專利名稱：光學片的制造方法及光學片的制造裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光學片的制造方法及光學片的制造裝置。
背景技術：
具有通過使光透射或反射而產(chǎn)生特定的透射光或反射光的光學特征的光學片，被用來改善顯示裝置的可見度、防污性、防眩性等。光學片對光的透射特性和反射特性(以下， 稱為“光學特性”)是由光學片的材質和光學片表面的狀態(tài)等所決定的。由于光學片的材質常使用樹脂材料，所以為了對光學片賦予特定的光學特性，多數(shù)是實施加熱處理。用來賦予光學特性的加熱處理中，是利用加熱器等在特定的加熱條件下對事先形成為片狀的樹脂材料從外部進行加熱。通過此加熱使樹脂材料的物性發(fā)生變化，或者使片體表面的狀態(tài)發(fā)生變化，從而可以對光學片賦予特定的光學特性。當能夠直接測定光學片的光學特性時，以加熱處理后的光學片作為對象而測定光學特性，判斷所述光學片是否被賦予了所希望的光學特性。當所賦予的光學特性不符合所希望的特性時，將變更加熱條件等。但是，光學特性是在光學片配置于顯示裝置中的狀態(tài)下所發(fā)揮的特性，要在光學片單獨存在的狀態(tài)下直接判斷是否獲得了所希望的光學特性則較為困難。因此，目前是將在光學片單獨存在的狀態(tài)下可測定的特性值作為代替特性值，并根據(jù)其測定結果間接地判斷是否被賦予了所希望的光學特性。作為代替光學特性而經(jīng)常使用的特性有霧度(haze)。霧度在JIS K7136 :2000中定義為漫透射率相對于總光線透射率的比，可以根據(jù)此JIS標準中規(guī)定的測定方法來測定霧值(haze value)。JIS K7136 :2000 所規(guī)定的測定方法中，必須在將試片設置于固定架(holder)上的狀態(tài)下照射光，并使用累計球對透射光進行測定。像這樣，因為是將試片設置在固定架上，所以難以依據(jù)JIS標準連續(xù)地測定霧值。 光學片是連續(xù)地加熱長條片狀材料而被制造，因此如果要依據(jù)JIS標準來測定霧值并根據(jù)其測定結果判斷光學特性，則不能在制造的同時連續(xù)地進行判斷。專利文獻1所述的光學片的制造方法中，簡便地進行了以往無法利用霧值進行評價的對比度評價。另外，霧值測定使用的是市場上銷售的霧度儀(haze meter).[現(xiàn)有技術文獻]
專利文獻1 日本專利公報“特開2009-265341號公報(于2009年11月12日公開)”。

發(fā)明內(nèi)容
要使光學片整體的光學特性均勻，需要對片體表面均勻地加熱。如果片體表面的溫度因加熱而產(chǎn)生分布不均，則光學片的光學特性產(chǎn)生特性分布而不能達到均勻。因此，要高效率地制造具有所希望的光學特性的光學片，優(yōu)選的是連續(xù)地測定光學片整體的光學特性，并使其測定結果連續(xù)地反映在加熱處理的加熱條件中。專利文獻1所記載的霧值測定中使用的是市場上銷售的霧度儀。目前市場上銷售的霧度儀與JIS標準的測定不同，可以連續(xù)地進行測定，但是這種霧度儀可測定的范圍較小，例如只能在幾十毫米寬的范圍中進行測定。這取決于所述霧度儀的測定原理使光源燈的光匯聚后從片體的背面?zhèn)日丈洌⒗闷w表面?zhèn)鹊墓饨邮諅鞲衅鲗ν干溥^匯聚點的光進行測定。只要是使用這樣的測定原理，就無法擴大可以測定的范圍。光學片有各種各樣的尺寸，但大多數(shù)的寬度尺寸都達到了幾米，所以如果要使用如上所述的測定原理的霧度儀來連續(xù)地測定光學片整體的光學特性，則需要在寬度方向上并排設置幾十臺至幾百臺的霧度儀。要使這些多個霧度儀取得同步而同時進行測定較為困難，并且考慮各裝置的個體差而修正測定值也較為困難。本發(fā)明的主要目的在于提供一種能夠在整個寬度方向連續(xù)地測定光學片的光學特性，可以高效率地制造具有所希望的光學特性的光學片的制造方法及光學片的制造裝置。為了解決所述的問題，本發(fā)明的光學片的制造方法包括加熱工序，對連續(xù)送出的長條片狀材料連續(xù)地實施加熱處理；照射工序，對經(jīng)過加熱處理的片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域進行光照射；光接收工序，接收從所述被照射到光的片狀材料反射或透射來的反射光或透射光；判斷工序，根據(jù)所接收的反射光或透射光的光量，判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件；輸出工序，當所述判斷工序中判斷出需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示。所述制造方法中更優(yōu)選的是所述判斷工序中，將所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。另外，所述制造方法中更優(yōu)選的是所述加熱條件包括加熱溫度，所述加熱條件的變更是提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種；所述判斷工序中，當需要變更加熱條件時，也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷；所述輸出工序中，當所述判斷工序中判斷出需要變更加熱條件時，也輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種變更內(nèi)容。另外，所述制造方法中更優(yōu)選的是所述照射工序中，不僅對片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光照射；所述光接收工序中，接收片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域及所述參照區(qū)域中的反射光或透射光；所述判斷工序中，根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量，而校正從所述片狀材料反射或透射來的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。另外，為解決所述問題，本發(fā)明的光學片的制造裝置包括送出部，連續(xù)地送出長條片狀材料；加熱處理部，對所送出的所述片狀材料連續(xù)地實施加熱處理；卷繞部，連續(xù)地卷繞經(jīng)所述加熱處理部實施加熱處理后的片狀材料；光照射部，將由所述加熱處理部進行加熱處理后至所述卷繞部卷繞為止的片狀材料在制造裝置上的規(guī)定位置作為照射位置，對位于此照射位置的片狀材料經(jīng)其整個寬度方向進行光照射；光接收部，接收由所述光照射部照射并被所述片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域反射的反射光或者透射過片狀材料的透射光；輸出部，根據(jù)所接收的反射光或透射光的光量判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件，并且當判斷出需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示。所述制造裝置中更優(yōu)選的是，所述光接收部包含測定所述反射光或透射光的光量的一維圖像傳感器或二維圖像傳感器。
另外，所述制造裝置中更優(yōu)選的是，所述加熱條件包括加熱溫度，所述加熱條件的變更是提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種，所述輸出部在判斷為需要變更加熱條件時，也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷，輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種變更內(nèi)容。另外，所述制造裝置中更優(yōu)選的是，所述輸出部將所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。另外，所述制造裝置中更優(yōu)選的是，所述光照射部不僅對片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光照射；所述光接收部接收片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域及所述參照區(qū)域中的反射光或透射光；所述輸出部根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量，而校正從所述片狀材料上反射或透射來的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。[發(fā)明的效果]
根據(jù)本發(fā)明的光學片的制造方法，在加熱工序中，對連續(xù)送出的長條片狀材料連續(xù)地實施加熱處理，在照射工序中，對經(jīng)過加熱處理的片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域進行光照射，在光接收工序中，接收所述照射的光從片狀材料反射或透射來的反射光或透射光。并且，在判斷工序中，根據(jù)所接收的反射光或透射光的光量，判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件，在輸出工序中，當所述判斷步工序判斷出需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示。也就是說，因為在照射工序中對經(jīng)過加熱處理的片狀材料在其整個寬度方向進行光照射，在光接收工序中接收所述照射的光從片狀材料反射或透射來的反射光或透射光， 所以可以在整個寬度方向測定光學片的光學特性。另外，因為這些工序是以連續(xù)送出的長條片狀材料作為對象，所以可以連續(xù)地測定光學片的光學特性。另外，在輸出工序中，當判斷工序中判斷出需要變更加熱條件時輸出需要變更加熱條件的指示，所以管理本發(fā)明的制造方法的操作人員只要根據(jù)此輸出變更加熱條件而變更加熱工序中的加熱處理即可。因此，根據(jù)本發(fā)明的光學片的制造方法可以發(fā)揮下述效果，即可以提供一種能夠在整個寬度方向連續(xù)地測定光學片的光學特性，可以高效率地制造具有所希望的光學特性的光學片的光學片的制造方法。另外，根據(jù)本發(fā)明的制造方法，在所述判斷工序中，將所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值，而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。因此，本發(fā)明的制造方法可以發(fā)揮下述效果，即可以根據(jù)換算所得的霧度代替評價值來判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。另外，根據(jù)本發(fā)明的制造方法，所述加熱條件包括加熱溫度，所述加熱條件的變更是提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種。此時，在所述判斷工序中，當需要變更加熱條件時，也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷，在所述輸出工序中，當所述判斷工序中判斷出需要變更加熱條件時，也輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種變更內(nèi)容。因此，對于管理本發(fā)明的制造方法的操作人員而言，因為是輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度這樣的容易理解的變更內(nèi)容，所以可以發(fā)揮在變更加熱處理的加熱條件時不會弄錯變更內(nèi)容的操作，并且能夠立即執(zhí)行變更內(nèi)容的效果。另外，根據(jù)本發(fā)明的制造方法，在所述照射工序中，不僅對片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光照射，在所述光接收工序中，接收片狀材料的整個寬度方向的區(qū)域及所述參照區(qū)域中的反射光或透射光，在所述判斷工序中，根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量，而校正從所述片狀材料反射或透射來的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。因此，即使是照射工序中所照射的光的光量因氣溫等周圍環(huán)境而發(fā)生變動的情況下，因為會根據(jù)此時的參照區(qū)域的反射光或透射光的光量的值來校正片狀材料的在整個寬度方向的區(qū)域所接收的反射光或透射光的光量的值，所以也可以發(fā)揮在之后換算所得的霧度代替評價值中，可以消除因照射工序中所照射的光的光量變動而產(chǎn)生的影響的效果。根據(jù)本發(fā)明的光學片的制造裝置，送出部連續(xù)地送出長條片狀材料，加熱處理部對所送出的所述片狀材料連續(xù)地實施加熱處理，卷繞部連續(xù)地卷繞經(jīng)所述加熱處理部實施加熱處理后的片狀材料。另外，光照射部將由所述加熱處理部進行加熱處理后至由所述卷繞部卷繞為止的片狀材料在制造裝置上的規(guī)定位置作為照射位置，對位于此照射位置的片狀材料在其整個寬度方向上進行光的照射。光接收部接收由所述光照射部照射并被所述片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域所反射的反射光或者透射該片狀材料的透射光。輸出部根據(jù)所接收的反射光或透射光的光量判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件，并且當判斷為需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示。也就是說，光照射部將片狀材料在制造裝置上的規(guī)定位置作為照射位置，對位于此照射位置的片狀材料經(jīng)其整個寬度方向進行光的照射，光接收部接收所述照射的光從片狀材料反射或透射來的反射光或透射光，所以可以在整個寬度方向測定光學片的光學特性。另外，利用這些構件所進行的光照射和光接收是以連續(xù)送出的長條片狀材料作為對象的，所以可以連續(xù)地測定光學片的光學特性。另外，輸出部判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件，并且當判斷出需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示，所以操作本發(fā)明的制造裝置的操作人員只要根據(jù)此輸出變更加熱條件而變更加熱處理部的加熱處理的加熱條件即可。因此，根據(jù)本發(fā)明的光學片的制造裝置可以發(fā)揮下述效果，即可以提供一種能夠在整個寬度方向連續(xù)地測定光學片的光學特性，可以高效率地制造具有所希望的光學特性的光學片的光學片的制造裝置。另外，根據(jù)本發(fā)明的制造裝置，所述光接收部包含測定所述反射光或透射光的光量的一維圖像傳感器或二維圖像傳感器，所以可以在片狀材料的整個寬度方向容易地接收從片狀材料在制造裝置上的規(guī)定位置反射或透射來的反射光或透射光。另外，根據(jù)本發(fā)明的制造裝置，所述加熱條件包括加熱溫度，所述加熱條件的變更是提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種，所述輸出部在判斷為需要變更加熱條件時， 也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷，輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種變更內(nèi)容。因此，對于操作本發(fā)明的制造裝置的操作人員而言，因為是輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度這樣的容易理解的變更內(nèi)容，所以可以發(fā)揮在變更加熱處理的加熱條件時不會弄錯變更內(nèi)容的操作，并且能夠立即執(zhí)行變更內(nèi)容的效果。
7
另外，根據(jù)本發(fā)明的制造裝置，所述輸出部將所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。因此可以發(fā)揮下述效果，即可以根據(jù)換算所得的霧度代替評價值，而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。另外，根據(jù)本發(fā)明的制造裝置，所述光照射部不僅對片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光的照射，所述光接收部接收片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域及所述參照區(qū)域中的反射光或透射光，所述輸出部根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量而校正從所述片狀材料反射或透射來的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。因此，即使是從光照射部照射的光的光量因氣溫等周圍環(huán)境而發(fā)生變動時，也會根據(jù)此時的參照區(qū)域的反射光或透射光的光量的值，而校正片狀材料的整個寬度方向所接收的反射光或透射光的光量的值，所以可以在之后換算所得的霧度代替評價值中，可以消除因從光照射部照射的光的光量變動而產(chǎn)生的影響的效果。


圖1是表示本發(fā)明一實施方式的光學片的制造裝置的概要構成的主視圖。圖2是表示本發(fā)明其他實施方式的光學片的制造裝置的概要構成的主視圖。圖3是說明光學片的制造裝置所具備的指示部的變更指示處理的流程圖。[附圖標記說明]
1、1A —光學片的制造裝置；2—送出部； 3一加熱處理部；4 一卷繞部；
5 —光照射部；6 —光接收部；
7 一指示部(輸出部)；8 一參照板(參照區(qū)域)；
S 一片狀材料。
具體實施例方式圖1是表示本發(fā)明一實施方式的光學片的制造裝置的概要構成的主視圖。光學片的制造裝置(以下，簡稱為“制造裝置”)1包括送出部2，將長條片狀材料 S連續(xù)地送出至加熱區(qū)域；加熱處理部3，在加熱區(qū)域對片狀材料S連續(xù)地實施加熱處理； 卷繞部4，連續(xù)地卷繞被實施加熱處理的片狀材料S ；光照射部5，將由加熱處理部3進行加熱處理后至由卷繞部4卷繞為止的片狀材料S在制造裝置上的規(guī)定位置作為照射位置，對位于此照射位置的片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域進行光的照射；光接收部6，接收由光照射部5照射并被片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域反射的反射光或者透射過片狀材料S 的透射光；指示部(輸出部)7，根據(jù)從光接收部6輸出的光量數(shù)據(jù)，輸出用來變更加熱處理部3的工作的變更指示。另外，光接收部6和指示部7構成了串聯(lián)式測霧計(in-line haze meter)。通過實施加熱處理會使表面狀態(tài)發(fā)生變化，作為成為顯示所希望的霧值的光學片的片狀材料S，可適宜地使用將透明樹脂形成為片狀所得的片狀材料。具體說來，對片狀材料S并沒有特別限定，可使用將從由聚苯乙烯(PS)、甲基丙烯酸甲酯-苯乙烯共聚物、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、丙烯腈-苯乙烯共聚物(AS)、聚碳酸酯(PC)、聚乙烯醇(PVA)、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚萘二甲酸乙二酯(PEN)、聚丙烯(PP)、聚乙烯(PE)、環(huán)狀烯烴聚合物(聚合成分為環(huán)狀烯烴的聚合物，可以是均聚物也可以是共聚物)及環(huán)狀烯烴共聚物(環(huán)狀烯烴和環(huán)狀烯烴以外的(其他)共聚合成分的共聚物)所組成的群中選擇的透明樹脂形成為片狀而獲得的片狀材料。由于對光學片要求的光學特性是事先規(guī)定的，所以根據(jù)所要求的光學特性而決定應當使用的透明樹脂，或者根據(jù)光學特性來適當選擇合適的透明樹脂即可。將透明樹脂成形為片狀的方法并沒有特別限定，根據(jù)所使用的透明樹脂的種類、 片體的厚度或寬度等尺寸來適當選擇合適的成形方法即可。將透明樹脂成形而獲得的長條片狀材料S暫時卷繞成卷筒狀設置在送出部2。送出部2包括成為所卷繞的片狀材料S的卷芯的圓柱形或圓筒形的送出輥和驅動此送出輥旋轉的驅動源。當送出輥受到驅動而旋轉時，片狀材料S向固定方向送出，到達由加熱處理部 3加熱的加熱區(qū)域。加熱處理部3只要是在接觸或非接觸下將片狀材料S的表面加熱至事先規(guī)定的溫度即可，可以使用任意的加熱處理部。例如根據(jù)片狀材料S的材質或應改變的表面狀態(tài)而適當選擇陶瓷加熱器、紅外燈及鼓風機(blower)等即可。加熱溫度、加熱時間也同樣可以適當選擇。加熱處理部3按以下方式構成，可以對至少片狀材料S的寬度方向即與送出方向正交的整個方向的加熱區(qū)域實施加熱處理，并且可以對沿著寬度方向分割而成的每個區(qū)域獨立地變更加熱溫度等加熱條件。像陶瓷加熱器等那樣具有通過通電而加熱的結構的情況下，按可以對各區(qū)域變更通電量的方式構成即可，像紅外燈等那樣具有通過光照射而加熱的結構的情況下，按至少對各區(qū)域設置對應的燈并對每個區(qū)域控制燈的開/關的方式構成即可。像鼓風機等那樣具有排出熱風而加熱的結構的情況下，按至少對每個區(qū)域設置對應的熱風吹出口并對各區(qū)域控制吹出量的方式構成即可。在對片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域均勻地進行加熱處理時，將加熱處理部3 的加熱條件等工作條件，在沿著片狀材料S的寬度方向排列配置的多個區(qū)域的各區(qū)域中設為相同的工作條件即可。但是，因為例如陶瓷加熱器即使是在相同通電量下發(fā)熱溫度也會不同，或者即使是相同的紅外燈其照射量也會不同，所以如果僅僅是設為相同的工作條件， 則不一定能對片狀材料S的整個寬度方向均勻地進行加熱處理。因此，為了對寬度方向的整個區(qū)域連續(xù)地評價因加熱處理而變化的片狀材料S的表面狀態(tài)，并根據(jù)評價結果對片狀材料S的整個寬度方向均勻地進行加熱處理，重要的是對沿著片狀材料S的寬度方向分割而成的各區(qū)域變更加熱處理部3的工作條件。片狀材料S的整個寬度方向上的評價可以通過利用光照射部5對片狀材料S的整個表面照射光，并利用光接收部6接收在片狀材料S的表面反射的反射光來進行。光照射部5例如使用設置在測定室天花板的熒光燈作為光源，并以能對片狀材料 S的整個表面按無影狀態(tài)照射例如1 Ix IXlO5 Ix的光的方式而設定光源和片狀材料S 的距離及位置關系。被光源照射到光的區(qū)域是相比加熱區(qū)域位于其下游側的、到被卷繞部 4卷繞之前的區(qū)域即可。光接收部6可以使用能測定規(guī)定區(qū)域的光量的線傳感器(一維圖像傳感器)或區(qū)域傳感器(二維圖像傳感器)，具體說來，可以使用CXD (Charge Coupled Device，電荷耦合器件)圖像傳感器、CMOS (Complementary Metal-Oxide kmiconductor，互補金屬氧化物半導體)圖像傳感器。光接收部6接收被片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域反射的反射光或者透射過片狀材料S的透射光。例如，像圖1所示，光接收部6以二維圖像的形式檢測出在片狀材料S 的表面反射的反射光的光量(以下稱為“反射光量”)。光接收部6在事先規(guī)定的時間內(nèi)，由矩陣狀或鋸齒狀等二維配置的光接收元件分別接收反射光，并輸出光接收量。這種一維圖像傳感器或二維圖像傳感器通過改變傳感器與片狀材料S的距離及位置，可以接收從片狀材料S的特定區(qū)域反射來的反射光，也可以接收從整個片狀材料S反射來的反射光。因此，只要適當設定光照射部5、片狀材料S及光接收部6的位置關系，即可利用光接收部6在片狀材料S的整個寬度方向上評價表面狀態(tài)。對于片狀材料S的表面狀態(tài)，優(yōu)選的是通過霧度進行評價。如果依據(jù)JIS標準測定霧度，則難以實現(xiàn)連續(xù)的評價，所以將光接收部6接收的反射光量作為霧度代替評價值。 指示部7根據(jù)片狀材料S的反射光，評價經(jīng)加熱處理部3加熱而表面狀態(tài)產(chǎn)生變化的片狀材料S是否具有所希望的表面狀態(tài)，并根據(jù)評價結果輸出用來變更加熱處理部3的工作的變更指示。關于變更指示的詳細內(nèi)容將于后文中說明，依照變更指示變更加熱處理部3的工作的是制造裝置1的(管理制造方法的)操作人員。因此，變更指示例如是以文字或圖形等顯示在顯示裝置等中，從而能讓操作人員立刻理解。如以上所述，加熱處理部3以能對沿著片狀材料S的寬度方向分割而成的各區(qū)域控制加熱條件的方式構成。如果對沿著寬度方向分割而成的各區(qū)域連續(xù)地評價光接收部6 所接收的從片狀材料S的表面反射來的反射光，并根據(jù)評價結果對應于各區(qū)域連續(xù)地控制加熱條件，則可以將片狀材料S的表面狀態(tài)維持為所希望的狀態(tài)。這樣，根據(jù)光接收部6所接收的反射光量來控制加熱處理部3的工作，為具有所希望的光學特性而進行過加熱處理的片狀材料S，被卷繞部4加以卷繞。卷繞部4和送出部2 一樣，包括成為所卷繞的片狀材料S的卷芯的圓柱形或圓筒形的卷繞輥和驅動此卷繞輥旋轉的驅動源。卷繞輥的驅動和送出輥的驅動同步，將經(jīng)過加熱處理的片狀材料S以固定速度卷繞至卷繞輥上。將由卷繞部4卷繞的片狀材料S裁剪成例如規(guī)定尺寸而獲得光學片。下面，就指示部7對加熱處理部3的工作條件的變更指示進行說明。指示部7根據(jù)從光接收部6輸出的表示反射光量的光量數(shù)據(jù)，評價片狀材料S的霧度，并比較霧度代替評價值與事先規(guī)定的閾值而決定是否需要變更加熱處理部3的加熱條件，以及在需要變更時決定變更的程度。關于從光接收部6輸出的表示反射光量的光量數(shù)據(jù)，例如當為一維圖像傳感器時，是將X方向設為片狀材料S的寬度方向的一維數(shù)據(jù)(X數(shù)據(jù))。另外，當為二維圖像傳感器時，是將χ方向設為片狀材料S的寬度方向，將y方向設為送出方向的二維數(shù)據(jù)(xy數(shù)據(jù))。另外，光量數(shù)據(jù)表示的是規(guī)定時間(一次掃描或一幀)內(nèi)的光量。使用二維圖像傳感器時，指示部7從光接收部6接收一幀或多幀的光量數(shù)據(jù)后，首先在y方向上累計表示反射光量的像素值而計算出累計像素值。累計像素值是僅計算出χ方向的像素數(shù)。通過累計，可以使在片狀材料S的送出方向上產(chǎn)生的光量不均(雜波 (noise))相對降低。在并非必須降低此雜波的情況下，指示部7也可以使用一維圖像傳感器。指示部7是在χ方向上事先分割成多個區(qū)域，并對所分割的各區(qū)域計算出累計像素值的平均值。平均值是僅計算出經(jīng)分割的區(qū)域數(shù)的平均值。指示部7將計算出的平均值分別轉換成代替霧值的霧度代替評價值，獲得各區(qū)域的霧度代替評價值H。指示部7將各區(qū)域的霧度代替評價值H與閾值進行比較。由于光學片所要求的霧值通常必須在規(guī)定的范圍內(nèi)，所以準備第一閾值THl及比第一閾值THl大的第二閾值TH2 O THl)作為閾值，并依次對這些閾值與所獲得的霧度代替評價值進行比較。將第一閾值 THl設定成比光學片所要求的霧值的最小值的霧度代替評價值H大的值，第二閾值TH2設定成比光學片所要求的霧值的最大值的霧度代替評價值H小的值。因此，當霧度代替評價值H 小于第一閾值THl時，指示部7可以判斷為以霧度代替評價值H代替的霧值有可能小于光學片所要求的霧值的最小值，另一方面，當霧度代替評價值H大于第二閾值TH2時，指示部 7可以判斷為以霧度代替評價值H代替的霧值有可能大于光學片所要求的霧值的最大值。閾值處理(與閾值的比較)的具體順序如下首先，指示部7將霧度代替評價值H與第一閾值THl進行比較，如果霧度代替評價值H不滿第一閾值TH1，則判斷為需要變更加熱處理部3的加熱條件，并且判斷此變更是使霧值增大的變更。另外，如果霧度代替評價值H是第一閾值THl以上，則指示部7將霧度代替評價值 H與第二閾值TH2進行比較。如果霧度代替評價值H是第二閾值TH2以下，則認為光學片實際的霧值也在所希望的范圍內(nèi)，因此指示部7判斷為無須變更加熱處理部3的加熱條件。 另一方面，如果霧度代替評價值H大于第二閾值TH2，則指示部7判斷為需要變更加熱處理部3的加熱條件，并且判斷此變更是使霧值減小的變更。指示部7的判斷結果屬于以上三種中的任一種。判斷結果會被輸出到片狀材料S 的寬度方向上的每一區(qū)域。制造裝置1的操作人員根據(jù)從指示部7輸出并顯示在顯示裝置等中的判斷結果而進行操作，以此來變更加熱處理部3的加熱條件。像以上所述那樣，加熱處理部3可以對沿著片狀材料S的寬度方向分割而成的各區(qū)域變更加熱條件。因此，當指示部7輸出需要變更某區(qū)域的加熱條件，并且變更為使霧值減小的這樣的指示時，操作人員操作加熱處理部 3，以使霧值減小的方式變更加熱溫度。另一方面，當指示部7輸出需要變更某區(qū)域的加熱條件，并且變更為使霧值增大的這樣的指示時，操作人員操作加熱處理部3，以使霧值增大的方式變更加熱溫度。當指示部7輸出變更為使霧值增大的這樣的指示或者變更為使霧值減小的這樣的指示時，操作人員必須判斷要增大或減小霧值應該提高還是降低加熱溫度，從而適當?shù)夭僮骷訜崽幚聿?。根據(jù)片狀材料S的材質等的不同，為了增大霧值，須提高加熱溫度的情況或須降低加熱溫度的情況的任一種情況都有可能存在，當指示部7輸出對霧值的指示時，操作人員判斷加熱處理部3的加熱條件后再操作加熱處理部3。在事先判斷出霧值與加熱溫度的關系的情況下，指示部7也可以對操作人員直接指示加熱處理部3的操作內(nèi)容。例如，在事先判斷出為了減小霧值須降低加熱溫度，另一方面，為了增大霧值須提高加熱溫度這種關系的情況下，指示部7可以根據(jù)此關系，對操作人員直接指示要提高加熱處理部3的加熱溫度還是要降低加熱處理部3的加熱溫度。具體說來，指示部7在判斷為需要降低某區(qū)域的霧值的情況下，輸出降低相應區(qū)域的加熱溫度的指示。另外，指示部7在判斷為需要增大某區(qū)域的霧值的情況下，輸出提高相應區(qū)域的加熱溫度的指示。另外，為了減少操作人員的操作失誤，有效的是將指示部7的指示輸出顯示在顯示裝置等中而直接表示出來。顯示裝置中顯示加熱處理部3可以控制的區(qū)域，如果需要對各區(qū)域變更加熱條件，則將變更指示以文字或圖形等顯示在區(qū)域內(nèi)。例如對于需要提高加熱溫度的區(qū)域，用“提高溫度”、“溫度up”、“向高溫”等盡量簡短的語句簡潔地顯示指示內(nèi)容。另外，至于圖形，將操作人員容易直觀理解的朝上的箭頭“丨”等圖形顯示在各區(qū)域內(nèi)。當需要變更加熱條件時，如果不變更而置之不理，則霧值會向偏離要求范圍的方向繼續(xù)變化，所以輸出變更指示后至操作人員實際操作加熱處理部3為止的時間越短越好。因此，像以上所述那樣在顯示裝置等中顯示變更指示時，優(yōu)選的是能夠將應當操作的內(nèi)容準確且短時間地傳達給操作人員的輸出方式。本發(fā)明的其他實施方式可以列舉具有校正光接收量的功能的制造裝置。圖2是表示本發(fā)明其他實施方式的光學片的制造裝置的概要構成的主視圖。光照射部5所照射的光量有時會因氣溫等周圍環(huán)境而產(chǎn)生變動。因此，其他實施方式的制造裝置IA中的光照射部 5不僅對片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光的照射， 光接收部6接收片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域及參照區(qū)域中的反射光或透射光?？蓪⑴渲迷诠庹丈洳?和片狀材料S之間的參照板8的表面作為參照區(qū)域。參照板8例如包含發(fā)泡聚丙烯片等，作為參照區(qū)域的參照板8的表面優(yōu)選標準擴散面或與標準擴散面同等的指示部7根據(jù)參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量，而校正從片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域所接收的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。由此，即使是光照射部5所照射的光量發(fā)生變動時，因為會根據(jù)此時的參照區(qū)域的光量而校正從片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域所接收的光量的值，所以在之后換算所得的霧度代替評價值中，也可以消除光照射部5照射的光量變動的影響。具體說來有以下方法使用片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域的光接收量與參照區(qū)域的光接收量的比，而校正從片狀材料S的寬度方向的整個區(qū)域所接收的光接收量的方法；對參照區(qū)域的光接收量事先設定標準值，每次進行光接收時，求出此時的參照區(qū)域的光接收量與標準值的比，用所述比乘以從片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域所接收的光接收量而進行校正的方法等。圖3是說明指示部7的變更指示處理的流程圖。當從光接收部6輸入了光量數(shù)據(jù)時，指示部7執(zhí)行變更指示處理。首先是加熱工序，利用加熱處理部3對連續(xù)送出的長條片狀材料S連續(xù)地實施加熱處理。接著是照射工序，利用光照射部5，對經(jīng)過加熱處理的片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域進行光照射。此時，根據(jù)需要不僅對片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域，同時也對作
12為標準的參照區(qū)域進行光照射。然后是光接收工序，利用光接收部6，接收照射到經(jīng)過加熱處理的片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域的光從片狀材料S反射或透射的反射光或透射光。此時，根據(jù)需要接收片狀材料S的整個寬度方向的區(qū)域及參照區(qū)域中的反射光或透射光。步驟Sl中，根據(jù)所輸入的光量數(shù)據(jù)，對沿著片狀材料S的寬度方向分割而成的各區(qū)域計算出反射光量的平均值。計算的一例可以像以上所述那樣，在y方向上累計并計算出累計值的平均值。各區(qū)域的平均值計算并不限定于此，也可以計算出事先規(guī)定的整個區(qū)域的像素值的總和，然后除以像素數(shù)而計算出簡單的算術平均值。步驟S2中，比較所計算出的反射光量的平均值與閾值。關于此比較，已經(jīng)在上文中就使用兩個閾值(第一閾值THl及第二閾值TH2)的例子進行了說明，但是閾值并不限定于兩個，也可以使用四個閾值或六個閾值等多個閾值。多個閾值的設定方式是，夾著位于自光學片所要求的霧值的最小值的霧度代替評價值至最大值的霧度代替評價值的范圍內(nèi)的中間值并使其上側和下側分別為同數(shù)。步驟S3中，根據(jù)所述反射光量的平均值與閾值的比較結果，而對各區(qū)域判定是否需要變更加熱條件，并且當需要變更時，判斷變更內(nèi)容。也就是說，在步驟S2、S3中，指示部 7將光接收部6所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。像這樣，通過步驟Sl 步驟S3來進行判斷工序，即，指示部7根據(jù)光接收部6所接收的反射光或透射光的光量來判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。另外，所述判斷工序中，指示部7在需要變更加熱條件時，也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷。另外，在所述判斷工序中，視需要根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量而校正從所述片狀材料S反射或透射來的反射光或透射光的光量后，再將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。如果設定多個閾值，則也可以通過多個階段來判斷出從中間值偏離到什么程度， 或者與光學片所要求的霧值的最小值或最大值(標準值的下限值或上限值)接近到什么程度。步驟S4中，當根據(jù)判斷結果需要變更加熱處理部3的加熱條件時，將所需的變更的內(nèi)容作為變更指示而輸出至顯示裝置等中。也就是說經(jīng)步驟S4進行輸出工序，在步驟 Sl 步驟S3 (判斷工序)中判斷為需要變更加熱處理部3的加熱條件時，指示部7輸出需要變更加熱條件的指示。另外，所述輸出工序中，指示部7也輸出加熱條件的變更內(nèi)容。另外，上文中已經(jīng)對使用圖像傳感器作為光接收部的構成進行了說明，但是也可以將多個光傳感器配置于片狀材料的整個寬度方向上。這里所使用的光傳感器，是指光照射部與光接收部經(jīng)由被檢查體而一對一地對置并固定的傳感器。光照射部例如使用LED (light-emitting diode，發(fā)光二極管)光源等，照射比較小的區(qū)域(例如直徑為幾厘米以下的圓形區(qū)域)，光接收部并不是像圖像傳感器那樣的一維或二維輸出，而是輸出所述區(qū)域的中心附近的一處的光接收量。由于接收在片狀材料上透射或反射的光并根據(jù)此光接收量來求出霧度代替評價值的原理是相同的，因此，當形成配置多個光傳感器來作為光照射部及光接收部的構成時， 可以進行與所述實施方式同等的測量，另一方面，當光傳感器產(chǎn)生故障時，只要僅將此光傳感器更換即可，從而具有容易維護的優(yōu)點。[產(chǎn)業(yè)上的可利用性]
根據(jù)本發(fā)明的光學片的制造方法及光學片的制造裝置，可以發(fā)揮能夠在整個寬度方向的區(qū)域連續(xù)地測定光學片的光學特性，能高效率地制造具有所希望的光學特性的光學片的效果。因此，本發(fā)明的光學片的制造方法及光學片的制造裝置可以在制造用于改善顯示裝置的可見度、防污性、防眩性等的光學片的各種產(chǎn)業(yè)中得到廣泛的利用。
權利要求
1.一種光學片的制造方法，其特征在于包括加熱工序，對連續(xù)送出的長條片狀材料連續(xù)地實施加熱處理； 照射工序，對經(jīng)過加熱處理的片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域進行光照射； 光接收工序，接收從所述被照射到光的片狀材料反射或透射來的反射光或透射光； 判斷工序，根據(jù)所接收的反射光或透射光的光量，判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件；和輸出工序，當所述判斷工序中判斷出需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示。
2.根據(jù)權利要求1所述的光學片的制造方法，其特征在于所述判斷工序中，將所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的光學片的制造方法，其特征在于所述加熱條件包括加熱溫度，所述加熱條件的變更是提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種，所述判斷工序中，當需要變更加熱條件時，也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷， 所述輸出工序中，當所述判斷工序中判斷出需要變更加熱條件時，也輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種變更內(nèi)容。
4.根據(jù)權利要求2所述的光學片的制造方法，其特征在于所述照射工序中，不僅對片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光照射，所述光接收工序中，接收片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域及所述參照區(qū)域中的反射光或透射光，所述判斷工序中，根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量，而校正從所述片狀材料反射或透射來的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。
5.一種光學片的制造裝置，其特征在于包括 送出部，連續(xù)地送出長條片狀材料；加熱處理部，對所送出的所述片狀材料連續(xù)地實施加熱處理； 卷繞部，連續(xù)地卷繞經(jīng)所述加熱處理部實施加熱處理后的片狀材料； 光照射部，將由所述加熱處理部進行加熱處理后至所述卷繞部卷繞為止的片狀材料在制造裝置上的規(guī)定位置作為照射位置，對位于此照射位置的片狀材料經(jīng)其整個寬度方向進行光照射；光接收部，接收由所述光照射部照射并被所述片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域反射的反射光或者透射過片狀材料的透射光；和輸出部，根據(jù)所接收的反射光或透射光的光量判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件，并且當判斷出需要變更加熱條件時，輸出需要變更加熱條件的指示。
6.根據(jù)權利要求5所述的光學片的制造裝置，其特征在于所述光接收部包含測定所述反射光或透射光的光量的一維圖像傳感器或二維圖像傳感器。
7.根據(jù)權利要求5或6所述的光學片的制造裝置，其特征在于所述加熱條件包括加熱溫度，所述加熱條件的變更是提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種，所述輸出部在判斷為需要變更加熱條件時，也對加熱條件的變更內(nèi)容進行判斷，輸出提高加熱溫度或降低加熱溫度中的任一種變更內(nèi)容。
8.根據(jù)權利要求5至7中任一項所述的光學片的制造裝置，其特征在于所述輸出部將所接收的反射光或透射光的光量換算成代替霧值的霧度代替評價值，并比較事先規(guī)定的閾值與霧度代替評價值而判斷是否需要變更加熱處理的加熱條件。
9.根據(jù)權利要求8所述的光學片的制造裝置，其特征在于所述光照射部不僅對片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域，同時也對作為標準的參照區(qū)域進行光照射，所述光接收部接收片狀材料的寬度方向的整個區(qū)域及所述參照區(qū)域中的反射光或透射光，所述輸出部根據(jù)所述參照區(qū)域中的反射光或透射光的光量，而校正從所述片狀材料上反射或透射來的反射光或透射光的光量后，將所述反射光或透射光的光量換算成霧度代替評價值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種可以在光學片的整個寬度方向連續(xù)地測定光學片的光學特性，可以高效率地制造具有所希望的光學特性的光學片的制造方法以及光學片的制造裝置。光照射部將被加熱處理部進行加熱處理后至被卷繞部卷繞為止的片狀材料在制造裝置上的規(guī)定位置作為照射位置，并對位于此照射位置的片狀材料的整個寬度方向的區(qū)域進行光照射；光接收部接收被光照射部照射并被片狀材料的整個寬度方向的區(qū)域反射的反射光。指示部根據(jù)所接收的反射光的光量而判斷是否需要變更加熱處理部的加熱處理的加熱條件，當判斷出需要變更加熱條件時，輸出加熱條件的變更指示。
文檔編號G02B5/02GK102262252SQ201110136769
公開日2011年11月30日 申請日期2011年5月25日 優(yōu)先權日2010年5月26日
發(fā)明者廣瀨修, 德岡幸人, 藤木新也 申請人:住友化學株式會社