專利名稱：陣列基板、液晶顯示面板及其檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)，尤其涉及一種陣列基板、液晶顯示面板及其檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示器是目前常用的平板顯示器，其中薄膜晶體管液晶顯示器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display，簡稱TFT-LCD)是液晶顯示器中的主流產(chǎn)品。在將液晶顯示器出廠投入市場之前，需要對(duì)液晶顯示器進(jìn)行抽檢，以確保液晶顯示器的質(zhì)量滿足出廠要求。其中，液晶顯示面板的阻容延遲特性測(cè)試和液晶顯示面板上柵線、數(shù)據(jù)線的線電阻測(cè)試是較為重要的測(cè)試。如圖IA和圖IB所示，液晶顯示面板的陣列基板包括襯底基板1 ；襯底基板1上形成有橫縱交叉的數(shù)據(jù)線5和柵線2 ；數(shù)據(jù)線5和柵線2 圍設(shè)形成矩陣形式排列的像素單元。在對(duì)液晶顯示面板進(jìn)行阻容延遲特性測(cè)試和線電阻測(cè)試時(shí)，需要將被抽檢的液晶顯示面板拆盒，然后去除液晶與陣列基板的取向?qū)?，使柵線2和數(shù)據(jù)線5的末端暴露出來，使用檢測(cè)器的探針分別接觸柵線2的兩端、或者使用檢測(cè)器的探針分別接觸數(shù)據(jù)線5的兩端，輸入相應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)，從而獲得液晶顯示面板的阻容延遲特性和線電阻。這種破壞性的抽檢方法，要去除液晶與取向?qū)樱僮鞣爆?；需要使用探針與柵線、 數(shù)據(jù)線的末端進(jìn)行接觸，而探針的接觸點(diǎn)很小，可能會(huì)劃傷柵線和數(shù)據(jù)線，從而造成抽檢產(chǎn)品的損壞；檢測(cè)完成后，樣品已遭到破壞，無法投入市場，造成成本的增加和產(chǎn)品的浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種陣列基板、液晶顯示面板及其檢測(cè)方法，以實(shí)現(xiàn)不拆盒對(duì)液晶顯示面板進(jìn)行阻容延遲特性和線電阻的檢測(cè)。本發(fā)明提供了一種陣列基板，包括襯底基板，所述襯底基板上形成有像素區(qū)域和接口區(qū)域，所述像素區(qū)域由橫縱交叉的數(shù)據(jù)線和柵線圍設(shè)而成；所述數(shù)據(jù)線和柵線的一端延伸至所述接口區(qū)域；其中至少三條數(shù)據(jù)線的另一端設(shè)置有第一焊接金屬，所述第一焊接金屬用于所述數(shù)據(jù)線的檢測(cè)；禾口/ 或，至少三條柵線的另一端設(shè)置有第二焊接金屬，所述第二焊接金屬用于所述柵線的檢測(cè)。本發(fā)明還提供了一種液晶顯示面板，包括對(duì)盒設(shè)置的陣列基板和彩膜基板，所述陣列基板和彩膜基板之間填充有液晶層，其中所述陣列基板采用如上所述的陣列基板。本發(fā)明又提供了一種液晶顯示面板的檢測(cè)方法，所述液晶顯示面板為如上所述的液晶顯示面板，其中包括通過所述第一焊接金屬將所述至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，通過所述第二焊接金屬將所述至少三條柵線彼此連接；在所述接口區(qū)域中，將所述至少三條數(shù)據(jù)線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，將所述至少三條柵線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得所述液晶顯示面板的阻容延遲特性和TFT線電阻的檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明再提供了一種液晶顯示面板的檢測(cè)方法，所述液晶顯示面板如上所述的液晶顯示面板，其中包括通過所述第一焊接金屬將所述至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，在所述接口區(qū)域中，將所述至少三條數(shù)據(jù)線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得所述液晶顯示面板的 TFT數(shù)據(jù)線電阻的檢測(cè)結(jié)果；或者，通過所述第二焊接金屬將所述至少三條柵線彼此連接，在所述接口區(qū)域中，將所述至少三條柵線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得所述液晶顯示面板TFT柵線電阻的檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明提供的陣列基板、液晶顯示面板及其檢測(cè)方法，通過在其陣列基板的至少三條數(shù)據(jù)上的末端設(shè)置第一焊接金屬，和/或，至少三條柵線的末端設(shè)置第二焊接金屬，這種結(jié)構(gòu)使得陣列基板與彩膜基板對(duì)盒設(shè)置完成后，不必拆盒，在盒外利用激光焊接設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)三條或三條以上的數(shù)據(jù)線在末端相連，三條或三條以上的柵線在末端相連，從而通過檢測(cè)接口區(qū)域中的一端即可完成阻容延遲檢測(cè)、TFT線電阻的檢測(cè)工作。這就使得檢測(cè)工作對(duì)于液晶顯示面板不再是破壞性的檢測(cè)，為檢測(cè)工作帶來了新的發(fā)展方向。


圖IA為現(xiàn)有技術(shù)中提供的陣列基板的局部俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖IB為圖IA中沿A-A線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖2中提供的陣列基板沿A-A線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖2中提供的陣列基板沿B-B線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為圖2中提供的陣列基板沿C-C線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為圖2中提供的陣列基板沿D-D線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例三提供的液晶顯示面板的檢測(cè)方法流程圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例三提供的液晶顯示面板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記1-襯底基板； 2-柵線； 3-柵電極；4-柵絕緣層；5-數(shù)據(jù)線；6-有源層；61-半導(dǎo)體層；62-重?fù)诫s半導(dǎo)體層；7-源電極；8-漏電極；9-鈍化層；10-鈍化層過孔；11-像素電極；12-公共電極線；13-第二焊接金屬；14-第二保護(hù)層；15-第一焊接金屬； 16-第一保護(hù)層；21至26-柵線測(cè)試接觸點(diǎn)；30-像素區(qū)域；40-接口區(qū)域；51至56-數(shù)據(jù)線測(cè)試接觸點(diǎn)。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。實(shí)施例一圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖，如圖2所示，該陣列基板包括襯底基板1，該襯底基板1上形成有像素區(qū)域30和接口區(qū)域40。像素區(qū)域30由橫縱交叉的數(shù)據(jù)線5和柵線2圍設(shè)而成。數(shù)據(jù)線5和柵線2的一端(又稱始端)延伸至接口區(qū)域40。其中，至少三條數(shù)據(jù)線5的另一端(又稱末端)設(shè)置有第一焊接金屬15，該第一焊接金屬15用于數(shù)據(jù)線5的檢測(cè)；和/或，至少三條柵線2的另一端(又稱末端)設(shè)置有第二焊接金屬13，該第二焊接金屬13用于柵線2的檢測(cè)。其中，數(shù)據(jù)線5與柵線2均設(shè)置有焊接金屬時(shí)，這種陣列基板的結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)阻容延遲檢測(cè)和線電阻檢測(cè)的雙重檢測(cè)工作；數(shù)據(jù)線與柵線僅一種設(shè)置有焊接金屬時(shí)，這種陣列基板的結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)線電阻的檢測(cè)工作。本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板通過在至少三條數(shù)據(jù)上的末端設(shè)置第一焊接金屬， 和/或，在至少三條柵線的末端設(shè)置第二焊接金屬，這種結(jié)構(gòu)使得陣列基板與彩膜基板對(duì)盒設(shè)置完成后，不必拆盒，在盒外利用激光焊接設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)三條或三條以上的數(shù)據(jù)線在末端相連，三條或三條以上的柵線在末端相連，從而通過檢測(cè)接口區(qū)域中的一端即可完成阻容延遲檢測(cè)、TFT線電阻的檢測(cè)工作。在本實(shí)施例中，至少三條數(shù)據(jù)線優(yōu)選為彼此相鄰的數(shù)據(jù)線，這種選擇數(shù)據(jù)線的方式主要是為了制造陣列基板時(shí)工藝的易操作性以及減少焊接金屬材料的不必要浪費(fèi)。具體可以理解為如果三條數(shù)據(jù)線不是彼此相鄰的數(shù)據(jù)線，那么在制造陣列基板時(shí)需要分別對(duì)準(zhǔn)數(shù)據(jù)線的位置沉積焊接金屬，對(duì)于工藝的可操作性、精確性都會(huì)有更高的要求；而如果三條數(shù)據(jù)線彼此相鄰，那么就可以直接在這三條數(shù)據(jù)線的上層相應(yīng)位置直接沉積焊接金屬層，對(duì)于精度的要求也會(huì)相應(yīng)的降低。而且，如果三條數(shù)據(jù)線之間的距離較遠(yuǎn)，需要沉積的焊接金屬就會(huì)越多，造成不必要的材料浪費(fèi)。同理，在本實(shí)施例中，至少三條柵線同樣優(yōu)選為彼此相鄰的柵線。需要說明的是，依據(jù)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員的公知常識(shí)，數(shù)據(jù)線和柵線交疊的區(qū)域就是阻容延遲的點(diǎn)，所以對(duì)于數(shù)據(jù)線來說，其末端的阻容延遲最大；對(duì)于柵線來說，其末端的阻容延遲最大。因此，在檢測(cè)阻容延遲特性時(shí)，優(yōu)選檢測(cè)距離數(shù)據(jù)線的末端最近的三條柵線。因此，本實(shí)施例提供的陣列基板中，優(yōu)選在距離數(shù)據(jù)線的末端最近的三條相鄰柵線上設(shè)
置焊接金屬。圖3為圖2中提供的陣列基板沿A-A線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，從下向上依次為襯底基板1、柵線2、柵絕緣層4、第二焊接金屬13和第二保護(hù)層14。柵線2與第二焊接金屬13之間可以通過激光焊接設(shè)備的焊接彼此連接，從而使柵線2之間彼此連接。 圖4為圖2中提供的陣列基板沿B-B線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖，如圖4所示，從下向上依次為襯底基板1、柵絕緣層4、第二焊接金屬13和第二保護(hù)層14。
圖5為圖2中提供的陣列基板沿C-C線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖，如圖5所示，從下向上依次為襯底基板1、第一焊接金屬15、柵絕緣層4、數(shù)據(jù)線5和第一保護(hù)層16。數(shù)據(jù)線 5與第一焊接金屬15之間可以通過激光焊接設(shè)備的焊接彼此連接，從而使數(shù)據(jù)線5之間彼此連接。圖6為圖2中提供的陣列基板沿D-D線的側(cè)視剖切結(jié)構(gòu)示意圖，如圖6所示，從下向上依次為襯底基板1、第一焊接金屬15、柵絕緣層4和第一保護(hù)層16。為了更好地在接口區(qū)域40處識(shí)別這些末端設(shè)置了焊接金屬的柵線2和數(shù)據(jù)線5， 優(yōu)選的，末端設(shè)置有第一焊接金屬15的數(shù)據(jù)線5，延伸至接口區(qū)域40的始端處設(shè)置有標(biāo)識(shí)， 以明顯區(qū)別于其他始端未設(shè)置有第一焊接金屬15的數(shù)據(jù)線5。同理，始端設(shè)置有第二焊接金屬13的柵線2，延伸至接口區(qū)域40的始端處設(shè)置有標(biāo)識(shí)，以明顯區(qū)別于其他始端未設(shè)置有第二焊接金屬13的柵線2。實(shí)施例二本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種液晶顯示面板，包括對(duì)盒設(shè)置的陣列基板和彩膜基板，該陣列基板和彩膜基板之間填充有液晶層，其中，陣列基板可以采用實(shí)施例一中提供的陣列基板。本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板，通過在其陣列基板的至少三條數(shù)據(jù)上的末端設(shè)置第一焊接金屬，和/或，至少三條柵線的末端設(shè)置第二焊接金屬，這種結(jié)構(gòu)使得陣列基板與彩膜基板對(duì)盒設(shè)置完成后，不必拆盒，在盒外利用激光焊接設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)三條或三條以上的數(shù)據(jù)線在末端相連，三條或三條以上柵線在末端相連，從而通過檢測(cè)接口區(qū)域中的一端即可完成阻容延遲檢測(cè)、TFT線電阻的檢測(cè)工作。這就使得檢測(cè)工作對(duì)于液晶顯示面板不再是破壞性的檢測(cè)，為檢測(cè)工作帶來了新的發(fā)展方向。實(shí)施例三圖7為本發(fā)明實(shí)施例三提供的液晶顯示面板的檢測(cè)方法流程圖，該方法可以對(duì)本發(fā)明實(shí)施例二中所提供的液晶顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，完成相應(yīng)的流程。如圖7所示，該方法包括步驟701 將第一焊接金屬與至少三條數(shù)據(jù)線建立連接，第二焊接金屬與至少三條柵線建立連接；其中，由于是對(duì)已經(jīng)成盒的液晶顯示面板進(jìn)行阻容延遲特性和TFT線電阻的檢測(cè)，為了不破壞盒體，采用焊接激光設(shè)備，在盒外對(duì)準(zhǔn)第一焊接金屬和第二焊接金屬的位置，將第一焊接金屬與至少三條數(shù)據(jù)線焊接在一起，將第二焊接金屬與至少三條柵線焊接在一起。需要說明的是，焊接后產(chǎn)生的接觸電阻的大小與焊接激光設(shè)備的穩(wěn)定性及焊接的方法有關(guān)。由于本實(shí)施例中應(yīng)用的焊接激光設(shè)備為量產(chǎn)使用的焊接激光設(shè)備，有定期的校準(zhǔn)和維護(hù)措施，使得這種焊接激光設(shè)備的穩(wěn)定性能夠得以保障。焊接的方法，包括具體焊接位置、焊接點(diǎn)數(shù)、焊接強(qiáng)度可以根據(jù)實(shí)際檢測(cè)的需要進(jìn)行統(tǒng)一，從而保證焊接電阻波動(dòng)的穩(wěn)定性。由此，焊接電阻不會(huì)對(duì)液晶顯示面板的特性產(chǎn)生影響。步驟702 在接口區(qū)域40中，將至少三條數(shù)據(jù)線中任意兩條的始端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，將至少三條柵線中任意兩條的始端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得液晶顯示面板的阻容延遲特性和TFT線電阻的檢測(cè)結(jié)果。具體的，如圖8所示，現(xiàn)有技術(shù)中，檢測(cè)設(shè)備在檢測(cè)阻容延遲特性時(shí)，其接觸點(diǎn)為圖8中的20和53，而本發(fā)明實(shí)施例中，檢測(cè)設(shè)備的接觸點(diǎn)為圖8中的24和55。測(cè)試接觸點(diǎn)24和55分別為柵線和數(shù)據(jù)線的始端，其接觸面積遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于接觸點(diǎn)20和53，在測(cè)試時(shí)，可以大大節(jié)約測(cè)試時(shí)間。采用這種新的工藝和新的測(cè)試方法，其測(cè)試結(jié)果與現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試結(jié)果成比例關(guān)系，通過理論計(jì)算，新的測(cè)試方法的測(cè)試結(jié)果為現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試結(jié)果的2倍。進(jìn)一步的，現(xiàn)有技術(shù)中，檢測(cè)設(shè)備在檢測(cè)柵線電阻時(shí)，其接觸點(diǎn)為圖8中的20和 23，在檢測(cè)數(shù)據(jù)線電阻時(shí)，其接觸點(diǎn)為圖8中的53和56。而本發(fā)明實(shí)施例中，檢測(cè)設(shè)備在檢測(cè)柵線電阻時(shí)，其接觸點(diǎn)為圖8中的23、24和25中的任意兩個(gè)，檢測(cè)數(shù)據(jù)線電阻時(shí)，其接觸點(diǎn)為圖8中的54、55和56中的任意兩個(gè)。這種情況下，以數(shù)據(jù)線電阻的計(jì)算方式為例首先檢測(cè)接觸點(diǎn)54和55，得到數(shù)據(jù)線A和數(shù)據(jù)線B的電阻為X ；再檢測(cè)接觸點(diǎn)54和56，得到數(shù)據(jù)線A和數(shù)據(jù)線C的電阻為Y ；最后檢測(cè)接觸點(diǎn)55和56，得到數(shù)據(jù)線B和數(shù)據(jù)線C的電阻為Z，通過如下所示的三元一次方程組，可以得到任意一條數(shù)據(jù)金屬線A、B和C的電阻大小。同理，任意一條柵線電阻的大小均可得到。
r A+B=X;^ A+C=Y;
.B+C=Z;還需要說明的是，本發(fā)明實(shí)施例中檢測(cè)設(shè)備的接觸點(diǎn)不再需要與柵線或數(shù)據(jù)線的末端相接觸，而是與柵線或數(shù)據(jù)線的始端相接觸，而柵線與數(shù)據(jù)線的始端接觸面積遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于末端接觸面積，檢測(cè)設(shè)備的接觸點(diǎn)可以很容易地與始端相接觸，從而可以大大節(jié)約在檢測(cè)時(shí)的檢測(cè)時(shí)間。還需要說明的是，檢測(cè)完阻容延遲特性和線電阻后，如果樣品還需要進(jìn)行其他分析或者測(cè)試的情況下，只需要利用激光焊接設(shè)備將焊接金屬從中間切斷即可。本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板的檢測(cè)方法，通過在其陣列基板的至少三條數(shù)據(jù)上的末端設(shè)置第一焊接金屬，至少三條柵線的末端設(shè)置第二焊接金屬，這種結(jié)構(gòu)使得陣列基板與彩膜基板對(duì)盒設(shè)置完成后，不必拆盒，在盒外利用激光焊接設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)三條或三條以上的數(shù)據(jù)線在末端相連，三條或三條以上柵線在末端相連，從而通過檢測(cè)接口區(qū)域中的一端即可完成阻容延遲檢測(cè)和TFT線電阻的檢測(cè)工作。這就使得檢測(cè)工作對(duì)于液晶顯示面板不再是破壞性的檢測(cè)，為檢測(cè)工作帶來了新的發(fā)展方向。實(shí)施例四本發(fā)明實(shí)施例四提供了一種液晶顯示面板的檢測(cè)方法，該方法可以對(duì)本發(fā)明實(shí)施例二中所提供的液晶顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，以獲得液晶顯示面板的TFT柵線或者數(shù)據(jù)線的線電阻。該方法包括通過第一焊接金屬將至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，在接口區(qū)域40中，將至少三條數(shù)據(jù)線中任意兩條的始端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得液晶顯示面板的數(shù)據(jù)線的TFT線電阻的檢測(cè)結(jié)果?；蛘?，通過第二焊接金屬將至少三條柵線彼此連接，在接口區(qū)域40中，將至少三條柵線中任意兩條的始端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得液晶顯示面板的數(shù)據(jù)線的TFT線電阻的檢測(cè)結(jié)果。
具體的執(zhí)行方法可以參見實(shí)施例三中的說明，此處不做贅述。本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板的檢測(cè)方法，通過在其陣列基板的至少三條數(shù)據(jù)上的末端設(shè)置第一焊接金屬，或者，至少三條柵線的末端設(shè)置第二焊接金屬，這種結(jié)構(gòu)使得陣列基板與彩膜基板對(duì)盒設(shè)置完成后，不必拆盒，在盒外利用激光焊接設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)三條或三條以上的數(shù)據(jù)線在末端相連，或者，三條或三條以上柵線在末端相連，從而通過檢測(cè)接口區(qū)域中的一端即可完成TFT線電阻的檢測(cè)工作。這就使得檢測(cè)工作對(duì)于液晶顯示面板不再是破壞性的檢測(cè)，為檢測(cè)工作帶來了新的發(fā)展方向。最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種陣列基板，包括襯底基板，所述襯底基板上形成有像素區(qū)域和接口區(qū)域，所述像素區(qū)域由橫縱交叉的數(shù)據(jù)線和柵線圍設(shè)而成；所述數(shù)據(jù)線和柵線的一端延伸至所述接口區(qū)域；其特征在于至少三條數(shù)據(jù)線的另一端設(shè)置有第一焊接金屬，所述第一焊接金屬用于所述數(shù)據(jù)線的檢測(cè)；和/或，至少三條柵線的另一端設(shè)置有第二焊接金屬，所述第二焊接金屬用于所述柵線的檢測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于 所述至少三條數(shù)據(jù)線為彼此相鄰的數(shù)據(jù)線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于 所述至少三條柵線為彼此相鄰的柵線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的陣列基板，其特征在于所述至少三條柵線中包括距離所述數(shù)據(jù)線的另一端最近的一條柵線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于 所述第一焊接金屬與所述數(shù)據(jù)線之間為柵絕緣層； 所述第二焊接金屬與所述柵線之間為柵絕緣層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于設(shè)置有第一焊接金屬的數(shù)據(jù)線，其延伸至所述接口區(qū)域的一端設(shè)有標(biāo)識(shí)； 設(shè)置有第二焊接金屬的數(shù)據(jù)線，其延伸至所述接口區(qū)域的一端設(shè)有標(biāo)識(shí)。
7.一種液晶顯示面板，包括對(duì)盒設(shè)置的陣列基板和彩膜基板，所述陣列基板和彩膜基板之間填充有液晶層，其特征在于所述陣列基板采用如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的陣列基板。
8.一種液晶顯示面板的檢測(cè)方法，所述液晶顯示面板如權(quán)利要求7所述，其特征在于， 包括通過所述第一焊接金屬將所述至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，通過所述第二焊接金屬將所述至少三條柵線彼此連接；在所述接口區(qū)域中，將所述至少三條數(shù)據(jù)線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)， 將所述至少三條柵線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得所述液晶顯示面板的阻容延遲特性和TFT線電阻的檢測(cè)結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的液晶顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，所述通過所述第一焊接金屬將所述至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，通過所述第二焊接金屬將所述至少三條柵線彼此連接，具體包括采用焊接激光設(shè)備，將所述第一焊接金屬與所述至少三條數(shù)據(jù)線焊接在一起，將所述第二焊接金屬與所述至少三條柵線焊接在一起。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的液晶顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，獲得檢測(cè)結(jié)果之后還包括將所述第一焊接金屬和/或所述第二焊接金屬切斷，以斷開所述至少三條數(shù)據(jù)線和/ 或所述至少三條柵線之間的連接。
11.一種液晶顯示面板的檢測(cè)方法，所述液晶顯示面板如權(quán)利要求7所述，其特征在于，包括通過所述第一焊接金屬將所述至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，在所述接口區(qū)域中，將所述至少三條數(shù)據(jù)線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得所述液晶顯示面板的TFT 數(shù)據(jù)線電阻的檢測(cè)結(jié)果；或者，通過所述第二焊接金屬將所述至少三條柵線彼此連接，在所述接口區(qū)域中，將所述至少三條柵線中任意兩條的一端作為檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得所述液晶顯示面板TFT柵線電阻的檢測(cè)結(jié)果。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的液晶顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，所述通過所述第一焊接金屬將所述至少三條數(shù)據(jù)線彼此連接，具體包括采用焊接激光設(shè)備，將所述第一焊接金屬與所述至少三條數(shù)據(jù)線焊接在一起；所述通過所述第二焊接金屬將所述至少三條柵線彼此連接，具體包括采用焊接激光設(shè)備，將所述第二焊接金屬與所述至少三條柵線焊接在一起。
13.根據(jù)權(quán)利要求11或12所述的液晶顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，獲得檢測(cè)結(jié)果之后還包括將所述第一焊接金屬或所述第二焊接金屬切斷，以斷開所述至少三條數(shù)據(jù)線或所述至少三條柵線之間的連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種陣列基板、液晶顯示面板及其檢測(cè)方法。一種陣列基板，包括襯底基板，襯底基板上形成有像素區(qū)域和接口區(qū)域，像素區(qū)域由橫縱交叉的數(shù)據(jù)線和柵線圍設(shè)而成；數(shù)據(jù)線和柵線的一端延伸至接口區(qū)域；至少三條數(shù)據(jù)線的另一端設(shè)置有第一焊接金屬，第一焊接金屬用于數(shù)據(jù)線的檢測(cè)；和/或，至少三條柵線的另一端設(shè)置有第二焊接金屬，第二焊接金屬用于柵線的檢測(cè)。本發(fā)明提供的陣列基板、液晶顯示面板及其檢測(cè)方法，使得陣列基板與彩膜基板對(duì)盒設(shè)置完成后，不必拆盒，在盒外利用激光焊接設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)三條或三條以上的數(shù)據(jù)線在末端相連，三條或三條以上柵線在末端相連，從而通過檢測(cè)接口區(qū)域中的一端即可完成阻容延遲檢測(cè)、TFT線電阻的檢測(cè)工作。
文檔編號(hào)G02F1/13GK102455554SQ201010523248
公開日2012年5月16日 申請(qǐng)日期2010年10月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月22日
發(fā)明者楊康, 王麗娜, 秦緯, 肖光輝, 趙海玉 申請(qǐng)人:北京京東方光電科技有限公司