一種檢測設(shè)備及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種檢測設(shè)備及方法，其中檢測設(shè)備包括：下固定單元、上固定單元和檢測機(jī)臺(tái)，下固定單元用于固定下偏光片，上固定單元用于固定上偏光片，下固定單元和上固定單元安裝在檢測機(jī)臺(tái)上，待檢測面板置于上偏光片和下偏光片之間，壓合之后上偏光片和/或下偏光片與待檢測面板之間全接觸。通過下固定單元和上固定單元分別固定下偏光片和上偏光片，壓合后實(shí)現(xiàn)全接觸，對上下偏光片中間的待檢測面板，在通入信號(hào)前檢查出待檢測表面上存在的異物類不良，通入信號(hào)后再檢查出其它不良，如亮度不均勻的問題。利用該檢測設(shè)備檢測過程中不會(huì)浪費(fèi)大量的偏光片，可以節(jié)省成本，同時(shí)將存在異物類不良或者是存在亮度不均勻的面板及時(shí)檢測出來。
【專利說明】一種檢測設(shè)備及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種檢測設(shè)備及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在液晶顯示器件的加工過程中，由于Pad區(qū)域空間有限，目前小尺寸產(chǎn)品的接線間隔余量(Pad Pitch Margin)行業(yè)設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)在10?20um之間，而全接觸(Full Contact)設(shè)計(jì)的墊片間距邊緣的尺寸需要在20um以上，可見10?20um墊片間距邊緣無法滿足全接觸設(shè)計(jì)的要求。目前行業(yè)內(nèi)多普遍要求達(dá)到FHD (Full High Definition,全高清)分辨率標(biāo)準(zhǔn)即1920*1080，以10.1英寸與32英寸為例，兩者Pad區(qū)大小差距很大，但所需要布線的數(shù)量一致，故兩者相應(yīng)的線粗細(xì)等存在較大差距。全接觸主要使用Blade與Pad區(qū)走線接觸達(dá)到信號(hào)傳遞的目的，其中Blade是一種高精度的刀片，Pad是顯示屏信號(hào)接入端子，將信號(hào)發(fā)生器所產(chǎn)生的信號(hào)借由一系列的結(jié)構(gòu)，最終通過刀片與信號(hào)接入端子的接觸，導(dǎo)入顯示屏，完成信號(hào)傳遞。全接觸的對位方式為光學(xué)對位，該對位方式本身存在一定量的精度誤差，再加之10.1英寸的走線較細(xì)，故容易出現(xiàn)Blade與線路缺失的狀態(tài)，無法正確傳遞信號(hào)，而32英寸則走線較粗，可以包含此誤差，所以目前行業(yè)內(nèi)對小尺寸產(chǎn)品均采用shorting bar模式進(jìn)行檢測，因此目前行業(yè)內(nèi)普遍使用短接端子(Shorting Bar)設(shè)計(jì)進(jìn)行成盒檢測。但是對于短接端子設(shè)計(jì)方法中，不可避免地存在線阻，在成盒檢測階段無法避免由于線阻帶來的信號(hào)衰減，給產(chǎn)品添加信號(hào)后出現(xiàn)灰度差異，造成無法正確檢出Mura類不良(即面板亮度不均勻)。
[0003]另一個(gè)方面，對于小尺寸產(chǎn)品而言，由于近幾年行業(yè)內(nèi)高PPI (Pixels Per Inch,每英寸的像素?cái)?shù)目)的發(fā)展趨勢，像素(Pixel)越做越小。按照目前行業(yè)內(nèi)的通常做法，在成盒階段對于微粒等異物類不良無法有效將其檢出，而是需要在背光模組進(jìn)行偏光片貼附后才能將其檢出，這樣對于存在異物類不良的面板就造成偏光片資源浪費(fèi)，加大了產(chǎn)業(yè)成本。
[0004]綜上所述，對于小尺寸的液晶屏產(chǎn)品在對盒檢測階段無法將Mura類不良和異物類不良及時(shí)檢測出來，并且檢測過程中浪費(fèi)大量偏光片。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005](一)要解決的技術(shù)問題
[0006]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是如何在不浪費(fèi)偏光片的情況下，及時(shí)將液晶屏產(chǎn)品表面存在的Mura類不良和異物類不良檢測處來。
[0007](二)技術(shù)方案
[0008]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種檢測設(shè)備，包括:下固定單元、上固定單元和檢測機(jī)臺(tái)，所述下固定單元用于固定下偏光片，所述上固定單元用于固定上偏光片，所述下固定單元和所述上固定單元安裝在所述檢測機(jī)臺(tái)上，待檢測面板置于上偏光片和下偏光片之間，壓合之后所述上偏光片和/或所述下偏光片與所述待檢測面板之間全接觸。
[0009]進(jìn)一步地，所述下固定單元包括固定板和第一壓合板，所述固定板上設(shè)置有第一固定槽，用于安裝所述下偏光片，且所述第一壓合板上設(shè)置有觀察窗，所述觀察窗的位置與所述第一固定槽的位置相對應(yīng)。
[0010]進(jìn)一步地，所述固定板和所述第一壓合板之間通過鉸鏈方式連接。
[0011]進(jìn)一步地，所述上固定單元包括第二壓合板，所述第二壓合板上設(shè)置有第二固定槽，用于安裝所述上偏光片，且所述第二固定槽的位置與所述觀察窗和/或所述第一固定槽的位置相對應(yīng)。
[0012]進(jìn)一步地，所述上固定單元還包括短接端子，將所述待檢測面板置于所述第一壓合板和所述第二壓合板之間后，所述短接端子與所述待檢測面板實(shí)現(xiàn)全接觸。
[0013]進(jìn)一步地，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述觀察窗的大小，且所述觀察窗的大小不小于所述待檢測面板的大小。
[0014]進(jìn)一步地，還包括信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)控制器，所述信號(hào)發(fā)生器用于產(chǎn)生并輸入信號(hào)，所述信號(hào)控制器用于控制所述信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生不同的信號(hào)。
[0015]進(jìn)一步地，還包括背光源和背光源控制器，所述背光源包括第一背光源和第二背光源，所述第一背光源用于無信號(hào)輸入時(shí)使用的背光源，所述第二背光源用于有信號(hào)輸入時(shí)使用的背光源，所述背光源控制器根據(jù)是否有信號(hào)輸入控制所述第一背光源和所述第二背光源之間的切換。
[0016]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種基于上述檢測設(shè)備的檢測方法，包括:
[0017]將待檢測面板放置在上固定單元和下固定單元之間；
[0018]通過壓合實(shí)現(xiàn)上偏光片和下偏光片與所述帶檢測面板之間全接觸；
[0019]通入不同的信號(hào)對所述待檢測面板進(jìn)行檢測，根據(jù)檢測結(jié)果檢測出成盒不良的待檢測基板。
[0020]進(jìn)一步地，所述將待檢測面板放置在上固定單元和下固定單元之間具體包括:
[0021]將下偏光片安裝在下固定單元中固定板的第一固定槽中，第一壓合板折合到所述固定板上進(jìn)行壓合；
[0022]將待檢測面板放置在所述下偏光片上；
[0023]將上偏光片安裝在上固定單元中第二壓合板的第二固定槽中，并進(jìn)行壓合。
[0024]進(jìn)一步地，所述第一固定槽的位置對應(yīng)于第一壓合板上觀察窗的位置，所述第一壓合板折合到所述固定板上之后，通過所述觀察窗觀察到所述下偏光片。
[0025]進(jìn)一步地，所述第二固定槽的位置與所述得到觀察窗和所述第一固定槽的位置也相對應(yīng)。
[0026]進(jìn)一步地，所述上固定單元還包括短接端子，將所述待檢測面板置于所述第一壓合板和所述第二壓合板之間后，所述短接端子與所述待檢測面板實(shí)現(xiàn)全接觸。
[0027]進(jìn)一步地，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述觀察窗的大小，且所述觀察窗的大小不小于所述待檢測面板的大小。
[0028]進(jìn)一步地，在所述信號(hào)控制器的控制下，所述信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生不同信號(hào)，并通過通入不同的信號(hào)對待檢測面板進(jìn)行檢測。
[0029]進(jìn)一步地，在不輸入信號(hào)的情況下，打開背光源，通過所述觀察窗檢測出待檢測面板表面的異物類不良；輸入信號(hào)后，打開背光源，通過所述觀察窗檢測出待檢測面板亮度不均勻的不良。
[0030](三)有益效果
[0031]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測設(shè)備及方法，其中檢測設(shè)備包括:下固定單元、上固定單元和檢測機(jī)臺(tái)，下固定單元用于固定下偏光片，上固定單元用于固定上偏光片，下固定單元和上固定單元安裝在檢測機(jī)臺(tái)上，待檢測面板置于上偏光片和下偏光片之間，壓合之后上偏光片和/或下偏光片與待檢測面板之間全接觸。通過下固定單元和上固定單元分別固定下偏光片和上偏光片，壓合后實(shí)現(xiàn)全接觸，對上下偏光片中間的待檢測面板，在通入信號(hào)前檢查出待檢測表面上存在的異物類不良，通入信號(hào)后再檢查出其它不良，如亮度不均勻的問題。利用該檢測設(shè)備檢測過程中不會(huì)浪費(fèi)大量的偏光片，可以節(jié)省成本，同時(shí)將存在異物類不良或者是存在亮度不均勻的面板及時(shí)檢測出來。同時(shí)，本發(fā)明還提供了一種基于上述檢測設(shè)備的檢測方法，實(shí)現(xiàn)對待檢測面板成盒階段存在的異物類不良以及亮度不均勻的問題進(jìn)行及時(shí)檢測。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0032]圖1是本發(fā)明實(shí)施例一中提供的一種檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖2是本發(fā)明實(shí)施例一中提供的下固定單元處于打開狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0034]圖3是本發(fā)明實(shí)施例一中提供的下固定單元處于壓合狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0035]圖4是本發(fā)明實(shí)施例一中提供的上固定單元的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0036]圖5是本發(fā)明實(shí)施例二中提供的一種檢測方法的步驟流程圖；
[0037]圖6是本發(fā)明實(shí)施例二中步驟SI的步驟流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0038]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0039]在面板成盒階段對其進(jìn)行的檢測，主要是根據(jù)光的波動(dòng)特性來實(shí)現(xiàn)的。對于已完成貼附偏光片的面板，通過在面板下方打開背光源進(jìn)行檢測，由于下偏光片對入射光具有起偏作用，面板中的液晶分子在電壓場作用下具有旋光性，入射光經(jīng)過面板中液晶的旋光作用后改變傳播方向從上偏光片傳出，在人眼中形成畫面進(jìn)行不良檢出，可能存在的異物誤判影響只有偏光片表面的異物，所以能夠?qū)愇镱惒涣紮z測出來，并通過擦拭可以排除其影響。
[0040]但是在對盒測試階段，一般基于成本的考慮是不會(huì)在面板上貼附偏光片之后再進(jìn)行檢測的，因?yàn)橐坏z測出面板不合格，則已經(jīng)貼附在面板上的偏光片就作廢了，造成偏光片的浪費(fèi)。所以在對盒測試階段的檢測，一般是手動(dòng)將上下偏光片貼附在白玻璃上，中間放面板進(jìn)行檢測，但是由于貼附了玻璃，導(dǎo)致偏光片無法與面板接觸，存在一定量的間隙，這樣在像素較小時(shí)加上白玻璃造成的透光率下降，這幾厘米的間隙會(huì)導(dǎo)致異物類不良和Mura類不良。另外，貼附過程中存在的偏光片與玻璃中間的微小顆粒以及玻璃與面板之間的微小顆粒，在最終測試時(shí)與面板內(nèi)部的異物類不良現(xiàn)象極為類似，最終導(dǎo)致操作員無法分辨，難以檢出。
[0041]實(shí)施例一[0042]本發(fā)明實(shí)施例一中提供了一種檢測設(shè)備，組成示意圖如圖1所示，具體包括:下固定單元10、上固定單元20和檢測機(jī)臺(tái)，下固定單元10用于固定下偏光片，上固定單元20用于固定上偏光片，下固定單元10和上固定單元20安裝在檢測機(jī)臺(tái)上，待檢測面板置于上偏光片和下偏光片之間，壓合之后上偏光片和/或下偏光片與待檢測面板之間全接觸。
[0043]通過上述檢測設(shè)備，實(shí)現(xiàn)偏光片與待檢測面板之間的全接觸，在通入信號(hào)之前和之后，通過打開背光源實(shí)現(xiàn)被待檢測面板存在的衣物類不良和Mura類不良的實(shí)時(shí)檢測。
[0044]優(yōu)選地，本實(shí)施例中的下固定單元10的結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示，具體包括固定板
11和第一壓合板12,固定板11上設(shè)置有第一固定槽13,用于安裝下偏光片,且第一壓合板12上設(shè)置有觀察窗14，觀察窗14的位置與第一固定槽13的位置相對應(yīng)。通過觀察窗可以看到第一固定槽中安裝的下偏光片。
[0045]進(jìn)一步地，本實(shí)施中的固定板11和第一壓合板12之間通過鉸鏈方式連接。圖2中示出的是第一壓合板打開時(shí)的狀態(tài)，將其壓合到固定板上時(shí)示意圖如圖3所示。壓盒之后只能看到第一壓合板和通過觀察窗看到的下偏光片。
[0046]優(yōu)選地，本實(shí)施中的上固定單元20的結(jié)構(gòu)示意圖如圖4所示，包括第二壓合板21，第二壓合板21上設(shè)置有第二固定槽22，用于安裝上偏光片，且第二固定槽22的位置與觀察窗14和/或第一固定槽13的位置相對應(yīng)。另外，上固定單元20還包括短接端子(在圖4中未示出)，將待檢測面板置于第一壓合板12和第二壓合板21之間后，短接端子與待檢測面板實(shí)現(xiàn)全接觸。
[0047]需要說明的是，本實(shí)施例中的上偏光片和下偏光片的大小不小于觀察窗的大小，且上述觀察窗的大小不小于待檢測面板的大小。另外，上下偏光片的大小不能大于檢測機(jī)臺(tái)的大小。
[0048]進(jìn)一步地，本實(shí)施例中的檢測設(shè)備還包括信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)控制器(圖1中未示出)，信號(hào)發(fā)生器用于產(chǎn)生并輸入信號(hào)，信號(hào)控制器用于控制信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生不同的信號(hào)。
[0049]進(jìn)一步地，本實(shí)施例中的檢測設(shè)備還包括背光源和背光源控制器(圖1中未示出)，背光源包括第一背光源和第二背光源，第一背光源用于無信號(hào)輸入時(shí)使用的背光源，第二背光源用于有信號(hào)輸入時(shí)使用的背光源，背光源控制器根據(jù)是否有信號(hào)輸入控制第一背光源和第二背光源之間的切換。
[0050]本發(fā)明實(shí)施例檢測設(shè)備中的信號(hào)控制器，能夠控制圖形發(fā)生器輸入信號(hào)，在五信號(hào)輸入的狀態(tài)下，檢測出ADS模式的異物類不良和Mura類不良。對于超級邊緣場開關(guān)顯示技術(shù)ADS以及超高透過率超級長邊緣開關(guān)顯示技術(shù)HADS產(chǎn)品，在已貼附偏光片的狀態(tài)下，如果將背光源打開且不加信號(hào)，也就是打開第一背光源，正常狀態(tài)下由于未加信號(hào)，液晶分子不進(jìn)行偏轉(zhuǎn)，則背光源的光源無法透過面板，通過觀察窗觀察的狀態(tài)為全黑。此時(shí)如果面板內(nèi)部有微小顆粒等異物或者取向等工序異常，會(huì)導(dǎo)致液晶的排布出現(xiàn)異常，出現(xiàn)與正常液晶排布不同的亞像素液晶，在未加信號(hào)的狀態(tài)下也會(huì)將背光源光方向發(fā)生改變，觀察窗觀察到的就是該像素有發(fā)亮的現(xiàn)象，從而進(jìn)行不良攔截。需要說明的是，因?yàn)橐壕Х肿优挪籍惓Ｓ袝r(shí)并不明顯，一般將背光源的亮度調(diào)整至正常的兩倍以上方明顯可見，所以需要使用背光源控制器對有信號(hào)和無信號(hào)的兩種狀態(tài)下的背光源進(jìn)行控制，在未添加信號(hào)時(shí)背光源亮度高，而添加信號(hào)時(shí)將其亮度減少，進(jìn)行其他類不良的檢查，本實(shí)施例中是以檢查Mura不良為例進(jìn)行說明的。[0051]綜上所述，通過使用實(shí)施例一提供的檢測設(shè)備，具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0052]1.無需將偏光片貼附在玻璃上，可排除偏光片與玻璃之間的微小顆粒影響；
[0053]2.偏光片更換容易且方便擦拭；
[0054]3.由于去除了白玻璃的影響，更高的透光率可保障，并且偏光片可以緊貼面板表面，實(shí)現(xiàn)全接觸，使得基本能夠達(dá)到與偏光片貼附完成后相同的檢測結(jié)果。
[0055]實(shí)施例二
[0056]本發(fā)明實(shí)施例二提供了一種檢測方法，步驟流程圖如圖5所示，具體包括以下步驟:
[0057]步驟S1、將待檢測面板放置在上固定單元和下固定單元之間。
[0058]步驟S2、通過壓合實(shí)現(xiàn)上偏光片和下偏光片與帶檢測面板之間全接觸。
[0059]步驟S3、通入不同的信號(hào)對待檢測面板進(jìn)行檢測，根據(jù)檢測結(jié)果檢測出成盒不良的待檢測基板。
[0060]基于上述方法，將上偏光片和下偏光片與二者之間的面板進(jìn)行距離為零的壓盒，達(dá)到全接觸的效果，即與偏光片貼附完成之后的效果相同。由于檢測過程中并沒有真正的完成偏光片貼附，因此沒有造成偏光片的浪費(fèi)，還能及時(shí)檢測出面板上存在的異物類不良以及Mura類不良。
[0061]優(yōu)選地，步驟SI中將待檢測面板放置在上固定單元和下固定單元之間的步驟流程圖如圖6所示，具體包括以下步驟:
[0062]步驟S11、將下偏光片安裝在下固定單元中固定板的第一固定槽中，第一壓合板折合到固定板上進(jìn)行壓合。
[0063]步驟S12、將待檢測面板放置在下偏光片上。
[0064]步驟S13、將上偏光片安裝在上固定單元中第二壓合板的第二固定槽中，并進(jìn)行壓
八
口 ο
[0065]其中，第一固定槽的位置對應(yīng)于第一壓合板上觀察窗的位置，第一壓合板折合到固定板上之后，通過觀察窗觀察到下偏光片。并且第二固定槽的位置與得到觀察窗和第一固定槽的位置也相對應(yīng)。
[0066]進(jìn)一步地，本實(shí)施例中的上固定單元除了第二壓合板和第二固定槽之外，還包括短接端子，將待檢測面板置于第一壓合板和第二壓合板之間后，短接端子與待檢測面板實(shí)現(xiàn)全接觸。
[0067]優(yōu)選地,本實(shí)施例中的上偏光片和下偏光片的大小不小于觀察窗的大小,且觀察窗的大小不小于待檢測面板的大小。
[0068]檢測時(shí)，需要在信號(hào)控制器的控制下，信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生不同信號(hào)，并通過通入不同的信號(hào)對待檢測面板進(jìn)行檢測。在不輸入信號(hào)的情況下，打開背光源，通過觀察窗檢測出待檢測面板表面的異物類不良；輸入信號(hào)后，打開背光源，通過觀察窗檢測出待檢測面板亮度不均勻的不良。
[0069]對于上述過程的簡單流程描述如下:
[0070]將下偏光片設(shè)置在固定板上；將第一壓合板翻轉(zhuǎn)，壓合下偏光片；放置待檢測面板；放置第二壓合板以及上偏光片；接入不同的信號(hào)進(jìn)行檢測(包括任何信號(hào)都不接入的情況)。[0071]綜上所述，采用本實(shí)施例提供的檢測方法，在不會(huì)浪費(fèi)大量的偏光片的前提下，對上偏光片和下偏光片進(jìn)行壓合，實(shí)現(xiàn)全接觸，模擬偏光片貼附完成之后的效果，通過背光源以及是否加入信號(hào)實(shí)現(xiàn)對面板的檢測，將存在異物類不良或者是存在亮度不均勻的面板及時(shí)檢測出來。
[0072]以上實(shí)施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對本發(fā)明的限制，有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種檢測設(shè)備，其特征在于，包括:下固定單元、上固定單元和檢測機(jī)臺(tái)，所述下固定單元用于固定下偏光片，所述上固定單元用于固定上偏光片，所述下固定單元和所述上固定單元安裝在所述檢測機(jī)臺(tái)上，待檢測面板置于上偏光片和下偏光片之間，壓合之后所述上偏光片和/或所述下偏光片與所述待檢測面板之間全接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述下固定單元包括固定板和第一壓合板，所述固定板上設(shè)置有第一固定槽，用于安裝所述下偏光片，且所述第一壓合板上設(shè)置有觀察窗，所述觀察窗的位置與所述第一固定槽的位置相對應(yīng)。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述固定板和所述第一壓合板之間通過鉸鏈方式連接。
4.如權(quán)利要求2所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述上固定單元包括第二壓合板，所述第二壓合板上設(shè)置有第 二固定槽，用于安裝所述上偏光片，且所述第二固定槽的位置與所述觀察窗和/或所述第一固定槽的位置相對應(yīng)。
5.如權(quán)利要求4所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述上固定單元還包括短接端子，將所述待檢測面板置于所述第一壓合板和所述第二壓合板之間后，所述短接端子與所述待檢測面板實(shí)現(xiàn)全接觸。
6.如權(quán)利要求2所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述觀察窗的大小，且所述觀察窗的大小不小于所述待檢測面板的大小。
7.如權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的檢測設(shè)備，其特征在于，還包括信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)控制器，所述信號(hào)發(fā)生器用于產(chǎn)生并輸入信號(hào)，所述信號(hào)控制器用于控制所述信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生不同的信號(hào)。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測設(shè)備，其特征在于，還包括背光源和背光源控制器，所述背光源包括第一背光源和第二背光源，所述第一背光源用于無信號(hào)輸入時(shí)使用的背光源，所述第二背光源用于有信號(hào)輸入時(shí)使用的背光源，所述背光源控制器根據(jù)是否有信號(hào)輸入控制所述第一背光源和所述第二背光源之間的切換。
9.一種基于權(quán)利要求1-8所述的檢測設(shè)備的檢測方法，其特征在于，包括: 將待檢測面板放置在上固定單元和下固定單元之間； 通過壓合實(shí)現(xiàn)上偏光片和下偏光片與所述帶檢測面板之間全接觸； 通入不同的信號(hào)對所述待檢測面板進(jìn)行檢測，根據(jù)檢測結(jié)果檢測出成盒不良的待檢測基板。
10.如權(quán)利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述將待檢測面板放置在上固定單元和下固定單元之間具體包括: 將下偏光片安裝在下固定單元中固定板的第一固定槽中，第一壓合板折合到所述固定板上進(jìn)行壓合； 將待檢測面板放置在所述下偏光片上； 將上偏光片安裝在上固定單元中第二壓合板的第二固定槽中，并進(jìn)行壓合。
11.如權(quán)利要求10所述的檢測方法，其特征在于，所述第一固定槽的位置對應(yīng)于第一壓合板上觀察窗的位置，所述第一壓合板折合到所述固定板上之后，通過所述觀察窗觀察到所述下偏光片。
12.如權(quán)利要求11所述的檢測方法，其特征在于，所述第二固定槽的位置與所述得到觀察窗和所述第一固定槽的位置也相對應(yīng)。
13.如權(quán)利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述上固定單元還包括短接端子，將所述待檢測面板置于所述第一壓合板和所述第二壓合板之間后，所述短接端子與所述待檢測面板實(shí)現(xiàn)全接觸。
14.如權(quán)利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述觀察窗的大小，且所述觀察窗的大小不小于所述待檢測面板的大小。
15.如權(quán)利要求13所述的檢測方法，其特征在于，在所述信號(hào)控制器的控制下，所述信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生不同信號(hào)，并通過通入不同的信號(hào)對待檢測面板進(jìn)行檢測。
16.如權(quán)利要求11所述的檢測方法，其特征在于，在不輸入信號(hào)的情況下，打開背光源，通過所述觀察窗檢測出待檢測面板表面的異物類不良；輸入信號(hào)后，打開背光源，通過所述觀察窗檢測出待檢測面板亮 度不均勻的不良。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK103558699SQ201310559747
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年11月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月12日
【發(fā)明者】凌杰, 陳霖東, 金用燮, 劉曉濤 申請人:合肥京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司