專利名稱：面板測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種面板測試治具，特別是關(guān)于一種可適應(yīng)于不同尺寸的面板進行 點亮測試的面板測試治具。
背景技術(shù)：
近年來，具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu)越特性的液晶顯 示器(Liquid Crystal Display，LCD)已逐漸成為市場的主流?，F(xiàn)有習(xí)知的液晶顯示面板在用ACF膠熱壓合面板的FPC之后會進行液晶顯示面板 的點亮測試作業(yè)，以檢測液晶顯示面板的電路及顯示狀況。請參照圖1、圖2和圖3，圖1是 現(xiàn)有的面板測試治具的立體圖，圖2是現(xiàn)有的面板測試治具的探針座的示意圖，圖3是現(xiàn)有 的面板測試治具的探針連接測試電路板與待測面板的電路板的示意圖?，F(xiàn)有的面板測試治 具100包含底座110、上蓋160、測試電路板180、探針座150以及探針152。該底座110具 有面板放置槽130和面板的電路板放置槽140，上蓋160蓋合后可夾持面板170的電路板 171，并使面板的電路板171、探針152以及測試電路板180點連接，用于面板170的點亮測 試，如圖3所示。如圖1所示，現(xiàn)有的面板測試治具對于不同尺寸或規(guī)格的產(chǎn)品不能共用， 更換產(chǎn)品后治具無法使用從而造成大量的浪費。另外，目前的探針152為內(nèi)部具有彈簧153 并可兩端伸縮的結(jié)構(gòu)，這種探針的價格較高，大量地使用探針152使得面板測試治具的成 本較高。因此，設(shè)計出一種低成本并可適用不同尺寸的產(chǎn)品的測試治具是非常有意義的。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于于此，本發(fā)明提供一種面板測試治具，所述面板測試治具包含基座、測試電路 板、夾持組件、第一卡槽、探針組件以及第二卡槽。該基座具有放置槽，該測試電路板設(shè)置于 該放置槽中，用以提供面板的測試信號。該夾持組件包括上蓋板和下蓋板，該上蓋板具有一 抵壓元件，該上蓋板樞接于下蓋板的一側(cè)邊，該下蓋板可拆卸地設(shè)置于該測試電路板上。該 第一卡槽具有第一凹槽，用于容置該面板的電路板，該第一卡槽可拆卸地設(shè)置于該測試電 路板上。該探針組件包括探針座和探針，該探針組件設(shè)置于該測試電路板上并位于該下蓋 板和該第一卡槽之間。該第二卡槽具有第二凹槽，用于容置該面板，該第二卡槽可拆卸地設(shè) 置于該放置槽中。所述夾持組件進一步包含卡勾和卡扣部，該卡勾和該卡扣部配合用以扣合該上蓋 板和該下蓋板。所述探針為幾字形或E字形。所述探針為金屬薄片。所述第一卡槽具有不同尺寸，以容置不同尺寸的該面板的電路板。所述第二卡槽具有不同尺寸，以容置不同尺寸的該面板。所述探針組件具有預(yù)留的探針，用以配合不同尺寸的該面板的電路板。所述第二卡槽具有讓位槽。
所述測試電路板和第一卡槽的厚度之和等于該放置槽的深度。所述第二卡槽的厚度等于該放置槽的深度。本發(fā)明的面板測試治具成本低廉并可適應(yīng)于不同尺寸的面板進行點亮測試。關(guān)于 本發(fā)明的優(yōu)點與精神可以由以下的


及具體實施方式
詳述得到進一步的了解。

圖1是現(xiàn)有的面板測試治具立體圖。圖2是現(xiàn)有的面板測試治具的探針座的示意3是圖1中探針連接測試電路板和面板的電路板的示意圖。圖4是本發(fā)明面板測試治具的立體圖。圖5a和圖5b是本發(fā)明面板測試治具的探針示意圖。圖6是圖4中第一卡槽的立體圖。圖7是圖4中第二卡槽的立體圖。圖8是待測面板的示意圖。
具體實施例方式請參照圖4，圖4是本發(fā)明面板測試治具的立體圖。如圖4所示，面板測試治具200 包含基座210、測試電路板220、夾持組件230、第一卡槽240、探針組件250以及第二卡槽 260。基座210具有放置槽211，測試電路板220設(shè)置于該放置槽211中，用以提供面板270 的測試電信號。夾持組件230包括上蓋板232和下蓋板231，上蓋板232上具有一抵壓元件 233，上蓋板232樞接于下蓋板231的一側(cè)邊，下蓋板231可拆卸地設(shè)置于測試電路板220 上。第一卡槽240具有第一凹槽241，用于容置面板270的電路板272，第一卡槽240可拆 卸地設(shè)置于測試電路板220上。探針組件250包括探針座251和探針252，探針組件250設(shè) 置于測試電路板220上并位于下蓋板231和第一卡槽240之間。第二卡槽260具有第二凹 槽261，用于容置面板270，第二卡槽260可拆卸地設(shè)置于放置槽211中。進行面板270點 亮測試時，先將面板270放置于第二卡槽260的第二凹槽261中，將面板的電路板272放置 于第一卡槽240具有第一凹槽241內(nèi)，面板的電路板272的前端覆蓋探針組件250，再蓋合 上蓋板232和下蓋板231，抵壓元件233抵壓面板的電路板272使面板的電路板272、探針 252以及測試電路板220電性連接，進行點亮測試。如圖4所示，上蓋板232和下蓋板231 的蓋合可以通過卡勾234和卡扣部235的配合來實現(xiàn)。本發(fā)明的第一卡槽240、第二卡槽 260可通過螺絲固定，但不以此為限。請參照圖4、圖5a和圖5b，圖5a和圖5b是本發(fā)明面板測試治具的探針示意圖。 由于現(xiàn)有兩端伸縮式的探針的成本較高，為減少成本并實現(xiàn)原有探針可伸縮具有緩沖的特 點，本發(fā)明設(shè)計的探針252采用沖壓制程形成的具備韌性的金屬薄片來代替，其形狀可為 如圖5a和圖5b所示的幾字形或E字形。本發(fā)明幾字形或E字形探針252在測試治具200 下壓測試時受壓發(fā)生彈性形變，當測試完成后打開上蓋板232，探針252恢復(fù)幾字形或E字 形，E字形相較于幾字形在探針兩彎折段的中間增加一突出的橫條，這樣探針兩彎折段到中 間橫條的距離是原來兩彎折段之間距離的一半，可增強探針252的恢復(fù)力并延長其使用壽 命。采用新設(shè)計的探針252的測試治具200的成本大幅降低。另外，本發(fā)明的探針座251內(nèi)設(shè)置多根探針252，其中一部分探針252為備用探針，例如有的產(chǎn)品測試時需要5根探針， 而有的產(chǎn)品測試時可能需要8根探針，為了不同的產(chǎn)品可共用，本發(fā)明面板測試治具的探 針組件250預(yù)留部分備用探針252，通過改變上蓋板232上的抵壓元件的寬度，可對應(yīng)于不 同數(shù)目的探針252，實現(xiàn)不同產(chǎn)品的共用。請同時參照圖4、圖6、圖7和圖8。圖6是圖4中第一卡槽的立體圖，圖 7是圖4 中第二卡槽的立體圖，圖8是待測面板的示意圖。眾所周知，不同產(chǎn)品的面板270尺寸和形 狀規(guī)格各不相同，不同的面板270其上的電路板272形狀、寬度等也不相同，即使是相同的 面板270其上的電路板272也可能會有不同尺寸和規(guī)格。為了適應(yīng)不同的產(chǎn)品需要，本發(fā) 明面板測試治具的第一卡槽240可以設(shè)計為不同的尺寸和規(guī)格，第二卡槽260也可以設(shè)計 為不同的尺寸和規(guī)格，使第一卡槽240和第二卡槽260可以滿足容置不同尺寸的面板270 和其上的電路板272。例如，當待測面板270的電路板272寬度變寬時，可拆下原來的第一 卡槽240換上一個新的第一卡槽240，其具有更大寬度的第一凹槽241以適應(yīng)新的電路板 272。相同的，當待測面板270的尺寸有變化，可拆下原第二卡槽260，換上一個與新面板270 相適合的第二卡槽260，本發(fā)明通過可更換不同尺寸(或形狀)的第一卡槽或第二卡槽來 滿足不同產(chǎn)品的需要，實現(xiàn)面板測試治具共用。同時，本發(fā)明面板測試治具200的第二卡槽 260還可包含讓位槽262，便于操作人員取出或放置面板270。另外，測試電路板220和第 一卡槽240的厚度之和等于該放置槽211的深度，由于第二卡槽260直接放置于放置槽211 內(nèi)，因此第二卡槽260的厚度可等于該放置槽的深度。本發(fā)明的面板測試治具成本低廉并可適應(yīng)于不同尺寸的面板進行點亮測試。根據(jù) 以上具體實施方式
的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭 露的具體實施方式
來對本發(fā)明加以限制。
權(quán)利要求
一種面板測試治具，其特征在于，包含基座，具有放置槽；測試電路板，設(shè)置于該放置槽中，用以提供面板的測試信號；夾持組件，包括上蓋板和下蓋板，該上蓋板具有一抵壓元件，該上蓋板樞接于下蓋板的一側(cè)邊，該下蓋板可拆卸地設(shè)置于該測試電路板上；第一卡槽，具有第一凹槽，用于容置該面板的電路板，該第一卡槽可拆卸地設(shè)置于該測試電路板上；探針組件，包括探針座和探針，該探針組件設(shè)置于該測試電路板上并位于該下蓋板和該第一卡槽之間；以及第二卡槽，具有第二凹槽，用于容置該面板，該第二卡槽可拆卸地設(shè)置于該放置槽中。
2.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述夾持組件進一步包含卡勾和 卡扣部，該卡勾和該卡扣部配合用以扣合該上蓋板和該下蓋板。
3.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述探針為幾字形或E字形。
4.如權(quán)利要求3所述的面板測試治具，其特征在于所述探針為金屬薄片。
5.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述第一卡槽具有不同尺寸，以容 置不同尺寸的該面板的電路板。
6.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述第二卡槽具有不同尺寸，以容 置不同尺寸的該面板。
7.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述探針組件具有預(yù)留的探針，用 以配合不同尺寸的該面板的電路板。
8.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述第二卡槽具有讓位槽。
9.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述測試電路板和第一卡槽的厚 度之和等于該放置槽的深度。
10.如權(quán)利要求1所述的面板測試治具，其特征在于所述第二卡槽的厚度等于該放置 槽的深度。
全文摘要
本發(fā)明是關(guān)于一種面板測試治具，包含基座、測試電路板、夾持組件、第一卡槽、探針組件以及第二卡槽?；哂蟹胖貌郏瑴y試電路板設(shè)置于放置槽中。夾持組件包括上蓋板和下蓋板，上蓋板具有一抵壓元件，上蓋板樞接于下蓋板的一側(cè)邊，下蓋板可拆卸地設(shè)置于測試電路板上。第一卡槽用于容置面板的電路板，可拆卸地設(shè)置于測試電路板上。探針組件設(shè)置于測試電路板上并位于下蓋板和第一卡槽之間。第二卡槽用于容置面板，可拆卸地設(shè)置于放置槽中。本發(fā)明通過可更換不同尺寸(或形狀)的第一卡槽或第二卡槽來滿足不同面板產(chǎn)品的需要，實現(xiàn)面板測試治具共用。
文檔編號G02F1/13GK101840082SQ20101015819
公開日2010年9月22日 申請日期2010年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月24日
發(fā)明者劉玉濤, 許翔, 黃木通 申請人:友達光電(廈門)有限公司;友達光電股份有限公司