專利名稱：一種tft-lcd面板測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法
一種TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及TFT-LCD技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種TFT-LCD面^反測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法。背景技術(shù)：
一般TFT-LCD面板在出廠之前，生產(chǎn)廠家都會(huì)對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)，由于測(cè)試設(shè)備比較復(fù) 雜，LCD模組廠商一般不會(huì)再對(duì)面板進(jìn)行測(cè)試，但針對(duì)生產(chǎn)中出現(xiàn)的不良品，尤其是由 于IC或FPC綁定造成的不良而返修的面板無(wú)法確定是否在返修的過(guò)程中造成了面板的 不良，因而非常有必要對(duì)這些面板進(jìn)行測(cè)試，以再次投入生產(chǎn)，減少生產(chǎn)成本。目前 TFT-LCD面板的測(cè)試方法有兩種 一種方法是通過(guò)帶有探測(cè)頭的檢測(cè)裝置進(jìn)行檢測(cè)，利 用帶有多個(gè)探測(cè)頭的檢測(cè)裝置，由探測(cè)頭耦合到液晶面板的柵極線、信號(hào)線組，當(dāng)探測(cè) 到來(lái)自信號(hào)線組的反饋信號(hào)不符合一預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，判定信號(hào)線組上像素點(diǎn)存在缺陷，然 后由一光學(xué)裝置例如電子顯微鏡辨別有缺陷的像素點(diǎn)；另 一種方法是通過(guò)對(duì)采集的圖象 編碼分析進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)對(duì)采集到的圖象進(jìn)行掩飾碼編碼、分析，從而檢測(cè)LCD面板有 無(wú)壞點(diǎn)。然而，該兩種方法設(shè)計(jì)較復(fù)雜，成本較大，更重要的是上述兩種方法均需要先 綁定IC,點(diǎn)亮面板后才能檢測(cè)壞點(diǎn)，無(wú)法在綁定IC之前對(duì)LCD面板進(jìn)行檢測(cè)，挑出有 缺陷的面板，以減少損失。
發(fā)明內(nèi)容為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試 方法，可在綁定IC之前對(duì)面板進(jìn)行測(cè)試，檢測(cè)出壞點(diǎn)、缺行、缺列等不良情況，以減少 由于生產(chǎn)進(jìn)料不良造成的額外成本。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案為一種TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，包括有機(jī)械結(jié)構(gòu)部分及電路結(jié)構(gòu)部分，其特征在于 所述機(jī)械機(jī)構(gòu)部分包括放置待測(cè)試面板的面板安置槽、探針、用于固定探針的滑動(dòng)板、 用于壓接探針和面板上的測(cè)試點(diǎn)的手柄以及電源開(kāi)關(guān)；所述電路部分包括面板驅(qū)動(dòng)電路 和背光產(chǎn)生電路。一種TFT-LCD面板測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟將待測(cè)試的面板放在機(jī)械結(jié)構(gòu)的安置槽中，按下手柄，調(diào)整滑動(dòng)板使探針壓在待測(cè)試面板的測(cè)試點(diǎn)上，固定安置槽和滑動(dòng)板；利用方波產(chǎn)生電路產(chǎn)生所需的電壓波形，并將不同的電壓波形通過(guò)探針加在面板測(cè) 試點(diǎn)上驅(qū)動(dòng)LCD,分別按下機(jī)械機(jī)構(gòu)底座上的R、 G、 B按鈕，可使其顯示出不同的顏色， 從而檢測(cè)出不良的面板。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明可在綁定IC之前對(duì)LCD面板進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)出壞點(diǎn)、缺行、 缺列等不良的面板，以減少由于生產(chǎn)進(jìn)料不良造成的額外成本。
圖1為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)機(jī)械結(jié)構(gòu)部分的立體圖。圖2為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)機(jī)械結(jié)構(gòu)部分的俯視圖。圖3為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)部分的電路圖示。圖4為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)部分的方波產(chǎn)生電路的軟件流程圖示。具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖l、圖2所示，本發(fā)明一種TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，包括有機(jī)械結(jié)構(gòu)部分 及電路結(jié)構(gòu)部分。其中機(jī)械機(jī)構(gòu)部分包括有手柄A、滑動(dòng)板B、探針C、面板安置槽D 及電源開(kāi)關(guān)E。另外，機(jī)械機(jī)構(gòu)的底座上還設(shè)置有R、 G、 B按鈕。待測(cè)試的面板放置在 安置槽D上，所述滑動(dòng)板B用來(lái)固定探針C,而所述手柄A用來(lái)壓接探針C和面板上的 測(cè)試點(diǎn)；其中，滑動(dòng)板B和面板安置槽D可以根據(jù)不同型號(hào)的面板進(jìn)行更換。應(yīng)用時(shí)， 先將待測(cè)試的面板放置在面板安置槽D中，調(diào)整滑動(dòng)板B和面板安置槽D的位置，按下 手柄A,使探針C剛好壓在待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)上；然后固定滑動(dòng)板B和安置槽D,以防 止在更換面板時(shí)位置發(fā)生改變。請(qǐng)參照閱圖3所示，所述電路結(jié)構(gòu)部分設(shè)置于機(jī)械機(jī)構(gòu)的底座內(nèi)，包括面板驅(qū)動(dòng)電 路和背光產(chǎn)生電路，由面板驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生所需要的驅(qū)動(dòng)波形，加在面板的測(cè)試點(diǎn)上，利 用背光產(chǎn)生電路，點(diǎn)亮背光，即可觀察到面板上的缺陷。面板驅(qū)動(dòng)電路主要包括有方波 產(chǎn)生電路和信號(hào)放大電路，其中，方波信號(hào)產(chǎn)生電路主要由W78E516B單片機(jī)、晶振電 路及其他的外圍電路組成，可由軟件控制產(chǎn)生不同頻率和占空比可調(diào)的方波信號(hào)，但由 于最終驅(qū)動(dòng)信號(hào)的電壓幅值在-10~ 15V,遠(yuǎn)大于單片機(jī)的工作電壓(5V),故需要將單 片機(jī)產(chǎn)生的信號(hào)通過(guò)后級(jí)的信號(hào)放大電路，輸出所需峰值的信號(hào)。信號(hào)放大電路主要通 過(guò)芯片LM324實(shí)現(xiàn)，LM324是四運(yùn)放集成電路，其采用14腳雙列直插塑料封裝，內(nèi)部 包含四組形式完全相同的運(yùn)算放大器，除電源共用外，四組運(yùn)放相互獨(dú)立。驅(qū)動(dòng)電路最 終產(chǎn)生的驅(qū)動(dòng)信號(hào)通過(guò)探針加在面板的測(cè)試點(diǎn)上以驅(qū)動(dòng)面板。背光產(chǎn)生電路的主要是產(chǎn) 生背光，由于LCD是被動(dòng)式發(fā)光，必須要外加光源才能觀察到顯示的顏色，可以根據(jù)背 光的電壓選擇合適的升/降壓電路，將外部電源的電壓轉(zhuǎn)換為背光的驅(qū)動(dòng)電壓以點(diǎn)亮背光。圖4所示為方波產(chǎn)生電路的軟件流程圖示，利用W78E516B單片機(jī)內(nèi)計(jì)數(shù)器/定時(shí)器 T0和T1互相配合來(lái)控制方波的頻率和占空比。其中，W78E516B單片機(jī)使用12M晶振， 執(zhí)行一條指令的時(shí)間為lps，這樣根據(jù)鍵盤(pán)輸入的頻率值f和占空比d，得到周期時(shí)間常 數(shù)Tt ( T t-l/f)和正脈沖的時(shí)間長(zhǎng)度T d(Td=Ttxd%)。具體流程為將正周期初值分別送 給計(jì)數(shù)器/定時(shí)器T0、 Tl， TO、 Tl同時(shí)開(kāi)始計(jì)數(shù)，并使Pl.O和Pl.l輸出為高電平，因 為T(mén)O的初值小于Tl的初值，故TO將首先計(jì)滿溢出；判斷TO是否溢出，若沒(méi)有，繼續(xù) 計(jì)數(shù)，若已計(jì)滿溢出，再將負(fù)周期初值送給TO,同時(shí)拉低Pl.O的輸出電平；當(dāng)TO, Tl 同時(shí)計(jì)滿溢出(Tl的周期是TO的2倍)，TO、 Tl重新裝載初值并同時(shí)開(kāi)始計(jì)時(shí)，P1.0 拉高，Pl.l拉低，判斷TO是否計(jì)滿溢出，溢出后再將負(fù)周期初值送給TO，同時(shí)拉低Pl.O 的輸出電平；當(dāng)TO, Tl同時(shí)計(jì)滿溢出，再將TO、 Tl重新裝栽正周期初值，至此完成一 個(gè)周期的輸出， 一直循環(huán)下去就可產(chǎn)生需要的方波波形，若需要改變方波的頻率和占空 比，只需改變TO、 Tl的定時(shí)常數(shù)即可。本發(fā)明一種TFT-LCD面板測(cè)試方法具體操作步驟為將待測(cè)試的面板放在機(jī)械機(jī)構(gòu) 的安置槽D中，所述安置槽D可根據(jù)面板的外形尺寸進(jìn)行更換；調(diào)整滑動(dòng)板B和安置槽 D位置，同時(shí)按下手柄A,使探針C剛好壓在面板的測(cè)試點(diǎn)上，固定安置槽D和滑動(dòng)板 B，所述滑動(dòng)板B可根據(jù)不同面板的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行更換；按下機(jī)械構(gòu)件底座上的R、 G、 B 按鈕，可以分別按或者同時(shí)按下其中幾個(gè)按鈕。利用方波產(chǎn)生電路產(chǎn)生所需的電壓波形， 并將不同的電壓波形通過(guò)探針加在PANLE的測(cè)試點(diǎn)上驅(qū)動(dòng)LCD,使其顯示出不同的顏 色(黑白紅綠藍(lán)灰等)，再通過(guò)肉眼，放大顯微鏡或CCD攝象機(jī)檢測(cè)出具有壞點(diǎn)、缺行、 缺列等不良的面板。以上所描述的最佳實(shí)施例僅是對(duì)本發(fā)明進(jìn)行闡述和說(shuō)明，但并不局限于所公開(kāi)的任 何具體形式，進(jìn)行許多修改和變化是可能的。
權(quán)利要求
1.一種TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，包括有機(jī)械結(jié)構(gòu)部分及電路結(jié)構(gòu)部分，其特征在于所述機(jī)械機(jī)構(gòu)部分包括放置待測(cè)試面板的面板安置漕、探針、用于固定探針的滑動(dòng)板、用于壓接探針和面板上的測(cè)試點(diǎn)的手柄以及電源開(kāi)關(guān)；所述電路部分包括面板驅(qū)動(dòng)電路和背光產(chǎn)生電路。
2. 如權(quán)利要求1所述的TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述機(jī)械機(jī)構(gòu)部分的底 座上還設(shè)置有R、 G、 B按鈕。
3. 如權(quán)利要求2所述的TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述電路結(jié)構(gòu)部分設(shè)置 于機(jī)械機(jī)構(gòu)的底座內(nèi)。
4. 如權(quán)利要求3所述的TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述面板驅(qū)動(dòng)電路主要 包括有方波產(chǎn)生電路和信號(hào)放大電路。
5. 如權(quán)利要求4所述的TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述方波信號(hào)產(chǎn)生電路 主要由單片機(jī)、晶振電路及其他的外圍電路組成。 '
6. 如權(quán)利要求5所述的TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述信號(hào)放大電路為一 個(gè)四運(yùn)放集成電路，該四運(yùn)放集成電路內(nèi)部包含四組形式完全相同的運(yùn)算放大器。
7. —種TFT-LCD面板測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟將待測(cè)試的面板放在機(jī)械結(jié)構(gòu)的安置槽中，按下手柄，調(diào)整滑動(dòng)板和安置槽使探針 壓在待測(cè)試面板的測(cè)試點(diǎn)上，固定安置槽和滑動(dòng)板；按下機(jī)械機(jī)構(gòu)底座上的R、 G、 B按鈕，利用方波產(chǎn)生電路產(chǎn)生所需的電壓波形，并 將不同的電壓波形通過(guò)探針加在面板測(cè)試點(diǎn)上驅(qū)動(dòng)LCD,使其顯示出不同的顏色，從而 檢測(cè)出不良的面板。
8. 如權(quán)利要求7所述的TFT-LCD面板測(cè)試方法，其特征在于根據(jù)不同型號(hào)的面板 可更換滑動(dòng)板和面板安置槽。
9. 如權(quán)利要求8所述的TFT-LCD面板測(cè)試方法，其特征在于將不同的電壓波形通 過(guò)探針加在面板的測(cè)試點(diǎn)上驅(qū)動(dòng)LCD，使其顯示出不同的顏色，然后再通過(guò)肉眼，放大 顯微鏡或CCD攝象機(jī)檢測(cè)出具有缺陷的不良面板。
10. 如權(quán)利要求9所述的TFT-LCD面板測(cè)試方法，其特征在于面板驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生所 需要的驅(qū)動(dòng)波形，加在面板的測(cè)試點(diǎn)上，利用背光產(chǎn)生電路，點(diǎn)亮背光，從而可觀察到 面板上的缺陷。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)一種TFT-LCD面板測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法，包括有機(jī)械結(jié)構(gòu)部分及電路結(jié)構(gòu)部分，所述機(jī)械機(jī)構(gòu)部分包括放置待測(cè)試面板的面板安置槽、探針、用于固定探針的滑動(dòng)板、用于壓接探針和面板上的測(cè)試點(diǎn)的手柄以及電源開(kāi)關(guān)；所述電路部分包括面板驅(qū)動(dòng)電路和背光產(chǎn)生電路，利用方波產(chǎn)生電路產(chǎn)生所需的電壓波形，并將不同的電壓波形通過(guò)探針加在面板測(cè)試點(diǎn)上驅(qū)動(dòng)LCD，使其顯示出不同的顏色，從而檢測(cè)出不良的面板。可在綁定IC之前對(duì)LCD面板進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)出壞點(diǎn)、缺行、缺列等不良的面板，以減少由于生產(chǎn)進(jìn)料不良造成的額外成本。
文檔編號(hào)G02F1/1362GK101334542SQ200810141658
公開(kāi)日2008年12月31日 申請(qǐng)日期2008年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月18日
發(fā)明者周忠偉, 李俊強(qiáng), 鄧春偉, 黃志蘭 申請(qǐng)人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司