專利名稱：一種液晶盒厚測量方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬電光功能材料制備領(lǐng)域，具體涉及一種液晶盒厚測量方法及裝置。
背景技術(shù)：
通常液晶盒是由兩塊(導(dǎo)電)玻璃基板粘合而成，其間有間隔物(spacer)用于控 制其間隙大小。液晶盒厚就是指兩塊基板間隔的厚度，通常為幾微米到幾十微米。液晶盒 厚是液晶器件的一個重要參數(shù)，當(dāng)兩塊基板玻璃被粘合在一起后，其間隙的厚度(盒厚)與 所用的間隔(spacer)的直徑會有一定差別，有時這一差別還會很大。因此，準確測量盒厚， 對液晶器件(液晶顯示器、光調(diào)制器)性能的準確掌握有重要意義?，F(xiàn)有技術(shù)中，測量液晶盒厚的方法有將其等效為一個Fabry-Perot腔，利用多光 束干涉原理，根據(jù)透射光譜的相鄰的極大(或極小)值所對應(yīng)的波長，來求出液晶盒厚d，其 原理可表示為透射率是光線入射角θ、波長λ、表面強度反射率及盒厚d的函數(shù)
權(quán)利要求
1.一種液晶盒厚測量方法，其特征在于，不需通過透射光譜的極大和極小所對應(yīng)的波 長值來確定液晶盒厚度，采用聚焦光束作為測量入射光，提高光通量及信噪比，控制透射液 晶盒的光斑大小，采用光錐平均法計算測量液晶盒厚。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述的計算方法為光錐平 均法，所述的方法中，計算光錐內(nèi)所有光束的光強透過率的平均值。
3.一種液晶盒厚測量裝置，其特征在于，所述的測量裝置包括光源(1)，聚光透鏡 O)，待測液晶盒(3)，光纖耦合頭G)，光譜測量儀(5)，光源(1)發(fā)出的光經(jīng)聚光透鏡(2) 匯聚成光錐，光錐射入液晶盒(3)，液晶盒C3)靠近光纖耦合頭G)，光纖耦合頭(4)將光導(dǎo) 入光譜測量儀(5)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶盒厚測量裝置，其特征在于，所述的光源(1)為白光LED。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶盒厚測量裝置，其特征在于，所述的白光LED在可見光 500-550nm 范圍內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶盒厚測量裝置，其特征在于，所述的聚光透鏡( 為消色差透鏡。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶盒厚測量裝置，其特征在于，所述的光纖耦合頭(4)為多 模光纖。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶盒厚測量裝置，其特征在于，所述的光譜測量儀( 為可 見光波段光譜測量儀。
全文摘要
本發(fā)明屬電光功能材料制備領(lǐng)域，涉及一種液晶盒厚測量方法及裝置。本發(fā)明方法不需要通過透射光譜的極大和極小所對應(yīng)的波長值來確定液晶盒厚度，從而免去了尋找透射光譜極大和極小值的不確定性。本發(fā)明采用了匯聚光束，有利于提高信噪比。光錐在液晶盒上的截面可以很小，有利于測量盒厚的面分布。本發(fā)明采用測量裝置測量液晶盒厚。所述裝置包括光源，聚光透鏡，待測液晶盒，光纖耦合頭，光譜測量儀。本發(fā)明采用的白光LED在可見光500-550nm范圍內(nèi)具有較平坦的發(fā)光譜，從而有利于簡化測量系統(tǒng)，同時計算也很方便。
文檔編號G02F1/13GK102053396SQ200910198449
公開日2011年5月11日 申請日期2009年11月6日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月6日
發(fā)明者劉建華, 尹德金, 戴海濤, 蒲海輝, 高斌, 高洪躍 申請人:復(fù)旦大學(xué)