專利名稱：具有觸摸檢測功能的顯示裝置、觸摸檢測裝置及電子單元的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開涉及一種觸摸檢測裝置，具體地涉及一種基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化來檢測觸摸事件的觸摸檢測裝置、包括這種觸摸檢測裝置而具有觸摸檢測功能的顯示裝置以及電子單元。
背景技術(shù)：
近年來，通過在諸如液晶顯示裝置的顯示裝置上安裝觸摸檢測裝置(其為所謂的觸摸面板)或?qū)⒂|摸面板與顯示裝置一體化并替代通常的機(jī)械式按鈕而將各種按鈕圖像等顯示在顯示裝置上，使得能夠輸入信息的顯示裝置引起了關(guān)注。包括這種觸摸面板的顯示裝置不需要諸如鍵盤、鼠標(biāo)以及小鍵盤的輸入裝置，因此除計(jì)算機(jī)之外，這種顯示裝置的使用還趨于擴(kuò)展應(yīng)用到諸如移動(dòng)電話的便攜式信息終端。觸摸檢測方法包括多種方法，它們中的一種是靜電電容法。例如，日本未審查專利申請公開No. 2008-U9708公開了一種觸摸面板，其包括多個(gè)X方向電極和配置為面向 X方向電極的多個(gè)Y方向電極，并且通過利用在X方向電極和Y方向電極的交點(diǎn)形成的靜電電容響應(yīng)外部接近物體的變化，來檢測觸摸事件。這些電極由半透過性材料形成的，然而具有電極的部分和沒有電極的部分的透光率是不同的，因此從外部可能會(huì)察看到這些電極。因此，在觸摸面板中，在X方向電極之間或者Y方向電極之間設(shè)置虛設(shè)電極(dummy electrode)，以減少形成有X方向電極和Y方向電極的電極區(qū)域與配置有虛設(shè)電極的電極間區(qū)域之間透光率的差異，并且因此使從外部幾乎察看不到X方向電極和Y方向電極。

發(fā)明內(nèi)容
不僅是上述光的透射，而且例如從外部入射的光被電極反射也導(dǎo)致X方向電極和 Y方向電極可能被察看到。然而，在日本未審查專利申請公開No. 2008-129708中，沒有對反射作出描述。當(dāng)由于反射而察看到X方向電極和Y方向電極時(shí)，可能會(huì)使顯示在顯示裝置上的畫面的可視性降低。期望提供一種即使在光從外部進(jìn)入的情形下也能夠抑制由電極引起的顯示畫面的可視性降低的具有觸摸檢測功能的顯示裝置、觸摸檢測裝置及電子單元。根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第一顯示裝置包括多個(gè)觸摸檢測電極、多個(gè)顯示元件和多個(gè)虛設(shè)電極。多個(gè)觸摸檢測并行配置成在一個(gè)方向延伸，形成有包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案，并且每個(gè)觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號。多個(gè)顯示元件形成于與設(shè)置有觸摸檢測電極的層不同的層中，并且在與觸摸檢測電極相對應(yīng)的區(qū)域中在寬度方向上配置預(yù)定數(shù)量的顯示元件。多個(gè)虛設(shè)電極配置在多個(gè)觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中。開口部分被設(shè)置為使觸摸檢測電極的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域中虛設(shè)電極的配置面積率。這里，短語“設(shè)置為近似相等”或“設(shè)置為彼此接近”意指即使兩者不完全相同，也是兩者被設(shè)置得盡可能的彼此接近。
根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第二顯示裝置包括多個(gè)觸摸檢測電極、多個(gè)顯示元件和多個(gè)虛設(shè)電極。多個(gè)觸摸檢測電極并行配置成在一個(gè)方向延伸，形成有包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案，并且每個(gè)觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號。多個(gè)顯示元件形成于與設(shè)置有觸摸檢測電極的層不同的層中，并且在與觸摸檢測電極相對應(yīng)的區(qū)域中在寬度方向上配置預(yù)定數(shù)量的顯示元件。多個(gè)虛設(shè)電極配置在多個(gè)觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中。開口部分被配置為使每單位面積的開口部分的所有邊的總長度近似等于每單位面積的虛設(shè)電極的所有邊的總長度。根據(jù)本公開實(shí)施方式的觸摸檢測裝置包括多個(gè)觸摸檢測電極和多個(gè)虛設(shè)電極。多個(gè)觸摸檢測電極并行配置成在一個(gè)方向延伸，形成有包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案，并且每個(gè)觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號。多個(gè)虛設(shè)電極配置在多個(gè)觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中。開口部分被設(shè)置為使觸摸檢測電極的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域中虛設(shè)電極的配置面積率。根據(jù)本公開實(shí)施方式的電子單元包括具有觸摸檢測功能的顯示裝置，并且對應(yīng)于電視裝置、數(shù)碼相機(jī)、個(gè)人計(jì)算機(jī)、攝像機(jī)、或者諸如移動(dòng)電話的便攜式終端設(shè)備。在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第一顯示裝置、觸摸檢測裝置和電子單元中，通過在觸摸檢測電極中設(shè)置開口部分來使觸摸檢測電極的配置面積率與檢測電極間區(qū)域中的虛設(shè)電極的配置面積率彼此近似相等。因此，當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，觸摸檢測電極和檢測電極間區(qū)域之間的反射率基本相同。在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第二顯示裝置中，通過在觸摸檢測電極中設(shè)置開口部分，來使每單位面積的開口部分的所有邊的總長度近似等于每單位面積的虛設(shè)電極的所有邊的總長度。因此，當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，觸摸檢測電極和檢測電極間區(qū)域之間的反射率基本相同。在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第一顯示裝置中，例如，期望將開口部分設(shè)置為每單位面積的開口部分的所有邊的總長度近似等于每單位面積的虛設(shè)電極的所有邊的總長度。例如，期望觸摸檢測電極由均包含開口部分的多個(gè)檢測電極單位晶胞(electrode unit cell)構(gòu)成，并且期望檢測電極間區(qū)域由均包含虛設(shè)電極的多個(gè)虛設(shè)電極單位晶胞構(gòu)成。例如，期望檢測電極單位晶胞和虛設(shè)電極單位晶胞中的每一個(gè)的大小等于或小于500 平方微米。例如，檢測電極單位晶胞的大小可以與虛設(shè)電極單位晶胞的大小相對應(yīng)。例如， 檢測電極單位晶胞和虛設(shè)電極單位晶胞配置在與各顯示元件相對應(yīng)的位置處。顯示元件可構(gòu)成至少包括紅色顯示元件、綠色顯示元件和藍(lán)色顯示元件的顯示像素，并且檢測電極單位晶胞的大小可以與顯示像素的大小或顯示像素的大小的整數(shù)倍相對應(yīng)。此外，例如，虛設(shè)電極單位晶胞的大小可以與顯示像素的大小或顯示像素的大小的整數(shù)倍相對應(yīng)。開口部分可至少配置在與紅色顯示元件、綠色顯示元件和藍(lán)色顯示元件中對電極部分具有最低透射率的色光的顯示元件相對應(yīng)的位置處。在該情形下，例如，開口部分可配置在與藍(lán)色顯示元件相對應(yīng)的位置處。另外，虛設(shè)電極以相鄰的虛設(shè)電極間的間隙中在與紅色顯示元件、綠色顯示元件以及藍(lán)色顯示元件的配置方向交叉的方向上延伸的間隙位于與藍(lán)色顯示元件相對應(yīng)的位置處的方式配置。
例如，可進(jìn)一步地設(shè)置選擇線以選擇執(zhí)行顯示操作的顯示元件，并且開口部分可配置在與選擇線相對應(yīng)的位置處。例如，觸摸檢測電極可直接形成在用于支撐的玻璃基板上。而且，例如，觸摸檢測電極介由透光層形成在用于支撐的玻璃基板上，或者形成于玻璃基板與透光層之間，并且透光層的折射率具有玻璃基板的折射率和觸摸檢測電極的折射率之間的值。此外，虛設(shè)電極可處于電浮接(floating)狀態(tài)。例如，多個(gè)驅(qū)動(dòng)電極可并行配置成在與多個(gè)觸摸檢測電極交叉的方向上延伸，并且可在多個(gè)觸摸檢測電極和多個(gè)驅(qū)動(dòng)電極之間的每個(gè)交點(diǎn)上形成靜電電容。例如，顯示元件可構(gòu)造為包括液晶層和配置為間隔液晶層而面向驅(qū)動(dòng)電極的像素電極，或可構(gòu)造為包括液晶層和形成于液晶層與驅(qū)動(dòng)電極之間的像素電極。在該情形下，顯示元件可構(gòu)造為例如夾在兩個(gè)由圓偏光板或橢圓偏光板構(gòu)成的偏光板之間。在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第一顯示裝置、觸摸檢測裝置和電子單元中，在觸摸檢測電極中設(shè)置開口部分，并且觸摸檢測電極的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域中虛設(shè)電極的配置面積率。因此，觸摸檢測電極和虛設(shè)電極之間的反射率近似相等，使得即使在光從外部進(jìn)入的情形下，也抑制了由觸摸檢測電極引起的顯示畫面的可視性低下。此外，在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的第二顯示裝置中，在觸摸檢測電極中設(shè)置開口部分，并且每單位面積的開口部分的所有邊的總長度近似等于每單位面積的虛設(shè)電極的所有邊的總長度。因此，觸摸檢測電極和虛設(shè)電極之間的反射率近似相等， 使得即使在光從外部進(jìn)入的情形下，也抑制了由觸摸檢測電極引起的顯示畫面的可視性低下。應(yīng)當(dāng)理解，前述概括描述和后面的詳細(xì)描述是示例性的，并且意指對權(quán)利要求提供進(jìn)一步的技術(shù)說明。


所包括的附圖用于提供對本公開的進(jìn)一步理解，并且結(jié)合于本說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分。附圖示出了實(shí)施方式，并且與說明書一起用于解釋該技術(shù)的原理。圖1是用于說明在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中觸摸檢測方法的基本原理的圖示，以及示出了手指不接觸或者不接近顯示裝置的狀態(tài)的圖。圖2是用于說明在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中觸摸檢測方法的基本原理的圖示，以及示出了手指接觸或接近顯示裝置的狀態(tài)的圖。圖3是用于說明在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中觸摸檢測方法的基本原理的圖示，以及示出了驅(qū)動(dòng)信號和觸摸檢測信號的波形的示例的圖。圖4是示出了根據(jù)實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的構(gòu)造示例的框圖。圖5是示出了根據(jù)實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示部的示意性橫截面構(gòu)造的截面圖。圖6A和圖6B分別是電路圖和平面圖，都示出了根據(jù)實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示部的像素配置。圖7是示出了根據(jù)實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示部的驅(qū)動(dòng)電極和觸摸檢測電極的構(gòu)造示例的透視圖。圖8是示出了根據(jù)第一實(shí)施方式的觸摸檢測電極和虛設(shè)電極的構(gòu)造示例的平面圖。圖9A和圖9B是用于說明電極面積比和電極邊緣長度比的平面圖。圖IOA和圖IOB是用于說明反射率的測量的示意圖。圖IlA和圖IlB是示出了反射率比對電極面積比的依賴性和對電極邊緣長度比的依賴性的特性圖。圖12A和圖12B是示出了根據(jù)實(shí)施方式的對準(zhǔn)標(biāo)記的圖示。圖13是示出了根據(jù)第一實(shí)施方式的變形例的觸摸檢測電極和虛設(shè)電極的構(gòu)造示例的平面圖。圖14是示出了根據(jù)第二實(shí)施方式的觸摸檢測電極和虛設(shè)電極的構(gòu)造示例的平面圖。圖15A和圖15B是用于說明根據(jù)第二實(shí)施方式的縱向電極邊緣長度的平面圖。圖16是示出了根據(jù)第二實(shí)施方式的變形例的觸摸檢測電極和虛設(shè)電極的構(gòu)造示例的平面圖。圖17A和圖17B是用于說明根據(jù)第二實(shí)施方式的變形例的橫向電極邊緣長度的平面圖。圖18是示出了根據(jù)第三實(shí)施方式的觸摸檢測電極和虛設(shè)電極的構(gòu)造示例的平面圖。圖19是示出了根據(jù)實(shí)施方式的示例的表格。圖20是示出了應(yīng)用實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的應(yīng)用例1的外觀構(gòu)造的透視圖。圖21A和圖21B是示出了應(yīng)用例2的外觀構(gòu)造的透視圖。圖22是示出了應(yīng)用例3的外觀構(gòu)造的透視圖。圖23是示出了應(yīng)用例4的外觀構(gòu)造的透視圖。圖24A至圖24G是示出了應(yīng)用例5的外觀構(gòu)造的前視圖、側(cè)視圖、頂視圖和底視圖。圖25是示出了根據(jù)實(shí)施方式的變形例的具有觸摸檢測功能的顯示部的示意性橫截面構(gòu)造的截面圖。圖沈是示出了根據(jù)實(shí)施方式的另一變形例的具有觸摸檢測功能的顯示部的示意性橫截面構(gòu)造的截面圖。
具體實(shí)施例方式下文中，將參照附圖詳細(xì)描述本公開的優(yōu)選實(shí)施方式。將以下列順序給出該描述。1.靜電電容式觸摸檢測的基本原理2.第一實(shí)施方式3.第二實(shí)施方式4.第三實(shí)施方式5.示例
6.應(yīng)用例<1.靜電電容式觸摸檢測的基本原理〉首先，將參照圖1至圖3描述在根據(jù)本公開實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中觸摸檢測的基本原理。觸摸檢測方法實(shí)現(xiàn)為靜電電容式觸摸傳感器，并且如圖1的 (A)所示，使用其間插入電介質(zhì)體D的彼此面對的一對電極(驅(qū)動(dòng)電極El和觸摸檢測電極 E2)來構(gòu)造電容元件。該構(gòu)成被表示為圖1的(B)中所示的等效電路。電容元件Cl由驅(qū)動(dòng)電極E1、觸摸檢測電極E2和電介質(zhì)體D構(gòu)成。電容元件Cl的一端連接至交流信號源(驅(qū)動(dòng)信號源)S,而另一端P通過電阻器R接地并且連接至電壓檢測器(觸摸檢測電路)DET。 當(dāng)從交流信號源S向驅(qū)動(dòng)電極El (電容元件Cl的一端)施加具有預(yù)定頻率(例如，幾kHz 到幾十kHz)的交流矩形波Sg(圖3的(B))時(shí)，在觸摸檢測電極E2(電容元件Cl的另一端 P)呈現(xiàn)圖3的(A)中所示的輸出波形(觸摸檢測信號Vdet)。注意，交流矩形波Sg相當(dāng)于后面描述的驅(qū)動(dòng)信號Vcom。如圖1中所述，在手指未接觸(或未接近)顯示裝置的狀態(tài)下，響應(yīng)于對電容元件 Cl的充電和放電，流動(dòng)取決于電容元件Cl的電容值的電流10。此時(shí)，電容元件Cl的另一端P具有如圖3的㈧中的波形VO的電位波形，并且電壓檢測器DET檢測該波形。另一方面，在手指接觸(或接近)顯示裝置的狀態(tài)下，如圖2所示的以與電容元件 Cl串聯(lián)的方式添加了由手指形成的電容元件C2。在該狀態(tài)下，分別響應(yīng)于對電容元件Cl 和C2的充電和放電而流動(dòng)電流Il和12。此時(shí)，電容元件Cl的另一端P具有如圖3的㈧ 中的波形Vl的電位波形，并且由電壓檢測器DET檢測該波形。此時(shí)，點(diǎn)P的電位是由流過電容元件Cl和C2的電流Il和12的值確定的分壓電位。因此，波形Vl的值小于非接觸狀態(tài)下的波形VO的值。電壓檢測器DET將檢測到的電壓與預(yù)定的閾值電壓Vth比較，以在檢測到的電壓等于或大于閾值電壓時(shí)確定為非接觸狀態(tài)，并且以在檢測到的電壓小于閾值電壓時(shí)確定為接觸狀態(tài)。以這種方式，可實(shí)現(xiàn)觸摸檢測。<2.第一實(shí)施方式>[構(gòu)造示例](整體構(gòu)造示例)圖4示出了根據(jù)本公開第一實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1的構(gòu)造示例。順便提及，根據(jù)本公開實(shí)施方式的觸摸檢測裝置由第一實(shí)施方式來實(shí)現(xiàn)，因此將一并給出其描述。具有觸摸檢測功能的顯示裝置使用液晶顯示元件作為顯示元件，并且是其中由液晶顯示元件構(gòu)造的液晶顯示部和靜電電容式觸摸檢測部一體化的所謂的內(nèi)嵌型。具有觸摸檢測功能的顯示裝置1包括控制部11、柵極驅(qū)動(dòng)器12、源極驅(qū)動(dòng)器13、驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14、具有觸摸檢測功能的顯示部10和觸摸檢測電路40?？刂撇?1是基于從外部提供的影像(picture，映像)信號Vdisp向柵極驅(qū)動(dòng)器 12、源極驅(qū)動(dòng)器13、驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14和觸摸檢測電路40提供控制信號并且控制這些部彼此同步運(yùn)作的電路?；趶目刂撇?1供給的控制信號，柵極驅(qū)動(dòng)器12具有依次選擇作為具有觸摸檢測功能的顯示部10的顯示驅(qū)動(dòng)的對象的一條水平線的功能。具體地，如后面描述的，柵極驅(qū)動(dòng)器12通過掃描信號線GCL向像素Pix的TFT元件Tr的柵極施加掃描信號Vscan，以依次選擇在具有觸摸檢測功能的顯示部10的液晶顯示部20中形成為矩陣狀的像素Pix中的一行(一條水平線)作為顯示驅(qū)動(dòng)的對象。基于從控制部11供給的控制信號，源極驅(qū)動(dòng)器13是向具有觸摸檢測功能的顯示部10中的每個(gè)像素Pix (后面描述)提供像素信號Vpix的電路。具體地，源極驅(qū)動(dòng)器13 通過后面描述的像素信號線SGL將像素信號Vpix提供給構(gòu)成由柵極驅(qū)動(dòng)器12依次選擇的一條水平線的每個(gè)像素Pix。然后，在像素Pix中，響應(yīng)于所供給的像素信號Vpix執(zhí)行該水平線的顯不。驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14是基于從控制部11提供的控制信號將驅(qū)動(dòng)信號Vcom提供給具有觸摸檢測功能的顯示部10的驅(qū)動(dòng)電極COML (后面描述)的電路。具體地，驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14以時(shí)間分割(time-divisional)方式將驅(qū)動(dòng)信號Vcom依次施加到驅(qū)動(dòng)電極C0ML。 然后，觸摸檢測部30根據(jù)來自多個(gè)觸摸檢測電極TDL (后面描述)的驅(qū)動(dòng)信號Vcom輸出觸摸檢測信號Vdet，并且將該信號提供給觸摸檢測電路40。具有觸摸檢測功能的顯示部10是結(jié)合有觸摸檢測功能的顯示部。具有觸摸檢測功能的顯示部10包括液晶顯示部20和觸摸檢測部30。如后面所述的，液晶顯示部20是根據(jù)從柵極驅(qū)動(dòng)器12供給的掃描信號Vscan以一條水平線為基礎(chǔ)執(zhí)行順次掃描從而執(zhí)行顯示的部。觸摸檢測部30基于上述靜電電容式觸摸檢測的基本原理運(yùn)作，并輸出觸摸檢測信號Vdet。如后面所述，觸摸檢測部30根據(jù)從驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14供給的驅(qū)動(dòng)信號執(zhí)行順次掃描，以執(zhí)行觸摸檢測。觸摸檢測電路40是基于從控制部11供給的控制信號和從具有觸摸檢測功能的顯示部10的觸摸檢測部30供給的觸摸檢測信號Vdet檢測對觸摸檢測部30觸摸的事件存在， 并且當(dāng)檢測到觸摸事件時(shí)，觸摸檢測電路40確定觸摸檢測區(qū)域中的坐標(biāo)等，從而輸出坐標(biāo)等作為輸出信號Out的電路。(具有觸摸檢測功能的顯示部10)接下來，將詳細(xì)描述具有觸摸檢測功能的顯示部10的構(gòu)造的示例。圖5示出了具有觸摸檢測功能的顯示部10的主要部分的橫截面構(gòu)造的示例。具有觸摸檢測功能的顯示部10具有像素基板2、配置為面對像素基板2的相對基板3以及插入像素基板2與相對基板3之間的液晶層6。像素基板2包括作為電路基板的TFT基板21和TFT基板21上配置成矩陣狀的多個(gè)像素電極22。在TFT基板21中，盡管未示出，但是形成有各像素的薄膜晶體管(TFT)以及諸如用于將像素信號Vpix提供給各像素電極22的像素信號線SGL和用于驅(qū)動(dòng)各TFT的掃描信號線GCL的配線。相對基板3包括玻璃基板31、形成在玻璃基板31 —個(gè)表面上的彩色濾光片32以及形成在彩色濾光片32上的多個(gè)驅(qū)動(dòng)電極C0ML。彩色濾光片32通過周期地配置紅(R)、綠 (G)和藍(lán)(B)三個(gè)彩色濾光片層構(gòu)成，并且一組R、G和B三個(gè)顏色對應(yīng)于各顯示像素。驅(qū)動(dòng)電極COML具有用作液晶顯示部20的共用驅(qū)動(dòng)電極的功能，并且具有用作觸摸檢測部30 的驅(qū)動(dòng)電極的功能。注意，在該示例中，盡管驅(qū)動(dòng)電極為顯示和觸摸檢測共用，但是可單獨(dú)地設(shè)置用于顯示的驅(qū)動(dòng)電極和用于觸摸檢測的驅(qū)動(dòng)電極。驅(qū)動(dòng)電極COML通過接觸導(dǎo)電柱 (未示出)連接至TFT基板21，并且具有交流矩形波形的驅(qū)動(dòng)信號Vcom通過接觸導(dǎo)電柱從 TFT基板21施加到驅(qū)動(dòng)電極COML。透光層33形成在玻璃基板31的另一個(gè)表面上，并且作為觸摸檢測部30的檢測電極的觸摸檢測電極TDL形成在透光層33上。每個(gè)觸摸檢測電極TDL由例如ITO (氧化銦錫)、ΙΖ0和SnO組成，并且是具有半透光性的電極。每個(gè)觸摸檢測電極TDL具有如后面描述的多個(gè)開口部分。透光層33由諸如SiN和SiC的絕緣材料組成， 并且其折射率在具有高可視性的550nm波長附近具有介于玻璃基板31的折射率(例如，近似1.5)和觸摸檢測電極TDL的折射率(例如，近似1.8)之間的值(例如，SiN情形下近似為1.75，SiC情形下近似為1.6)。透光層33被設(shè)置為用于減少玻璃基板31和觸摸檢測電極TDL之間的反射的折射率匹配層。而且，在觸摸檢測電極TDL上設(shè)置偏光板35。液晶層6根據(jù)電場狀態(tài)調(diào)制穿過的光，并且使用諸如TN(扭曲向列)、VA (垂直配向)和ECB (電控雙折射)的各種模式的液晶。順便提及，配向膜設(shè)置于液晶層6和像素基板2之間以及液晶層6和相對基板3 之間，圖中未示出。另外，入射側(cè)偏光板設(shè)置在像素基板2的下表面?zhèn)龋瑘D中未示出。使用圓偏光板或橢圓偏光板來作為偏光板35和入射側(cè)偏光板(未示出)。圖6A和圖6B示出液晶顯示部20中的像素構(gòu)造的構(gòu)造示例，其中圖6A是其電路圖，而圖6B是其平面圖。液晶顯示部20具有配置成矩陣狀的多個(gè)像素Pix。每個(gè)像素Pix 由三個(gè)子像素SPix構(gòu)成。三個(gè)子像素SPix被配置為分別對應(yīng)于圖5中所示的彩色濾光片 32的三個(gè)顏色(RGB)。每個(gè)子像素SPix具有TFT元件Tr和液晶元件LC。TFT元件Tr由薄膜晶體管構(gòu)成，并且在該示例中，TFT元件Tr由η溝道MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體)TFT構(gòu)成。TFT元件Tr的源極連接至像素信號線SGL，其柵極連接至掃描信號線GCL，并且其漏極連接至液晶元件LC的一端。液晶元件LC的一端連接至TFT元件Tr的漏極，而其另一端連接至驅(qū)動(dòng)電極COML。每個(gè)子像素SPix通過掃描信號線GCL與位于液晶顯示部20的同一行的其他子像素SPix相互連接。掃描信號線GCL連接至柵極驅(qū)動(dòng)器12，并且掃描信號Vscan從柵極驅(qū)動(dòng)器12提供。此外，每個(gè)子像素SPix通過像素信號線SGL與位于液晶顯示部20的同一列的其他子像素SPix相互連接。像素信號線SGL連接至源極驅(qū)動(dòng)器13，并且像素信號Vpix從源極驅(qū)動(dòng)器13提供。如圖6Β所示，像素信號線SGL和掃描信號線GCL配置在相鄰子像素SPix間的邊界處。具體地，像素信號線SGL配置在橫向相鄰的子像素SPix間的邊界處，而掃描信號線 GCL配置在縱向相鄰的子像素SPix間的邊界處。像素信號線SGL和掃描信號線GCL例如由鋁、鋁合金、鉬和鈦的單層膜或多層膜構(gòu)成。因此，在與像素信號線SGL和/或掃描信號線 GCL對應(yīng)的部分不透射光。此外，每個(gè)子像素SPix通過驅(qū)動(dòng)電極COML與位于液晶顯示部20的同一行的其他子像素SPix相互連接。驅(qū)動(dòng)電極COML連接至驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14，并且驅(qū)動(dòng)信號Vcom由驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14提供。利用該構(gòu)造，在液晶顯示部20中，柵極驅(qū)動(dòng)器12驅(qū)動(dòng)掃描信號線GCL以以時(shí)間分隔方式執(zhí)行線順次掃描，從而順次選擇一條水平線。然后，源極驅(qū)動(dòng)器13將像素信號Vpix 提供給所選擇的水平線上的像素Pix，從而以一條水平線為基礎(chǔ)來執(zhí)行顯示。圖7是示出觸摸檢測部30的構(gòu)造示例的透視圖。觸摸檢測部30由配置在相對基板3中的驅(qū)動(dòng)電極COML和觸摸檢測電極TDL構(gòu)成。每個(gè)驅(qū)動(dòng)電極COML由在圖的橫向延伸的條狀電極圖案構(gòu)成。當(dāng)執(zhí)行觸摸檢測操作時(shí)，驅(qū)動(dòng)信號Vcom通過驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14順次提供給每個(gè)電極圖案，并且以時(shí)間分隔的方式執(zhí)行順次掃描驅(qū)動(dòng)。每個(gè)觸摸檢測電極TDL由在與每個(gè)驅(qū)動(dòng)電極COML的電極圖案的延伸方向交叉的方向上延伸的電極圖案構(gòu)成。如后面所述，虛設(shè)電極37(未示出)配置于觸摸檢測電極TDL之間(檢測電極間區(qū)域)。每個(gè)觸摸檢測電極TDL包括包含多個(gè)開口部分的電極圖案，設(shè)置多個(gè)開口部分以用于將觸摸檢測電極TDL的反射率和虛設(shè)電極37的反射率調(diào)整為彼此相等。每個(gè)觸摸檢測電極TDL的電極圖案連接至觸摸檢測電路40。彼此相交的驅(qū)動(dòng)電極COML的電極圖案和觸摸檢測電極 TDL的電極圖案在每個(gè)交點(diǎn)處形成靜電電容。利用該構(gòu)造，在觸摸檢測部30中，驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14將驅(qū)動(dòng)信號Vcom施加至驅(qū)動(dòng)電極C0ML，從而從觸摸檢測電極TDL輸出觸摸檢測信號Vdet，并由此執(zhí)行觸摸檢測。在圖1至圖3中所示的觸摸檢測的基本原理中，驅(qū)動(dòng)電極COML相當(dāng)于驅(qū)動(dòng)電極E1，觸摸檢測電極TDL相當(dāng)于觸摸檢測電極E2，并且觸摸檢測部30根據(jù)該基本原理檢測觸摸事件。如圖 7所示，彼此相交的電極圖案構(gòu)成矩陣狀的靜電電容式觸摸傳感器。因此，在觸摸檢測部30 的整個(gè)觸摸檢測表面上執(zhí)行掃描，使得能夠檢測到外部接近物體的接觸位置或最接近的位置。圖8示出了觸摸檢測電極TDL的構(gòu)造示例。觸摸檢測電極TDL在配置有像素Pix 的顯示區(qū)域Sd中具有多個(gè)開口部分36 (開口部分36A和36B)。對應(yīng)于像素Pix形成開口部分36。具體地，開口部分36A形成在對應(yīng)于藍(lán)色(B)子像素SPix的部分。開口部分36B 形成在在圖中與垂直相鄰的像素Pix間的邊界對應(yīng)的位置處。換句話說，開口部分36B配置在與形成在像素基板2中的掃描信號線GCL相對應(yīng)的位置處，即配置在不透射光的位置處。以此方式，開口部分36以像素Pix的周期來形成。換句話說，觸摸檢測電極TDL以像素 Pix作為單位晶胞UC來形成。期望單位晶胞UC具有人眼不可見的大小，例如，期望等于或小于500 μ m。觸摸檢測電極TDL被形成為延伸到顯示區(qū)域Sd外部的框(frame)區(qū)域Sf， 并且連接至觸摸檢測電路40。在相鄰觸摸檢測電極TDL之間的區(qū)域(檢測電極間區(qū)域Rd)中，設(shè)置有多個(gè)虛設(shè)電極37。類似于觸摸檢測電極TDL，每個(gè)虛設(shè)電極37由ITO組成。虛設(shè)電極37也設(shè)置為與像素Pix相對應(yīng)。具體地，在圖8中，虛設(shè)電極37被配置為圖中的橫向相鄰虛設(shè)電極37 間的間隙對應(yīng)于像素Pix中藍(lán)色(B)子像素SPix。此外，虛設(shè)電極37被配置為圖中的縱向相鄰虛設(shè)電極37間的間隙對應(yīng)于像素Pix的邊界。以此方式，虛設(shè)電極37也以像素Pix 的周期來形成。如同單位晶胞UC，期望虛設(shè)電極37具有人眼不可見的大小，例如期望等于或小于500 μ m。每個(gè)虛設(shè)電極37都不與其他部分電連接，并且處于浮接狀態(tài)。觸摸檢測電極TDL中的開口部分36A和橫向相鄰虛設(shè)電極37間的間隙配置成與藍(lán)色⑶子像素SPix相對應(yīng)的原因在于，在紅色(R)、綠色(G)和藍(lán)色⑶之間，電極在藍(lán)色(B)中的光透過率是最低的。換句話說，通過在開口部分36A或虛設(shè)電極37間的間隙中配置藍(lán)色子像素SPix，在這些電極中藍(lán)色光強(qiáng)度被降低，從而阻止了白色的色度變成黃色。圖9A示出了觸摸檢測電極TDL的單位晶胞UC的構(gòu)造示例，圖9B示出了虛設(shè)電極 37的構(gòu)造示例。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置1中，圖9A中所示的觸摸檢測電極TDL的單位晶胞UC中配置有電極的部分的面積(陰影線部分)近似等于圖9B中所示的虛設(shè)電極 37的面積(陰影線部分)。換句話說，觸摸檢測電極TDL的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中虛設(shè)電極的配置面積率。在該情形下，子像素SPix對應(yīng)于本公開的“顯示元件”的具體示例。開口部分36A和36B對應(yīng)于本公開的“開口部分”的具體示例。單位晶胞UC對應(yīng)于本公開的“檢測電極單位晶胞”的具體示例。像素Pix對應(yīng)于本公開的“顯示像素”的具體示例。掃描信號線 GCL對應(yīng)于本公開的“選擇線”的具體示例。[作用和效果]接著，將描述根據(jù)該實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1的作用和效果。(整體操作概述)控制部11基于從外部供給的影像信號Vdisp向柵極驅(qū)動(dòng)器12、源極驅(qū)動(dòng)器13、驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14和觸摸檢測電路40提供控制信號，并且控制這些部分以使彼此同步運(yùn)作。 柵極驅(qū)動(dòng)器12將掃描信號Vscan提供給液晶顯示部20，以順次選擇要被驅(qū)動(dòng)的一條水平線以進(jìn)行顯示。源極驅(qū)動(dòng)器13將像素信號Vpix提供給構(gòu)成由柵極驅(qū)動(dòng)器12所選擇的一條水平線的各個(gè)像素Pix。驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器14向驅(qū)動(dòng)電極COML順次施加驅(qū)動(dòng)信號Vcom。具有觸摸檢測功能的顯示部10執(zhí)行顯示操作，并且基于驅(qū)動(dòng)信號Vcom執(zhí)行觸摸檢測操作，以從觸摸檢測電極TDL輸出觸摸檢測信號Vdet。觸摸檢測電路40確定對觸摸檢測部30的觸摸的事件的存在和觸摸坐標(biāo)，并且將該結(jié)果作為輸出信號Out輸出。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置1中，觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極被形成為觸摸檢測電極TDL中的每單位晶胞UC(像素Pix)的電極面積近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中每單位晶胞UC的電極面積。因此，在光從外部入射的情形下，觸摸檢測電極TDL中的反射率具有接近于檢測電極間區(qū)域Rd中的反射率的值，使得幾乎察看不到觸摸檢測電極TDL， 因此改善了顯示畫面的可視性。下文中，將對其細(xì)節(jié)進(jìn)行描述。(反射率)圖IOA和圖IOB示意地示出了反射率的測量，其中圖IOA示出了觸摸檢測電極TDL 中的測量，而圖IOB示出了檢測電極間區(qū)域Rd中的測量。在這些測量中，光照射到觸摸檢測電極TDL和檢測電極間區(qū)域Rd中的每一個(gè)，并且在這時(shí)確定直徑為600 μ m的圓的范圍 (測量區(qū)域M)中的每個(gè)反射率。然后，通過將檢測電極間區(qū)域Rd中的反射率除以觸摸檢測電極TDL中的反射率獲得反射率比Rref。從定義中顯而易見的是，這意味著反射率比Rref 越接近100%，檢測電極間區(qū)域Rd中的反射率越接近觸摸檢測電極TDL中的反射率。換句話說，隨著反射率比Rref接近100%，即使從外部入射光時(shí)，也幾乎察看不到觸摸檢測電極 TDL?？紤]光的反射不僅由電極的上面(例如，圖9A和圖9B中的陰影線部分)貢獻(xiàn)，還由電極的側(cè)面(例如，圖9A和9B中的邊緣部分E)貢獻(xiàn)的情形。因此，采出陰影線部分的面積(電極面積幻與邊緣部分E的總長度(電極邊緣長度LE)彼此不同的多個(gè)樣品，并且測量每個(gè)樣品的反射率比Rref。圖IlA和圖IlB示出了反射率比Rref的測量結(jié)果，其中圖IlA示出了對電極面積比RS的依賴性，而圖IlB示出了對電極邊緣長度比RLE的依賴性。在該情形下，通過將檢測電極間區(qū)域Rd中每單位晶胞UC(像素Pix)的電極面積除以觸摸檢測電極TDL中每單位晶胞UC的電極面積來獲得電極面積比RS。另外，通過將檢測電極間區(qū)域Rd中每單位晶胞 UC(像素Pix)的電極邊緣長度除以觸摸檢測電極TDL中每單位晶胞UC的電極邊緣長度來獲得電極邊緣長度比RLE。如圖IlA中所示，反射率比Rref具有與電極面積比RS強(qiáng)的相關(guān)性，并且電極面積比RS越大，反射率比Rref越大。此外，如圖IlB中所示，反射率比Rref具有與電極邊緣長度比RLE弱的相關(guān)性，并且電極邊緣長度比RLE越大，反射率比Rref越大。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置1中，關(guān)注的是反射率比Rref與電極面積比RS 之間的強(qiáng)的相關(guān)性，并且觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37被形成為觸摸檢測電極TDL中每單位晶胞UC(像素Pix)的電極面積近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中每單位晶胞UC的電極面積。這可通過在觸摸檢測電極TDL中設(shè)置開口部分36來實(shí)現(xiàn)。具體地，例如，將開口部分36A的開口寬度Wa和開口部分36B的開口寬度Wb調(diào)整為寬于相鄰虛設(shè)電極37間的距離，因此觸摸檢測電極TDL中每單位晶胞UC (像素Pix)的電極面積近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中每單位晶胞UC的電極面積。因此，觸摸檢測電極TDL中的反射率可設(shè)定為接近檢測電極間區(qū)域Rd中的反射率的值。因此，即使當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，也幾乎察看不到觸摸檢測電極TDL，并且可改善顯示畫面的可視性。另外，如圖5所示，偏光板35形成在具有觸摸檢測功能的顯示裝置1的顯示面。因此，可減少來自觸摸檢測電極TDL或虛設(shè)電極37的反射光本身，由此幾乎察看不到觸摸檢測電極TDL。盡管稍后將參照圖9詳細(xì)描述示例，但是允許電極面積比RS接近100 %，因此反射率比Rref可接近100%。因此，確認(rèn)的是即使從光外部進(jìn)入，也能夠改善顯示畫面的可視性。(對準(zhǔn)標(biāo)記)如圖8中所示，在具有觸摸檢測功能的顯示裝置1中，開口部分36和虛設(shè)電極37 被配置為與像素Pix相對應(yīng)。這意味著，當(dāng)觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37在相對基板3 上形成時(shí)，與像素Pix對準(zhǔn)是必要的。下文中，將詳細(xì)描述進(jìn)行對準(zhǔn)所使用的對準(zhǔn)標(biāo)記。在制造具有觸摸檢測功能的顯示裝置1的過程中，例如，在制造像素基板的步驟中制造的大的像素基板102和在制造相對基板的步驟中制造的大的相對基板103相互重疊，根據(jù)需要通過打磨或蝕刻減小重疊的玻璃的厚度，然后在相對基板103上形成觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37。在形成這些電極等之后，切割重疊的大的基板，將各種組件附接到各切斷的基板，并且組裝具有觸摸檢測功能的顯示裝置1。在制造過程的示例中，觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37在大的像素基板102和大的相對基板103重疊之后形成。因此用于形成電極的對準(zhǔn)標(biāo)記可以是在制造像素基板的步驟中所使用的對準(zhǔn)標(biāo)記，或可以是在制造相對基板的步驟中所使用的對準(zhǔn)標(biāo)記。圖12A示出了大的像素基板102的對準(zhǔn)標(biāo)記的示例，而圖12B示出了大的相對基板103的對準(zhǔn)標(biāo)記的示例。圖12A中所示的大的像素基板102的對準(zhǔn)標(biāo)記用于在TFT基板 21上形成TFT元件Tr、像素電極22、像素信號線SGL、掃描信號線GCL等，或者用于在制造像素基板的步驟中對它們進(jìn)行檢查。圖12B中所示的大的相對基板103的對準(zhǔn)標(biāo)記用于在玻璃基板31上形成彩色濾光片32、驅(qū)動(dòng)電極COML等，或者用于在制造相對基板的步驟中對它們進(jìn)行檢查。為了在形成觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37時(shí)使用對準(zhǔn)標(biāo)記，在將大的像素基板 102和大的相對基板103重疊時(shí)，需要從外部檢測對準(zhǔn)標(biāo)記。具體地，例如，在圖12A中所示的大的像素基板102的對準(zhǔn)標(biāo)記Al用于形成觸摸檢測電極TDL等的情形下，在大的相對基板103上與對準(zhǔn)標(biāo)記Al的位置相對應(yīng)的位置處必要的是不設(shè)置圖案。另外，例如，在圖
112B中所示的大的相對基板103的對準(zhǔn)標(biāo)記A2用于形成觸摸檢測電極TDL等的情形下，在大的像素基板102上與對準(zhǔn)標(biāo)記A2的位置相對應(yīng)的位置處，必要的是不設(shè)置圖案。以此方式，即使大的像素基板102和大的相對基板103重疊，也檢測到用于形成觸摸檢測電極TDL 的對準(zhǔn)標(biāo)記(例如，對準(zhǔn)標(biāo)記Al和k2~)，因此可防止裝置的錯(cuò)誤識別和讀取錯(cuò)誤。盡管在上面描述中，觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37在大的像素基板102和大的相對基板103重疊之后形成，但這并非是限定性的?？商鎿Q地，例如，在制造相對基板的步驟中將觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37形成在大的相對基板上之后，可將大的像素基板 102和大的相對基板103重疊。在該情形下，例如，在制造相對基板的步驟中，觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37可在形成彩色濾光片的相對基板圖案等之后形成，或者相對基板圖案可在形成觸摸檢測電極TDL和虛設(shè)電極37之后形成。在該情形下，在制造相對基板的步驟中，利用大的相對基板的對準(zhǔn)標(biāo)記來形成觸摸檢測電極TDL等。(效果)在如上所述的實(shí)施方式中，在觸摸檢測電極中設(shè)置開口部分。因此，觸摸檢測電極TDL中每單位晶胞UC(像素Pix)的電極面積近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中每單位晶胞 UC(像素Pix)的電極面積。另外，各區(qū)域的反射率彼此近似相等，因此即使當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，也可改善顯示畫面的可視性。在該實(shí)施方式中，觸摸檢測電極的一些開口部分配置在與掃描信號線相對應(yīng)的位置處，使得可減小由開口部分引起的亮度變化的影響。在該實(shí)施方式中，觸摸檢測電極的一些開口部分設(shè)置在藍(lán)色子像素區(qū)域中，使得可抑制觸摸檢測電極中由藍(lán)色光強(qiáng)度的減弱引起的白色的色移。在該實(shí)施方式中，制造像素基板和相對基板所使用的對準(zhǔn)標(biāo)記通常用于形成觸摸檢測電極和虛設(shè)電極，使得以高精度調(diào)整像素的位置和觸摸檢測電極的位置。因此，可減小顯示物體的位置和觸摸顯示裝置上的顯示物體時(shí)的觸摸檢測位置之間的間隙，并且可實(shí)現(xiàn)高的位置檢測精度。此外，不需要設(shè)置用于形成觸摸檢測電極和虛設(shè)電極的專用對準(zhǔn)標(biāo)記， 從而使圖案簡單化。[變形例1-1]盡管在上述實(shí)施方式中，虛設(shè)電極以像素Pix的周期形成，但這并不是限定性的。 可替換地，例如，虛設(shè)電極可以以多個(gè)像素Pix的周期來形成。下面的示例是每個(gè)虛設(shè)電極以四個(gè)像素Pix的周期來形成的情形。圖13示出了根據(jù)變形例的具有觸摸檢測功能的顯示裝置IB的虛設(shè)電極37B的構(gòu)造示例。虛設(shè)電極37B具有圖8中相鄰的四個(gè)虛設(shè)電極37彼此連接的形狀。虛設(shè)電極 37B在與圖8中四個(gè)虛設(shè)電極37之間的間隙相對應(yīng)的位置處具有開口部分38和39。類似于虛設(shè)電極37等，期望虛設(shè)電極37B具有人眼察覺不到的大小，并且例如期望等于或小于 500 μ m。同樣在此情形下，例如，開口部分36A的開口寬度Wa和開口部分36B的開口寬度 Wb被調(diào)整為觸摸檢測電極TDL的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中虛設(shè)電極的配置面積率。因此，即使當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，也可改善顯示畫面的可視性。[變形例1-2] 盡管在上述實(shí)施方式中，意指使單位晶胞UC對應(yīng)于像素Pix的大小，但這并不是限定性的。例如，單位晶胞UC可對應(yīng)于多個(gè)像素Pix的大小。具體地，在圖8中，例如，去除圖中縱向配置的兩個(gè)開口部分36B中的任一個(gè)，使得單位晶胞UC可對應(yīng)于兩個(gè)像素Pix 的大小。<3.第二實(shí)施方式〉接下來，將描述根據(jù)本公開第二實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置5。在第二實(shí)施方式中，觸摸檢測電極的開口部分不但基于電極面積還基于電極邊緣長度來形成。 換句話說，具有觸摸檢測功能的顯示裝置5通過使用包括這種開口部分的具有觸摸檢測功能的顯示部50來構(gòu)成。其他構(gòu)造與上述第一實(shí)施方式中的相同(圖4等)。注意，相同的標(biāo)號用于表示與根據(jù)第一實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1的實(shí)質(zhì)上相同的組件，并且適當(dāng)?shù)厥÷云涿枋?。圖14示出了具有觸摸檢測功能的顯示裝置5的觸摸檢測電極TDL2的構(gòu)造示例。 觸摸檢測電極TDL2在配置有像素Pix的顯示區(qū)域Sd中具有開口部分36C、36D和36E。開口部分36C和36D形成在與藍(lán)色(B)子像素SPix相對應(yīng)的部分中，并且開口部分36E配置在與圖中縱向相鄰的像素Pix間的邊界相對應(yīng)的的位置處。圖15A和圖15B是用于說明具有觸摸檢測功能的顯示裝置5中電極面積比RS和電極邊緣長度比RLE的平面圖，其中圖15A示出了觸摸檢測電極TDL2的單位晶胞UC，以及圖15B示出了虛設(shè)電極37。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置5中，類似于根據(jù)上述第一實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1，觸摸檢測電極TDL2中每單位晶胞UC的電極面積(圖15A中陰影線部分)近似等于虛設(shè)電極37的電極面積(圖15B中的陰影線部分)。具體地，例如，開口部分36C和36D中的每一個(gè)的開口寬度Wa和開口部分36E的開口寬度恥被調(diào)整為觸摸檢測電極TDL2中每單位晶胞UC的電極面積近似等于虛設(shè)電極37的電極面積。注意，開口寬度Wa和開口寬度Wb可以彼此相等，或者可以彼此不同。此外，在具有觸摸檢測功能的顯示裝置5中，在圖15中，在觸摸檢測電極TDL2中縱向方向上的電極邊緣長度近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中的電極邊緣長度。具體地，根據(jù)圖15A中電極的左側(cè)的四個(gè)縱向邊緣部ET(縱向方向上的電極邊緣長度)的總長度近似等于根據(jù)圖15B中虛設(shè)電極37的左側(cè)的縱向邊緣部ET的長度。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置5中，觸摸檢測電極TDL2和虛設(shè)電極37被形成為除了每單位晶胞UC(像素Pix)的電極面積之外，觸摸檢測電極TDL2中縱向方向上的電極邊緣長度近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中的電極邊緣長度。因此，觸摸檢測電極TDL2中的反射率可以具有接近檢測電極間區(qū)域Rd中的反射率的值。盡管后面將參照圖19詳細(xì)描述示例，但確認(rèn)的是電極面積比RS和電極邊緣長度比RLE接近100%，使得反射率比Rref接近100%。因此，即使當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，也可改善顯示畫面的可視性。在如上所述的實(shí)施方式中，除了電極面積之外，觸摸檢測電極中縱向方向上的電極邊緣長度近似等于檢測電極間區(qū)域中的電極邊緣長度。因此，通過使每個(gè)區(qū)域中的反射率彼此近似相等，即使當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，也可改善顯示畫面的可視性。其他效果與上述第一實(shí)施方式中的相同。[變形例2]盡管在上述實(shí)施方式中，開口部分被構(gòu)造為縱向方向上的電極邊緣長度在觸摸檢
15測電極和檢測電極間區(qū)域之間相同，但這并不是限制性的。可替換地，例如，開口部分可被配置為橫向方向上的電極邊緣長度相同。下面將描述該示例。圖16示出了根據(jù)該變形例的具有觸摸檢測功能的顯示裝置5B中觸摸檢測電極 TDL2B的示例。觸摸檢測電極TDL2B具有開口部分36F和36G。開口部分36F形成在與藍(lán)色(B)子像素SPix相對應(yīng)的部分中，并且開口部分36G形成在與圖中縱向相鄰的像素Pix 間的邊界相對應(yīng)的位置處。開口部分36F的形狀像字母“I”，由此，其電極邊緣長度在橫向方向上是可調(diào)整的。圖17A和圖17B是用于說明具有觸摸檢測功能的顯示裝置5B的電極面積比RS和電極邊緣長度比RLE的平面圖，其中圖17A示出觸摸檢測電極TDL2B的單位晶胞UC，以及圖 17B示出了虛設(shè)電極37。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置5B中，類似于實(shí)施方式中具有觸摸檢測功能的顯示裝置5，觸摸檢測電極TDL2B中每單位晶胞UC的電極面積(圖17A中陰影線部分)近似等于虛設(shè)電極37的電極面積(圖17B中的陰影線部分)。具體地，例如，開口部分36F的開口寬度Wa和開口部分36G的開口寬度Wb被調(diào)整為電極面積在觸摸檢測電極和檢測電極間區(qū)域之間彼此近似相等。另外，在具有觸摸檢測功能的顯示裝置5B中，在圖17中，觸摸檢測電極TDL2B和檢測電極間區(qū)域Rd之間橫向方向上的電極邊緣長度近似相等。具體地，根據(jù)圖17A中電極的上側(cè)的四個(gè)橫向邊緣部分EY的總長度近似等于根據(jù)圖 17B中虛設(shè)電極37的上側(cè)的橫向邊緣部分EY的長度。<4.第三實(shí)施方式〉接下來，將描述根據(jù)本公開第三實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置7。在第三實(shí)施方式中，觸摸檢測電極的開口部分被構(gòu)造為電極面積和電極邊緣長度在觸摸檢測電極和檢測電極間區(qū)域之間均近似相同。換句話說，具有觸摸檢測功能的顯示裝置7通過使用具有這種開口部分的具有觸摸檢測功能的顯示部70構(gòu)成。其他構(gòu)造與上述第一實(shí)施方式(圖4等)中的相同。注意，相同的標(biāo)號用于表示與根據(jù)第一實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1實(shí)質(zhì)上相同的組件，并且適當(dāng)?shù)厥÷云涿枋?。圖18示出了具有觸摸檢測功能的顯示裝置7的觸摸檢測電極TDL3的構(gòu)造示例。 觸摸檢測電極TDL3在配置有像素Pix的顯示區(qū)域Sd中具有開口部分36H和361。開口部分36H形成在對應(yīng)于藍(lán)色(B)子像素SPix的部分中，并且開口部分361形成在與圖中縱向相鄰的像素Pix間的邊界相對應(yīng)的位置處。開口部分36H具有矩形的框狀，以彼此獨(dú)立地調(diào)整橫向方向上的電極邊緣長度和縱向方向上的電極邊緣長度。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置7中，類似于根據(jù)上述第一實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1，觸摸檢測電極TDL3中每單位晶胞UC的電極面積近似等于虛設(shè)電極 37中的電極面積。具體地，例如，開口部分36H的開口寬度Wa和開口部分361的開口寬度 Wb被調(diào)整為這些電極面積彼此近似相等。而且，在具有觸摸檢測功能的顯示裝置7中，類似于根據(jù)上述第二實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置5和5B，縱向方向上的電極邊緣長度和橫向方向上的電極邊緣長度在觸摸檢測電極TDL3和檢測電極間區(qū)域Rd之間幾乎相同。具體地，在具有觸摸檢測功能的顯示裝置7中，可單獨(dú)地設(shè)定縱向方向上的電極邊緣長度和橫向方向上的電極邊緣長度。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置7中，觸摸檢測電極TDL3和虛設(shè)電極37被形成為每單位晶胞UC(像素Pix)的電極面積以及橫向方向上和縱向方向上的電極邊緣長度在觸摸檢測電極TDL3和檢測電極間區(qū)域Rd之間近似相同。因此，觸摸檢測電極TDL3中的反射率和檢測電極間區(qū)域Rd中的反射率可以彼此接近，并且可改善顯示畫面的可視性。盡管后面將參照圖19詳細(xì)描述該示例，但電極面積比RS和電極邊緣長度比RLE 接近100%，使得反射率比Rref接近100%。因此，確認(rèn)的是，即使光從外部進(jìn)入，也可改善顯示畫面的可視性。如上所述，在實(shí)施方式中，電極面積以及縱向方向上和橫向方向上的電極邊緣長度在觸摸檢測電極和檢測電極間區(qū)域之間近似相等，使得每個(gè)區(qū)域中的反射率彼此近似相等。因此，即使光從外部進(jìn)入時(shí)，也可改善顯示畫面的可視性。其他效果與上述第一實(shí)施方式的相同。<5.示例 >實(shí)驗(yàn)上制造了已描述為第一至第三實(shí)施方式及其變形例的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7，并且執(zhí)行了其的評價(jià)。下面將描述該細(xì)節(jié)。圖19示出了實(shí)驗(yàn)上制造的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7及其評價(jià)結(jié)果。實(shí)驗(yàn)上制造的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7中的每一個(gè)的電極面積比RS和電極邊緣長度比RLE被設(shè)定為如圖19所示的各種值。注意，在所有顯示裝置中每個(gè)電極(觸摸檢測電極和虛設(shè)電極)的厚度都相同。對反射率比Rref、反射可視性和透射可視性的三個(gè)評價(jià)項(xiàng)目執(zhí)行了評價(jià)。在反射可視性的評價(jià)中，執(zhí)行了確定觸摸檢測電極在“太陽光下太陽”、“太陽光下天空”、“熒光燈下熒光燈”以及“熒光下的其他”的四個(gè)條件下是否可見的評價(jià)。在該情形下，“太陽光下太陽”的條件表示在太陽光下太陽光被正反射的情形，“太陽光下天空"的條件表示在太陽光下反射方向是朝著光源(太陽)以外(例如，藍(lán)天)方向的情形，“熒光燈下熒光燈”的條件表示熒光被正反射的情形，“熒光下的其他”的條件表示熒光燈下反射方向是朝著光源(熒光燈)以外的方向的情形。在這些條件的評價(jià)中，從任何方向都察看不到觸摸檢測電極的情形被認(rèn)為是“良好的”，而從所有方向都察看得到觸摸檢測電極的情形被認(rèn)為是“劣質(zhì)的”。此外，從一些方向察看得到觸摸檢測電極而從顯示屏的正面察看不到的情形被認(rèn)為是“可接受的”。此外，在透射可視性的評價(jià)中，執(zhí)行確定觀看顯示畫面時(shí)是否可察看到觸摸檢測電極的評價(jià)。在該評價(jià)中，從任何方向都察看不到觸摸檢測電極的情形被認(rèn)為是“良好的”。在第一至第三實(shí)施方式中所描述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7 中，觸摸檢測電極和虛設(shè)電極被形成為觸摸檢測電極TDL的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域Rd中虛設(shè)電極的配置面積率，并且每個(gè)裝置的電極面積比RS的值接近于100%。另外，在根據(jù)第二和第三實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置5、5B和7，觸摸檢測電極和虛設(shè)電極被形成為電極邊緣長度比RLE的值接近于100 %。具體地，在根據(jù)第三實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置7中，電極邊緣長度比RLE的值非常接近100%。因此，反射率比Rref的值在任何具有觸摸檢測功能的顯示裝置中都接近100%。在反射可視性的測量結(jié)果中，盡管觀察到微小的差異，但實(shí)質(zhì)上在任何具有觸摸檢測功能的顯示裝置中都獲得良好的特性。具體地，在根據(jù)第三實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置7中，在“太陽光下太陽，，和“熒光燈下熒光燈”的條件下，獲得比其他顯示裝置在其他條件下更好的特性。
如圖19所示，為了獲得良好的反射可視性，期望電極面積比RS設(shè)定在98%到 102%的范圍內(nèi)。優(yōu)選地，電極面積比RS設(shè)定在99%到101%的范圍內(nèi)。而且，為了確認(rèn)具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7的效果，實(shí)驗(yàn)上制造一些具有觸摸檢測功能的顯示裝置(比較例1到4)。根據(jù)比較例的具有觸摸檢測功能的顯示裝置都具有與根據(jù)第一實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1 (圖8)相同的開口部分36。然而，在比較例中，與具有觸摸檢測功能的顯示裝置1不同的是，如圖19所示，開口部分36的寬度等于相鄰虛設(shè)電極37之間的距離，因此電極面積比RS不接近于100%，并且反射率比Rref也不接近于100%。因此，作為根據(jù)比較例的反射可視性的測量結(jié)果，如圖 19所示，獲得了比根據(jù)上述實(shí)施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7低劣的特性。注意，對于透射可視性，在第一至第三實(shí)施方式中所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置1、1B、5、5B和7和根據(jù)比較例(比較例1至4)的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的任一個(gè)中，都獲得良好的特性。<6.應(yīng)用例〉接下來，將參考圖20至圖24G描述實(shí)施方式和變形例中所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的應(yīng)用例。上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置可應(yīng)用于任何領(lǐng)域中的電子單元，例如電視機(jī)、數(shù)字照相機(jī)、筆記本個(gè)人計(jì)算機(jī)、諸如移動(dòng)電話的便攜式終端設(shè)備和攝像機(jī)。換句話說，上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置可應(yīng)用于各種領(lǐng)域中用于將從外部輸入的影像信號或內(nèi)部產(chǎn)生的影像信號顯示為圖像或影像的電子單兀。(應(yīng)用例1)圖20示出了應(yīng)用上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的電視的外觀。該電視具有例如包括前面板511和濾光片玻璃512的影像顯示畫面部510。影像顯示畫面部510由根據(jù)上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構(gòu)成。(應(yīng)用例2)圖21A和圖21B示出應(yīng)用上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的數(shù)字照相機(jī)的外觀。數(shù)字照相機(jī)具有例如用于閃光的發(fā)光部521、顯示部522、菜單切換523和快門按鈕524。顯示部522由根據(jù)上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構(gòu)成。(應(yīng)用例3)圖22示出了應(yīng)用上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的筆記本個(gè)人計(jì)算機(jī)的外觀。筆記本個(gè)人計(jì)算機(jī)具有例如主體531、用于輸入字符等的操作的鍵盤532及用于顯示圖像的顯示部533。顯示部533由根據(jù)上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構(gòu)成。(應(yīng)用例4)圖23示出了應(yīng)用上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的攝像機(jī)的外觀。攝像機(jī)具有例如主體Ml、用于對設(shè)置在主體MI的前方側(cè)面的物體進(jìn)行攝像的透鏡 M2、攝像開始/停止開關(guān)543和顯示部M4。此外，顯示部M4由根據(jù)上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構(gòu)成。(應(yīng)用例5)
圖24A至圖24G示出了應(yīng)用上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的移動(dòng)電話的外觀。在移動(dòng)電話中，例如，上側(cè)殼體710和下側(cè)殼體720通過接合部(鉸鏈部件)730接合。移動(dòng)電話具有顯示器740、副顯示器750、閃光燈(picture light) 760和照相機(jī)770。顯示器740或副顯示器750由根據(jù)上述實(shí)施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構(gòu)成。上文中，盡管已參照幾個(gè)實(shí)施方式、變形例、示例和應(yīng)用至電子單元的應(yīng)用例描述了本公開，但是本公開并不局限于此，并且可進(jìn)行多種變形。例如，盡管在上述實(shí)施方式等中，在玻璃基板31和觸摸檢測電極TDL之間形成透光層33，但這并不是是限定性的?？商鎿Q地，透光層33可設(shè)置在觸摸檢測電極TDL上，如圖 25所示。例如，盡管在上述實(shí)施方式等中，設(shè)置有透光層33，但這并不是限定性的，并且可替換地，可省略透光層33。例如，盡管在上述實(shí)施方式等中，觸摸檢測電極的配置面積率和虛設(shè)電極的配置面積率彼此近似相等，但這并不是限定性的?？商鎿Q地，每單位面積的開口部分的所有邊的總長度和每單位面積的虛設(shè)電極的所有邊的總長度可彼此近似相等。在該情形下，觸摸檢測電極中的反射率可近似等于虛設(shè)電極中的反射率，因此，即使當(dāng)光從外部進(jìn)入時(shí)，可抑制由觸摸檢測電極引起的顯示畫面可視性的劣化。例如，在上述實(shí)施方式等中，具有觸摸檢測功能的顯示部10通過使用諸如TN、VA 和ECB的各種模式下的液晶將觸摸檢測部30和液晶顯示部20 —體化來構(gòu)成?？商鎿Q地，可使用諸如FFS (邊緣場切換)和IPS (面內(nèi)切換)的橫向電場模式下的液晶將觸摸檢測部和液晶顯示部一體化。例如，在使用橫向電場模式下的液晶的情形下，具有觸摸檢測功能的顯示部90可構(gòu)造為如圖沈所示。圖沈示出了具有觸摸檢測功能的顯示部90中重要部分的橫截面構(gòu)造的示例，并且示出了液晶層6B夾在像素基板2B和相對基板:3B之間的狀態(tài)。由于其他部分的名稱、功能等與圖5的情形相同，所以省略其描述。在該示例中，與圖5的情形不同的是，通常用于顯示和用于觸摸檢測的驅(qū)動(dòng)電極COML直接形成在TFT基板21上，并且構(gòu)成像素基板2B的一部分。像素電極22穿過絕緣層23而配置在驅(qū)動(dòng)電極COML上方。 在該情形下，配置在驅(qū)動(dòng)電極COML和觸摸檢測電極TDL之間的包括液晶層6B的所有電介質(zhì)體都對形成電容元件Cl有貢獻(xiàn)。例如，盡管在上述實(shí)施方式等中，液晶顯示部20和觸摸檢測部30 —體化，但這并不是限定性的?？商鎿Q地，觸摸檢測部(觸摸檢測裝置)可與液晶顯示部分離地構(gòu)造。在該情形下，在觸摸檢測部中，觸摸檢測電極TDL的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域Rd 中虛設(shè)電極的配置面積率，使得各區(qū)域中的反射率彼此近似相等。因此，當(dāng)將該觸摸檢測部安裝在顯示裝置上時(shí)，可改善顯示畫面的可視性。本公開包含于2010年8月23日向日本專利局提交的日本優(yōu)先權(quán)專利申請JP 2010-186197的相關(guān)主題，其全部內(nèi)容通過引證結(jié)合于此。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，根據(jù)設(shè)計(jì)要求和其他因素，可以進(jìn)行各種修改、組合、子組合以及替換，只要它們在所附權(quán)利要求書或其等同物的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種具有觸摸檢測功能的顯示裝置，包含多個(gè)觸摸檢測電極，并行配置成在一個(gè)方向延伸，由包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案形成，并且每個(gè)所述觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號；多個(gè)顯示元件，形成在與設(shè)置有所述觸摸檢測電極的層不同的層中，并且在與所述觸摸檢測電極相對應(yīng)的區(qū)域中在寬度方向上配置預(yù)定數(shù)量的所述顯示元件；以及多個(gè)虛設(shè)電極，配置在多個(gè)所述觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中，其中，所述開口部分被設(shè)置為使所述觸摸檢測電極的配置面積率近似等于所述檢測電極間區(qū)域中所述虛設(shè)電極的配置面積率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述開口部分被設(shè)置為使每單位面積的所述開口部分的所有邊的總長度近似等于每單位面積的所述虛設(shè)電極的所有邊的總長度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述觸摸檢測電極由多個(gè)包括所述開口部分的檢測電極單位晶胞構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述檢測電極間區(qū)域由多個(gè)包括所述虛設(shè)電極的虛設(shè)電極單位晶胞構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述檢測電極單位晶胞和所述虛設(shè)電極單位晶胞中的每一個(gè)的大小等于或小于500平方微米。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述檢測電極單位晶胞的大小與所述虛設(shè)電極單位晶胞的大小相對應(yīng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述檢測電極單位晶胞和所述虛設(shè)電極單位晶胞配置在與各所述顯示元件相對應(yīng)的位置處。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述顯示元件構(gòu)成至少包括紅色顯示元件、綠色顯示元件和藍(lán)色顯示元件的顯示像素，以及所述檢測電極單位晶胞的大小與所述顯示像素的大小或所述顯示像素的大小的整數(shù)倍相對應(yīng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述顯示元件構(gòu)成至少包括紅色顯示元件、綠色顯示元件和藍(lán)色顯示元件的顯示像素，以及所述虛設(shè)電極單位晶胞的大小與所述顯示像素的大小或所述顯示像素的大小的整數(shù)倍相對應(yīng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述開口部分至少配置在與所述紅色顯示元件、所述綠色顯示元件和所述藍(lán)色顯示元件中對所述電極部分具有最低透射率的色光的顯示元件相對應(yīng)的位置處。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述開口部分配置在與所述藍(lán)色顯示元件相對應(yīng)的位置處。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述虛設(shè)電極被設(shè)置為使得在相鄰的所述虛設(shè)電極間的間隙中，在與所述紅色顯示元件、所述綠色顯示元件以及所述藍(lán)色顯示元件的配置方向交叉的方向上延伸的間隙位于與所述藍(lán)色顯示元件相對應(yīng)的位置處。
13.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，進(jìn)一步包含 選擇線，用于選擇執(zhí)行顯示操作的所述顯示元件，其中，所述開口部分配置在與所述選擇線相對應(yīng)的位置處。
14.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述觸摸檢測電極直接形成在用于支撐的玻璃基板上。
15.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述觸摸檢測電極介由透光層形成在用于支撐的玻璃基板上，或者形成于所述玻璃基板與所述透光層之間，以及所述透光層的折射率具有介于所述玻璃基板的折射率和所述觸摸檢測電極的折射率之間的值。
16.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，所述虛設(shè)電極處于電浮接狀態(tài)。
17.一種具有觸摸檢測功能的顯示裝置，包含多個(gè)觸摸檢測電極，并行配置成在一個(gè)方向上延伸，由包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案形成，并且每個(gè)所述觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號；多個(gè)顯示元件，形成在與設(shè)置有所述觸摸檢測電極的層不同的層中，并且在與所述觸摸檢測電極相對應(yīng)的區(qū)域中在寬度方向上配置預(yù)定數(shù)量的所述顯示元件；以及多個(gè)虛設(shè)電極，配置在多個(gè)所述觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中，其中， 所述開口部分被配置為使每單位面積的所述開口部分的所有邊的總長度近似等于每單位面積的所述虛設(shè)電極的所有邊的總長度。
18.一種觸摸檢測裝置，包含多個(gè)觸摸檢測電極，并行配置成在一個(gè)方向上延伸，由包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案形成，并且每個(gè)所述觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號；以及多個(gè)虛設(shè)電極，配置在多個(gè)所述觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中，其中， 所述開口部分被設(shè)置為使所述觸摸檢測電極的配置面積率近似等于所述檢測電極間區(qū)域中所述虛設(shè)電極的配置面積率。
19.一種顯示裝置，包含 多個(gè)檢測電極；多個(gè)顯示元件，設(shè)置在與設(shè)置有所述檢測電極的層不同的層中；以及多個(gè)虛設(shè)電極，設(shè)置在與設(shè)置有所述檢測電極的層相同的層中，其中， 多個(gè)所述檢測電極中的每一個(gè)都具有開口部分。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的顯示裝置，其中，所述開口部分的寬度寬于相鄰的所述虛設(shè)電極之間的間隙的寬度。
全文摘要
本發(fā)明公開了具有觸摸檢測功能的顯示裝置、觸摸檢測裝置及電子單元，其中具有觸摸檢測功能的顯示裝置包括多個(gè)觸摸檢測電極，并行配置成在一個(gè)方向延伸，由包括電極部分和開口部分的預(yù)定電極圖案形成，并且每個(gè)觸摸檢測電極基于響應(yīng)外部接近物體的靜電電容的變化輸出檢測信號；多個(gè)顯示元件，形成于與設(shè)置有觸摸檢測電極的層不同的層中，并且在與觸摸檢測電極相對應(yīng)的區(qū)域中在寬度方向上配置預(yù)定數(shù)量的顯示元件；以及多個(gè)虛設(shè)電極，配置在多個(gè)觸摸檢測電極的檢測電極間區(qū)域中。開口部分被配置為使觸摸檢測電極的配置面積率近似等于檢測電極間區(qū)域中的虛設(shè)電極的配置面積率。
文檔編號G02F1/13GK102375638SQ201110235280
公開日2012年3月14日 申請日期2011年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月23日
發(fā)明者松井靖幸, 池田雅延, 石崎剛司 申請人:索尼公司