專利名稱：檢測(cè)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種檢測(cè)設(shè)備，且特別是有關(guān)于一種能有效分辨表面 落塵顆?；蚴敲姘灞旧砣毕莸臋z測(cè)設(shè)備。
背景技術(shù)：
由于技術(shù)不斷的進(jìn)步，液晶顯示器已經(jīng)大幅取代傳統(tǒng)的冷陰極管顯示 器。液晶顯示器的產(chǎn)業(yè)正在蓬勃發(fā)展當(dāng)中，為了適應(yīng)逐年成長(zhǎng)的市場(chǎng)，面 板制造廠無(wú)不積極地提升產(chǎn)能利用率及良率。因此除了生產(chǎn)制造外，檢測(cè) 產(chǎn)品的良莠也是制造廠商的一大課題。 目前檢測(cè)面板的方式有兩種(一) 人員檢測(cè)由人員點(diǎn)亮畫(huà)面，利用目視并切換模式來(lái)尋找面板 的缺陷。然而其缺點(diǎn)有二 一為人員雖然可以用肉眼辨別表面(例如是落 塵或是刮傷)與面板內(nèi)部瑕疵(例如是工藝異?；蚴莾?nèi)部臟污)所造成的亮 暗缺陷之間的差別，但是由人員檢測(cè)易造成人因差異導(dǎo)致標(biāo)準(zhǔn)不一，或人 員疲勞引起誤檢(例如是漏篩)，導(dǎo)致不良品進(jìn)行后續(xù)制程并流致客戶端造 成客訴。缺點(diǎn)二為24小時(shí)設(shè)置常態(tài)性人員作業(yè)，使得檢測(cè)所衍生的相關(guān) 成本提高許多。(二) 自動(dòng)檢測(cè)此種檢測(cè)方式是先將背光源點(diǎn)亮，使光線穿透液晶 顯示面板之后，利用光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)液晶顯示面板內(nèi)部存有瑕 疵時(shí)，光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)會(huì)檢測(cè)到亮點(diǎn)或亮線的信號(hào)。但是當(dāng)液晶顯示面板表 面有落塵顆粒或刮痕存在時(shí)，光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)無(wú)法正確辨識(shí)而誤判為亮點(diǎn)或 是亮線等液晶顯示面板的內(nèi)部瑕疵。也就是說(shuō)，自動(dòng)檢測(cè)方法存在著對(duì)于 面板內(nèi)部瑕疵所造成亮暗缺陷以及面板表面的落塵顆粒或刮痕所造成的缺陷，光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)都會(huì)顯示出同樣的檢測(cè)結(jié)果。但是，面板內(nèi)部瑕疵所 造成亮暗缺陷才是淘汰的標(biāo)準(zhǔn)。因此，現(xiàn)有的檢測(cè)方式會(huì)造成誤將良品淘 汰的情況。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于，提供一種檢測(cè)設(shè)備，其可以有效地分辨面板 表面的落塵顆?；蚴敲姘鍍?nèi)部瑕疵所造成的缺陷。為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明提出一種檢測(cè)設(shè)備，用于檢測(cè)液晶顯示 面板，其中液晶顯示面板具有一前表面以及一后表面，液晶顯示面板的前表面設(shè)置有一上偏光片，液晶顯示面板的后表面設(shè)置有一下偏光片。上述 的檢測(cè)設(shè)備包括一置具、 一影像擷取器、 一偏光元件、 一背光源以及至少 一光源。液晶顯示面板設(shè)置在置具上。影像擷取器設(shè)置于液晶顯示面板的 前表面的上方。偏光元件設(shè)置于影像擷取裝置與液晶顯示面板之間，其中 偏光元件的偏振方向與上偏光片的偏振方向不同。背光源設(shè)置在液晶顯示 面板的后表面的下方。另外，至少一光源設(shè)置在液晶顯示面板的側(cè)邊處， 且光源所產(chǎn)生的光照射在液晶顯示面板的前表面上。本發(fā)明提出一種檢測(cè)設(shè)備，用于檢測(cè)顯示面板，顯示面板具有一前表 面以及一后表面。上述的檢測(cè)設(shè)備包括一置具、 一影像擷取器、 一偏光元 件、 一背光源以及至少一光源。液晶顯示面板設(shè)置在置具上。影像擷取器 設(shè)置于液晶顯示面板的前表面的上方。偏光元件設(shè)置于影像擷取裝置與液 晶顯示面板之間，其中偏光元件的偏振方向與上偏光片的偏振方向不同。 背光源設(shè)置在液晶顯示面板的后表面的下方。另外，至少一光源設(shè)置在液 晶顯示面板的側(cè)邊處，且光源所產(chǎn)生的光照射在液晶顯示面板的前表面 上。本發(fā)明因采用增加偏光元件及在待側(cè)面板的側(cè)邊處設(shè)置一光源，因此 能夠正確地將面板表面的落塵顆粒、刮痕與面板內(nèi)部瑕疵所造成的亮暗缺陷清楚分辨出來(lái)。相較于現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)大幅降低生產(chǎn)在線良品被誤判的 機(jī)率。


圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的檢測(cè)設(shè)備的示意圖。圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例的檢測(cè)設(shè)備的示意圖。 圖3為本發(fā)明又一實(shí)施例的檢測(cè)設(shè)備的立體示意圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明100:液晶顯示面板102:前表面104:后表面110:上偏光片120:下偏光片200、300:檢測(cè)設(shè)備210、310:置具220、320:影像擷取器230、340:背光源330:偏光元件350:光源360:高亮度弧形側(cè)光光源370:高亮度面型弧形側(cè)光光源具體實(shí)施方式
為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí)施例， 并配合附圖詳細(xì)說(shuō)明如下。圖1為本發(fā)明實(shí)施例一種檢測(cè)設(shè)備的示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1，本實(shí)施例的檢測(cè)設(shè)備300適用于檢測(cè)液晶顯示面板100。其中，液晶顯示面板100 具有一前表面]02以及一后表面104，前表面102設(shè)置有一上偏光片110， 液晶顯示面板100的后表面104設(shè)置有一下偏光片120。上述的檢測(cè)設(shè)備 300包括一置具310、 一影像擷取器320、 一偏光元件330、 一背光源340 以及至少一光源350。檢測(cè)液晶顯示面板的操作方式為首先，將液晶顯示面板100設(shè)置在置具310上。接著，將影像擷取器320設(shè)置于液晶顯示面板IOO的前表面 102的上方，并且將偏光元件330設(shè)置于影像擷取器320與液晶顯示面板 100之間。特別是，偏光元件330的偏振方向與上偏光片110的偏振方向 不同。此外，背光源340設(shè)置在液晶顯示面板100的后表面104的下方。 另外，至少一光源350設(shè)置在液晶顯示面板100的側(cè)邊處，并且使光源350 所產(chǎn)生的光照射在液晶顯示面板100的前表面102上，在本實(shí)施例中光源 350可以是一高亮度直線側(cè)光光源。檢測(cè)時(shí)，先點(diǎn)亮背光源340及光源350，背光源340的光線在通過(guò)液 晶顯示面板IOO后表面104下方的下偏光片120后，只剩下一種偏振方向。 隨后，光線到達(dá)上偏光片110時(shí)，就無(wú)法通過(guò)上偏光片110，因而影像擷 取器320不會(huì)擷取到任何信號(hào)。然而，當(dāng)液晶顯示面板100內(nèi)有缺陷時(shí)，已被下偏光片120偏振的光 線到達(dá)上偏光片110之后，仍會(huì)通過(guò)上偏光片110。接著，上述光線將到 達(dá)偏光元件330之后，將無(wú)法通過(guò)偏光元件330，因而影像擷取器320也 不會(huì)擷取到信號(hào)。另外，由于本發(fā)明于液晶顯示面板100的側(cè)邊處設(shè)置有光源350，且 其所產(chǎn)生的光源照射在液晶顯示面板100的前表面102上。因此，當(dāng)液晶 顯示面板100上的落塵顆?；蚴枪魏墼谑艿焦庠?50照射之后，散射的光 線會(huì)同時(shí)具有兩種偏振方向。而此光線在通過(guò)偏光元件330后會(huì)剩下一種 偏振方向，因而被影像擷取器320擷取到信號(hào)。光源350較佳為可調(diào)整照 射角度的光源，在檢測(cè)時(shí)可以適時(shí)地調(diào)整照射角度，使液晶顯示面板100 上的落塵顆粒或是刮痕產(chǎn)生更多的散射光線，提高檢測(cè)裝置300的辨識(shí)度。在此需特別說(shuō)明的是，光源350設(shè)置在液晶顯示面板IOO側(cè)邊處的主 要目的是為了方便讓偏光元件330設(shè)置在光源350的光線由光源350發(fā)射 至液晶顯示面板100的前表面的行徑路徑以外的位置，也就是說(shuō)，光源350 也可以是設(shè)置在檢測(cè)設(shè)備300的其它位置，甚至是由檢測(cè)設(shè)備300以外的7裝置額外提供一光源，只要此光源的光線在照射至液晶顯示面板100的前 表面前不會(huì)受到偏光元件330的干擾即可。且在本實(shí)施例中，偏光元件330較佳為一與上偏光片110的偏振方向 垂直的偏光片，并且偏光元件330可以裝設(shè)在影像擷取裝置32(0上，在此 并不限定。因此，由上述的說(shuō)明可知，影像擷取器320所擷取到信號(hào)是液晶顯示 面板IOO上的顆粒或刮痕所造成。因此，利用本發(fā)明的檢測(cè)裝置可以分辨 液晶顯示面板內(nèi)部的缺陷以及液晶顯示面板上的顆?；蚬魏鬯纬傻娜?陷信號(hào)。為使上述的實(shí)施例更容易了解，將上偏光片IIO及下偏光片120用S 型偏光片及P型偏光片為例來(lái)說(shuō)明。當(dāng)然，在其它實(shí)施例中，也可以將上 偏光片110及下偏光片120分別使用P型偏光片及S型偏光片。需要注意 的一點(diǎn)是，由于偏光元件330與上偏光片IIO具有不同的偏振方向，因此 在本實(shí)施例中，偏光元件330例如是P型偏光片。當(dāng)點(diǎn)亮背光源340時(shí)，所發(fā)出的光線為具有P與S方向的旋光方向性。 此時(shí)，背光源340發(fā)出具有P及S偏振方向光線在通過(guò)液晶顯示面板100 后表面104下方的下偏光片120 (P型)后，只有P偏振方向的光可以通 過(guò)。光線到達(dá)上偏光片110 (S型)時(shí)，P偏振方向的光就無(wú)法通過(guò)上偏光 片IIO，因而影像擷取器320不會(huì)擷取到任何信號(hào)。而若是液晶顯示面板100內(nèi)部有瑕疵存在時(shí)，通過(guò)下偏光片120的P 偏振方向的光受到瑕疵偏折的緣故，又再度同時(shí)具有P偏振方向及S偏振 方向的光，這樣光線接連通過(guò)上偏光片110 (S型)及偏光元件(P型) 后，所有的光線都被阻擋下來(lái)而沒(méi)有任何信號(hào)到達(dá)影像擷取器320。另外，光源350所發(fā)出的光線同時(shí)具有P偏振方向及S偏振方向，當(dāng) 照射到液晶顯示面板100的前表面102例如是落塵顆?；蚴枪魏蹠r(shí)，光線 散射所發(fā)出的光也同時(shí)具有P偏振方向及S偏振方向。這樣的光線在經(jīng)過(guò)偏光元件330 (P型)后，P偏振方向的光線可以通過(guò)而到達(dá)影像擷取器 320，因此影像擷取器320會(huì)擷取到此信號(hào)。因此，在背光源340及光源350同時(shí)照射下，在通過(guò)偏光元件330還 可以收到缺陷信號(hào)時(shí)，即是液晶顯示面板表面上的落塵顆?；蚴枪魏鬯鶖X 取到的信號(hào)，這些表面上的落塵顆粒或是刮痕在檢測(cè)規(guī)格屬于良品，而非 液晶顯示面板100內(nèi)部的瑕疵所擷取到的信號(hào)。換言之，利用本發(fā)明的檢 測(cè)設(shè)備可以分辨出面板內(nèi)部缺陷與面板表面顆?；蚬魏?，因而可以降低自 動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)誤判率，并提升良率。圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例的檢測(cè)設(shè)備的示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D2，本實(shí)施 例提供的檢測(cè)設(shè)備300a與圖1所示的檢測(cè)設(shè)備300相似，不同之處在于 光源360為高亮度弧形側(cè)光光源，其余的實(shí)施方式同上所述，在此不再贅 述。當(dāng)光源360為高亮度弧形側(cè)光光源，可以提供不同的照射角度，增加 例如是具有方向性的刮痕被照射到的機(jī)會(huì)，提升辨識(shí)率。圖3為本發(fā)明又一實(shí)施例的檢測(cè)設(shè)備的立體示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D3，為 了方便且清楚的說(shuō)明本實(shí)施例，圖3省略繪示置具。圖3的實(shí)施例與圖2 所述的實(shí)施例相似，不同之處在于位于兩側(cè)的光源為高亮度面型弧形側(cè) 光光源370。高亮度面型弧形側(cè)光光源370所產(chǎn)生的光線照射在液晶顯示 面板100的前表面上，液晶顯示面板100下方設(shè)置有背光源340。而本實(shí) 施例所提供的高亮度面型弧形側(cè)光光源370可提供大面積與照度的光源， 進(jìn)一歩提升檢測(cè)設(shè)備的辨識(shí)能力。綜上所述，本發(fā)明的檢測(cè)設(shè)備因采用了偏光元件及高亮度側(cè)光光源， 因此當(dāng)利用影像擷取裝置來(lái)檢測(cè)液晶顯示面板表面的落塵顆?；蚬魏叟c 液晶顯示面板內(nèi)部的瑕疵時(shí)，是可以分辨出兩者的不同，因而可減低誤判 的機(jī)率。另外，本發(fā)明更采用了高亮度弧形側(cè)光光源及高亮度面型弧形側(cè)光光 源，對(duì)于具有方向性的表面刮痕辨識(shí)度更是大幅提升。相較于現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)大幅降低生產(chǎn)在線良品被誤判為不良品的機(jī)率。雖然本發(fā)明已以具體實(shí)施例揭示，但其并非用以限定本發(fā)明，任何本 領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的構(gòu)思和范圍的前提下所作出的等同組 件的置換，或依本發(fā)明專利保護(hù)范圍所作的等同變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本 專利涵蓋的范疇。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)設(shè)備，用于檢測(cè)一液晶顯示面板，該液晶顯示面板具有一前表面以及一后表面，其特征在于，該液晶顯示面板的該前表面設(shè)置有一上偏光片，該液晶顯示面板的該下表面設(shè)置有一下偏光片，該檢測(cè)設(shè)備包括一置具，該液晶顯示面板設(shè)置在該置具上；一影像擷取器，設(shè)置于該液晶顯示面板的前表面的上方；一偏光元件，設(shè)置于該影像擷取裝置與該液晶顯示面板之間，其中該偏光元件的偏振方向與該上偏光片的偏振方向不同；一背光源，設(shè)置在該液晶顯示面板的后表面的下方；以及至少一光源，設(shè)置在該液晶顯示面板的側(cè)邊處，且該光源所產(chǎn)生的光照射在該液晶顯示面板的該前表面上。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該偏光元件是設(shè)置在該光源的光線所行徑的路徑以外的位置。
3. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該偏光元件是一偏光板。
4. 如權(quán)利要求l所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該偏光元件裝設(shè)于該 影像擷取裝置上。
5. 如權(quán)利要求l所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該光源為可調(diào)整照射 角度的光源。
6. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該光源是高亮度直線 側(cè)光光源、高亮度弧形側(cè)光光源或高亮度面型弧形側(cè)光光源。
7.—種檢測(cè)設(shè)備，用于檢測(cè)一顯示面板，該顯示面板具有一前表面以 及一后表面，其特征在于，該檢測(cè)設(shè)備包括 一置具，該顯示面板設(shè)置在該置具上； 一影像擷取器，設(shè)置于該顯示面板的前表面的上方；-偏光元件，設(shè)置于該影像擷取裝置與該顯示面板之間； 一背光源，設(shè)置在該顯示面板的后表面的下方；以及 至少一光源，設(shè)置在該顯示面板的側(cè)邊處，且該光源所產(chǎn)生的光照射 在該顯示面板的該前表面上。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該偏光元件是設(shè)置在 該光源的光線所行徑的路徑以外的位置。
9. 如權(quán)利要求7所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該偏光元件是裝設(shè)于該影像擷取裝置上。
10. 如權(quán)利要求7所述的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，該光源是高亮度直線側(cè)光光源、高亮度弧形側(cè)光光源或高亮度面型弧形側(cè)光光源。
全文摘要
一種檢測(cè)設(shè)備，用于檢測(cè)一液晶顯示面板。檢測(cè)設(shè)備包括一置具、一影像擷取器、一偏光元件、一背光源以及至少一光源。待檢測(cè)的液晶顯示面板設(shè)置在置具上。影像擷取器設(shè)置于液晶顯示面板的前表面的上方。偏光元件設(shè)置于影像擷取裝置與液晶顯示面板之間，其中偏光元件的偏振方向與上偏光片的偏振方向不同。背光源設(shè)置在液晶顯示面板的后表面的下方。至少一光源設(shè)置在液晶顯示面板的側(cè)邊處，且光源所產(chǎn)生的光照射在液晶顯示面板的前表面上。本發(fā)明能夠正確地將面板表面的落塵顆粒、刮痕與面板內(nèi)部瑕疵所造成的亮暗缺陷清楚分辨出來(lái)。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101329456SQ200810145109
公開(kāi)日2008年12月24日 申請(qǐng)日期2008年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月31日
發(fā)明者周上杰, 黃彥杰 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司