專利名稱：液晶顯示裝置的陣列基板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及液晶顯示裝置的陣列基板。
背景技術(shù)：
平板顯示器，例如液晶顯示裝置(LCD)由于具備輕薄、省電、無輻射等優(yōu)點而 逐漸取代陰極射線管(CRT)顯示器，成為顯示器發(fā)展的主流趨勢。通常，液晶顯示裝置包括用于顯示畫面的液晶顯示面板和用于向所述液晶顯示 面板提供驅(qū)動信號的驅(qū)動電路模塊，所述液晶顯示面板通常包括陣列基板和濾色片基 板，它們彼此粘接在一起并通過液晶間隙(CELLGAP)彼此間隔開，而液晶材料注入到 所述薄膜晶體管陣列基板和濾色片基板之間的CELLGAP中。液晶顯示裝置的陣列基板包括玻璃基板，形成在所述玻璃基板上的多條掃 描線和多條數(shù)據(jù)線，由掃描線和數(shù)據(jù)線的相互交叉而限定出的多個像素區(qū)域，設(shè)置在 相應(yīng)的每個像素區(qū)域中的像素電極，和與每個像素電極連接的薄膜晶體管(ThinFilm Transistor, TFT)；其中，多條掃描線以固定的間隔彼此分開并沿著第一方向延伸，而多 條數(shù)據(jù)線以固定的間隔彼此分開并且沿著基本上垂直于第一方向的第二方向延伸；所述 薄膜晶體管能夠響應(yīng)提供給相應(yīng)的每條掃描線的信號并將來自數(shù)據(jù)線的信號發(fā)送給對應(yīng) 的每個像素電極。在液晶顯示裝置的制造過程中，為了節(jié)省成本及有效的控制良率，在向液晶顯 示面板上安裝驅(qū)動電路模塊之前，需要對陣列基板進行電性測試(CellVisualTest)，以檢 出不能正常工作的陣列基板，從而在后續(xù)工藝前及時的排除不良產(chǎn)品，以此來節(jié)約生產(chǎn) 成本。目前的一種陣列基板的檢測方法是用若干短路棒(Shorting Bar)分別將各信號線 (數(shù)據(jù)線或掃描線)短路連接在一起，再通過所述短路棒向薄膜晶體管陣列輸入測試信 號，測試完成后用激光將短路棒與各信號線的連接切斷，以便進行下一步的驅(qū)動電路模 塊組裝。短路棒的另一作用是避免靜電放電(Electrostatic Discharge，ESD)對TFT器件 的破壞。
圖1顯示了現(xiàn)有的短路棒與信號線連接的一種結(jié)構(gòu)，數(shù)據(jù)線1005-1、1005-2、 1005-3分別表示紅色信號(R)數(shù)據(jù)線、綠色信號(G)數(shù)據(jù)線、藍色信號(B)數(shù)據(jù)線。短 路棒與數(shù)據(jù)線交叉排列，短路棒和數(shù)據(jù)線位于不同的電路層，可以通過過孔連接，具體 來說，短路棒的過孔與數(shù)據(jù)線的過孔通過連接金屬連接，使短路棒1001、1002、1003分 別與數(shù)據(jù)線1005-1、1005-2、1005-3短路連接，例如，短路棒1001的過孔1000-1與數(shù) 據(jù)線1005-1的過孔1001-2通過連接金屬1006連接，使短路棒1001與數(shù)據(jù)線1005-1短 路連接，連接金屬一般為氧化銦錫(ITO)或者氧化銦鋅(IZO)?？梢暬瘻y試端子(visual test pad) 1007-1、1007-2、1007-3 分別與短路棒 1001、1002、1003 相連。類似地，短路 棒還可以與掃描線短路連接。通過給可視化測試端子(Visual TestPad) 1007-1、1007-2、 1007-3加上電測信號(例如電壓)，就能進行電性測試。整個圖1的結(jié)構(gòu)表面被一層或者兩層透明的絕緣層覆蓋(圖中未示出)，過孔處除外，絕緣層一般為氮化硅或氧化硅。然而，在制造工藝過程中，例如陣列工藝取放玻璃、制盒工工藝的取向膜涂布 以及取向膜摩擦工序，由于靜電過大容易將過孔處的ITO或者IZO燒毀，例如圖2的短 路棒與信號線交疊處的電子顯微鏡照片所示，這種過孔缺陷不僅使短路棒的防靜電功能 失效，而且導(dǎo)致電測信號不能通過信號線輸入TFT器件中，電性測試不能進行，就會認 為陣列基板出現(xiàn)不良現(xiàn)象，例如信號線的線缺陷，由于在實際測試時無法確定是因過孔 損壞造成的線缺陷，為避免陣列基板留到下一制造流程可能導(dǎo)致材料的浪費，因此產(chǎn)品 會作報廢處理。同樣地，在短路棒出現(xiàn)線缺陷，例如短路棒的一處或者多處斷路而導(dǎo)致電性測 試不能進行，也會認為陣列基板出現(xiàn)不良現(xiàn)象，例如一條或多條信號線的線缺陷，產(chǎn)品 必須報廢。因此，對于上述短路棒與信號線的連接結(jié)構(gòu)，在短路棒出現(xiàn)缺陷(過孔缺陷或 線缺陷)時，不能有效地檢測陣列基板是否合格，并且，產(chǎn)品會因短路棒的缺陷而報 廢。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決現(xiàn)有技術(shù)由于短路棒缺陷而導(dǎo)致不能有效檢測陣列基板是否合格的 問題。為解決上述問題，本發(fā)明實施方式提供一種液晶顯示裝置的陣列基板，包括 基板，形成在所述基板上的多條信號線，以及形成在所述基板上的多條與所述信號線交 叉排列的短路棒，所述各條信號線與至少兩條短路棒連接?？蛇x的，所述信號線為掃描線或數(shù)據(jù)線?？蛇x的，所述信號線和短路棒通過信號線的過孔和短路棒的至少一個過孔相 連。可選的，所述液晶顯示裝置的陣列基板還包括連接金屬，連接所述信號線的 過孔和短路棒的過孔?？蛇x的，所述連接金屬在同一數(shù)據(jù)線方向上連接所述信號線的過孔和短路棒的 過孔?？蛇x的，所述連接金屬在同一短路棒線方向上連接所述信號線的過孔和短路棒 的過孔?？蛇x的，所述連接金屬為氧化銦錫或氧化銦鋅?？蛇x的，所述信號線和短路棒通過信號線的過孔相連?？蛇x的，所述液晶顯示裝置的陣列基板還包括與所述短路棒相連的測試端子?？蛇x的，所述測試端子的數(shù)量與短路棒的數(shù)量相同。可選的，所述測試端子的數(shù)量小于短路棒的數(shù)量。可選的，所述短路棒的數(shù)量為測試端子的數(shù)量的N倍，其中N為連接同一數(shù)據(jù) 線的短路棒的數(shù)量。可選的，所述短路棒為氧化銦錫或氧化銦鋅。可選的，所述數(shù)據(jù)線在數(shù)據(jù)線和短路棒的交叉位置的線寬小于所述數(shù)據(jù)線在其他位置的線寬?？蛇x的，所述短路棒在數(shù)據(jù)線和短路棒的交叉位置的線寬小于所述短路棒在其他位置的線寬。上述技術(shù)方案將各條信號線分別與至少兩條短路棒相連，與現(xiàn)有技術(shù)將各條信 號線分別與一條短路棒相連，會因短路棒的過孔缺陷或線缺陷而在電性測試時檢測出一 條或多條信號線的一處或多處線缺陷相比，上述技術(shù)方案可以降低因短路棒缺陷(過孔 損傷或短路棒斷線)而在電性測試時檢測出信號線缺陷的發(fā)生率，因而提高了檢測陣列 基板的有效性。并且，相比于現(xiàn)有技術(shù)，上述技術(shù)方案增加了過孔的數(shù)量，因此當出現(xiàn)一定量 的靜電荷時，平均分配到每個過孔的電荷量相應(yīng)地減小，這樣可以降低由于ITO過孔燒 壞而出現(xiàn)亮線的風(fēng)險。


圖1是現(xiàn)有陣列基板的短路棒與信號線連接的一種結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是現(xiàn)有的短路棒與數(shù)據(jù)線交疊處過孔燒毀的電子顯微鏡照片；圖3是本發(fā)明實施例1陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是圖3所示結(jié)構(gòu)中短路棒出現(xiàn)過孔缺陷的示意圖；圖5是圖3所示結(jié)構(gòu)中短路棒出現(xiàn)一處斷路的示意圖；圖6是圖3所示結(jié)構(gòu)中短路棒出現(xiàn)兩處斷路的示意圖；圖7是本發(fā)明實施例2陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8是本發(fā)明實施例3陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9是本發(fā)明實施例4陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10是本發(fā)明實施例的陣列基板的截面結(jié)構(gòu)示意圖；圖11是本發(fā)明實施例5陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖12是本發(fā)明實施例6陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖13是本發(fā)明實施例7陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖14是本發(fā)明實施例8陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖；圖15是本發(fā)明實施例9陣列基板的短路棒與數(shù)據(jù)線連接的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式本發(fā)明實施方式將同一信號線與至少兩條短路棒相連，以此降低因短路棒缺陷 而在電性測試時檢測出信號線缺陷的發(fā)生率。本發(fā)明實施方式的液晶顯示裝置的陣列基板包括基板，形成在所述基板上的 多條信號線，以及形成在所述基板上的多條與所述信號線交叉排列的短路棒，所述各條 信號線與至少兩條短路棒連接。下面以6條數(shù)據(jù)線和短路棒的連接結(jié)構(gòu)為例，結(jié)合附圖和實施例對上述實施方 式進行詳細說明。掃描線和短路棒的連接結(jié)構(gòu)可以與數(shù)據(jù)線和短路棒的連接結(jié)構(gòu)類似。實施例1如圖3所示，本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板包括數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D4、D5、D6,短路棒 Rl、Gl> Bi、R2、G2、B2 和測試端子 101、102、103、104、 105、106。數(shù)據(jù)線 Dl、D2、D3、D4、D5、D6、短路棒 Rl、GU Bi、R2、G2、B2 和測試端子101、102、103、104、105、106形成在基板(圖中未示出)上。
短路棒Rl、Gl、Bi、R2、G2、B2 與數(shù)據(jù)線 Dl、D2、D3、D4、D5、D6 交
叉排列，其中，數(shù)據(jù)線Dl、D4與短路棒Rl、R2相連，數(shù)據(jù)線D2、D5與短路棒G1、 G2相連，數(shù)據(jù)線D3、D6與短路棒Bi、B2相連。本實施例中，短路棒Rl與數(shù)據(jù)線在同一電路層，短路棒G1、Bi、R2、G2、B2 與數(shù)據(jù)線在不同的電路層，因此，短路棒Rl不需要通過過孔而可以直接與數(shù)據(jù)線D1、 D2連接，而短路棒G1、Bi、R2、G2、B2需要通過過孔與相應(yīng)的數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、 D4、D5、D6。短路棒Rl與短路棒G1、Bi、R2、G2、B2為不同的金屬材料，例如短 路棒Rl為鉬，短路棒G1、Bi、R2、G2、B2為鋁或鋁合金。短路棒Rl、GU Bi、R2、G2、B2 的過孔與數(shù)據(jù)線 Dl、D2、D3、D4、D5、
D6的過孔通過連接金屬連接，以使短路棒Rl、GU Bi、R2、G2、B2分別與相應(yīng)的數(shù) 據(jù)線Dl、D2、D3、D4、D5、D6短路連接，連接金屬一般為ITO或者IZO等導(dǎo)電材 料。例如，短路棒R2通過過孔組107與數(shù)據(jù)線Dl相連，過孔組107包括數(shù)據(jù)線Dl的 一個過孔、短路棒R2的一個過孔和連接金屬(圖中未標示)；短路棒Gl通過過孔組108 與數(shù)據(jù)線D2相連，過孔組108包括數(shù)據(jù)線D2的一個過孔、短路棒Gl的一個過孔和連接 金屬(圖中未標示)。在其他實施例中，短路棒Rl也可以與數(shù)據(jù)線在不同的電路層，但 需要增加連接金屬及短路棒Rl和數(shù)據(jù)線Dl、D4的過孔，以使短路棒Rl與數(shù)據(jù)線Dl、 D4相連。數(shù)據(jù)線Dl、D4表示R數(shù)據(jù)線，數(shù)據(jù)線D2、D5表示G數(shù)據(jù)線，數(shù)據(jù)線D3、D6 表示B數(shù)據(jù)線。相同信號的數(shù)據(jù)線與相同的兩條短路棒相連，例如，R數(shù)據(jù)線Dl、D4 都與短路棒Rl、R2相連；不同信號的數(shù)據(jù)線與不同的兩條短路棒相連，例如，G數(shù)據(jù)線 D2、D5與短路棒Gl、G2相連，B數(shù)據(jù)線D3、D6與短路棒Bi、B2相連。測試端子101、102、103、104、105、106 分別與短路棒 Rl、GU Bi、R2、 G2、B2相連，具體來說，測試端子101與短路棒Rl相連，測試端子102與短路棒Gl相 連，測試端子103與短路棒Bl相連，測試端子104與短路棒R2相連，測試端子105與短 路棒G2相連，測試端子106與短路棒B2相連。測試端子101、102、103、104、105、 106為金屬材料，可以相同也可以不同；另外，測試端子可以與與其相連的短路棒的材 料相同也可以不同。本實施例中，測試端子101為鉬，測試端子102、103、104、105、 106為鋁或鋁合金。在電性測試時，對測試端子101與104施加相同的電測信號(例如相同的電 壓)、對測試端子102與105施加相同的電測信號，對測試端子103與106施加相同的電 測信號，也就是說，在測試時，與同一數(shù)據(jù)線相連的兩條短路棒施加的是相同的電測信號。當短路棒上的過孔出現(xiàn)缺陷，例如靜電損傷，電極腐蝕等，如圖4所示，連接 短路棒Gl和數(shù)據(jù)線D2的過孔組108中過孔發(fā)生損壞，過孔組110可以代替過孔組108， 電測信號的電流方向可以如圖4中的箭頭方向所示。因此，本實施例避免了因短路棒Gl 的過孔組108的過孔缺陷而使電測信號無法從數(shù)據(jù)線D2輸入，導(dǎo)致電性測試時檢測出線缺陷的問題。當一條短路棒出現(xiàn)一處斷路(線缺陷)時，如圖5所示，短路棒Rl的位置111出現(xiàn)斷路，電測信號的電流方向可以如圖5中的箭頭方向所示。因此，本實施例避免了 因短路棒Rl的位置111的線缺陷而使電測信號無法從數(shù)據(jù)線Dl輸入，導(dǎo)致電性測試時 檢測出線缺陷的問題。當一條短路棒出現(xiàn)多處斷路(線缺陷)時，如圖6所示，短路棒Gl的位置112、 113出現(xiàn)斷路，電測信號的電流方向可以如圖6中的箭頭方向所示。因此，本實施例避免 了因短路棒Gl的位置112、113的線缺陷而使電測信號無法從數(shù)據(jù)線D2輸入，導(dǎo)致電性 測試時檢測出線缺陷的問題。與現(xiàn)有技術(shù)將各條數(shù)據(jù)線分別與一條短路棒相連，會因短路棒的過孔缺陷或線 缺陷而在電性測試時檢測出一條或多條數(shù)據(jù)線的一處或多處線缺陷(取決于斷路的位置) 相比，本實施例將各條數(shù)據(jù)線分別與兩條短路棒相連，本實施例可以降低因短路棒缺陷 (過孔缺陷或線缺陷)而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。并且，相比于現(xiàn)有技術(shù)，本實施例增加了過孔的數(shù)量，因此當出現(xiàn)一定量的靜 電荷時，平均分配到每個過孔的電荷量相應(yīng)地減小，這樣可以降低由于ITO過孔燒壞而 出現(xiàn)亮線的風(fēng)險。另外，如果在布局面積允許的情況下，各條數(shù)據(jù)線也可以分別與兩條以上的短 路棒相連，以進一步降低因短路棒缺陷而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。實施例2本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例1的區(qū)別在于，測試端子的數(shù)量 小于短路棒的數(shù)量，例如，短路棒的數(shù)量可以是測試端子的數(shù)量的N倍，其中N為連接 同一數(shù)據(jù)線的短路棒的數(shù)量。本實施例減少了測試端子的個數(shù)，以節(jié)省測試端子占用的 空間。由于在電性測試時，與同一數(shù)據(jù)線相連的兩條短路棒施加的是相同的電測信號， 因此兩條短路棒可以共用一個測試端子。比較圖1和圖7，測試端子從圖1所示的6個減少為圖7所示的3個。如圖7所 示，短路棒Rl通過金屬線201與測試端子101相連，短路棒R2通過金屬線204與測試 端子101相連；短路棒Gl通過金屬線202與測試端子102相連，短路棒G2通過金屬線 205與測試端子102相連；短路棒Bl通過金屬線203與測試端子103相連，并通過金屬 線206與短路棒B2相連，以使短路棒B2與測試端子103相連。在其他實施例中，短路棒R2也可以通過金屬線與短路棒Rl相連，而不是通過 金屬線204直接與測試端子101相連；短路棒G2也可以通過金屬線與短路棒G2相連， 而不是通過金屬線205直接與測試端子102相連；短路棒B2也可以通過金屬線直接與測 試端子103相連，而不是通過金屬線206與短路棒Bl相連。當短路棒的過孔出現(xiàn)缺陷或短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷 的發(fā)生率同樣可以降低，具體可以參考實施例1所述。實施例3本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例1的區(qū)別在于，增加了短路棒的 過孔的個數(shù)，以進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā) 生率。并且，相比于實施例1，本實施例增加了過孔的數(shù)量，因而使得平均分配到每個過孔的電荷量進一步減小，這樣進一步降低了由于ITO過孔燒壞而出現(xiàn)亮線的風(fēng)險。另 夕卜，與短路棒連接的測試端子可以如圖3或圖7所示。比較圖1和圖8，連接短路棒和數(shù)據(jù)線的過孔組的過孔從圖1所示的2個增加至 圖8所示的3個。例如，如圖8所示，過孔組307包括數(shù)據(jù)線Dl的一個過孔及其兩側(cè)的 短路棒R2的過孔，過孔組308包括數(shù)據(jù)線D2的一個過孔及其兩側(cè)的短路棒Gl的過孔。當短路棒的過孔出現(xiàn)缺陷或短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷 的發(fā)生率同樣可以降低，具體可以參考實施例1所述。當短路棒的兩個過孔中有一個過孔出現(xiàn)缺陷，另一個過孔可以替代出現(xiàn)缺陷的 過孔，因此進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生
率。
實施例4本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例1的區(qū)別在于，連接數(shù)據(jù)線和短 路棒的過孔在同一數(shù)據(jù)線方向上相連，以進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性測試 時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。另外，與短路棒連接的測試端子可以如圖3或圖7所示。具體來說，連接數(shù)據(jù)線和與所述數(shù)據(jù)線相連的兩條短路棒的兩個過孔組在數(shù)據(jù) 線方向上通過連接金屬相連，連接金屬可以是ITO或IZO等導(dǎo)電材料。例如，如圖9所 示，連接數(shù)據(jù)線D2和短路棒Gl的過孔組408、連接數(shù)據(jù)線D2和短路棒G2的過孔組410 通過連接金屬414在數(shù)據(jù)線D2方向上相連(上下相連)。本實施例中，數(shù)據(jù)線方向上的連接金屬(例如圖9所示的連接金屬414)還可以 在數(shù)據(jù)線與短路棒交叉位置出現(xiàn)斷線時起到連接數(shù)據(jù)線的作用。舉例來說，請參考圖10 所示的陣列基板的截面圖，并結(jié)合圖9，由于數(shù)據(jù)線D2和短路棒Bl之間存在多層絕緣 層或電路層，因此在沉積數(shù)據(jù)線D2時，會因數(shù)據(jù)線D2和短路棒Bl的交叉位置的邊緣 415、416有高度差而容易出現(xiàn)斷線問題，在此情況下，連接金屬414就可以解決數(shù)據(jù)線 D2的斷線問題。當短路棒的過孔出現(xiàn)缺陷或短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷 的發(fā)生率同樣可以降低，具體可以參考實施例1所述。當連接同一數(shù)據(jù)線和兩條短路棒的兩個過孔組中有一條短路棒的過孔出現(xiàn)缺 陷，另一條短路棒的過孔可以替代出現(xiàn)缺陷的過孔，因此進一步降低因短路棒的過孔缺 陷而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。實施例5本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例3的區(qū)別在于，連接數(shù)據(jù)線和短 路棒的過孔在同一數(shù)據(jù)線方向上相連，以進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性測試 時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。另外，與短路棒連接的測試端子可以如圖3或圖7所示。具體來說，連接數(shù)據(jù)線和與所述數(shù)據(jù)線相連的兩條短路棒的兩個過孔組在數(shù)據(jù) 線方向上通過連接金屬相連，連接金屬可以是ITO或IZO等導(dǎo)電材料。例如，如圖11 所示，連接數(shù)據(jù)線D2和短路棒Gl的過孔組508、連接數(shù)據(jù)線D2和短路棒G2的過孔組 510通過連接金屬514在數(shù)據(jù)線D2方向上相連(上下相連)。本實施例中，數(shù)據(jù)線方向上的連接金屬(例如圖11所示的連接金屬514)還可 以在數(shù)據(jù)線與短路棒交叉位置出現(xiàn)斷線時起到連接數(shù)據(jù)線的作用，具體可以參考實施例4所述。當短路棒的過孔出現(xiàn)缺陷或短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率同樣可以降低，具體可以參考實施例1所述。當連接同一數(shù)據(jù)線和兩條短路棒的兩個過孔組中有一條短路棒的過孔出現(xiàn)缺 陷，另一條短路棒的過孔可以替代出現(xiàn)缺陷的過孔，因此進一步降低因短路棒的過孔缺 陷而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。實施例6本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例1的區(qū)別在于，連接數(shù)據(jù)線和短 路棒的過孔在同一短路棒方向上相連，以進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性測試 時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。另外，與短路棒連接的測試端子可以如圖3或圖7所示。具體來說，連接短路棒和與所述短路棒相連的兩條數(shù)據(jù)線的短路棒的過孔和數(shù) 據(jù)線的過孔在短路棒方向上通過連接金屬相連，連接金屬可以是ITO或IZO等導(dǎo)電材 料。例如，如圖12所示，數(shù)據(jù)線D2的過孔608-1、短路棒Gl的608-2、數(shù)據(jù)線D5的 過孔608-3、短路棒Gl的過孔608-4通過連接金屬617在短路棒Gl方向上相連(左右相 連)。當短路棒的過孔出現(xiàn)缺陷或短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷 的發(fā)生率同樣可以降低，具體可以參考實施例1所述。當連接同一短路棒和兩條數(shù)據(jù)線的過孔中有短路棒的一個過孔出現(xiàn)缺陷，短路 棒的另一個過孔可以替代出現(xiàn)缺陷的過孔，因此進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電 性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。實施例7本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例3的區(qū)別在于，連接數(shù)據(jù)線和短 路棒的過孔在同一短路棒方向上相連，以進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性測試 時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。另外，與短路棒連接的測試端子可以如圖3或圖7所示。具體來說，連接短路棒和與所述短路棒相連的兩條數(shù)據(jù)線的短路棒的過孔和數(shù) 據(jù)線的過孔在短路棒方向上通過連接金屬相連，連接金屬可以是ITO或IZO等導(dǎo)電材 料。例如，如圖13所示，數(shù)據(jù)線D2的過孔708-1、短路棒Gl的708-2、708-5、數(shù)據(jù) 線D5的過孔708-3、短路棒Gl的過孔708-4、708-6通過連接金屬717在短路棒Gl方 向上相連(左右相連)。當短路棒的過孔出現(xiàn)缺陷或短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷 的發(fā)生率同樣可以降低，具體可以參考實施例1所述。當連接同一短路棒和兩條數(shù)據(jù)線的過孔中有短路棒的一個過孔出現(xiàn)缺陷，短路 棒的其他過孔可以替代出現(xiàn)缺陷的過孔，因此進一步降低因短路棒的過孔缺陷而在電性 測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。實施例8本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例1的區(qū)別在于，省略了短路棒的 過孔，即短路棒直接通過數(shù)據(jù)線的過孔與數(shù)據(jù)線相連，這樣可以避免以因短路棒的過孔 缺陷而在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率。另外，與短路棒連接的測試端子可以 如圖3或圖7所示。
例如，如圖14所示，短路棒R2和數(shù)據(jù)線Dl通過數(shù)據(jù)線Dl上的過孔807相連， 短路棒Gl和數(shù)據(jù)線D2通過數(shù)據(jù)線D2上的過孔808相連，短路棒G2和數(shù)據(jù)線D2通過 數(shù)據(jù)線D2上的過孔810相連。短路棒G1、Bi、R2、G2、B2為ITO或IZO。當短路棒出現(xiàn)斷路，在電性測試時檢測出數(shù)據(jù)線缺陷的發(fā)生率同樣可以降低， 具體可以參考實施例1所述。實施例9本實施例的液晶顯示裝置的陣列基板與實施例1的區(qū)別在于，減小了數(shù)據(jù)線和 短路棒的交叉位置的數(shù)據(jù)線和/或短路棒的線寬，以減小數(shù)據(jù)線和短路棒交叉位置的電 容，提高數(shù)據(jù)線和短路棒上信號的可靠性。例如，如圖15所示，數(shù)據(jù)線Dl在數(shù)據(jù)線Dl 和短路棒Gl的交叉位置109的線寬小于數(shù)據(jù)線Dl在其他位置的線寬，短路棒Gl在數(shù)據(jù) 線Dl和短路棒Gl的交叉位置109的線寬小于短路棒Gl在其他位置的的線寬。另外， 與短路棒連接的測試端子可以如圖3或圖7所示。同樣地，實施例2至8中，數(shù)據(jù)線和短路棒的交叉位置的數(shù)據(jù)線和/或短路棒的 線寬也可以減小。綜上所述，上述技術(shù)方案將各條信號線分別與至少兩條短路棒相連，與現(xiàn)有技 術(shù)將各條信號線分別與一條短路棒相連，會因短路棒的過孔缺陷或線缺陷而在電性測試 時檢測出一條或多條信號線的一處或多處線缺陷相比，上述技術(shù)方案可以降低因短路棒 缺陷(過孔損傷或短路棒斷線)而在電性測試時檢測出信號線缺陷的發(fā)生率，因而提高了 檢測陣列基板的有效性。并且，相比于現(xiàn)有技術(shù)，上述技術(shù)方案增加了過孔的數(shù)量，因此當出現(xiàn)一定量 的靜電荷時，平均分配到每個過孔的電荷量相應(yīng)地減小，這樣可以降低由于ITO過孔燒 壞而出現(xiàn)亮線的風(fēng)險。雖然本發(fā)明已以較佳實施例披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技 術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動與修改，因此本發(fā)明的保護 范圍應(yīng)當以權(quán)利要求所限定的范圍為準。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示裝置的陣列基板，包括基板和形成在所述基板上的多條信號線，其 特征在于，還包括形成在所述基板上的多條與所述信號線交叉排列的短路棒，所述各條信號線與至少 兩條短路棒連接。
2.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述信號線為掃描線 或數(shù)據(jù)線。
3.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述信號線和短路棒 通過信號線的過孔和短路棒的至少一個過孔相連。
4.如權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，還包括連接金 屬，連接所述信號線的過孔和短路棒的過孔。
5.如權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述連接金屬在同一 數(shù)據(jù)線方向上連接所述信號線的過孔和短路棒的過孔。
6.如權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述連接金屬在同一 短路棒方向上連接所述信號線的過孔和短路棒的過孔。
7.如權(quán)利要求4至6中任意一項所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述 連接金屬為氧化銦錫或氧化銦鋅。
8.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述信號線和短路棒 通過信號線的過孔相連。
9.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，還包括與所述短路棒 相連的測試端子。
10.如權(quán)利要求9所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述測試端子的數(shù) 量與短路棒的數(shù)量相同。
11.如權(quán)利要求9所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述測試端子的數(shù) 量小于短路棒的數(shù)量。
12.如權(quán)利要求11所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述短路棒的數(shù)量 為測試端子的數(shù)量的N倍，其中N為連接同一數(shù)據(jù)線的短路棒的數(shù)量。
13.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述短路棒為氧化 銦錫或氧化銦鋅。
14.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線在數(shù)據(jù) 線和短路棒的交叉位置的線寬小于所述數(shù)據(jù)線在其他位置的線寬。
15.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的陣列基板，其特征在于，所述短路棒在數(shù)據(jù) 線和短路棒的交叉位置的線寬小于所述短路棒在其他位置的線寬。
全文摘要
一種液晶顯示裝置的陣列基板，包括基板、形成在所述基板上的多條信號線，以及形成在所述基板上的多條與所述信號線交叉排列的短路棒，所述各條信號線與至少兩條短路棒連接。所述液晶顯示裝置的陣列基板可以降低因短路棒缺陷而在電性測試時檢測出信號線缺陷的發(fā)生率，因而提高了檢測陣列基板的有效性。
文檔編號G02F1/1362GK102012593SQ200910195618
公開日2011年4月13日 申請日期2009年9月7日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月7日
發(fā)明者袁劍峰, 黃賢軍 申請人:上海天馬微電子有限公司