(duì)第n行的所有像素，在分別供給檢查用信號(hào)之前進(jìn)行寫入的顯 示數(shù)據(jù)信號(hào)的寫入。另外，寫入，在原理上可以僅對(duì)檢查像素，因此，對(duì) 于與同一電流檢測(cè)部330連接的列必須選擇地依次再寫入，有時(shí)需要對(duì)源 極驅(qū)動(dòng)器220H等附加為此的邏輯電路等。在不希望追加這樣的電路的情況下，對(duì)檢查對(duì)象的第n行的所有像素一律執(zhí)行寫入信號(hào)即可。另外，在本實(shí)施方式中，執(zhí)行每一行中所設(shè)置的電容線14的電位控制、以及電源線16 (PVDD)的每一行的電源電位控制。具體地說(shuō)，對(duì)于容 量線14，在V消隱期間中，設(shè)為第一電位(元件驅(qū)動(dòng)Tr2的不動(dòng)作電位)， 僅對(duì)檢査行的電容線14[n]，在其檢查時(shí)的v消隱期間的數(shù)據(jù)信號(hào)再寫入 時(shí)設(shè)為第二電位。對(duì)于電源線，僅對(duì)檢查行的電源線PVDDn，僅在上述數(shù) 據(jù)信號(hào)再寫入期間中設(shè)為規(guī)定低電平，來(lái)停止檢查用信號(hào)的供給所引起的 EL元件的發(fā)光。另外，電容線14[n]和電源線PVDDn的電位變化定時(shí)、特別是電容線14[n]的電位變化，在數(shù)據(jù)信號(hào)再寫入期間中不進(jìn)行。根據(jù)以上的驅(qū)動(dòng)方式，在IV期間中，在1行內(nèi)，可以執(zhí)行與列的分 割數(shù)目對(duì)應(yīng)的數(shù)量的陰極電流檢測(cè)，如上所述，作為一例可以用大約40 秒對(duì)所有像素執(zhí)行陰極電流檢測(cè)。另外，在本方式中，因?yàn)閷㈥帢O電極按 照每列進(jìn)行分割，所以在每一列的檢査期間，除數(shù)據(jù)信號(hào)再寫入期間以外 均可以使用，可以削減用于將檢査用信號(hào)輸出到各個(gè)數(shù)據(jù)線12的驅(qū)動(dòng)電 路的負(fù)荷、電力消耗。這里，按照每列分割后的陰極電極線18[1] 18[x]，分別獨(dú)立地與以 COG (Chip On Glass)方式搭載在面板基板上的集成化驅(qū)動(dòng)電路(驅(qū)動(dòng)部) 200連接。該驅(qū)動(dòng)部200中，如上所述，對(duì)于多列設(shè)置一個(gè)電流檢測(cè)部330， 對(duì)于所有陰極電極線(所有列)，以1V期間乘以分割數(shù)目所對(duì)應(yīng)的次數(shù)后 的期間中可以檢測(cè)陰極電流。另外，針對(duì)圖3所示的驅(qū)動(dòng)部200內(nèi)的驅(qū)動(dòng)器220，將其功能的一部 分或全部獨(dú)立于該C0G，作為H驅(qū)動(dòng)器、V驅(qū)動(dòng)器，與顯示部的像素電路 同樣地可以內(nèi)置形成在面板基板上。另外，對(duì)于將這樣的陰極電極線設(shè)置在每一列中的驅(qū)動(dòng)方式，在AD 變換部380的變換速度所對(duì)應(yīng)的范圍內(nèi)，也可以在1個(gè)水平掃描期間內(nèi)的 水平消隱期間內(nèi)執(zhí)行陰極電流檢測(cè)的方法中所采用。(另外)另外，在以上說(shuō)明的各個(gè)方式、構(gòu)成中，對(duì)實(shí)時(shí)地進(jìn)行各個(gè)像素的陰 極電流檢測(cè)的情況進(jìn)行了說(shuō)明。但是該電流檢測(cè)和校正處理，也可以在顯示裝置的起動(dòng)的時(shí)候也進(jìn)行，當(dāng)然，在產(chǎn)品出廠時(shí)測(cè)量各個(gè)像素的陰極電 流(AIcv)，預(yù)先存儲(chǔ)校正數(shù)據(jù)，也可以隨時(shí)更新或檢測(cè)特性隨時(shí)間的變 化，同時(shí)實(shí)時(shí)地進(jìn)行校正。進(jìn)而，關(guān)于在以上說(shuō)明過的散差校正部250中的校正，最終將供給到發(fā)生顯示散差的像素的數(shù)據(jù)信號(hào)調(diào)整到適當(dāng)?shù)碾娖剑绻鸈L元件的發(fā)光亮度被校正，則該運(yùn)算處理或校正處理方法并沒有特別地限定。另外，在以上說(shuō)明過的散差檢測(cè)部300，通過與面板控制部210—起 集成化，通過非常小型的驅(qū)動(dòng)部，可以提供實(shí)現(xiàn)顯示散差檢測(cè)和校正以及 顯示部的控制(顯示)的顯示裝置。進(jìn)而，散差檢測(cè)部300內(nèi)的構(gòu)成，例 如對(duì)A/D變換部、存儲(chǔ)器等，也可以將這些兼用于面板控制部210的電路， 通過兼用在將驅(qū)動(dòng)部200IC化時(shí)，有助于該IC芯片尺寸的降低。另外，在以上的像素電路中，作為元件驅(qū)動(dòng)晶體管，采用了P溝道的 TFT，但是也可以使用N溝道的TFT。再者，在以上的像素電路中，對(duì)針對(duì) 一個(gè)像素，作為晶體管采用具備選擇晶體管和驅(qū)動(dòng)晶體管這兩個(gè)晶體管的 結(jié)構(gòu)的例子進(jìn)行說(shuō)明，但是晶體管并不局限于兩種類型和上述電路結(jié)構(gòu)。 另外，在以上的說(shuō)明中，在滅點(diǎn)、暗點(diǎn)的檢查時(shí)，作為測(cè)量的電流，例示 了使用EL元件的陰極電流(例如AIcv)的例子，但是，也可以基于流過 EL元件的電流Ioled (AIoled)進(jìn)行檢査。作為在該EL元件中流動(dòng)的電 流Ioled，例如不僅是上述陰極電流Icv，也可以是陽(yáng)極電流Iano。也可 以將個(gè)別的電極作為陰極電極、將每列的電極作為陽(yáng)極電極，來(lái)代替將EL 元件的各個(gè)像素各自的電極作為陽(yáng)極電極，將陰極電極作為在多個(gè)像素中 的公共電極的結(jié)構(gòu)的情況下，如上所述，測(cè)量在每列的電極中流動(dòng)的電流 即陽(yáng)極電流(AIano)。
權(quán)利要求
1、一種電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于，具備顯示部，其具備矩陣配置的多個(gè)像素；驅(qū)動(dòng)部，其用于基于自外部供給的視頻信號(hào)來(lái)控制上述顯示部的動(dòng)作，上述驅(qū)動(dòng)部具備驅(qū)動(dòng)器，其用于進(jìn)行上述顯示部的行方向的驅(qū)動(dòng)和列方向的驅(qū)動(dòng)；散差檢測(cè)部，其檢測(cè)在各個(gè)像素的顯示散差的檢查結(jié)果；和校正部，其用于校正顯示散差，上述顯示部的上述多個(gè)像素的每一個(gè)具備電致發(fā)光元件；元件驅(qū)動(dòng)晶體管，其與該電致發(fā)光元件連接，用于控制在該電致發(fā)光元件中流動(dòng)的電流，在上述顯示部中，在矩陣的列方向設(shè)置用于對(duì)上述各個(gè)像素的上述電致發(fā)光元件的電極供給電源的多條電源線，上述散差檢測(cè)部具備檢查用信號(hào)發(fā)生部，其發(fā)生供給到檢查行的像素的檢查用信號(hào)，并將該檢查用信號(hào)供給到該像素；電流檢測(cè)放大器，其用于檢測(cè)在上述電致發(fā)光元件中流動(dòng)的電流；和模擬數(shù)字變換部，其將來(lái)自上述電流檢測(cè)放大器的模擬電流檢測(cè)信號(hào)變換為數(shù)字信號(hào)，上述電流檢測(cè)放大器相對(duì)矩陣的多列對(duì)應(yīng)地設(shè)置一個(gè)，并與上述電源線連接，在消隱期間中，由上述驅(qū)動(dòng)器選擇規(guī)定的檢查行的像素，且在該像素中，將供給使該電致發(fā)光元件達(dá)到發(fā)光電平的檢查用導(dǎo)通顯示信號(hào)時(shí)的上述電致發(fā)光元件中所流動(dòng)的電流作為所述檢查用信號(hào)，通過對(duì)應(yīng)的上述電源線檢測(cè)出，上述模擬數(shù)字變換部是與上述電流檢測(cè)放大器對(duì)應(yīng)，對(duì)上述多列設(shè)置一個(gè)的逐次比較型模擬數(shù)字變換部，具備比較器，其比較來(lái)自上述電流檢測(cè)放大器的上述模擬電流檢測(cè)信號(hào)和基準(zhǔn)信號(hào)；逐次近似寄存器，其考慮來(lái)自上述比較器的比較信號(hào)，從高位比特側(cè)開始逐次變更數(shù)據(jù)值并供給到數(shù)字模擬變換部；和數(shù)字模擬變換部，其將來(lái)自上述逐次近似寄存器的數(shù)字信號(hào)變換為模擬信號(hào)，并作為基準(zhǔn)信號(hào)供給到上述比較器，上述數(shù)字模擬變換部，在多個(gè)上述模擬數(shù)字變換部中被共用。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于，上述電致發(fā)光元件中所流動(dòng)的電流為陰極電流。
3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述電致發(fā)光元件的電極為陰極電極， 上述電源線為陰極電流線。
4、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述驅(qū)動(dòng)部具備顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部，該顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部對(duì)上述顯示部的各個(gè)像素，將作為數(shù)字信號(hào)處理且與顯示內(nèi)容相對(duì) 應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)作為模擬數(shù)據(jù)信號(hào)供給，該顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部的電阻串與上述逐次比較型模擬數(shù)字 變換部的上述數(shù)字模擬變換部的電阻串共用。
5、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述多個(gè)像素的每一個(gè)還具備保持電容，該保持電容用于保持上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極電位，上述保持電容的第一電極與上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極連接，該保持電容的第二電極與在每一行所設(shè)置的電容線連接， 上述驅(qū)動(dòng)部具備電容線控制部，該電容線控制部，在上述消隱期間中的上述檢查用信號(hào)的寫入期間 中，將上述檢査行的電容線的電位設(shè)為使上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極電位 為不動(dòng)作的第一電位，在該消隱期間的結(jié)束為止的上述數(shù)據(jù)信號(hào)的再寫入 期間中，將上述檢査行的電容線的電位設(shè)置為使上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管可動(dòng) 作的第二電位。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于，上述電容線控制部還在上述消隱期間，將上述顯示部的上述檢查行以 外的所有行的電容線的電位固定為上述第 一 電位。
7、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述檢查用信號(hào)發(fā)生部，在上述消隱期間中，對(duì)上述檢査行的像素供給上述檢查用導(dǎo)通信號(hào)以及使上述電致發(fā)光元件達(dá)到不發(fā)光電平的檢査 用截止信號(hào)來(lái)作為上述檢査用信號(hào)，上述電流檢測(cè)放大器檢測(cè)在自上述電源線得到的上述檢査用導(dǎo)通信 號(hào)的施加時(shí)在上述電致發(fā)光元件中流動(dòng)的電流和上述檢查用截止信號(hào)施 加時(shí)的截止電流，上述模擬數(shù)字變換部，將來(lái)自上述電流檢測(cè)放大器的輸出變換為對(duì)應(yīng) 的數(shù)字導(dǎo)通電流檢測(cè)信號(hào)、數(shù)字截止電流檢測(cè)信號(hào)，減法運(yùn)算部求取上述數(shù)字導(dǎo)通電流檢測(cè)信號(hào)和數(shù)字截止電流檢測(cè)信 號(hào)之差，上述校正部使用與檢測(cè)出的上述導(dǎo)通電流和上述截止電流之間的電 流差對(duì)應(yīng)的電流差信號(hào)來(lái)進(jìn)行校正。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于，上述電致發(fā)光元件中所流動(dòng)的電流為陰極電流。
9、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述電致發(fā)光元件的電極為陰極電極， 上述電源線為陰極電流線。
10、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述驅(qū)動(dòng)部具備顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部，該顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部對(duì)上述顯示部的各個(gè)像素，將作為數(shù)字信號(hào)處理且與顯示內(nèi)容相對(duì) 應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)作為模擬數(shù)據(jù)信號(hào)供給，該顯示數(shù)據(jù)用數(shù)字模擬變換部的電阻串與上述逐次比較型模擬數(shù)字 變換部的上述數(shù)字模擬變換部的電阻串共用。
11、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述多個(gè)像素的每一個(gè)還具備保持電容，該保持電容用于保持上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極電位，上述保持電容的第一電極與上述元件驅(qū)動(dòng)晶體 管的柵極連接，該保持電容的第二電極與在每一行所設(shè)置的電容線連接， 上述驅(qū)動(dòng)部具備電容線控制部，該電容線控制部，在上述消隱期間中的上述檢查用信號(hào)的寫入期間 中，將上述檢査行的電容線的電位設(shè)為使上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極電位 為不動(dòng)作的第一電位，在該消隱期間的結(jié)束為止的上述數(shù)據(jù)信號(hào)的再寫入 期間中，將上述檢査行的電容線的電位設(shè)置為使上述元件驅(qū)動(dòng)晶體管為可 動(dòng)作的第二電位。
12、 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的電致發(fā)光顯示裝置，其特征在于， 上述電容線控制部還在上述消隱期間，將上述顯示部的上述檢査行以外的所有行的電容線的電位固定為上述第 一 電位。
全文摘要
本發(fā)明提供一種發(fā)光顯示裝置，在視頻信號(hào)消隱期間中，使用于控制供給到EL元件的驅(qū)動(dòng)電流的元件驅(qū)動(dòng)晶體管在飽和區(qū)域工作，且檢測(cè)在使EL元件達(dá)到發(fā)光電平時(shí)在元件中流動(dòng)的電流。電流檢測(cè)部分別具有電流檢測(cè)放大器、逐次比較型AD變換部，逐次比較型AD變換部的DA變換部在多個(gè)AD變換部中共用，由此以簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)維持充足的AD速度，且可以執(zhí)行電流檢測(cè)來(lái)校正顯示散差。
文檔編號(hào)G02F1/133GK101277560SQ20081008587
公開日2008年10月1日 申請(qǐng)日期2008年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月30日
發(fā)明者小川隆司, 松尾雄一 申請(qǐng)人:三洋電機(jī)株式會(huì)社;三洋半導(dǎo)體株式會(huì)社