專利名稱：液晶顯示裝置的檢測裝置及其測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及半導體集成電路技術領域，更具體地說，涉及一種液晶顯示裝置的檢測裝置及其測試方法。
背景技術：
液晶顯示裝置具有由包括矩陣狀的顯示像素構成的有效顯示部分。該有效顯示部分包括沿顯示像素的行方向延伸的多條掃描線、沿顯示像素的列方向延伸的多條數(shù)據(jù)線 (也稱信號線)、設置在這些掃描線與數(shù)據(jù)線的交叉部位附近的開關元件以及與所述開關元件連接的像素電極等。這些掃描線及數(shù)據(jù)線引出到有效顯示部分的外圍部分，通過在所述外圍部分輸入測試信號來檢測有效顯示部分所顯示出來畫面的品質?，F(xiàn)有技術中一般均在所述外圍部分設置檢測裝置S1OTting bar (短路棒)，在所述短路棒上輸入測試信號并通過相應的元件傳輸?shù)接行э@示部分的掃描線及數(shù)據(jù)線上，進而檢測有效顯示部分所顯示出來畫面的品質。參考圖1，圖1為現(xiàn)有技術中一種液晶顯示裝置檢測裝置的結構示意圖。圖中101、 102、103、109表示四根短路棒，104、105、106、110表示分別連接短路棒101、102、103、109的測試端子，通過在各測試端子上輸入測試信號進而由短路棒傳輸?shù)綌?shù)據(jù)線及掃描線上。D1、 D2、D3、D4、D5、D6表示六條數(shù)據(jù)線，Cl、C2、C3、C4、C5、C6表示六條傳輸線，短路棒101通過過孔107和傳輸線Cl相連，傳輸線Cl再通過薄膜晶體管(Thin Film Transistor,TFT) 開關108和數(shù)據(jù)線Dl相連，當在測試端子104上輸入測試信號時，該測試信號經(jīng)由短路棒 101、過孔107、傳輸線Cl、薄膜晶體管開關108傳輸至數(shù)據(jù)線D1。同理，其他的數(shù)據(jù)線也是通過其相應的測試端子、短路棒、過孔、傳輸線及薄膜晶體管開關而得到測試信號的。圖中 G1、G2、G3表示三條掃描線，短路棒109通過傳輸線C7與薄膜晶體管開關111相連，薄膜晶體管開關111依次通過傳輸線C8、過孔112與掃描線G3相連，當在測試端子110上輸入測試信號時，該測試信號經(jīng)由短路棒109、傳輸線C7、薄膜晶體管開關111、傳輸線C8、過孔112 傳輸至掃描線G3。同理，其他的掃描線也是通過其相應的測試端子、短路棒、傳輸線、薄膜晶體管開關及過孔而得到測試信號的。在液晶顯示裝置的制造工藝過程中，取放玻璃、取向膜涂布以及取向摩擦等工藝流程中，常會由于靜電過大的原因造成傳輸線與短路棒連接的過孔處的導電膜(材料為
ITO------Indium Tin Oxides，或，IZO------Indium ZincOxides)燒毀，進而在對液晶顯
示裝置進行測試時，將會出現(xiàn)數(shù)據(jù)線方向或者掃描線方向的線缺陷，影響最終的測試結果。

發(fā)明內容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種液晶顯示裝置的檢測裝置及其測試方法，該液晶顯示裝置的檢測裝置中消除了過孔，進而在測試過程中可避免因過孔對測試結果造成的影響。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案一種液晶顯示裝置的檢測裝置，所述液晶顯示裝置包括多條垂直相交的掃描線和數(shù)據(jù)線，以及多條掃描線和數(shù)據(jù)線限定的多個像素單元，所述像素單元包括紅色像素單元、綠色像素單元和藍色像素單元；所述檢測裝置包括第一短路棒、第一控制線、第二控制線、第三控制線、多條傳輸線和多個薄膜晶體管開關元件；其中所述多個所述薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在所述第一控制線、第二控制線、第三控制線上；所述多條數(shù)據(jù)線分別通過到薄膜晶體管開關元件的漏極連接到第一控制線、第二控制線和第三控制線上，其中控制藍色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第一控制線上，控制紅色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第二控制線上，控制綠色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第三控制線上；所述多個薄膜晶體管開關元件的源極分別通過多條傳輸線連接到第一短路棒上?？蛇x地，相鄰三個像素單元的數(shù)據(jù)線所連接的三個薄膜晶體管開關的源極通過同一根傳輸線連接到第一短路棒上?？蛇x地，所述相鄰的三個像素單元為相鄰的紅色像素單元、綠色像素單元和藍色像素單元。可選地，還包括掃描線檢測裝置，所述掃描線檢測裝置包括第二短路棒、第四控制線、多條傳輸線和多個開關元件；其中所述多個所述薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在所述第四控制線上；所述多條掃描線分別通過薄膜晶體管開關元件的漏極連接到第四控制線上，所述多個薄膜晶體管開關元件的源極分別通過多條傳輸線連接到第二短路棒上?？蛇x地，還包括掃描線檢測裝置，所述掃描線檢測裝置第二短路棒、多條傳輸線和多個薄膜晶體管開關元件；其中所述多個薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在第一控制線、第二控制線和第三控制上；所述第一控制線上一個薄膜晶體管開關元件的漏極、所述第二控制線上一個薄膜晶體管開關元件的漏極、所述第三控制線上一個薄膜晶體管開關元件的漏極共同連接到一條掃描線上，所述以上三個薄膜晶體管開關元件的源極通過共同第二短路棒上?？蛇x地，所述第二控制線與所述數(shù)據(jù)線交叉部分的寬度小于所述其他未交叉部分的寬度；或者，所述第三控制線與數(shù)據(jù)線交叉部分的寬度小于其他未交叉部分的寬度。可選地，還包括連接到第一控制線上的測試端子、連接到第二控制線上測試端子和連接到第三控制線上的測試端子?？蛇x地，還包括連接到第一短路棒上測試端子?？蛇x地，所述第一短路棒、所述多個薄膜晶體管開關元件的源極、漏極、所述多條數(shù)據(jù)線的材料相同，并且在制造步驟中同步形成?？蛇x地，還包括連接到第二短路棒上測試端子?？蛇x地，所述多個薄膜晶體管開關元件的漏極分別通過過孔和掃描線相連?？蛇x地，還包括連接到第四控制線上的測試端子。可選地，所述第一短路棒、第二短路棒、所述多個薄膜晶體管開關元件的源極、漏極和所述多條數(shù)據(jù)線的材料相同，并且在制造步驟中同步形成。
本發(fā)明提供的第一種檢測方法，包括步驟Sl 向所述檢測裝置中掃描線檢測裝置的第四控制線和第二短路棒提供高電壓的控制信號；步驟S2 向檢測裝置中的第一控制線、第二控制線和第三控制提供高電壓的控制信號。步驟S3 向檢測裝置中的第一短路棒提供一電壓信號，用于插入一白畫面；步驟S4 調節(jié)檢測裝置中的第一短路棒上的電壓信號，同時調節(jié)檢測裝置中第一控制線、第二控制線和第三控制線上的控制信號，顯示出不同色彩的畫面，用于檢測缺陷。本發(fā)明提供的第二種檢測方法，包括步驟Sl 向所述檢測裝置中的第一控制線、第二控制線、第三控制線和第二短路棒提供高電壓的控制信號；步驟S2 向檢測裝置中的第一短路棒提供一電壓信號，用于插入一白畫面；步驟S3 調節(jié)檢測裝置中的第一短路棒上的電壓信號，同時調節(jié)檢測裝置中第一控制線、第二控制線和第三控制線上的控制信號，顯示出不同色彩的畫面，用于檢測缺陷。從上述技術方案可以看出，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置的檢測裝置，通過設計可消除傳輸線與短路棒之間的過孔，進而在測試過程中消除了由于過孔而造成的數(shù)據(jù)線或掃描線的線缺陷，消除了過孔對測試結果的影響。除此之外，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置的檢測裝置，節(jié)省了測試部分的空間，利于小體積液晶顯示裝置的生產(chǎn)。同時，節(jié)省的空間可以用來將薄膜晶體管開關的尺寸增大， 從而使得薄膜晶體管開關的開電流變大，提高顯示特性。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現(xiàn)有技術所提供的一種液晶顯示裝置檢測裝置的結構示意圖；圖2為本發(fā)明實施例所提供的一種液晶顯示裝置檢測裝置的結構示意圖；圖3為圖2中檢測裝置的結構的放大示意圖；圖4為圖1中一條數(shù)據(jù)線、一條傳輸線及兩者之間寬度的結構示意圖；圖5為本發(fā)明實施例所提供的另一種液晶顯示裝置檢測裝置的部分結構示意圖；圖6為本發(fā)明實施例所提供的又一種液晶顯示裝置檢測裝置的結構示意圖。
具體實施例方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
做詳細的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，本領域技術人員可以在不違背本發(fā)明內涵的情況下做類似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實施例的限制。
其次，本發(fā)明結合示意圖進行詳細描述，在詳述本發(fā)明實施例時，為便于說明，表示器件結構的剖面圖會不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應限制本發(fā)明保護的范圍。此外，在實際制作中應包含長度、寬度及深度的三維空間尺寸。實施例一正如背景技術部分所述，在液晶顯示裝置的制造工藝過程中，常會由于靜電過大的原因造成傳輸線與短路棒連接的過孔處的導電膜燒毀，進而在測試過程中會出現(xiàn)數(shù)據(jù)線或掃描線的線缺陷，影響最終的測試結果。發(fā)明人研究發(fā)現(xiàn)，產(chǎn)生上述現(xiàn)象的本質原因在于現(xiàn)有技術中短路棒和傳輸線的形成不在同一步驟中形成，因此，所述短路棒和傳輸線之間需要通過過孔來連接，進而在測試過程中會因過孔的缺陷而對測試結果造成影響。參考圖2，圖2為本發(fā)明實施例所提供的一種液晶顯示裝置檢測裝置的結構示意圖。圖中示出了顯示區(qū)15，剩下的區(qū)域為非顯示區(qū)，所述非顯示區(qū)包括數(shù)據(jù)線測試區(qū)16和掃描線測試區(qū)17。本發(fā)明實施例中所述顯示區(qū)15包括四條掃描線Gl、G2、G3、G4和六條數(shù)據(jù)線D1、 D2、D3、D4、D5、D6。需要在此說明的是，為了表述的簡單，本實施中只用了 6條數(shù)據(jù)線和4 條掃描線，但并不限于此。四條掃描線Gl、G2、G3、G4相互平行且以固定的間隔彼此分開， 并沿液晶顯示裝置的陣列矩陣的行方向延伸；六條數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D4、D5、D6也相互平行且以固定的間隔彼此分開，并沿著垂直于掃描線G1、G2、G3、G4的方向延伸。數(shù)據(jù)線D1、 D2、D3、D4、D5、D6和掃描線Gl、G2、G3、G4相互交叉可限定出多個像素區(qū)域，每個像素區(qū)域中又存在一個像素電極，各像素電極連接薄膜晶體管(Thin Film Transistor, TFT)；所述 TFT能夠在掃描線信號的控制下導通，并將來自相應的數(shù)據(jù)線的信號傳送給對應的像素電極，進而控制液晶分子的轉向，從而在顯示區(qū)內顯示紅色、綠色或藍色三原色中的一種顏色或多種顏色的組合。在本實施例中數(shù)據(jù)線Dl、D4連接到顯示紅色的像素電極R上，數(shù)據(jù)線 D2、D5連接到顯示綠色的像素電極G上，數(shù)據(jù)線D3、D6連接到顯示藍色的像素電極B上。本實施例中所述數(shù)據(jù)線測試區(qū)16包括第一短路環(huán)、三條控制線和六個開關元件 1、2、3、4、5、6。其中，所述第一短路環(huán)包括第一短路棒202、第一傳輸線Cl和第二傳輸線C2 ；所述第一短路棒202的一端連接有測試端子210 ；所述第一傳輸線Cl和第二傳輸線C2分別和第一短路棒202直接相連，即通過設計使得所述第一傳輸線Cl、第二傳輸線C2及第一短路棒202在同一工藝步驟中形成。本實施例中所述第一短路環(huán)即第一短路棒202、第一傳輸線Cl、第二傳輸線C2和所述六條數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D4、D5、D6由相同材料制成，并且在液晶顯示面板的制程中同步成膜、刻蝕形成。所述三條控制線分別為第一控制線203、第二控制線204和第三控制線205。每條控制線的一端均連接有一個測試端子，即第一控制線203、第二控制線204和第三控制線 205的一端分別連接有測試端子211、212和213。所述六個開關元件1、2、3、4、5、6分為兩組，每組中三個開關元件分別連接到第一傳輸線Cl和第二傳輸線C2上，即第一傳輸線Cl通過開關元件1、2、3分別和數(shù)據(jù)線D1、D2、 D3相連，第二傳輸線C2通過開關元件4、5、6和數(shù)據(jù)線D4、D5、D6相連。并且第一控制線203 上連接有開關元件3和6，在第一控制線203的測試端子211上輸入控制信號時，可控制開關元件3和6的通斷。同理，第二控制線204上連接有開關元件1和4，第二控制線204用來控制開關元件1和4的通斷；第三控制線205上連接有開關元件2和5，第三控制線205 用來控制開關元件2和5的通斷。本實施例中所述六個開關元件1、2、3、4、5、6均為薄膜晶體管開關元件。所述掃描線測試區(qū)17包括第二短路環(huán)、控制線206、四個開關元件7、8、9、10和四對過孔11、12、13、14。其中，所述第二短路環(huán)包括第二短路棒201、與所述第二短路棒201直接相連的四條傳輸線C3、C4、C5、C6和與所述第二短路棒201間接相連的四條傳輸線C7、C8、C9、C10。 第二短路棒201的一端連接有測試端子209，第二短路棒201和測試端子209延伸到數(shù)據(jù)線測試區(qū)16。與所述第二短路棒201間接相連的四條傳輸線C7、C8、C9、C10通過四個開關元件7、8、9、10分別和與所述第二短路棒201直接相連的四條傳輸線C3、C4、C5、C6相連。所述四個開關元件7、8、9、10又連接控制線206，控制線206的一端連接有測試端子214，在所述測試端子214上輸入控制信號時，可控制所述四個開關元件7、8、9、10的通斷。與所述第二短路棒201間接相連的四條傳輸線C7、C8、C9、C10通過所述四對過孔11、12、13、14分別和四條掃描線61、62、63、64相連。參考圖3，圖3為圖2中數(shù)據(jù)線測試區(qū)16的部分結構放大示意圖。本發(fā)明采用新的設計每相鄰的三條數(shù)據(jù)線只采用一條傳輸線(即第一傳輸線Cl或者第二傳輸線C2)和所述第一短路棒相連，每一條傳輸線上采用三個開關元件分別和三條數(shù)據(jù)線相連，每一條傳輸線相連的三條數(shù)據(jù)線分別對應紅、綠、藍三個像素電極。本發(fā)明又設計有三條控制線， 每一條控制線上連接兩個開關元件，同一控制線上的兩個開關元件所對應的數(shù)據(jù)線對應相同顏色的像素電極，因此，通過在三條控制線上施加相應的控制信號，可實現(xiàn)在顯示區(qū)顯示紅色、綠色、藍色、黑色、白色或灰色等顏色。由圖3可看出，本發(fā)明采用第一傳輸線Cl和第二傳輸線C2連接了六條數(shù)據(jù)線D1、D2、D3、D4、D5、D6，因此，數(shù)據(jù)線測試區(qū)占用的空間相對現(xiàn)有技術每條數(shù)據(jù)線都需要一條連接線和短路棒連接的結構來說減少了。參考圖4，圖4為圖1中一條數(shù)據(jù)線、一條傳輸線及兩者之間寬度的結構示意圖，圖中示出了數(shù)據(jù)線Dl和傳輸線C2的寬度均為a，且數(shù)據(jù)線Dl和傳輸線C2之間的縫隙寬度也為a，同理，其他的數(shù)據(jù)線、傳輸線的寬度以及相鄰數(shù)據(jù)線和傳輸線之間的距離、連接在同一開關元件上的數(shù)據(jù)線和傳輸線也為a，這樣，在圖1中從傳輸線Cl至數(shù)據(jù)線D6之間的距離A = 23a。參考圖3，如果圖3中各數(shù)據(jù)線、傳輸線及相鄰數(shù)據(jù)線和傳輸線之間的距離也均為a，則從數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線D6之間的距離B = 15a。因此，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置相對現(xiàn)有技術來說，所述數(shù)據(jù)線測試區(qū)可縮短的空間為A-B = 8a，從而便于生產(chǎn)小體積的液晶顯示裝置。同時，節(jié)省的空間可以用來將薄膜晶體管開關的尺寸增大，從而使得薄膜晶體管開關的開電流變大，提高顯示特性。從本實施例可以看出，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置的檢測結構通過新的設計， 使得所述第一短路棒和第一傳輸線及第二傳輸線在同一工藝步驟中形成，使所述第一傳輸線和第二傳輸線能夠直接和所述第一短路棒相連，從而不再需要采用過孔進行連接，進而在測試過程中消除了由于過孔帶來的不良影響。而且，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置的檢測結構采用一條傳輸線連接相鄰的三條數(shù)據(jù)線，相對現(xiàn)有技術來說節(jié)省了傳輸線的個數(shù)， 從而節(jié)省了數(shù)據(jù)線測試區(qū)的空間，利于小體積液晶顯示裝置的生產(chǎn)。同時，節(jié)省的空間可以用來將薄膜晶體管開關的尺寸增大，從而使得薄膜晶體管開關的開電流變大，提高顯示特
需要說明的是，本實施例在技術方面的改進僅從數(shù)據(jù)線測試區(qū)部分出發(fā)來描述的，與此相類似的是，通過新的設計同樣可實現(xiàn)在掃描線測試區(qū)部分消除過孔，同時也可實現(xiàn)節(jié)省掃描線測試區(qū)部分的空間。對此，本發(fā)明并無特別限制，只要本領域技術人員在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有實施例均屬本發(fā)明所保護的范圍。實施例二在實施例一中，所述六條數(shù)據(jù)線和三條控制線交叉部分的面積較大，這樣在測試信號或控制信號傳輸?shù)臅r候必然導致信號傳輸?shù)难舆t，從而使得測試結果的響應速度慢。 基于此，本實施例中通過新的設計減小了數(shù)據(jù)線和控制線的交叉面積，從而利于各信號的傳輸，加快響應速度。參考圖5，圖5為本發(fā)明實施例所提供的另一種液晶顯示裝置檢測裝置的部分結構示意圖。在圖2的基礎上，本實施例通過設計使第二控制線207與數(shù)據(jù)線D3和D6的交叉部分301的寬度小于第二控制線207上其他未交叉部分的寬度，第三控制線208與數(shù)據(jù)線Dl、D3、D4、D6交叉部分的寬度小于第三控制線208上其他未交叉部分的寬度。而數(shù)據(jù)線D2和D5通過相應的開關元件和第三控制線208相連，因此，不存在數(shù)據(jù)線和控制線單獨交叉的特點，故不用加以改進。其他的與此類似，只要數(shù)據(jù)線和控制線之間有相應開關元件連接的，則不用設置控制線交叉部分的寬度小于控制線上其他未交叉部分的寬度。本實施例中液晶顯示裝置的其他結構與實施例二中所描述的均相同，在此不再贅述。本實施例通過新的設計，在控制線和數(shù)據(jù)線交叉的部分(不是通過開關元件連接的交叉部分)，使得控制線的寬度小于所述控制線上其他未交叉部分的寬度，從而有效地減小了控制線與數(shù)據(jù)線的交叉面積，減小控制線與數(shù)據(jù)線之間的寄生電容，降低信號干擾，利于各信號的傳輸，從而加快響應速度，同時降低了測試功耗。需要說明的是，本實施例同樣是以數(shù)據(jù)線測試區(qū)為例來進行描述的。如果以掃描線測試區(qū)為例來進行說明，則通過設計使得控制線與掃描線交叉部分的寬度小于所述控制線上其他未交叉部分的寬度。實施例三參考圖2，在實施例一中，在液晶顯示裝置的測試過程中，需要在測試端子209、 210、211、212、213、214上輸入相應的測試信號或控制信號(參考圖2)。從圖2上可看出， 掃描線測試區(qū)17的控制線206上的測試端子214和數(shù)據(jù)線測試區(qū)16的五個測試端子209、 210、211、212、213不在同一側，這樣的結構也必然是非顯示區(qū)(包括數(shù)據(jù)線測試區(qū)16和掃描線測試區(qū)17)占據(jù)空間較大的原因之一?；诖耍緦嵤├刑岢隽艘环N新的設計，使得測試端子的個數(shù)減小了，且所有測試端子位于同一側，從而減小了非顯示區(qū)所占據(jù)的空間。參考圖6，圖6為本發(fā)明實施例所提供的又一種液晶顯示裝置檢測裝置的結構示意圖。為簡單說明，本實施例中以兩條掃描線和六條數(shù)據(jù)線為例來展開，但并不限于此。本實施例中所述液晶顯示裝置包括顯示區(qū)(圖中未標示)、數(shù)據(jù)線測試區(qū)42和掃描線測試區(qū)41。其中，所述顯示區(qū)包括兩條掃描線Gl、G2和與所述掃描線垂直排列的六條數(shù)據(jù)線 D1、D2、D3、D4、D5、D6。
所述數(shù)據(jù)線測試區(qū)42包括第一短路環(huán)，包括第一短路棒405、第一傳輸線Cl和第二傳輸線C2、和所述第一短路棒405的一端連接有測試端子407 ；三條控制線401、402、 403，以及和三條控制線分別相連的測試端子408、409和410 ；和六個開關元件1、2、3、4、5、
6。所述數(shù)據(jù)線測試區(qū)42的各部件的連接結構和第一實施例相同，此處不再詳細描述。與第一實施例不同的主要是掃描線測試區(qū)41的各部件連接結構。所述掃描線測試區(qū)41包括第二短路環(huán)和六個開關元件7、8、9、10、11、12，且掃描線測試區(qū)41和數(shù)據(jù)線測試區(qū)42共用三條控制線。其中，所述第二短路環(huán)包括第二短路棒404、第三傳輸線C3、第四傳輸線C4、第五傳輸線C5和第六傳輸線C6。第二短路棒404延伸至數(shù)據(jù)線測試區(qū)42，一端連接有測試端子 406，且所述測試端子406和數(shù)據(jù)線測試區(qū)42中的測試端子407、408、409、410位于同一側。 第三傳輸線C3和第四傳輸線C4與第二短路棒404直接相連，第三傳輸線C3通過開關元件
7、8、9和第五傳輸線C5相連，第四傳輸線C4通過開關元件10、11、12和第六傳輸線C6相連。所述第一控制線401上連接開關元件7和10，用以控制所述開關元件7和10的通斷； 第二控制線402上連接開關元件8和11，用以控制所述開關元件8和11的通斷；第三控制線403上連接開關元件9和12，用以控制所述開關元件9和12的通斷。第五傳輸線C5和第六傳輸線C6分別通過過孔和掃描線G1、G2相連。具體測試過程中，在測試端子406、407上輸入測試信號，當測試端子408上為低電壓，測試端子409和410均為高電壓時，則與第一控制線401相連的開關元件3、6、7、10成截止狀態(tài)，與第二控制線402和第三控制線403相連的開關元件均為導通狀態(tài)，則掃描線測試區(qū)41內，第三傳輸線C3通過開關元件8和9將第二短路棒404上的測試信號傳輸給第五傳輸線C5，由第五傳輸線C5通過過孔將該測試信號傳輸給掃描線G1，同時，第四傳輸線 C4通過開關元件11和12將第二短路棒404上的測試信號傳輸給第六傳輸線C6，由第六傳輸線C6通過過孔將該測試信號傳輸給掃描線G2 ；數(shù)據(jù)線測試區(qū)42內，第一傳輸線Cl和第二傳輸線C2分別通過開關元件1、2和4、5將第一短路棒405上的測試信號分別傳輸給數(shù)據(jù)線D1、D2和D4、D5，進而由這四條數(shù)據(jù)線控制其對應的液晶分子發(fā)生偏轉，液晶分子的偏轉將阻擋紅色和綠色光的通過；相應的，數(shù)據(jù)線D3、D6控制其對應的液晶分子不發(fā)生偏轉， 因此，藍色光可通過，在顯示區(qū)顯示出藍色畫面。同理，當測試端子409上為低電壓，測試端子408和410均為高電壓時，可在顯示區(qū)顯示紅色畫面；當測試端子410為低電壓，測試端子408和409均為高電壓時，可在顯示區(qū)顯示綠色畫面；當測試端子408、409和410均為高電壓，通過控制測試端子407上的測試信號，可在顯示區(qū)顯示黑色、白色或灰色等不同顏色的畫面。由上可知，由于掃描線測試區(qū)和數(shù)據(jù)線測試區(qū)共用三條控制線，因此，只要測試端子408、409和410中至少有一個為高電壓時，在掃描線測試區(qū)內就能實現(xiàn)第二短路棒404 上的測試信號傳輸給掃描線Gl和G2，因此，本實施例相比前兩個實施例來說減少了單獨控制掃描線測試信號的控制線206及相應的測試端子214(參考圖幻，從而減小了非顯示區(qū)所占據(jù)的空間，利于小體積液晶顯示裝置的生產(chǎn)。同時，節(jié)省的空間可以用來將薄膜晶體管開關的尺寸增大，從而使得薄膜晶體管開關的開電流變大，提高顯示特性。本實施例在實施例一和實施例二的基礎上，通過新的設計使得掃描線測試區(qū)和數(shù)據(jù)線測試區(qū)共用三條控制線，在數(shù)據(jù)線測試區(qū)傳輸數(shù)據(jù)線測試信號的同時，掃描線測試區(qū)也能將掃描線測試信號傳輸給掃描線，從而節(jié)省了單獨用來控制掃描線測試信號傳輸?shù)目刂凭€及其相應的測試端子，進一步節(jié)省了非顯示區(qū)所占據(jù)的空間，利于小體積液晶顯示裝置的生產(chǎn)。同時，節(jié)省的空間可以用來將薄膜晶體管開關的尺寸增大，從而使得薄膜晶體管開關的開電流變大，提高顯示特性。本發(fā)明還提供了一種液晶顯示裝置檢測裝置的測試方法。實施例四針對圖2所提供的液晶顯示裝置的檢測裝置，對本發(fā)明所提供的檢測方法進行詳細描述。所述檢測方法具體包括如下步驟步驟Sl 向檢測裝置中檢測各掃描線的控制線和與所述掃描線相連的短路棒提供高電壓的控制信號。具體的，通過測試端子214向與各掃描線G1、G2、G3和G4連接的控制線206提供一個高電壓(例如15V)控制信號，所述高電壓控制信號使控制線206上的開關元件7、8、9、 10導通。通過測試端子209向第二短路棒201提供一個高壓(例如15V)控制信號，所述提供給第二短路棒201的高壓控制信號通過傳輸線C6、開關元件10、傳輸線C10、過孔14，傳輸至對應的掃描線G4，其他各條掃描線G1、G2、G3也是通過對應的傳輸線、開關元件、過孔， 接收來自第二短路棒201上的高壓控制信號。步驟S2 向檢測裝置中檢測各數(shù)據(jù)線的控制線提供高電壓的控制信號。通過測試端子211向與數(shù)據(jù)線D3和D6相連的第一控制線203提供一個高電壓 (例如15V)控制信號，所述高電壓控制信號使第一控制線203上的開關元件3和6導通； 同時，分別向第二控制線204和第三控制線205提供一個高電壓控制信號，所述高電壓控制信號使開關元件1、2、4和5均導通。步驟S3 向檢測裝置中與各數(shù)據(jù)線相連的短路棒提供一電壓信號，用于插入一白畫面。通過測試端子210向第一短路棒202提供一電壓信號，該電壓信號接近公共電極電壓信號，用于顯示一白畫面。所述電壓信號通過第一傳輸線Cl、開關元件3傳輸至對應的數(shù)據(jù)線D3，其他各數(shù)據(jù)線Dl、D2、D4、D5和D6也是通過對應的傳輸線和開關元件接收來自第一短路棒202上的該電壓信號。由于數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D4、D5和D6上均具有該電壓信號，故此時在顯示區(qū)15顯示出白色畫面。步驟S4 調節(jié)檢測裝置中與各數(shù)據(jù)線相連的短路棒上的電壓信號，或調節(jié)檢測裝置中檢測各數(shù)據(jù)線的控制線上的控制信號，在顯示區(qū)顯示出不同色彩的畫面，用于檢測缺陷。本步驟又可包括如下幾種情況第一檢測紅色畫面向檢測裝置中與掃描線相連接的控制線和第二短路棒提供一個高壓，使顯示區(qū)的各個薄膜晶體管處于導通狀態(tài)；向檢測裝置中對應紅色像素電極R 數(shù)據(jù)線的第二控制線提供一低電壓控制信號，并向檢測裝置中對應藍色像素電極B數(shù)據(jù)線的第一控制線和對應綠色像素電極G數(shù)據(jù)線的第三控制線提供一電壓信號；向檢測裝置中的第一短路棒提供一顯示信號，用以顯示紅色畫面并檢測對應紅色像素電極R的各條掃描線是否存在線缺陷。
具體的，通過測試端子212向第二控制線204提供一個低電壓(例如-10V)的控制信號，通過測試端子211、213向第一控制線203和第三控制線205提供高壓信號，并通過測試端子210向第一短路棒202提供一 5V電壓信號。所述低電壓控制信號使第二控制線 204上的開關元件1和4處于截止狀態(tài)，故第一短路棒202上的5V電壓信號不能經(jīng)相應的傳輸線和開關元件被傳輸至數(shù)據(jù)線Dl和D4，這就使得數(shù)據(jù)線Dl和D4所對應的液晶分子不發(fā)生偏轉，進而使得紅色像素電極R上的光可順利通過液晶層。由于第一控制線203上的控制信號、第三控制線205上的控制信號和控制線206上的控制信號均為高壓(例如15V) 控制信號，故數(shù)據(jù)線D2、D3、D5和D6所對應的液晶分子發(fā)生偏轉，從而阻擋了綠色像素電極 G和藍色像素電極B上的光通過液晶層。因此，最終在顯示區(qū)15顯示出紅色畫面?，F(xiàn)在就可以檢測紅色畫面，看對應紅色像素電極R的各條掃描線是否存在線缺陷。第二、檢測綠色畫面向檢測裝置中與掃描線相連接的控制線和第二短路棒提供一個高壓，使顯示區(qū)的各個薄膜晶體管處于導通狀態(tài)；向檢測裝置中對應綠色像素電極G 數(shù)據(jù)線的第三控制線提供一低電壓控制信號，并向檢測裝置中對應藍色像素電極B數(shù)據(jù)線的第一控制線和對應紅色像素電極R數(shù)據(jù)線的第二控制線提供一電壓信號；向檢測裝置中的第一短路棒提供一顯示信號，用以顯示綠色畫面并檢測對應綠色像素電極G的各條掃描線是否存在線缺陷。具體的，通過測試端子213向第三控制線205提供一個低電壓(例如-10V)的控制信號，通過測試端子211和212分別向第一控制線203和第二控制線204提供一個高壓信號，并通過測試端子210向第一短路棒202提供一 5V電壓信號，從而在顯示區(qū)15顯示綠色畫面，現(xiàn)在就可以檢測綠色畫面，看對應綠色像素電極G的各條掃描線是否存在線缺陷。第三、檢測藍色面畫向檢測裝置中與掃描線相連接的控制線和第二短路棒提供一個高壓，使顯示區(qū)的各個薄膜晶體管處于導通狀態(tài)；向檢測裝置中對應藍色像素電極B 數(shù)據(jù)線的第一控制線提供一低電壓控制信號，并向檢測裝置中對應綠色像素電極G數(shù)據(jù)線的第三控制線和對應紅色像素電極R數(shù)據(jù)線的第二控制線提供一電壓信號；向檢測裝置中的第一短路棒提供一顯示信號，用以顯示藍色畫面并檢測對應藍色像素電極B的各條掃描線是否存在線缺陷。具體的，通過測試端子211向第一控制線203提供一個低電壓(例如-10V)的控制信號，通過測試端子212、213分別向第二控制線204和第三控制線205提供一個低壓信號，并通過測試端子210向第一短路棒202提供一 5V電壓信號，從而在顯示區(qū)15顯示藍色畫面，用于檢測藍色畫面，看對應藍色像素電極B的各條掃描線是否存在線缺陷。第四、檢測黑色畫面向檢測裝置中與掃描線相連接的控制線和第二短路棒提供一個高壓，使顯示區(qū)的各個薄膜晶體管處于導通狀態(tài)；向檢測裝置中與各數(shù)據(jù)線相連的第一控制線、第二控制線和第三控制線提供一個高壓；向檢測裝置中的第一短路棒提供第一顯示信號，用以顯示黑色畫面并檢測對應是否存在線缺陷。具體的，通過檢測裝置中的測試端子211、212和213分別向第一控制線203、第二控制線204和第三控制線205提供一個高壓信號，通過測試端子210向與各數(shù)據(jù)線相連的第一短路棒202提供一 5V電壓信號，從而在顯示區(qū)15顯示黑色畫面，并檢測各數(shù)據(jù)線是否有線缺陷。第五、檢測灰色畫面向檢測裝置中與掃描線相連接的控制線和第二短路棒提供一個高壓，使顯示區(qū)的各個薄膜晶體管處于導通狀態(tài)；向檢測裝置中與各數(shù)據(jù)線相連的第一控制線、第二控制線和第三控制線提供一個高壓；向檢測裝置中的第一短路棒提供第二顯示信號，用以顯示灰色畫面并檢測對應是否存在線缺陷。具體的，通過檢測裝置中的測試端子211、212和213分別向第一控制線203、第二控制線204和第三控制線205提供一個高壓信號，通過測試端子210向與各數(shù)據(jù)線相連的第一短路棒202提供一 2. 5V的電壓信號，從而在顯示區(qū)15顯示灰色畫面，并檢測各數(shù)據(jù)線是否有線缺陷。對于上述幾種情況，當需要在紅、綠、藍三種顏色的畫面之間進行切換時，例如當需要將紅色畫面切換為綠色畫面時，首先向第二控制線204提供一個高電壓(例如15V)的控制信號，給測試端子210提供一個高電壓如5V，則此時顯示區(qū)15顯示黑色畫面，接著向第一控制線203、第二控制線204提供一個低電壓，然后向第三控制線205提供一個高電壓 (例如15V)的控制信號，同時向測試端子210提供一個低電壓，則在顯示區(qū)15顯示綠色畫面，實現(xiàn)紅色畫面向綠色畫面的切換。其他紅、綠、藍三種顏色的畫面兩兩之間進行切換時均與此類似，不再贅述。當需要將黑色(或灰色)畫面切換到紅色(或綠色、藍色)畫面時，則需要首先執(zhí)行步驟S3，即使得顯示區(qū)15內顯示出白色畫面，然后再執(zhí)行步驟S4中對應的第一、第二或第三種情況的步驟，在顯示區(qū)15內實現(xiàn)黑色(或灰色)畫面向紅色(或綠色、藍色)畫面的切換。當需要在黑色和灰色畫面之間進行切換時，只需調節(jié)檢測裝置中與各數(shù)據(jù)線相連的短路棒的電壓信號即可。當需要將紅色(或綠色、藍色)畫面切換到黑色(或灰色)畫面時，例如當需要將紅色畫面切換為黑色畫面時，只需向第二控制線204提供一個高電壓(例如15V)的控制信號即可，并向第一短路棒202提供5V的低電壓；當需要將紅色畫面切換為灰色畫面時，需要向第二控制線204提供一個高電壓(例如15V)的控制信號，并向第一短路棒202提供一 2. 5V的電壓信號。其他顏色畫面之間的切換與此類似。由上可知，本實施例所提供的液晶顯示裝置檢測裝置的測試方法，通過在各測試端子上施加預定電壓的控制信號，可在顯示區(qū)顯示紅、綠、藍、黑、白、灰等顏色的畫面用于檢測。又由于該測試方法對應的液晶顯示裝置檢測裝置為圖2所示，而圖2所示的液晶顯示裝置檢測裝置中消除了過孔，因此，在該測試過程中，不會因過孔的原因而出現(xiàn)掃描線或數(shù)據(jù)線的線缺陷，從而提高了測試效率。實施例五圖6所示的液晶顯示裝置檢測裝置中，第一短路棒和第二短路棒通過同樣三根控制線分別和數(shù)據(jù)線、掃描線相連接，給掃描線傳輸信號的第二短路棒404和給數(shù)據(jù)線傳輸信號的第一短路棒405都是通過第一控制線401、第二控制線402、第三控制線403分別和各條掃描線和數(shù)據(jù)線相連接，所述三條控制線可以單獨的控制第一短路棒405和第二短路棒404向數(shù)據(jù)線和掃描線傳輸信號，也可以同時都接低電壓使位于其上的開關關閉，或者同時接高電壓使位于其上的開關打開來控制第一短路棒405和第二短路棒404的信號傳遞。對應圖6所提供的檢測裝置的測試方法中，通過向檢測裝置中檢測各控制線提供高電壓的控制信號，不僅可實現(xiàn)向各數(shù)據(jù)線傳輸控制信號，而且還可實現(xiàn)向各掃描線傳輸控制信號，圖6提供的檢測裝置的檢測方法其余步驟和上述實施例提供的檢測方法相同， 只是將步驟Sl 向檢測裝置中檢測各掃描線的控制線提供高電壓的控制信號和步驟S2 向檢測裝置中檢測各數(shù)據(jù)線的控制線提供高電壓的控制信號合為一個步驟，簡化了檢測方法，其余檢測方法不變，本領域人員根據(jù)上述實施例提供的檢測方法和圖6提供的檢測裝置可以推測出，此處不再詳細描述。圖6提供的檢測裝置的檢測方法節(jié)省了向檢測各掃描線的控制線提供高壓控制信號的步驟，提高了測試效率。除此以外，本實施例所提供的測試方法，由于針對圖6所示的液晶顯示裝置檢測裝置進行描述，故不會因過孔的存在造成數(shù)據(jù)線或掃描線的線缺陷， 進而不會因過孔對測試結果造成影響。本說明書中各個實施例采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，相關之處可互相參考。需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關系或者順序。而且，術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設備
所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個......”限定的要素，并不排
除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同要素。對所公開的實施例的上述說明，使本領域專業(yè)技術人員能夠實現(xiàn)或使用本發(fā)明。 對這些實施例的多種修改對本領域的專業(yè)技術人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權利要求
1.一種液晶顯示裝置的檢測裝置，所述液晶顯示裝置包括多條垂直相交的掃描線和數(shù)據(jù)線，以及多條掃描線和數(shù)據(jù)線限定的多個像素單元，所述像素單元包括紅色像素單元、 綠色像素單元和藍色像素單元；所述檢測裝置包括第一短路棒、第一控制線、第二控制線、第三控制線、多條傳輸線和多個薄膜晶體管開關元件；其中所述多個薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在所述第一控制線、第二控制線、第三控制線上；所述多條數(shù)據(jù)線分別通過多個薄膜晶體管開關元件的漏極連接到第一控制線、第二控制線和第三控制線上，其中控制藍色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第一控制線上，控制紅色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第二控制線上，控制綠色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第三控制線上所述多個薄膜晶體管開關元件的源極分別通過多條傳輸線連接到第一短路棒上。
2.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，相鄰三個像素單元的數(shù)據(jù)線所連接的三個薄膜晶體管開關元件的源極通過同一根傳輸線連接到第一短路棒上。
3.根據(jù)權利要求2所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，所述相鄰的三個像素單元為相鄰的紅色像素單元、綠色像素單元和藍色像素單元。
4.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，還包括掃描線檢測裝置，所述掃描線檢測裝置包括第二短路棒、第四控制線、多條傳輸線和多個薄膜晶體管開關元件；其中所述多個薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在所述第四控制線上；所述多條掃描線分別通過多個薄膜晶體管開關元件的漏極連接到第四控制線上，所述多個薄膜晶體管開關元件的源極分別通過多條傳輸線連接到第二短路棒上。
5.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，還包括掃描線檢測裝置，所述掃描線檢測裝置包括第二短路棒、多條傳輸線和多個薄膜晶體管開關元件；其中所述多個薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在第一控制線、第二控制線和第三控制 ^^ —t- 所述第一控制線上一個薄膜晶體管開關元件的漏極、所述第二控制線上一個薄膜晶體管開關元件的漏極、所述第三控制線上一個薄膜晶體管開關元件的漏極共同連接到一條掃描線上，所述以上三個薄膜晶體管開關元件的源極通過同一根傳輸線連接到第二短路棒上。
6.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，所述第二控制線與所述數(shù)據(jù)線交叉部分的寬度小于所述其他未交叉部分的寬度；或者，所述第三控制線與數(shù)據(jù)線交叉部分的寬度小于其他未交叉部分的寬度。
7.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，還包括連接到第一控制線上的測試端子、連接到第二控制線上測試端子和連接到第三控制線上的測試端子。
8.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，還包括連接到第一短路棒上的測試端子。
9.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，所述第一短路棒、所述多個薄膜晶體管開關元件的源極、漏極、所述多條數(shù)據(jù)線的材料相同，并且在制造步驟中同步形成。
10.根據(jù)權利4或5所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，還包括連接到第二短路棒上的測試端子。
11.根據(jù)權利4或5所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，所述多個薄膜晶體管開關元件的漏極分別通過過孔和掃描線相連。
12.根據(jù)權利4所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，還包括連接到第四控制線上的測試端子。
13.根據(jù)權利5所述的液晶顯示裝置的檢測裝置，其特征在于，所述第一短路棒、第二短路棒、所述多個薄膜晶體管開關元件的源極、漏極和所述多條數(shù)據(jù)線的材料相同，并且在制造步驟中同步形成。
14.一種如權利要求4所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于，包括步驟Sl 向所述檢測裝置中掃描線檢測裝置的第四控制線和第二短路棒提供高電壓的控制信號；步驟S2:向檢測裝置中的第一控制線、第二控制線和第三控制線提供高電壓的控制信號；步驟S3 向檢測裝置中的第一短路棒提供一電壓信號，用于插入一白畫面； 步驟S4 調節(jié)檢測裝置中的第一短路棒上的電壓信號，同時調節(jié)檢測裝置中第一控制線、第二控制線和第三控制線上的控制信號，顯示出不同色彩的畫面，用于檢測缺陷。
15.一種如權利要求5所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于，包括步驟Sl 向所述檢測裝置中的第一控制線、第二控制線、第三控制線和第二短路棒提供高電壓的控制信號；步驟S2 向檢測裝置中的第一短路棒提供一電壓信號，用于插入一白畫面； 步驟S3 調節(jié)檢測裝置中的第一短路棒上的電壓信號，同時調節(jié)檢測裝置中第一控制線、第二控制線和第三控制線上的控制信號，顯示出不同色彩的畫面，用于檢測缺陷。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示裝置的檢測裝置及其測試方法。所述檢測裝置包括第一短路棒、第一控制線、第二控制線、第三控制線、多條傳輸線和多個薄膜晶體管開關元件；其中多個薄膜晶體管開關元件的柵極分別設置在第一、第二、第三控制線上；多條數(shù)據(jù)線分別通過多個薄膜晶體管開關元件的漏極連接到第一、第二、第三控制線上，其中，控制藍色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第一控制線上，控制紅色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第二控制線上，控制綠色像素單元的數(shù)據(jù)線都連接到第三控制線上；所述多個薄膜晶體管開關元件的源極分別通過多條傳輸線連接到第一短路棒上。本發(fā)明提供的檢測裝置，消除了過孔，進而在測試過程中可避免因過孔而造成的線缺陷。
文檔編號G02F1/1362GK102566169SQ20101061993
公開日2012年7月11日 申請日期2010年12月31日 優(yōu)先權日2010年12月31日
發(fā)明者趙劍, 黃賢軍 申請人:上海天馬微電子有限公司