專利名稱：顯示面板及其像素缺陷檢查方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種電子裝置及其缺陷檢查方法，特別是一種顯示 面板及其像素缺陷的檢査方法。
背景技術：
請參考圖1所示，為一種傳統(tǒng)顯示面板的像素陣列的俯視示意
圖。顯示面板108的像素陣列100由數(shù)個以陣列形式排列的像素 102所構成。在此傳統(tǒng)顯示面板108的像素陣列100中，每個像素 102具有相同的外觀結構特征。
舉例而言，在像素陣列100中，每個像素102均包含儲存電容 104。而每個儲存電容104均包含通孔(Via)106。其中，這些儲存電 容104對應設置在像素102中，且通孔106對應設置在儲存電容 104中。在此傳統(tǒng)像素陣列100中，所有像素102所包含的儲存電 容104在像素102中的位置均相同，且所有102所包含的儲存電容 104的數(shù)量均相同。此外，所有儲存電容104所包含的通孔106在 儲存電容102中的位置均相同。
然而，傳統(tǒng)的顯示面板108的像素陣列100的設計并不利于缺 陷的異常因素分析。請參考圖2所示，為一種傳統(tǒng)像素缺陷檢查的 流程圖。目前，對于顯示面板中的缺陷，例如點缺陷或線缺陷等的 常見檢査方式，大都如步驟200所述，先點亮顯示面板108，此時 失效分析(Failure Mold Analysis; FMA)工作人員即可檢查顯示面板 108，以找出顯示面板108中的缺陷像素。
接著，如步驟202所述，在發(fā)現(xiàn)顯示面板108中的缺陷后，失效分析工作人員一般以例如油性筆等標記工具，在顯示面板108上 圈記出包含此缺陷像素的區(qū)域。所圈出的這個區(qū)域通常包含數(shù)十個
像素102。
接下來，如步驟204所述，在所圈出的區(qū)域內(nèi)，利用光學顯微 鏡(Optical Microscope; OM)，來查找缺陷像素，并査驗與分析此 缺陷像素的異常因素。
完成步驟204后，如步驟206所述，判斷所找到的缺陷像素的 異常因素。在步驟206中，當線上工作人員可判斷出此缺陷像素的 異常原因時，即完成顯示面板108的像素102的失效分析。另一方 面，線上工作人員無法判斷出此缺陷像素的異常因素時，即如步驟 208所述，拆解顯示面板108，而將上下基板(未圖示)，例如薄膜 電晶體(TFT)基板和彩色濾光片基板、薄膜電晶體基板和濾光片基 板、彩色濾光片薄膜電晶體(CF on TFT)基板和透明基板、有機發(fā) 光元件基板(OLED)和上基板，自顯示面板108中分解。
然后，如步驟210所述，利用光學顯微鏡，檢査自顯示面板 108中拆解出的上下基板，以再次判斷及分析缺陷像素的異常因素。 完成缺陷像素的異常因素的判斷與分析后，即完成顯示面板108的 像素102的失效分析。
然而，在此傳統(tǒng)顯示面板108中，所有像素102的外觀結構特 征相同。再加上，在步驟202中所圈選出的區(qū)域范圍較大。因此， 在光學顯微鏡下來尋找圈選區(qū)域內(nèi)的缺陷像素時，工作人員相當容 易找錯位置或是很難快速地在十幾個被圈選的像素中找出異常因 素。特別是將光學顯微鏡設置成高放大倍數(shù)時，顯微鏡可以顯示的 區(qū)域范圍大幅縮減，此時更不利于工作人員查找缺陷像素。故傳統(tǒng) 顯示面板108的缺陷分析的錯誤率高、效率低。

發(fā)明內(nèi)容
7因此，本發(fā)明的一個目的是提供一種顯示面板，其可將像素 分成多個群組，且不同群組的像素具有不同的外觀結構特征，但 具有相同開口率或/及電性。透過像素的外觀結構特征的差異化設 計，可輔助線上的失效分析人員，精確且快速地找出缺陷像素， 進而可加快缺陷像素的異常因素的判斷。
本發(fā)明的另一 目的是提供一種像素缺陷檢査方法，其可大幅 縮短線上的失效分析人員找出缺陷像素的時間，而可提升缺陷像 素的異常因素的分析效率。
本發(fā)明的又一目的是提供一種像素缺陷檢査方法，可提高缺 陷像素的異常因素的査驗成功率，而有利于工藝或元件設計的改 善，進而可減少顯示面板的產(chǎn)品失效分析所需的人力資源。
根據(jù)上述目的，本發(fā)明提出一種顯示面板。此顯示面板包含 上基板、下基板、以及液晶層。下基板設置于上基板的對側。液 晶層設置于上基板與下基板之間。下基板包含若干個第一像素、 以及若干個第二像素。這些第二像素與第一像素混合排列成一陣 列。這些第一像素與第二像素具有相同的開口率或/及電性，且這 些第一像素與第二像素具有不同的外觀結構特征。
在本發(fā)明的一個實施例中，上述每一第一像素與第二像素各 包含一儲存電容。這些儲存電容對應設置于第一像素與第二像素 中。所述的第一像素所包含的儲存電容在第一像素中的位置不同 于第二像素所包含的儲存電容在第二像素中的位置。
在本發(fā)明的另一實施例中，上述每一第一像素與第二像素各 包含一儲存電容，且每一儲存電容各包含一通孔。這些儲存電容 對應設置于第一像素與第二像素中，且通孔對應設置于儲存電容 中。其中，所述的第一像素所包含的通孔在儲存電容中的位置不 同于第二像素所包含的通孔在儲存電容中的位置。
在本發(fā)明之又一實施例中，上述每一第一像素與第二像素各包含一修補線路。這些修補線路對應設置于第一像素與第二像素 中。所述的第一像素所包含的修補線路在第一像素中的位置不同 于第二像素所包含的修補線路在第二像素中的位置。
根據(jù)上述目的，本發(fā)明提出一種像素缺陷檢査方法。此像素 缺陷檢查方法先提供一顯示面板。再對顯示面板進行一檢查步驟。 當獲得一缺陷像素時，在顯示面板上標記出包含此缺陷像素的一 區(qū)域。接著，判斷此缺陷像素的外觀結構特征，以確認此外觀結 構特征屬于第一外觀結構特征或第二外觀結構特征，而獲得一判 斷結果。然后，根據(jù)所述的判斷結果，于一顯微鏡下對此缺陷像 素的異常因素進行第一査驗步驟。
在本發(fā)明的一實施例中，當上述的第一査驗步驟無法判斷缺 陷像素的異常因素時，更包含進行一拆解步驟，以將顯示面板的 電晶體基板自顯示面板拆出。
為讓本發(fā)明內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合附圖作詳細 說明如下


圖1為傳統(tǒng)液晶顯示面板的像素陣列的俯視示意圖。
圖2為傳統(tǒng)像素缺陷檢査的流程圖。
圖3為本發(fā)明的一個具體實施方式
中一種液晶顯示面板剖面 示意圖。
圖4為本發(fā)明的一個具體實施方式
中一種液晶顯示面板的像 素陣列的一部分的俯視示意圖。
圖5為本發(fā)明的一個具體實施方式
中一種像素缺陷檢査的流 程圖。
圖中涉及的附圖標記和組成部分如下所示像素陣列102:像素
104:儲存電容106:通孔
108:顯示面板200:步驟
202:步驟204:步驟
206:步驟208:步驟
210:步驟300:液晶顯示面板
302:第一排304:第二排
306a:像素306b:像素
308a:像素308b:像素
310a:像素310b:像素
312a:儲存電容312b:儲存電容
314a:儲存電容314b:儲存電容
316a:儲存電容316b:儲存電容
318a:通孔318b:通孔
320a:通孔320b:通孔
322a:通孔322b:通孔
324a:修補線路324b:修補線路
326a:修補線路326b:修補線路
328a:修補線路328b:修補線路
330:陣列332:下基板
334:上基板336:液晶層
400:步驟402:步驟
404:步驟406:步驟
408:步驟410:步驟
412:步驟
具體實施例方式
以下結合附圖，具體說明本發(fā)明的實施方式。
請參照圖3，為本發(fā)明的一個具體實施方式
中一種液晶顯示 面板剖面示意圖。在本具體實施方式
中，以液晶顯示面板做為本 實施例的顯示面板，但本發(fā)明并不以此為限。液晶顯示面板300 主要包含上基板334、下基板332與液晶層336。下基板332設置 在上基板334的對側，而液晶層336則設置在上基板334與下基 板332之間。
在本實施例中，液晶顯示面板300的上基板與下基板332分 別可以是彩色濾光片基板和薄膜電晶體基板、濾光片基板和薄膜 電晶體基板、透明基板和彩色濾光片薄膜電晶體基板。在另一實 施例中，顯示面板并非液晶顯示面板，且此顯示面板的上下基板 分別可以為上基板和有機發(fā)光元件基板。
請參照圖4，為本發(fā)明的一個具體實施方式
中一種液晶顯示 面板的像素陣列的一部分的俯視示意圖。在本具體實施方式
中， 液晶顯示面板300的下基板332包含數(shù)個像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與310b。這些像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a 與310b混合排列成一陣列330。其中，像素306a、 308a與310a 位于此陣列330的第一排302，而像素306b、 308b與310b則位 于此陣列330的第二排304。
在另一實施例中，像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與 310b可位于液晶顯示面板300的上基板334中。
在一個實施例中，陣列330的第一排302包含數(shù)個像素306a、 數(shù)個像素308a與數(shù)個像素310a。其中，這些像素306a、 308a與 310a依序交錯排列。例如，第一排302的像素的排列方式為，像 素308a緊鄰在像素306a后，而像素310a緊鄰于像素308a后，
ii接著另一像素306a則又緊鄰在像素310a后，如此依序交錯排列。
另一方面，陣列330的第二排304包含數(shù)個像素306b、數(shù)個 像素308b與數(shù)個像素310b。這些像素306b、 308b與310b依序 交錯排列。舉例而言，第二排304的像素的排列方式為，像素308b 緊鄰在像素306b后，而像素310b緊鄰于像素308b后，接著另一 像素306b則又緊鄰在像素310b后，如此依序交錯排列。
在一實施例中，像素306a與306b可為紅色像素，像素308a 與308b可為綠色像素，像素310a與310b可為藍色像素。在其他 實施例中，像素306a與306b可為不同顏色的像素，像素308a與 308b可為不同顏色的像素，像素310a與310b可為不同顏色的像 素。在本發(fā)明中，像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與310b 的顏色可依產(chǎn)品設計需求而加以設定。
在本實施方式中，所有像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a 與310b均具有相同的開口率或/及電性，以避免影響液晶顯示面 板300的顯示品質。但是，像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a 與310b具有不同的外觀結構特征，以作為失效分析人員的定位參 考依據(jù)，進而可輔助失效分析人員進行缺陷像素的判別。因此， 本實施方式的目的為在不影響液晶顯示面板300的顯示參數(shù)設 計下，藉由對液晶顯示面板300中的像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與310b的外觀結構特征的差異化設計，來輔助失效分析人 員順利找出所標記的缺陷像素。
舉例而言，請再次參考圖4，在像素陣列330的第一排302 中，像素306a包含儲存電容312a，像素308a包含儲存電容314a， 像素310a包含儲存電容316a。其中，儲存電容3 12a設置在像素 306a中，儲存電容314a設置在像素308a中，而儲存電容316a 設置在像素310a中。
另一方面，在像素陣列330的第二排304中，像素306b包含儲存電容312b，像素308b包含儲存電容314b，且像素310b包 含儲存電容316b。其中，儲存電容312b設置在像素306b中，儲 存電容314b設置在像素308b中，而儲存電容316b設置在像素 310b中。
在一實施例中，陣列330的第一排302的像素306a、 308a 與310a所分別包含的儲存電容312a、 314a與316a在像素306a、 308a與310a中的位置實質相同。陣列330的第二排304的像素 306b、 308b與310b所分別包含的儲存電容312b、 314b與316b 在像素306b、 308b與310b中的位置實質相同。但，陣列330的 第一排302的像素306a、 308a與310a所分別包含的儲存電容 312a、 314a與316a在像素306a、 308a與310a中的位置，不同于 第二排304的像素306b、 308b與310b所分別包含的儲存電容 312b、 314b與316b在像素306b、 308b與3 1 Ob中的位置。如此 一來，失效分析人員可根據(jù)第一排302與第二排304的像素所包 含的儲存電容在像素中的位置的不同，輕易區(qū)分出第一排302的 像素與第二排304的像素。
請再次參考圖4，在陣列330的第一排302中，像素306a的 儲存電容312a包含通孔318a，像素308a的儲存電容314a包含通 孔320a，且像素310a的儲存電容316a包含通孔322a。其中，通 孔318a設置在儲存電容312a中，通孔320a設置在儲存電容314a 中，而通孔322a設置在儲存電容316a中。
另外，在陣列330的第二排304中，像素306b的儲存電容 312b包含通孑L 318b，像素308b的儲存電容314b包含通孔320b， 且像素310b的儲存電容316b包含通孔322b。其中，通孔318b 設置在儲存電容312b中，通孔320b設置在儲存電容314b中，而 通孔322b設置在儲存電容316b中。
在本實施方式中，通孔318a、 318b、 320a、 320b、 322a與322b可為具有電性連接作用的連接元件；或者可為不具電性連接 作用，而僅為作為外觀差異化設計以輔助辨識的虛設通孔(Dummy Via)。
在一實施例中，像素306a與306b可為相同顏色的像素，像 素308a與308b可為相同顏色的像素，像素3 10a與3 1 Ob可為相 同顏色的像素。此時，如圖4所示，像素306a的通孔318a位于 儲存電容312a的偏左側，且像素306b的通孔3 18b也位于儲存電 容312b的偏左側。而像素308a的通孔320a位于儲存電容314a 的中央?yún)^(qū)，像素308b的通孔320b也位于儲存電容314b的中央?yún)^(qū)。 像素310a的通孔322a位于儲存電容3 16a的偏右側，像素310b 的通孔322b也位于儲存電容316b的偏右側。
藉由改變通孔在儲存電容中的位置，失效分析人員可輕易區(qū) 分出不同群組的像素。
在液晶顯示面板300中，像素306a與306b分別包含修補線 路324a與324b，像素308a與308b分另ij包含{彥補線路326a與326b， 像素310a與310b分別包含修補線路328a與328b。其中，修補 線足各324a、 324b、 326a、 326b、 328a與328b分另廿對應設置在{象 素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與310b中。
在一實施例中，修補線路324a、 324b、 326a、 326b、 328a 與328b在像素306a、 306b、 308a、 308b、 3 10a與3 1 Ob中的位置 可不相同，以利區(qū)分像素群組。舉例而言，如圖4所示，修補線 路324a與324b在像素306a與306b中的位置可不同于修補線路 326a、 326b、 328a與328b在像素308a、 308b、 310a與310b中的 位置；修補線路326a與326b在像素308a與308b中的位置可不 同于修補線路328a與328b在像素310a與310b中的位置。
在另一實施例中，可利用在像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與310b中設置不同數(shù)量的修補線路的方式，來輔助失效分析人員區(qū)分像素。例如，像素306a與306b可各包含一個修補線 路，像素308a與308b可各包含二個修補線路，而像素310a與 310b可各包含三個修補線路。如此一來，線上失效分析人員即可 藉由像素306a與306b、像素308a與308b以及像素310a與310b 的此外觀結構特征差異，輕易地區(qū)別出這三個像素群組。
在液晶顯示面板300中，通過對像素的外觀結構特征的差異 化設計，可用以輔助線上失效分析人員進行像素定位。請參照圖 5，為本發(fā)明的一實施方式中一種像素缺陷檢査的流程圖。在本實 施方式中，失效分析人員即利用液晶顯示面板300的像素外觀的 差異化設計，來進行液晶顯示面板300的像素缺陷檢查。
首先，如步驟400所述，提供液晶顯示面板，例如圖3與圖 4所示的液晶顯示面板300。接下來，如步驟402所述，先將液晶 顯示面板300點亮后，線上失效分析人員可對液晶顯示面板300 進行檢査，以檢査液晶顯示面板300的所有像素是否具有缺陷。 如步驟404所述，當線上失效分析人員査獲液晶顯示面板300的 缺陷像素時，可利用例如油性筆等在此液晶顯示面板300上標記 出此缺陷像素。在標記此缺陷像素時，可以利用圈選方式將缺陷 像素利用油性筆圈選出來，因為像素的尺寸較圈選區(qū)域小，所以 區(qū)域除了包含缺陷像素外，也同時包含了其他正常像素。
接著，如步驟406所述，失效分析人員可利用例如高倍率目 鏡判斷所找出的缺陷像素的外觀結構特征，以確認所找到的缺陷 像素的外觀結構特征的類型究竟與像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a與310b中何者所具有的外觀結構特征相同。在下述實施例 中，假設所找到的缺陷像素的外觀結構特征，經(jīng)判斷后屬于像素 3 0 6 a所具有的外觀結構特征。
接下來，如同步驟408所述，失效分析人員可根據(jù)步驟406 所獲得的判斷結果，在顯微鏡下，進行第一次的查驗以查驗缺陷像素的異常因素。步驟408所采用的顯微鏡可為光學顯微鏡。在 步驟408中，由于已從步驟406中獲知，缺陷像素的外觀結構特 征的類型屬于像素306a的外觀結構特征。因此，在光學顯微鏡下， 于步驟404中所圈選出的區(qū)域中尋找缺陷像素時，可先將其儲存 電容312b、314b與316b在像素中的位置不同于儲存電容312a在 像素306a中的位置的像素306b、 308b與310b先行排除。如此一 來，可先排除圈選區(qū)域中一半的像素。接著，可將其通孔320a與 322a在像素中的位置不同于通孔318a在像素306a中的位置的像 素308a與310a予以排除。如此，可再排除剩余像素中三分之二 的像素。
因此，藉由像素的外觀差異化設計，可大大地縮減缺陷像素 的尋找查驗時間，而可提高失效分析的效率，并可提高缺陷像素 的異常因素的查驗成功率，更可大幅縮減失效分析所需的人力。
若在步驟408中，失效分析人員可判斷出此缺陷像素的異常 因素，即完成液晶顯示面板300的像素缺陷的檢査。然后，可將 像素產(chǎn)生缺陷的原因提供給前段工藝人員或研發(fā)設計人員作為參 考，來進行工藝或設計的改善，以降低或消除缺陷形成的機率。
另一方面，若在步驟408中，失效分析人員無法判斷出此缺 陷像素的異常因素時，如像素的缺陷部分為液晶顯示面板300的 彩色濾光片的黑色矩陣(Black Matrix)層所遮蔽時，則須如同步驟 410所述，先將液晶顯示面板300予以拆解，而將液晶顯示面板 300的上下基板拆解，以供進行進一步的査驗。
接著，如步驟412所述，失效分析人員可于顯微鏡下，進行 第二査驗，以査驗液晶顯示面板300的上下基板，本實施例中失 效分析人員査驗液晶顯示面板300的上下基板，如一電晶體基板， 以判斷缺陷像素的異常因素，而完成液晶顯示面板300的像素缺 陷的檢查。在步驟412中，同樣可根據(jù)步驟406中所獲得的判斷結果，先行排除外觀結構特征與缺陷像素的外觀結構特征不同的 像素。因此，同樣可大幅縮短缺陷像素的查找時間。
由上述本發(fā)明的實施方式可知，本發(fā)明的一優(yōu)點就是因為在 液晶顯示面板中，可將像素分成多個群組，且不同群組的像素具 有不同之外觀結構特征，但具有相同開口率或/及電性。透過這樣 的像素外觀結構特征的差異化設計，可輔助線上的失效分析人員， 精確且快速地找出缺陷像素。因此，可加快缺陷像素之異常因素 的判斷。
本發(fā)明的外觀結構特征可以是在儲存電容312a、 312b、 314a、 314b、 316a、 316b、通孑L 318a、 318b、 320a、 320b、 322a、 322b、 修補線路324a、 326a、 328a、 324b、 326b、 328b中設計不同的形 狀、數(shù)量、設置在像素內(nèi)的位置或其組合，只要在不影響像素的 開口率或/及電性的前提下，本領域普通技術人員可以根據(jù)實際需 求設計不同的外觀結構特征。
由上述本發(fā)明的實施方式可知，本發(fā)明的另一優(yōu)點在于，本 發(fā)明的像素缺陷檢査方法可大幅縮短線上的失效分析人員找出缺 陷像素的時間，而可提升缺陷像素的異常因素的分析效率。
由上述本發(fā)明的實施方式可知，本發(fā)明的又一優(yōu)點在于，本 發(fā)明的像素缺陷檢查方法可提高缺陷像素的異常因素的査驗成功 率，而有利于工藝或元件設計的改善，進而可減少液晶顯示面板 的產(chǎn)品失效分析的人力資源。
雖然本發(fā)明已用較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本 發(fā)明，本發(fā)明所屬技術領域中的技術人員，在不脫離本發(fā)明之精 神和范圍內(nèi)，當可作各種變動與潤飾，因此本發(fā)明之保護范圍當 以權利要求為準。
1權利要求
1.一種顯示面板，其特征在于，包含一上基板；一下基板，設置于所述上基板的對側；以及一液晶層，設置于所述上基板與所述下基板之間；其中，所述下基板包含若干個第一像素；以及若干個第二像素，與所述若干個第一像素混合排列成一陣列，且所述若干個第一像素與所述若干個第二像素具有相同的開口率或/及電性，且所述若干個第一像素與所述若干個第二像素具有不同的外觀結構特征。
2. 根據(jù)權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素與所述第二像素各包含一儲存電容，所述儲存電容對應設 置于所述第一像素與所述第二像素中，且所述第一像素所包含的所述 儲存電容在所述第一像素中的位置不同于所述第二像素所包含的所 述儲存電容在所述第二像素中的位置。
3. 根據(jù)權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素與所述第二像素各包含一儲存電容，且每一所述儲存電容 各包含一通孔，所述儲存電容對應設置于所述第一像素與所述第二像 素中，該些通孔對應設置于所述儲存電容中，其中所述第一像素所包 含的所述通孔在所述儲存電容中的位置不同于所述第二像素所包含 的所述通孔在所述儲存電容中的位置。
4. 根據(jù)權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素與所述第二像素各包含一修補線路，所述修補線路對應設置于所述第一像素與所述第二像素中，且所述第一像素所包含的所述 修補線路在所述第一像素中的位置不同于所述第二像素所包含的所 述修補線路在所述第二像素中的位置。
5. 根據(jù)權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素與所述第二像素各包含至少一修補線路，所述修補線路對 應設置于所述第一像素與所述第二像素中，且每一所述第一像素所包 含的所述至少一修補線路的數(shù)量不同于每一所述第二像素所包含的 所述至少一修補線路的數(shù)量。
6. 根據(jù)權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，其中所述第 一像素與所述第二像素交錯排列。
7. 根據(jù)權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素與所述第二像素各包含一儲存電容，所述儲存電容對應設 置于所述第一像素與所述第二像素中，且在該陣列中相鄰的一第一排 與一第二排中，位于該第一排的所述第一像素與所述第二像素所包含 的所述儲存電容的位置不同于位于該第二排的所述第一像素與所述 第二像素所包含的所述儲存電容的位置。
8. 根據(jù)權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，更包含若干 個第三像素，其中所述第三像素與所述第一像素、所述第二像素具有 相同的開口率或/及電性，且所述第三像素具有與所述第一像素與所 述第二像素不同的外觀結構特征。
9. 根據(jù)權利要求8所述的顯示面板，其特征在于，其中在所述 陣列的每一排中，所述第一像素、所述第二像素與所述第三像素依序 交錯排列。
10. 根據(jù)權利要求8所述的顯示面板，其特征在于，其中所述第一像素為紅色像素，所述第二像素為綠色像素，所述第三像素為藍色 像素。
11. 根據(jù)權利要求8所述的顯示面板，其特征在于，其中每一所述第一像素、所述第二像素與所述第三像素各包含一儲存電容，且每一所述儲存電容各包含一通孔，所述儲存電容對應設置于所述第一像素、所述第二像素與所述第三像素中，所述通孔對應設置于所述儲存 電容中，其中所述第一像素所包含的所述通孔在所述儲存電容中的位置、所述第二像素所包含的所述通孔在所述儲存電容中的位置、以及 所述第三像素所包含的該些通孔在所述儲存電容中的位置均不相同。
12. 根據(jù)權利要求11所述的顯示面板，其特征在于，其中每一 所述第一像素、所述第二像素與所述第三像素各包含一儲存電容，所 述儲存電容對應設置于所述第一像素、所述第二像素與所述第三像素 中，且在所述陣列中相鄰的一第一排與一第二排中，位于所述第一排 的所述第一像素、所述第二像素與所述第三像素所包含的所述儲存電 容的位置不同于位于所述第二排的所述第一像素、所述第二像素與所 述第三像素所包含的所述儲存電容的位置。
13. —種像素缺陷檢査方法，其特征在于，包含 提供一顯示面板，該顯示面板包含一上基板；一下基板，設置于所述上基板的對側；以及一液晶層，設置于所述上基板與所述下基板之間；其中， 所述下基板包含若干個第一像素；以及若干個第二像素，與所述第一像素混合排列成一陣列，且所述第一像素與所述第二像素具有相同的開口率或/及電性，且所述第一像素與所述第二像素具有不同的外觀結構特征；對所述顯示面板進行一檢査步驟，當獲得一缺陷像素時，在所述顯示面板上標記出包含該缺陷像素的一區(qū)域；判斷所述缺陷像素的外觀結構特征，以確認該外觀結構特征屬于該第一外觀結構特征或該第二外觀結構特征，而獲得一判斷結果；以及根據(jù)所述判斷結果，于一顯微鏡下對所述缺陷像素的一異常因素進行一第一査驗步驟。
14. 根據(jù)權利要求13所述的像素缺陷檢査方法，其特征在于，其中判斷所述缺陷像素的外觀結構特征利用一高倍率目鏡。
15. 根據(jù)權利要求14所述的像素缺陷檢査方法，其特征在于，其中所述 第一査驗步驟包含排除與所述缺陷像素的外觀結構特征不同的像素。
16. 根據(jù)權利要求13所述的像素缺陷檢查方法，其特征在于，當所述第 一查驗步驟無法判斷所述缺陷像素的異常因素時，更包含進行一拆解步 驟，以拆解所述上基板與所述下基板。
17. 根據(jù)權利要求16所述的像素缺陷檢査方法，其特征在于，于所述拆 解步驟后，更包含根據(jù)所述判斷結果，于所述顯微鏡下對所述缺陷像素的 異常因素進行一第二査驗步驟。
18. 根據(jù)權利要求16所述的像素缺陷檢査方法，其特征在于，其中所述 第二査驗步驟包含排除與所述缺陷像素的外觀結構特征不同的像素。
全文摘要
一種顯示面板及其像素缺陷檢查方法。此顯示面板包含若干個第一像素與若干個第二像素。這些第二像素與第一像素混合排列成一陣列。這些第一像素與第二像素具有相同的開口率或/及電性，且第一像素與第二像素具有不同的外觀結構特征。
文檔編號G02F1/1362GK101592812SQ20091005365
公開日2009年12月2日 申請日期2009年6月23日 優(yōu)先權日2009年6月23日
發(fā)明者林昆標, 王孝林 申請人:友達光電(蘇州)有限公司;友達光電股份有限公司