專利名稱：一種液晶顯示面板及其修復方法
技術領域：
本發(fā)明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種液晶顯示面板及其修復方法。
背景技術：
目前，由于TFT(Thin Film Transistor,薄膜場效應晶體管)的制程缺陷會導致個別的TFT的內(nèi)部電特性出現(xiàn)異常，從而導致液晶顯示面板出現(xiàn)亮點等點缺陷的現(xiàn)象，影響顯示品質。對液晶顯示面板而言，亮點是一種非常難解決的點缺陷，目前主要的解決方案是采用修復的方法將亮點變成暗點。其中，以垂直配向(Vertical Alignment, VA)型顯示面板為例，主要是將出現(xiàn)亮點的子像素區(qū)域對應的像素電極和存儲電容的公共電極進行短路， 使得出現(xiàn)亮點的子像素區(qū)域中施加在液晶兩端的電壓差為零，由此使得液晶在無電場的情況下不發(fā)生扭轉，保持正常的不透光的“黑色”的狀態(tài)。然而，現(xiàn)有的上述修復方法只可將亮點修復為暗點，無法徹底修復亮點缺陷；并且，對于電極結構的設計較為特殊的面板，例如無需存儲電容的電極設計的顯示面板，現(xiàn)有的修復方法并不適用
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種液晶顯示面板及其修復方法，能夠把液晶顯示面板中的亮點修復為好點，提高顯示品質，并且可適用于無需存儲電容的電極設計的液晶顯示面板。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是提供一種液晶顯示面板，其包括多根數(shù)據(jù)線、與數(shù)據(jù)線相交的掃描線以及由兩相鄰掃描線和兩相鄰數(shù)據(jù)線所限定的多個子像素區(qū)域，每個子像素區(qū)域包括對應的像素電極以及與像素電極電連接的薄膜晶體管，薄膜晶體管的柵極連接一根掃描線，源極連接一根數(shù)據(jù)線，漏極連接對應的像素電極，其中，點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)域電連接，且點缺陷所在的子像素區(qū)域和正常顯示的子像素區(qū)域用于同一顏色的顯示；點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接均斷開。其中，點缺陷所在的子像素區(qū)域和正常顯示的子像素區(qū)域對應的兩個像素電極之間通過金屬條電連接。其中，金屬條的材質為鎢。其中，每相鄰三個分別用于顯示紅色、綠色或藍色的子像素區(qū)域形成一像素區(qū)域，且在每一像素區(qū)域中，三個子像素區(qū)域對應的三個薄膜晶體管的柵極分別連接三條不同的掃描線，且三個薄膜晶體管的源極連接于同一條數(shù)據(jù)線。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的另一個技術方案是提供一種液晶顯示面板的修復方法，其包括以下步驟檢測面板以確定存在點缺陷的子像素區(qū)域；電連接點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)域，其中，正常顯示的子像素區(qū)域和點缺陷所在的子像素區(qū)域用于同一顏色的顯示；斷開出現(xiàn)點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接。其中，通過Array測試機臺檢出點缺陷，上傳點缺陷所在的子像素區(qū)域的坐標，并將面板傳送至激光化學氣相沉積機臺。其中，激光化學氣相沉積機臺利用坐標對點缺陷進行修補，在點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)之間鍍金屬條，以電連接點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)。其中，金屬條的材質為鎢。其中，修補方法進一步包括完成修補后再次進行測試，如果面板中仍存在點缺 陷，則重復上述修補步驟。其中，通過激光切割斷開出現(xiàn)點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管的源極和與其對應的數(shù)據(jù)線之間的連接以及薄膜晶體管的漏極和與其對應的像素電極之間的連接。本發(fā)明的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術的情況，本發(fā)明設置液晶顯示面板中點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的并且同一顏色顯示的子像素區(qū)域電連接，并且該點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接均斷開，本發(fā)明更提供了相應的液晶顯示面板的修復方法，通過上述的液晶顯示面板及其修復方法，使得當出現(xiàn)點缺陷時，該點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管無效，通過相鄰的用于同一顏色顯示且處于正常顯示狀態(tài)的子像素區(qū)域所對應的數(shù)據(jù)線提供所需電壓，以此實現(xiàn)正常顯示，由此能夠使得亮點變成好點，提高液晶顯示面板的顯示品質，并且本發(fā)明的修復方法中，不需借助存儲電容的公共電極來實現(xiàn)亮點的修復，因此可適用于對無需存儲電容的電極設計的液晶顯示面板進行修復。


圖I是本發(fā)明一種液晶顯示面板的第一實施例的局部結構示意圖；圖2是本發(fā)明一種液晶顯示面板的第二實施例的局部結構示意圖；圖3是本發(fā)明一種液晶顯示面板的第三實施例的局部結構示意圖；圖4是本發(fā)明一種液晶顯示面板的修復方法的實施例的流程圖。
具體實施例方式下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進行詳細說明。請參考圖1，圖I是本發(fā)明一種液晶顯示面板的第一實施例的局部結構示意圖，如圖I所示，本發(fā)明的液晶顯示面板100包括多條數(shù)據(jù)線，如圖I中的SI、S2、S3以及S4，與多條數(shù)據(jù)線相交的多條掃描線，如圖I所示的G1、G2以及G3，以及多個子像素區(qū)域，如圖I所示的101-106。本實施例中，兩相鄰數(shù)據(jù)線與兩相鄰掃描線限定一個子像素區(qū)域，例如數(shù)據(jù)線SI、S2分別與掃描線G1、G2相交所圍成的子像素區(qū)域101。由于每個子像素區(qū)域的結構都相同，因此下文僅舉例說明子像素區(qū)域104的結構。具體地，子像素區(qū)域104包括像素電極P14以及薄膜晶體管T4。其中，薄膜晶體管T4的柵極連接掃描線G2，源極連接數(shù)據(jù)線SI、漏極連接像素電極P14并且像素電極P14連接存儲電容C4。因此，掃描線G2為薄膜晶體管T4提供掃描電壓，以使得薄膜晶體管T4導通，數(shù)據(jù)線SI為薄膜晶體管T4提供數(shù)據(jù)電壓，使得薄膜晶體管T4中的像素電極P14顯示相應于該數(shù)據(jù)電壓的灰階，存儲電容C4在薄膜晶體管T4關閉期間存儲像素電極P14的顯示電壓。其中，每相鄰的三個分別用于顯示紅色、綠色或藍色的子像素區(qū)域形成一像素區(qū)域，具體地在本實施例中，沿著掃描線G1、G2以及G3的延伸方向水平間隔設置的三個子像素區(qū)域101、子像素區(qū)域102以及子像素區(qū)域103形成一像素區(qū)域10。其中，子像素區(qū)域101用于顯示紅色(R)、子像素區(qū)域102用于顯示綠色(G)以及子像素區(qū)域103用于顯示藍色(B)，并且，子像素區(qū)域101對應的薄膜晶體管Tl的源極連接數(shù)據(jù)線SI，子像素區(qū)域102對應的薄膜晶體管T2的源極連接數(shù)據(jù)線S2，子像素區(qū)域103對應的薄膜晶體管T3的源極連接數(shù)據(jù)線S3。且薄膜晶體管Tl、T2以及T3的柵極都連接于掃描線G1。
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同理，子像素區(qū)域104、105以及106也形成另一像素區(qū)域(未標示)，其內(nèi)部結構與像素區(qū)域10的相同，在此不再贅述。本實施例中，當子像素區(qū)域中的薄膜晶體管內(nèi)部的電特性異常時會導致液晶顯示面板100出現(xiàn)亮點或者暗點等點缺陷，特別是亮點缺陷對液晶顯示面板100的顯示效果影響很大，因此需要對液晶顯示面板100的結構進行調(diào)整，以使得亮點缺陷變?yōu)楹命c。具體調(diào)整為點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的用于同一顏色的顯示且處于正常顯示狀態(tài)的子像素區(qū)域電連接，同時斷開點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接。例如圖I中點缺陷所在的子像素區(qū)域為子像素區(qū)域101。則子像素區(qū)域101和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)域104電連接，且子像素區(qū)域101和子像素區(qū)域104用于同一顏色R的顯示。其中，子像素區(qū)域101中的薄膜晶體管Tl和數(shù)據(jù)線SI之間的連接斷開，并且薄膜晶體管Tl和像素電極Pll之間的連接也斷開。本實施例中，子像素區(qū)域101和子像素區(qū)域104電連接具體為像素電極Pll和像素電極P14之間通過金屬條El電連接，并且金屬條El的材質優(yōu)選為鎢；同時，沿著如圖I所示的箭頭方向斷開薄膜晶體管Tl的源極與數(shù)據(jù)線SI之間的連接以及薄膜晶體管Tl的漏極與像素電極Pll之間的連接。承前所述，當出現(xiàn)點缺陷時，使得點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管無效，且避免出現(xiàn)薄膜晶體管的柵極與漏極短路的情況時，柵極的電壓直接影響漏極連接的像素電極的電壓，因此在斷開點缺陷所在的子像素區(qū)域對應的數(shù)據(jù)線和薄膜晶體管之間的連接時，同時也斷開該薄膜晶體管的漏極與對應的像素電極之間的連接，以此通過相鄰的用于同一顏色顯示且處于正常顯示狀態(tài)的子像素區(qū)域所對應的數(shù)據(jù)線為點缺陷所在的子像素區(qū)域提供所需的數(shù)據(jù)電壓，由此實現(xiàn)點缺陷所在的子像素區(qū)域101的正常顯示，將亮點缺陷修復為可正常顯示的好點。圖2是本發(fā)明一種液晶顯示面板第二實施例的局部結構示意圖。圖2所示的液晶顯示面板200與圖I所示的實施例中的液晶顯示面板100的主要不同之處在于，圖2所示的液晶顯示面板200省去了存儲電容的結構。具體而言,請參閱圖2所示,液晶顯示面板200中分別用于顯示紅色(R)、綠色(G)以及藍色(B)的子像素區(qū)域201、202以及203沿著數(shù)據(jù)線S I的方向間隔排列以形成一像素區(qū)域20。其中，子像素區(qū)域201中的薄膜晶體管T21的柵極連接掃描線G1，子像素區(qū)域202中的薄膜晶體管T22的柵極連接掃描線G2，子像素區(qū)域203中的薄膜晶體管T23的柵極連接掃描線G3，薄膜晶體管T21、T22以及T23的源極均連接數(shù)據(jù)線SI。采用像素區(qū)域20的結構可減少數(shù)據(jù)芯片的數(shù)量，以1366*768分辨率的液晶顯示面板為例，與圖I中所示的結構相比，本實施例中的液晶顯示面板200的掃描線增加，將變?yōu)?68*RGB=2304根，但相應的數(shù)據(jù)線則減少為三分之一，因此可以減少成本較高的數(shù)據(jù)芯片的數(shù)量，從而降低了成本。同時，為了加快掃描的速度，液晶顯示面板200省去了圖I所示的實施例中的存儲電容，以避免存儲電容對充電時間的影響，因此達到更好的充電效果； 另外，無存儲電容的電極設計可以使得液晶顯示面板200獲得更大的開口率，提高顯示的品質。類似的，以子像素區(qū)域201為點缺陷所在子像素區(qū)域為例進行說明，當存在點缺陷時，同時斷開子像素區(qū)域201對應的數(shù)據(jù)線SI和薄膜晶體管T21之間的連接以及像素電極P21和薄膜晶體管T21之間的連接，電連接子像素區(qū)域201與相鄰的用于同一顏色顯示且處于正常顯示狀態(tài)的子像素區(qū)域204，通過正常顯示的子像素區(qū)域204所對應的數(shù)據(jù)線S2為子像素區(qū)域201提供所需的數(shù)據(jù)電壓，以此實現(xiàn)子像素區(qū)域201的正常顯示，將亮點缺陷修復為可正常顯示的好點。進一步的，當圖I與圖2所示的液晶顯示面板中相鄰點缺陷所在的子像素區(qū)域的至少一個同色顯示的子像素區(qū)域也存在點缺陷時，則最旁邊的兩個點缺陷所在的子像素區(qū)域分別連接其相鄰的正常顯示且用于同一顏色顯示的子像素區(qū)域。如圖3所示圖3是本發(fā)明液晶顯示面板第三實施例的局部結構示意圖。圖3中的相鄰的兩個用于同一顏色顯示的兩個子像素區(qū)域302和子像素區(qū)域303都存在點缺陷，此時，子像素區(qū)域302中的像素電極P32與相鄰的正常顯示且用于同一顏色顯示的子像素區(qū)域301中的像素電極P31通過金屬條El連接，并且子像素區(qū)域303中的像素電極P33與相鄰的正常顯示且用于同一顏色顯示的子像素區(qū)域304的像素電極P34之間也通過金屬條E2連接。其中，金屬條El和金屬條E2的材質均優(yōu)選為鎢。在本實施例中，如果子像素區(qū)域304也存在點缺陷，則子像素區(qū)域304按照上述的方法繼續(xù)連接其相鄰的正常顯示且用于同一顏色顯示的子像素區(qū)域305，在此不再贅述。請參考圖4，圖4是本發(fā)明液晶顯示面板的修復方法的實施例的流程圖，如圖4所示，本發(fā)明的液晶顯示面板的修復方法包括以下步驟步驟401 :檢測面板以確定存在點缺陷的子像素區(qū)域；步驟402 :電連接點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)，其中，正常顯示的子像素區(qū)域和點缺陷所在的子像素區(qū)域用于同一顏色的顯示；步驟403 :斷開出現(xiàn)點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接；步驟404 :檢測面板是否還存在點缺陷。其中，在步驟401中，首先將液晶顯示面板送到Array (陣列)測試機臺進行檢測，如果液晶顯示面板存在亮點等點缺陷，則Array測試機臺檢測出該點缺陷以及該點缺陷所在的位置，并用坐標表示，繼而上傳該點缺陷所在的子像素區(qū)域的坐標，并將面板傳送至激光化學氣相沉積(Laser Chemical Vapor Depo sition, Laser CVD)機臺。在步驟402中，Laser CVD機臺利用坐標對該點缺陷進行修補，具體為利用化學氣相沉積法在點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)之間鍍金屬條，以電連接該點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)。其中，該金屬條的材質優(yōu)先為鎢。在步驟403中，通過步驟401中檢測出的點缺陷的坐標找到點缺陷的位置，再利用激光切割法斷開該點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管的源極和與其對應的數(shù)據(jù)線之間的連接以及薄膜晶體管的漏極和與其對應的像素電極之間的連接。
其中，還可通過電弧切割法或者等離子弧切割法斷開點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管的源極和與其對應的數(shù)據(jù)線之間的連接以及薄膜晶體管的漏極和與其對應的像素電極之間的連接。目的是把出現(xiàn)點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管無效，且避免出現(xiàn)薄膜晶體管的柵極與漏極短路的情況時，柵極的電壓直接影響漏極連接的像素電極的電壓。其中，完成步驟403后進行步驟404，具體為將面板送到Array測試機臺進行測試，以檢測面板是否還存在點缺陷，如果Array測試機臺測試出當前的液晶顯示面板中仍存在點缺陷，則繼續(xù)重復上述步驟402和403的修補步驟，直至檢測結果為液晶顯示面板中無亮點缺陷，則結束。 值得注意的是，在其他實施例中，前述的步驟402和403的執(zhí)行順序可以調(diào)換，即完成步驟401后，可先進行步驟403，再進行步驟402，由此亦可實現(xiàn)相同的效果。此外，本發(fā)明中的前述實施例以修復亮點缺陷為例進行說明，應理解，當液晶顯示面板中存在暗點缺陷時，也可通過相同的修復方式將暗點修復為可進行正常顯示的好點，在此不在贅述。綜上所述，本發(fā)明設置液晶顯示面板中點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的并且同一顏色顯示的子像素區(qū)域電連接，并且該點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接均斷開，本發(fā)明更提供了相應的液晶顯示面板的修復方法，通過上述的液晶顯示面板及其修復方法，使得當出現(xiàn)點缺陷時，該點缺陷所在的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管無效，通過相鄰的用于同一顏色顯示且處于正常顯示狀態(tài)的子像素區(qū)域對應的數(shù)據(jù)線提供所需電壓，以此實現(xiàn)正常顯示，因此能夠使得亮點變成好點，提高液晶顯示面板的顯示品質，并且本發(fā)明的修復方法中，不需借助存儲電容的公共電極來實現(xiàn)亮點的修復，因此可適用于對無需存儲電容的電極設計的液晶顯示面板進行修復。以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
權利要求
1.ー種液晶顯示面板,其包括 多根數(shù)據(jù)線、與所述數(shù)據(jù)線相交的掃描線以及由兩相鄰所述掃描線和兩相鄰所述數(shù)據(jù)線所限定的多個子像素區(qū)域，每個所述子像素區(qū)域包括對應的像素電極以及與所述像素電極電連接的薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極連接一根所述掃描線，源極連接一根所述數(shù)據(jù)線，漏極連接對應的所述像素電極，其特征在于 點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)域電連接，且所述點缺陷所在的子像素區(qū)域和所述正常顯示的子像素區(qū)域用于同一顔色的顯示； 所述點缺陷所在的子像素區(qū)域中的所述薄膜晶體管和與其對應的所述數(shù)據(jù)線以及所述像素電極之間的連接均斷開。
2.根據(jù)權利要求I所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述點缺陷所在的子像素區(qū)域和所述正常顯示的子像素區(qū)域對應的兩個所述像素電極之間通過金屬條電連接。
3.根據(jù)權利要求2所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述金屬條的材質為鎢。
4.根據(jù)權利要求I所述的液晶顯示面板，其特征在于，每相鄰三個分別用于顯示紅色、緑色或藍色的所述子像素區(qū)域形成一像素區(qū)域，且在每一所述像素區(qū)域中，三個所述子像素區(qū)域對應的三個所述薄膜晶體管的柵極分別連接三條不同的所述掃描線，且三個所述薄膜晶體管的源極連接于同一條所述數(shù)據(jù)線。
5.ー種液晶顯示面板的修復方法，其特征在于，包括以下步驟 檢測所述面板以確定存在點缺陷的子像素區(qū)域； 電連接點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)域，其中，所述正常顯示的子像素區(qū)域和所述點缺陷所在的子像素區(qū)域用于同一顔色的顯示； 斷開出現(xiàn)所述點缺陷的子像素區(qū)域中的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接。
6.根據(jù)權利要求5所述的液晶顯示面板的修復方法，其特征在于，通過Array測試機臺檢出點缺陷，上傳所述點缺陷所在的子像素區(qū)域的坐標，并將所述面板傳送至激光化學氣相沉積機臺。
7.根據(jù)權利要求6所述的液晶顯示面板的修復方法，其特征在于，所述激光化學氣相沉積機臺利用所述坐標對所述點缺陷進行修補，在所述點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)之間鍍金屬條，以電連接所述點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的所述正常顯示的子像素區(qū)。
8.根據(jù)權利要求7所述的液晶顯示面板的修復方法，其特征在干，所述金屬條的材質為鎢。
9.根據(jù)權利要求7所述的液晶顯示面板的修復方法，其特征在干，所述修補方法進ー步包括 完成所述修補后再次進行測試，如果所述面板中仍存在所述點缺陷，則重復上述修補步驟。
10.根據(jù)權利要求5所述的液晶顯示面板的修復方法，其特征在于，通過激光切割斷開出現(xiàn)點缺陷的所述子像素區(qū)域中的薄膜晶體管的源極和與其對應的所述數(shù)據(jù)線之間的連接以及所述薄膜晶體管的漏極和與其對應的所述像素電極之間的連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示面板及其修復方法，該液晶顯示面板包括多根數(shù)據(jù)線以及多個子像素區(qū)域，每個子像素區(qū)域包括對應的像素電極以及薄膜晶體管，其中，點缺陷所在的子像素區(qū)域和與其相鄰的正常顯示的子像素區(qū)域電連接，且點缺陷所在的子像素區(qū)域和正常顯示的子像素區(qū)域用于同一顏色的顯示；點缺陷對應的薄膜晶體管和與其對應的數(shù)據(jù)線以及像素電極之間的連接均斷開。通過以上方式，本發(fā)明能夠使亮點變?yōu)楹命c，提高了液晶顯示面板的顯示品質，并且可適用于對無需存儲電容的電極設計的液晶顯示面板進行修復。
文檔編號G02F1/13GK102736341SQ201210237380
公開日2012年10月17日 申請日期2012年7月10日 優(yōu)先權日2012年7月10日
發(fā)明者嚴佩堅, 劉濤, 葉冬, 徐亮, 闕祥燈 申請人:深圳市華星光電技術有限公司