一種用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法，包括：提供一初始共通電壓于每一像素；提供一灰階電壓于每一數(shù)據(jù)線；依次開啟奇數(shù)掃描線，以偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度；依次開啟偶數(shù)掃描線，以偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度；測(cè)量二者的亮度差值；根據(jù)亮度差值，調(diào)整奇數(shù)列像素或偶數(shù)列像素的初始共通電壓，從而降低亮度差值。相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過固定某一數(shù)據(jù)線耦接的一像素的亮度，調(diào)整該數(shù)據(jù)線所耦接的另一像素的共通電壓以變更該另一像素的亮度，從而有效地改善或消除亮暗紋相間的線狀云紋，提升液晶面板的畫面顯示品質(zhì)。
【專利說明】—種用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種液晶面板的控制方法，尤其涉及一種用于改善該液晶面板的豎直云紋(v-line Mura)的控制方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,TFT-1XD)中，TFT的作用相當(dāng)于一個(gè)開關(guān)管。常用的TFT是三端器件。一般在玻璃基板上制作半導(dǎo)體層，在其兩端有和之相連接的源極(Source)和漏極(Drain)，并通過柵極絕緣膜和半導(dǎo)體相對(duì)設(shè)置有柵極，從而利用施加于柵極的電壓來控制源電極和漏電極之間的電流。
[0003]對(duì)于顯示屏來說，每個(gè)像素從結(jié)構(gòu)上可以簡化看作像素電極和共同電極之間夾一層液晶。更重要的是，從電的角度可以把它看作電容。如果要對(duì)像素陣列中的某一行某一列的像素充電，就要將該像素對(duì)應(yīng)的開關(guān)導(dǎo)通，并對(duì)該開關(guān)耦接的信號(hào)線施加目標(biāo)電壓。當(dāng)像素電極被充分地充電后，即使開關(guān)斷開，電容中的電荷也得到保存，像素電極與共通電極間的液晶層分子繼續(xù)有電壓施加場(chǎng)作用。源極驅(qū)動(dòng)器(諸如，列驅(qū)動(dòng)器)的作用是對(duì)信號(hào)線施加目標(biāo)電壓，而柵極驅(qū)動(dòng)器(諸如，行驅(qū)動(dòng)器)的作用是控制開關(guān)的導(dǎo)通和關(guān)斷。由于加在液晶層上的顯示電壓可存儲(chǔ)于各像素的存儲(chǔ)電容，可以使液晶層能穩(wěn)定地工作。這個(gè)顯示電壓通過TFT也可在短時(shí)間內(nèi)重新寫入，因此，即使在高清晰度的LCD中，也能滿足不降低圖像品質(zhì)的要求。
[0004]然而，線狀云紋(Line Mura)的畫面顯示異?，F(xiàn)象往往發(fā)生在小尺寸的液晶面板中，其主要原因?yàn)榧纳娙蓠詈闲?yīng)或PI(Polyimide，聚酰亞胺)取向膜在摩擦?xí)r所產(chǎn)生的PI膜厚不均勻。以HSD (Half Source Driving，源極減半驅(qū)動(dòng))電路架構(gòu)的液晶面板為例，在同一數(shù)據(jù)線的左右兩側(cè)分別耦接有兩個(gè)像素，其中的一個(gè)像素對(duì)應(yīng)的TFT開關(guān)由一掃描線控制，另一個(gè)像素對(duì)應(yīng)的TFT開關(guān)由該掃描線相鄰的另一掃描線控制，當(dāng)兩個(gè)相鄰的像素在被對(duì)應(yīng)的掃描線逐一使能，以分別將圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于相應(yīng)的電容器時(shí)，由于上述寄生電容效應(yīng)會(huì)影響所存儲(chǔ)的圖像數(shù)據(jù)，進(jìn)而造成顯示面板的畫面出現(xiàn)亮度不均勻的情形。此夕卜，對(duì)于整個(gè)顯示面板來說，還會(huì)出現(xiàn)豎直云紋(V-line Mura)的不良現(xiàn)象。
[0005]有鑒于此，如何設(shè)計(jì)一種液晶面板的控制方法，以有效地改善或消除現(xiàn)有液晶面板的豎直云紋，是業(yè)內(nèi)相關(guān)技術(shù)人員亟待解決的一項(xiàng)課題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的液晶面板在畫面顯示時(shí)所存在的上述缺陷，本發(fā)明提供了一種新穎的、可用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法。
[0007]依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法，所述液晶面板包括多條數(shù)據(jù)線、多條掃描線、多個(gè)像素，每一像素位于所述數(shù)據(jù)線和相應(yīng)掃描線的交叉位置，其中該控制方法包括以下步驟:[0008]提供一初始共通電壓于所述多個(gè)像素中的每一像素；
[0009]提供一灰階電壓于所述多條數(shù)據(jù)線的每一數(shù)據(jù)線；
[0010]依次開啟所述多條掃描線的奇數(shù)掃描線，以偵測(cè)所述奇數(shù)列像素的畫面亮度；
[0011]依次開啟所述多條掃描線的偶數(shù)掃描線，以偵測(cè)所述偶數(shù)列像素的畫面亮度；
[0012]測(cè)量所述奇數(shù)列像素的畫面亮度以及所述偶數(shù)列像素的畫面亮度的亮度差值；
[0013]根據(jù)所述亮度差值，調(diào)整所述奇數(shù)列像素或所述偶數(shù)列像素的初始共通電壓，從而降低所述亮度差值。
[0014]在其中的一實(shí)施例,該液晶面板采用HSD (Half Source Driving,源極減半驅(qū)動(dòng))電路架構(gòu)。
[0015]在其中的一實(shí)施例，該灰階電壓對(duì)應(yīng)于O?128的任一灰階值。
[0016]在其中的一實(shí)施例，該控制方法還包括:a)提供一灰階電壓于所述多條數(shù)據(jù)線的任一數(shù)據(jù)線；b)開啟所述多條掃描線的一第一掃描線，以點(diǎn)亮與所述數(shù)據(jù)線和所述第一掃描線相對(duì)應(yīng)的一第一像素；c)開啟與所述第一掃描線相鄰的一第二掃描線，以點(diǎn)亮與所述數(shù)據(jù)線和所述第二掃描線相對(duì)應(yīng)的一第二像素；d)調(diào)節(jié)所述第一像素和所述第二像素對(duì)應(yīng)的共通電壓，直至所述第一像素與所述第二像素的亮度差最小，并選擇當(dāng)前的共通電壓作為所述初始共通電壓。
[0017]在其中的一實(shí)施例，該控制方法還包括:通過一光學(xué)傳感器來測(cè)量所述奇數(shù)列像素的畫面亮度以及所述偶數(shù)列像素的畫面亮度之間的亮度差值。
[0018]在其中的一實(shí)施例，上述調(diào)整所述初始共通電壓的步驟還包括:保持所述偶數(shù)列像素的初始共通電壓不變，調(diào)整所述奇數(shù)列像素的初始共通電壓。優(yōu)選地，調(diào)整后的所述奇數(shù)列像素的共通電壓小于所述偶數(shù)列像素的共通電壓。
[0019]在其中的一實(shí)施例，上述調(diào)整所述初始共通電壓的步驟還包括:保持所述奇數(shù)列像素的初始共通電壓不變，調(diào)整所述偶數(shù)列像素的初始共通電壓。優(yōu)選地，調(diào)整后的所述偶數(shù)列像素的共通電壓大于所述奇數(shù)列像素的共通電壓。
[0020]在其中的一實(shí)施例，該控制方法還包括:記錄每次調(diào)整所對(duì)應(yīng)的亮度差值；選擇亮度差值最小時(shí)的奇數(shù)列像素的共通電壓以及偶數(shù)列像素的共通電壓；以及將所述奇數(shù)列像素的共通電壓與所述偶數(shù)列像素的共通電壓進(jìn)行燒錄。
[0021]采用本發(fā)明的用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法，首先提供一初始共通電壓于每一像素，并提供一灰階電壓于多條數(shù)據(jù)線的每一數(shù)據(jù)線，然后依次開啟多條掃描線的奇數(shù)掃描線，以偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度，依次開啟多條掃描線的偶數(shù)掃描線，以偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度，通過測(cè)量奇數(shù)列像素的畫面亮度以及偶數(shù)列像素的畫面亮度的亮度差值，調(diào)整奇數(shù)列像素或偶數(shù)列像素的初始共通電壓，從而降低亮度差值。相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過固定某一數(shù)據(jù)線耦接的一像素的亮度，調(diào)整該數(shù)據(jù)線所耦接的另一像素的共通電壓以變更該另一像素的亮度，從而有效地改善或消除亮暗紋相間的線狀云紋，提升液晶面板的畫面顯不品質(zhì)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]讀者在參照附圖閱讀了本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】以后，將會(huì)更清楚地了解本發(fā)明的各個(gè)方面。其中，[0023]圖1示出依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶面板的HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)的電路示意圖；
[0024]圖2示出采用本發(fā)明的控制方法來改善液晶面板的豎直云紋的流程框圖；
[0025]圖3示出在圖2的控制方法中，開啟HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)的奇數(shù)掃描線以偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度的狀態(tài)示意圖；
[0026]圖4示出在圖2的控制方法中，開啟HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)的偶數(shù)掃描線以偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度的狀態(tài)示意圖；以及
[0027]圖5示出在圖2的控制方法中得到最優(yōu)初始共通電壓的一具體實(shí)施例的流程框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]為了使本申請(qǐng)所揭示的技術(shù)內(nèi)容更加詳盡與完備，可參照附圖以及本發(fā)明的下述各種具體實(shí)施例，附圖中相同的標(biāo)記代表相同或相似的組件。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，下文中所提供的實(shí)施例并非用來限制本發(fā)明所涵蓋的范圍。此外，附圖僅僅用于示意性地加以說明，并未依照其原尺寸進(jìn)行繪制。
[0029]下面參照附圖，對(duì)本發(fā)明各個(gè)方面的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
[0030]圖1示出依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的液晶面板的HSD (Half Source Driving,源極減半驅(qū)動(dòng))架構(gòu)的電路示意圖。在HSD架構(gòu)的液晶面板中，其主要利用兩相鄰像素(pixel)共享同一數(shù)據(jù)線(data line)來減少驅(qū)動(dòng)該面板時(shí)所需要的數(shù)據(jù)線，進(jìn)而降低生產(chǎn)成本。
[0031]參照?qǐng)D1，該液晶面板包括多條掃描線(scan line)Gl?G5、多條數(shù)據(jù)線SI?S2以及多個(gè)像素單元，每一像素單元位于數(shù)據(jù)線和相應(yīng)掃描線的交叉位置。其中，這些像素單元所構(gòu)成的像素陣列也對(duì)應(yīng)于一薄膜晶體管陣列，具體來說，在圖1的示意性電路架構(gòu)中，第I列包括薄膜晶體管Til、T31和T51，第2列包括薄膜晶體管T22和T42，第3列包括薄膜晶體管T13、T33和Τ53，第4列包括薄膜晶體管Τ24和Τ44，更詳細(xì)地，薄膜晶體管Tll和Τ13由掃描線Gl進(jìn)行控制，薄膜晶體管Τ22和Τ24由掃描線G2進(jìn)行控制，薄膜晶體管Τ31和Τ33由掃描線G3進(jìn)行控制，薄膜晶體管Τ42和Τ44由掃描線G4進(jìn)行控制。此外，根據(jù)奇偶劃分，可將上述第I列和第3列稱為奇數(shù)像素列，將上述第2列和第4列稱為偶數(shù)像素列。
[0032]從上述電路架構(gòu)可知，由奇數(shù)列的掃描線(例如，掃描線Gl)所驅(qū)動(dòng)的像素單元與由相鄰偶數(shù)列的掃描線(例如，掃描線G2)所驅(qū)動(dòng)的像素單元共享同一條數(shù)據(jù)線(例如，數(shù)據(jù)線SI)。由前述【背景技術(shù)】部分可知，由于兩相鄰像素單元共享同一數(shù)據(jù)線，因此，當(dāng)這兩個(gè)相鄰像素單元在被所對(duì)應(yīng)的奇數(shù)列和偶數(shù)列的掃描線逐一使能，以分別將圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于相對(duì)應(yīng)的像素存儲(chǔ)電容時(shí)，便會(huì)產(chǎn)生寄生電容效應(yīng)(parasitic capacitance effect)以影響所存儲(chǔ)的圖像數(shù)據(jù)，進(jìn)而造成顯示面板的畫面出現(xiàn)亮度不均勻的情形。此外，對(duì)于整個(gè)顯示面板來說,就會(huì)出現(xiàn)豎直云紋(V-line Mura)的不良現(xiàn)象。
[0033]為了有效地解決現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷或不足，圖2示出采用本發(fā)明的控制方法來改善液晶面板的豎直云紋的流程框圖。在該控制方法中，首先執(zhí)行步驟SlOl和S103，提供一初始共通電壓于多個(gè)像素中的每一像素，并提供一灰階電壓于這些數(shù)據(jù)線的每一數(shù)據(jù)線。然后，在步驟S105中，依次開啟多條掃描線的奇數(shù)掃描線，以偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度。接著，在步驟S107中，依次開啟多條掃描線的偶數(shù)掃描線，以偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度。接下來，執(zhí)行步驟S109，測(cè)量奇數(shù)列像素的畫面亮度以及偶數(shù)列像素的畫面亮度的亮度差值，最后在步驟Slll中，根據(jù)所測(cè)量的亮度差值，調(diào)整奇數(shù)列像素或偶數(shù)列像素的初始共通電壓，從而降低亮度差值。
[0034]結(jié)合圖1和圖2，采用本發(fā)明的控制方法，于實(shí)際操作時(shí)，首先，提供一初始共通電壓(如Vcom_init)給多個(gè)像素單元中的每一像素,并提供一灰階電壓(如Vgray)于數(shù)據(jù)線SI和S2。然后，依次開啟掃描線Gl和G3且關(guān)閉掃描線G2和G4，以偵測(cè)該奇數(shù)列像素對(duì)應(yīng)于該灰階電壓時(shí)的畫面亮度。接著，依次開啟掃描線G2和G4且關(guān)閉掃描線Gl和G3，以偵測(cè)該偶數(shù)列像素對(duì)應(yīng)于該灰階電壓時(shí)的畫面亮度。通過諸如光學(xué)傳感器來測(cè)量奇數(shù)列像素的畫面亮度以及偶數(shù)列像素的畫面亮度之間的亮度差值，并根據(jù)該亮度差值來調(diào)整奇數(shù)列像素或偶數(shù)列像素的初始共通電壓，如此一來，即可降低二者間的亮度差值，有效地改善豎直云紋現(xiàn)象。
[0035]在一具體實(shí)施例中，該灰階電壓為中低灰階值所對(duì)應(yīng)的電壓數(shù)值，較佳地，該中低灰階值對(duì)應(yīng)于O?128的任一灰階值。
[0036]在一具體實(shí)施例中，該控制方法還包括記錄每次調(diào)整所對(duì)應(yīng)的亮度差值，并選擇亮度差值最小時(shí)的奇數(shù)列像素的共通電壓以及偶數(shù)列像素的共通電壓，最后再將此時(shí)的奇數(shù)列像素的共通電壓與偶數(shù)列像素的共通電壓予以燒錄。
[0037]圖3示出在圖2的控制方法中，開啟HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)的奇數(shù)掃描線以偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度的狀態(tài)示意圖，以及圖4示出在圖2的控制方法中，開啟HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)的偶數(shù)掃描線以偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度的狀態(tài)示意圖。
[0038]圖3 Ca)為原始的HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)，圖3 (b)為HSD驅(qū)動(dòng)奇數(shù)列像素時(shí)的狀態(tài)示意圖。如圖3 (b)所示，在掃描線Gl和數(shù)據(jù)線SI的作用下，對(duì)應(yīng)于薄膜晶體管Tll的像素被點(diǎn)亮。類似地，薄膜晶體管T13對(duì)應(yīng)的像素在掃描線Gl和數(shù)據(jù)線S2的作用下被點(diǎn)亮，薄膜晶體管T31對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G3和數(shù)據(jù)線SI的作用下被點(diǎn)亮，薄膜晶體管T33對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G3和數(shù)據(jù)線S2的作用下被點(diǎn)亮，薄膜晶體管T51對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G5和數(shù)據(jù)線SI的作用下被點(diǎn)亮，薄膜晶體管T53對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G3和數(shù)據(jù)線S2的作用下被點(diǎn)亮，通過諸如光學(xué)傳感器可偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度。
[0039]圖4 Ca)為原始的HSD驅(qū)動(dòng)架構(gòu)，圖4 (b)為HSD驅(qū)動(dòng)偶數(shù)列像素時(shí)的狀態(tài)示意圖。如圖4 (b)所示，在掃描線G2和數(shù)據(jù)線SI的作用下，對(duì)應(yīng)于薄膜晶體管T22的像素被點(diǎn)亮。類似地，薄膜晶體管T24對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G2和數(shù)據(jù)線S2的作用下被點(diǎn)亮，薄膜晶體管T42對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G4和數(shù)據(jù)線SI的作用下被點(diǎn)亮，薄膜晶體管T44對(duì)應(yīng)的像素在掃描線G4和數(shù)據(jù)線S2的作用下被點(diǎn)亮，通過諸如光學(xué)傳感器可偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度。
[0040]由前述可知，在現(xiàn)有的液晶面板中，于相同的灰階電壓和共通電壓的作用下，因存在寄生電容效應(yīng)，液晶面板會(huì)出現(xiàn)明顯的豎直云紋從而降低了畫面顯示品質(zhì)。相比之下，本發(fā)明通過調(diào)整奇數(shù)列或偶數(shù)列所在像素的耦接共通電壓，減小奇數(shù)列像素的畫面亮度與偶數(shù)列像素的畫面亮度之間的亮度差，從而能夠有效地改善或消除該豎直云紋現(xiàn)象。
[0041]在一具體實(shí)施例中，上述調(diào)整初始共通電壓的步驟還包括保持偶數(shù)列像素的初始共通電壓不變，調(diào)整奇數(shù)列像素的初始共通電壓。較佳地，調(diào)整后的奇數(shù)列像素的共通電壓小于偶數(shù)列像素的共通電壓，例如，調(diào)整后的奇數(shù)列像素的共通電壓為3.2V，偶數(shù)列像素的初始共通電壓為3.8V。[0042]在一具體實(shí)施例中，上述調(diào)整初始共通電壓的步驟還包括保持奇數(shù)列像素的初始共通電壓不變，調(diào)整偶數(shù)列像素的初始共通電壓。較佳地，調(diào)整后的偶數(shù)列像素的共通電壓大于奇數(shù)列像素的共通電壓，例如，奇數(shù)列像素的初始共通電壓為3.2V，調(diào)整后的偶數(shù)列像素的共通電壓為3.8V。
[0043]圖5示出在圖2的控制方法中得到最優(yōu)初始共通電壓的一具體實(shí)施例的流程框圖。
[0044]參照?qǐng)D5，為了得到最優(yōu)初始共通電壓，在步驟S201中，提供一灰階電壓于多條數(shù)據(jù)線的任一數(shù)據(jù)線。然后，執(zhí)行步驟S203，開啟多條掃描線的一第一掃描線，以點(diǎn)亮與數(shù)據(jù)線和第一掃描線相對(duì)應(yīng)的一第一像素。接著，在步驟S205中，開啟與第一掃描線相鄰的一第二掃描線，以點(diǎn)亮與數(shù)據(jù)線和第二掃描線相對(duì)應(yīng)的一第二像素。最后，在步驟S207中，調(diào)節(jié)第一像素和第二像素對(duì)應(yīng)的共通電壓，直至第一像素與第二像素的亮度差最小，并選擇當(dāng)前的共通電壓作為初始共通電壓。此時(shí)，由于相鄰的第一像素與第二像素的亮度差最小，該初始共通電壓得以優(yōu)化從而作為改善豎直云紋的共通電壓基準(zhǔn)。
[0045]采用本發(fā)明的用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法，首先提供一初始共通電壓于每一像素，并提供一灰階電壓于多條數(shù)據(jù)線的每一數(shù)據(jù)線，然后依次開啟多條掃描線的奇數(shù)掃描線，以偵測(cè)奇數(shù)列像素的畫面亮度，依次開啟多條掃描線的偶數(shù)掃描線，以偵測(cè)偶數(shù)列像素的畫面亮度，通過測(cè)量奇數(shù)列像素的畫面亮度以及偶數(shù)列像素的畫面亮度的亮度差值，調(diào)整奇數(shù)列像素或偶數(shù)列像素的初始共通電壓，從而降低奇數(shù)列像素與偶數(shù)列像素之間的亮度差值。相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過固定某一數(shù)據(jù)線耦接的一像素的亮度，調(diào)整該數(shù)據(jù)線所耦接的另一像素的共通電壓以變更該另一像素的亮度，從而有效地改善或消除亮暗紋相間的線狀云紋，提升液晶面板的畫面顯示品質(zhì)。
[0046]上文中，參照附圖描述了本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】。但是，本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員能夠理解，在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作各種變更和替換。這些變更和替換都落在本發(fā)明權(quán)利要求書所限定的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于改善液晶面板的豎直云紋的控制方法，所述液晶面板包括多條數(shù)據(jù)線、多條掃描線、多個(gè)像素，每一像素位于所述數(shù)據(jù)線和相應(yīng)掃描線的交叉位置，其特征在于，該控制方法包括以下步驟: 提供一初始共通電壓于所述多個(gè)像素中的每一像素； 提供一灰階電壓于所述多條數(shù)據(jù)線的每一數(shù)據(jù)線； 依次開啟所述多條掃描線的奇數(shù)掃描線，以偵測(cè)所述奇數(shù)列像素的畫面亮度； 依次開啟所述多條掃描線的偶數(shù)掃描線，以偵測(cè)所述偶數(shù)列像素的畫面亮度； 測(cè)量所述奇數(shù)列像素的畫面亮度以及所述偶數(shù)列像素的畫面亮度的亮度差值； 根據(jù)所述亮度差值，調(diào)整所述奇數(shù)列像素或所述偶數(shù)列像素的初始共通電壓，從而降低所述亮度差值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述液晶面板采用源極減半驅(qū)動(dòng)電路架構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的控制方法，其特征在于，所述灰階電壓對(duì)應(yīng)于O?128的任一灰階值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的控制方法，其特征在于，所述控制方法還包括: a)提供一灰階電壓于所述多條數(shù)據(jù)線的任一數(shù)據(jù)線； b)開啟所述多條掃描線的一第一掃描線，以點(diǎn)亮與所述數(shù)據(jù)線和所述第一掃描線相對(duì)應(yīng)的一第一像素； c)開啟與所述第一掃描線相鄰的一第二掃描線，以點(diǎn)亮與所述數(shù)據(jù)線和所述第二掃描線相對(duì)應(yīng)的一第二像素； d)調(diào)節(jié)所述第一像素和所述第二像素對(duì)應(yīng)的共通電壓，直至所述第一像素與所述第二像素的亮度差最小，并選擇當(dāng)前的共通電壓作為所述初始共通電壓。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述控制方法還包括: 通過一光學(xué)傳感器來測(cè)量所述奇數(shù)列像素的畫面亮度以及所述偶數(shù)列像素的畫面亮度之間的亮度差值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的控制方法，其特征在于，上述調(diào)整所述初始共通電壓的步驟還包括: 保持所述偶數(shù)列像素的初始共通電壓不變，調(diào)整所述奇數(shù)列像素的初始共通電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的控制方法，其特征在于，調(diào)整后的所述奇數(shù)列像素的共通電壓小于所述偶數(shù)列像素的共通電壓。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的控制方法，其特征在于，上述調(diào)整所述初始共通電壓的步驟還包括: 保持所述奇數(shù)列像素的初始共通電壓不變，調(diào)整所述偶數(shù)列像素的初始共通電壓。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的控制方法，其特征在于，調(diào)整后的所述偶數(shù)列像素的共通電壓大于所述奇數(shù)列像素的共通電壓。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述控制方法還包括: 記錄每次調(diào)整所對(duì)應(yīng)的亮度差值； 選擇亮度差值最小時(shí)的奇數(shù)列像素的共通電壓以及偶數(shù)列像素的共通電壓；以及 將所述奇數(shù)列像素的共通電壓與所述偶數(shù)列像素的共通電壓進(jìn)行燒錄。
【文檔編號(hào)】G02F1/133GK103472642SQ201310429912
【公開日】2013年12月25日 申請(qǐng)日期:2013年9月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月18日
【發(fā)明者】曾漢彰, 李忠隆, 柳福源, 陳宜芳, 范大偉, 黃俊諭 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司