專利名稱：光源校正方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光源校正方法，尤其涉及一種以亮度灰階值的比較 來得知光源是否正常的光源校正方法。
背景技術：
在薄膜晶體管液晶顯示器(Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Display,簡稱TFT LCD)的檢測設備中，是通過顯微鏡組影像作一檢測， 但因光源使用久后，光源衰減使得影像亮度有差異，導致檢測異常，所 以使用一段時間后，需要做一光源校正，以維持光源亮度一致。
如圖1所示，現(xiàn)有檢測設備90是具有一光源箱91，利用該光源箱 91的光源發(fā)射裝置911、 一分光鏡912及一光源傳送部914提供一檢測 鏡組921的光源925，且利用一單點感應器913 (sensor)作回授電路監(jiān)控， 當該單點感應器913監(jiān)控到該光源925的亮度衰減時，即通過該檢測設 備90提供例如增加電流或更換燈泡的必要措施，使得影像亮度維持一致。
但是，在該光源925的截面積內(nèi)各點所測得的亮度值并非完全相同， 如圖2所示，該單點感應器913在該光源925的截面積內(nèi)的一第一測量 點P1及一第二測量點P2，所測得的亮度值皆有一定的差值，因此，在無 法得到一個較準確的亮度值的情形下，現(xiàn)有檢測設備90對于光源925檢 測的準確度自然較低；另外，在使用不同倍率的鏡頭作一檢視時，亦會 使得光源亮度的檢視有所誤差'，無法達到一定程度的準確性，進而造成 品質(zhì)不佳或有瑕疵的面板，嚴重影響產(chǎn)品良率，特別是高單價的液晶電 視面板或相關資訊產(chǎn)品，更是造成嚴重的經(jīng)濟損失。
因此，有必要研發(fā)新產(chǎn)品，以解決上述缺點及問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的主要技術問題在于，克服現(xiàn)有技術存在的上述缺 陷，而提供一種光源校正方法，其具有準確性高的優(yōu)點，且成本低。 本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是一種光源校正方法，其特征在于，包括下列步驟
一. 準備設備步驟準備一檢測裝置及一光源校正組件；該檢測裝 置包括
一檢測鏡組，可作軸向伸縮；該檢測鏡組具有一鏡頭及一取像單元； 一檢測部，用以置放一待測物件；
一校正部，用以置放該光源校正組件，且該檢測部與該校正部共用 該檢測鏡組；
一分析處理部，是用以分析處理該取像單元所擷取的影像； 一光源；
二. 調(diào)整步驟將該檢測鏡組移動至該檢測部，使該光源照射于該 待測物件上，再逐漸降低該光源的亮度至最小許可光源；
三. 設定步驟將該檢測鏡組移動至該校正部，以該取像單元擷取
通過該最小許可光源照射該光源校正組件所產(chǎn)生的預定圖形影像，并經(jīng)
由該分析處理部分析處理而得到一亮度最低標準灰階值；
四. 檢測步驟將該光源調(diào)回原先的亮度，且該檢測鏡組移回該檢
測部進行檢測，當檢測超過一預定時間，再將該檢測鏡組移動至該校正
部；借該分析處理部分析處理而得到一使用中亮度灰階值；
五. 比較步驟當該使用中亮度灰階值大于該亮度最低標準灰階值， 則表示可繼續(xù)正常檢測；而當該使用中亮度灰階值低于該亮度最低標準 灰階值，則需加強該光源的亮度，使其大于等于該亮度最低標準灰階值。
前述的光源校正方法，其中分析處理部具有一檢測模塊及一光源校 正模塊。
前述的光源校正方法，其中光源是選自正光源或背光源其中之一。 前述的光源校正方法，其中光源校正組件具有數(shù)個光罩區(qū)，該每一 光罩區(qū)具有一透光部及一非透光部，利用該光源與該光罩區(qū)形成數(shù)個該
預定圖形影像。
前述的光源校正方法，其中光源可分為一正光源及一背光源。 本發(fā)明的有益效果是，其具有準確性高的優(yōu)點，且成本低。


下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。圖1是現(xiàn)有檢測設備的示意圖
圖2是現(xiàn)有檢測設備的單點感應器的檢測示意圖
圖3是本發(fā)明的光源校正方法的示意圖
圖4是本發(fā)明的光源校正方法的設備示意圖
圖5是本發(fā)明的光源校正方法的立體示意圖
圖6是本發(fā)明的光源校正方法的光源亮度與時間關系的示意圖
圖7是本發(fā)明的光源校正方法的光源校正組件的第一實施例示意圖
圖8是本發(fā)明的光源校正方法的光源校正組件的第二實施例示意圖
圖中標號說明
ll準備設備步驟 13設定步驟 15比較步驟 21檢測鏡組 212取像單元 23校正部 25光源 252背光源 40光源校正組件 41A透光部 90檢測設備 911光源發(fā)射裝置 913單點感應器 921檢測鏡組 Pl第一測量點 10亮度最低標準灰階值 IIO第一亮度 112第三亮度 T10第一時間 T30第三時間
具體實施例方式
12調(diào)整步驟 14檢測步驟 20檢測裝置 211鏡頭 22檢測部 24分析處理部 251正光源
41光罩區(qū)
41B非透光部
91光源箱
912分光鏡
914光源傳送部
925光源
P2第二測量點
Il使用中亮度灰階值
Ill第二亮度 113第四亮度 T20第二時間 T40第四時間如圖3所示，本發(fā)明為一種光源校正方法，其包括下列步驟 一.準備設備步驟ll:如圖4及圖5所示，準備一檢測裝置20及 一光源校正組件40;該檢測裝置20包括
--檢測鏡組21，可作軸向伸縮；該檢測鏡組21具有一鏡頭211及一 取像單元212;
一檢測部22，用以置放一待測物件30;
一校正部23，用以置放該光源校正組件40，且該檢測部22與該校 正部23是共用該檢測鏡組21;
一分析處理部24，用以分析處理該取像單元212所擷取的影像； 一光源25;
二. 調(diào)整步驟12:將該檢測鏡組21移動至該檢測部22，使該光源 25照射于該待測物件30上，再逐漸降低該光源25的亮度，直到該分析 處理部24無法檢出或檢出能力低于規(guī)格值的最小許可光源；
三. 設定步驟13:將該檢測鏡組21移動至該校正部23，以該取像 單元212擷取通過該最小許可光源照射該光源校正組件40所產(chǎn)生的預定 圖形影像，并經(jīng)由該分析處理部24的分析處理，得到一亮度最低標準灰 階值10;
四. 檢測步驟14:將該光源25調(diào)回原先的亮度，且該檢測鏡組21 移回該檢測部22進行檢測，當檢測超過一預定時間時，再將該檢測鏡組 21移動至該校正部23，并借該分析處理部24的分析處理，得到一使用 中亮度灰階值I1;
五. 比較步驟15:當該使用中亮度灰階值I1大于該亮度最低標準灰 階值IO時，則表示可繼續(xù)正常檢測；而當該使用中亮度灰階值II低于 該亮度最低標準灰階值10時，則需加強該光源25的亮度(是指調(diào)整或更 換光源產(chǎn)生組件)，使其大于等于該亮度最低標準灰階值10。
更詳細地說，該使用中亮度灰階值II會隨著使用時間的增加而有所 降低(如圖6所示，該使用中亮度灰階值II經(jīng)過一第一時間TIO、 一第二 時間T20、 一第三時間T30及一第四時間T40后，其亮度分別為一第一亮 度IIO、 一第二亮度Ill、 一第三亮度I12及一第四亮度I13)，且在降低 至一定程度時(例如圖6所示的第三亮度112及第四亮度113均低于該亮度最低標準灰階值IO)，即影響檢測的結(jié)果；因此，利用該亮度最低標準
灰階值10與使用中亮度灰階值II的比較，讓該使用中亮度灰階值n可
隨時維持高于該亮度最低標準灰階值10的狀態(tài)，來避免檢測異常。
如圖7所示，關于本發(fā)明的光源校正組件40，是具有數(shù)個光罩區(qū)41，
且該每一光罩區(qū)41具有一透光部41A及一非透光部41B，利用該光源25 與該光罩區(qū)41形成數(shù)個預定圖形影像，將數(shù)個預定圖形影像作一灰階值 運算分析，可改善單點測量造成的誤差；且該數(shù)個光罩區(qū)41是具有多種 不同的規(guī)格，可依檢視面積或檢視鏡組21的倍率不同，而選擇不同的規(guī)格。
另外，由于該光源校正組件40的透光部41A及該非透光部41B主要 用來與該光源25產(chǎn)生預定圖形影像，進而求得一準確的灰階值，因此， 該透光部41A及該非透光部41B所構(gòu)成的圖形并不局限于特定的圖形， 其可為方形、橢圓形或三角形等任意幾何圖形，當然，在設計上，該光 源校正組件40亦可如圖8所示，設計為具有條紋相間的光罩。
關于該分析處理部24，是具有一檢測模塊及一光源校正模塊，該檢 測模塊是用以檢測或測量該待測物件30，而該光源校正模塊可作一影像 分析，并紀錄影像的亮度灰階值。
至于該光源25在實施上，則可以采用正光源251或背光源252(如圖 4所示)，使用效果皆同。
綜上所述，本發(fā)明的優(yōu)點及功效可歸納為
1、 準確性高?，F(xiàn)有的光源校正設備是利用單點感應器作回授電路監(jiān) 控，其準確度不高，且在檢測鏡組倍率變更時容易產(chǎn)生誤差，無法達到 應有的功效；而本發(fā)明的光源校正方法是利用光源配合該透光部及非透 光部所產(chǎn)生的影像的亮度灰階值來作分析比較，可得到影像內(nèi)數(shù)個預定 圖形的亮度灰階值并進行運算，不易產(chǎn)生誤差，且可依檢視面積或檢視 鏡組的倍率不同，而選擇不同規(guī)格的光源校正組件，故，具有準確性高 的優(yōu)點。
2、 成本低。現(xiàn)有光源校正設備利用單點感應器作回授電路監(jiān)控，不 但無法達到應有的功效，且光源成本亦提高許多；而本發(fā)明只需增加一 光源校正組件，再利用影像的亮度灰階值的比較方式，即可達到相當良 好的效果，故，具有成本低的優(yōu)點。
權利要求
1.一種光源校正方法，其特征在于，包括下列步驟一.準備設備步驟準備一檢測裝置及一光源校正組件；該檢測裝置包括一檢測鏡組，可作軸向伸縮；該檢測鏡組具有一鏡頭及一取像單元；一檢測部，用以置放一待測物件；一校正部，用以置放該光源校正組件，且該檢測部與該校正部共用該檢測鏡組；一分析處理部，是用以分析處理該取像單元所擷取的影像；一光源；二.調(diào)整步驟將該檢測鏡組移動至該檢測部，使該光源照射于該待測物件上，再逐漸降低該光源的亮度至最小許可光源；三.設定步驟將該檢測鏡組移動至該校正部，以該取像單元擷取通過該最小許可光源照射該光源校正組件所產(chǎn)生的預定圖形影像，并經(jīng)由該分析處理部分析處理而得到一亮度最低標準灰階值；四.檢測步驟將該光源調(diào)回原先的亮度，且該檢測鏡組移回該檢測部進行檢測，當檢測超過一預定時間，再將該檢測鏡組移動至該校正部；借該分析處理部分析處理而得到一使用中亮度灰階值；五.比較步驟當該使用中亮度灰階值大于該亮度最低標準灰階值，則表示可繼續(xù)正常檢測；而當該使用中亮度灰階值低于該亮度最低標準灰階值，則需加強該光源的亮度，使其大于等于該亮度最低標準灰階值。
2. 根據(jù)權利要求1所述的光源校正方法，其特征在于所述分析 處理部具有一檢測模塊及一光源校正模塊。
3. 根據(jù)權利要求1所述的光源校正方法，其特征在于所述光源 是選自正光源或背光源。
4. 根據(jù)權利要求l所述的光源校正方法，其特征在于所述光源 校正組件具有數(shù)個光罩區(qū)，該每一光罩區(qū)具有一透光部及一非透光部， 利用該光源與該光罩區(qū)形成數(shù)個該預定圖形影像。
5. 根據(jù)權利要求1所述的光源校正方法，其特征在于所述光源 可分為一正光源及一背光源。
全文摘要
一種光源校正方法，其包括下列步驟一、準備設備步驟、二、調(diào)整步驟、三、設定步驟、四、檢測步驟及五、比較步驟；借前述步驟準備一檢測鏡組、一檢測部、一校正部、一分析處理部、一光源及一光源校正組件；將檢測鏡組移動至檢測部并將光源調(diào)至最小許可光源，即將檢測鏡組移動至校正部，并得到一亮度最低標準灰階值；再將光源調(diào)回原先的亮度并移回檢測部進行檢測，當檢測超過一預定時間，則將檢測鏡組移動至校正部，分析一使用中亮度灰階值，借由使用中亮度灰階值與亮度最低標準灰階值的比較，確保光源維持在一定范圍的亮度，使本發(fā)明兼具準確性高及成本低等優(yōu)點。
文檔編號G02B27/00GK101556380SQ200810089548
公開日2009年10月14日 申請日期2008年4月8日 優(yōu)先權日2008年4月8日
發(fā)明者張勛章, 李炳寰 申請人:東捷科技股份有限公司