觸摸檢測裝置、帶觸摸檢測功能的顯示裝置及電子設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種可抑制對象物的檢測精度的降低的觸摸檢測裝置、帶觸摸檢測功能的顯示裝置以及電子設(shè)備。觸摸檢測裝置1包括：驅(qū)動部14，其把在規(guī)定周期內(nèi)至少大小會發(fā)生變化的觸摸檢測用信號TSVcom提供給驅(qū)動電極Tx，以檢測對象物的接近或接觸；觸摸檢測部40，其和與驅(qū)動電極Tx相對的觸摸檢測電極Rx電連接，并根據(jù)觸摸檢測電極Rx的輸出值檢測對象物的接近或接觸；電容器Cref，其電連接驅(qū)動部14與觸摸檢測部40，輸入有來自驅(qū)動部14的觸摸檢測用信號TSVcom，且具有規(guī)定大小的靜電電容。上述觸摸檢測裝置1使用在相同定時(shí)取得的來自電容器Cref的校正輸出值Vref及來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet來校正觸摸檢測信號Vdet。
【專利說明】觸摸檢測裝置、帶觸摸檢測功能的顯示裝置及電子設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及可檢測從外部接近的對象物的觸摸檢測裝置、具備該觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置及電子設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，一種被稱為觸摸面板的、可將從外部接近的物體作為對象物檢測的觸摸檢測裝置受到矚目。觸摸檢測裝置通過例如和顯示裝置組合，并在顯示裝置上顯示出各種輸入用的圖像等，可作為用于輸入信息的裝置使用。通過這樣將觸摸檢測裝置和顯示裝置組合，即便不用鍵盤、鼠標(biāo)或小鍵盤(keypad)這些輸入裝置，也能夠進(jìn)行信息輸入。
[0003]作為觸摸檢測裝置的方式，存在有光學(xué)式、電阻式和靜電電容式等方式。靜電電容式觸摸檢測裝置結(jié)構(gòu)相對簡單，且可實(shí)現(xiàn)低耗電。觸摸檢測裝置要求盡可能可靠地檢測對象物的接近或接觸。例如，在專利文獻(xiàn)I中，記載了不受在操作面上接觸的手指影響的位置上設(shè)置有校正電極和校正檢測電極，從而可校正輸入檢測信號的波動的技術(shù)。
[0004]然而，在專利文獻(xiàn)I記載的技術(shù)中，驅(qū)動電壓在依次施加到多條驅(qū)動線上后，又施加到校正電極上。因此，在對象物的檢測與輸入檢測信號的校正之間，會產(chǎn)生時(shí)間差，結(jié)果導(dǎo)致可能無法可靠地檢測對象物。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0006]專利文獻(xiàn)
[0007]專利文獻(xiàn)1:特開2012-43275號公報(bào)
【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于提供一種能夠抑制對象物的接近或接觸檢測精度的降低的觸摸檢測裝置、帶觸摸檢測功能的顯示裝置以及電子設(shè)備。
[0009]本發(fā)明的觸摸檢測裝置包括:驅(qū)動部，其把至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號提供給第一電極，以檢測對象物的接近或接觸；檢測部，其和與所述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)所述第二電極的輸出值檢測所述對象物的接近或接觸；以及元件，其電連接所述驅(qū)動部與所述檢測部，輸入有來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容，其中，所述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自所述元件的輸出值及來自所述第二電極的輸出值，校正來自所述第二電極的輸出值。
[0010]本發(fā)明涉及的帶觸摸檢測功能的顯示裝置具備觸摸檢測裝置，該觸摸檢測裝置包括:驅(qū)動部，其把至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號提供給第一電極，以檢測對象物的接近或接觸；檢測部，其和與所述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)所述第二電極的輸出值檢測所述對象物的接近或接觸；以及元件，其電連接所述驅(qū)動部與所述檢測部，輸入有來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容，其中，所述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自所述元件的輸出值及來自所述第二電極的輸出值，校正來自所述第二電極的輸出值。[0011]本發(fā)明涉及的電子設(shè)備具備觸摸檢測裝置，該觸摸檢測裝置包括:驅(qū)動部，其把至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號提供給第一電極，以檢測對象物的接近或接觸；檢測部，其和與所述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)所述第二電極的輸出值檢測所述對象物的接近或接觸；以及元件，其電連接所述驅(qū)動部與所述檢測部，輸入有來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容，其中，所述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自所述元件的輸出值及來自所述第二電極的輸出值，校正來自所述第二電極的輸出值。
[0012]根據(jù)本發(fā)明，可提供一種能夠抑制對象物的接近或接觸檢測精度的降低的觸摸檢測裝置、帶觸摸檢測功能的顯示裝置以及電子設(shè)備。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1是示出本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的一個(gè)構(gòu)成例的圖。
[0014]圖2是用于說明靜電電容型觸摸檢測方式的基本原理，表示手指未接觸或接近觸摸檢測裝置的狀態(tài)的說明圖。
[0015]圖3是示出圖2所示的手指未接觸或接近觸摸檢測裝置的狀態(tài)下的等效電路的例子的說明圖。
[0016]圖4是用于對檢測觸摸操作的原理進(jìn)行說明，表示手指接觸或接近觸摸檢測裝置的狀態(tài)的說明圖。
[0017]圖5是示出圖3所示的手指接觸或接近觸摸檢測裝置的狀態(tài)下的等效電路的例子的說明圖。
[0018]圖6是表示觸摸檢測用信號和觸摸檢測信號的波形的一個(gè)例子的圖。
[0019]圖7A是示出校正來自觸摸檢測電極的輸出值的處理的模式圖。
[0020]圖7B是示出校正來自觸摸檢測電極的輸出值的處理的模式圖。
[0021]圖8是示出取得來自觸摸檢測電極及電容器的輸出值的定時(shí)的圖。
[0022]圖9是示出對來自觸摸檢測電極的輸出值不進(jìn)行校正時(shí)的觸摸檢測信號的一個(gè)例子的圖。
[0023]圖10是示出對來自觸摸檢測電極的輸出值進(jìn)行校正后的觸摸檢測信號的一個(gè)例子的圖。
[0024]圖11是用于說明對來自觸摸檢測電極的輸出值進(jìn)行校正的定時(shí)的圖。
[0025]圖12是示出校正觸摸檢測信號的圖。
[0026]圖13A是示出校正用的電路的例子的圖。
[0027]圖13B是示出校正用的電路的例子的圖。
[0028]圖14是示出校正用的電路的例子的圖。
[0029]圖15是示出校正用的電路的例子的圖。
[0030]圖16是圖15所示的校正用的電路的時(shí)序圖。
[0031]圖17是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置的圖。
[0032]圖18是表示具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置的簡要截面構(gòu)造的截面圖。[0033]圖19是表示具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置的像素陣列的電路圖。[0034]圖20是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0035]圖21是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0036]圖22是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0037]圖23是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0038]圖24是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0039]圖25是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0040]圖26是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0041]圖27是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0042]圖28是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0043]圖29是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0044]圖30是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
[0045]圖31是示出具有本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。
【具體實(shí)施方式】
[0046]參照圖面，按如下順序，對用于實(shí)施本發(fā)明的方式(實(shí)施方式)進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0047]1.觸摸檢測裝置
[0048]1-1.整體結(jié)構(gòu)
[0049]1-2.檢測觸摸操作的原理
[0050]1-3.觸摸檢測電極的輸出值的校正
[0051]1-4.校正用的電路的例子
[0052]1-5.關(guān)于電容器的配置
[0053]2.應(yīng)用例
[0054]2-1.帶觸摸檢測功能的顯示裝置
[0055]2-2.電子設(shè)備
[0056]2.本發(fā)明的方式
[0057](1.觸摸檢測裝置〉
[0058](1-1.整體構(gòu)成)
[0059]圖1是示出本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的一個(gè)構(gòu)成例的圖。觸摸檢測裝置I是例如靜電電容式的觸摸面板。觸摸檢測裝置I包括:作為第一電極的驅(qū)動電極TxO、TxU……Τχη、作為第二電極的觸摸檢測電極RxO、Rxl、……RxlO、作為元件的電容器Cref以及作為檢測部的觸摸檢測部40。
[0060]驅(qū)動電極TxO、Tx1、......Txn由在規(guī)定方向(在本說明中，為隨意確定的XY坐標(biāo)的
X方向)上延伸的條紋狀的電極圖案呈多條(η + I條)排列在垂直于規(guī)定方向的方向(本例中為Y方向)上。在本實(shí)施方式中，驅(qū)動電極TxO、Txl、……Txn的數(shù)目并不受限定。在檢測對象物(手指或觸摸筆等)的接近或接觸(以下適當(dāng)?shù)胤Q為觸摸操作)時(shí)，由驅(qū)動部14分別對每個(gè)驅(qū)動電極TxO、TxU……Txn依次發(fā)送觸摸檢測用信號TSVcom。驅(qū)動部14是例如生成觸摸檢測用信號TSVcom的電子電路或IC (積分電路)等。[0061]觸摸檢測用信號TSVcom是在規(guī)定周期內(nèi)至少大小會發(fā)生變化的激勵信號，是用于檢測對象物接近或接觸觸摸檢測裝置I的信號。觸摸檢測用信號TSVcom不僅大小可改
變，方向也可改變。在下文中,在沒有必要區(qū)分每一個(gè)驅(qū)動電極TxO、Txl、......Txn的情況
下，適當(dāng)?shù)胤Q為驅(qū)動電極Tx。
[0062]觸摸檢測電極RxO、Rxl、......RxlO是在和每個(gè)驅(qū)動電極Tx的延伸方向互相垂直
的方向、即Y方向上延伸的條紋狀的電極圖案。觸摸檢測電極RxO、Rx1、......RxlO沒有必
要和每個(gè)驅(qū)動電極Tx互相垂直，也可以交叉。觸摸檢測電極RxO、Rxl、……RxlO的圖案分別電連接到觸摸檢測部40的信號放大部42的輸入部。在本實(shí)施方式中，觸摸檢測電極RxO,RxU……RxlO是十一根，但其數(shù)目不受限定。在下文中，在無需區(qū)分每個(gè)觸摸檢測電極RxO、Rxl、......RxlO的情況下,適當(dāng)?shù)胤Q為觸摸檢測電極Rx。
[0063]驅(qū)動電極Tx和觸摸檢測電極Rx互相交叉的部分(交叉部分)CP0、CP1、……CPlO
分別生成靜電電容CtrO、Ctrl、......CtrlO。由于一根驅(qū)動電極Tx上存在^--個(gè)交叉部
分CP0、CP1、..... .CP10，因此，一根驅(qū)動電極Tx上存在^^一個(gè)靜電電容CtrO、Ctrl、......CtrlO0在下文中，在無需區(qū)分每個(gè)靜電電容Ctr0、Ctrl、......CtrlO的情況下，適當(dāng)?shù)胤Q為
靜電電容Ctr。并且，在無需區(qū)分每個(gè)交叉部分CP0、CP1、……CPlO的情況下，適當(dāng)?shù)胤Q為交叉部分CP。
[0064]觸摸檢測部40根據(jù)由驅(qū)動部14發(fā)送的觸摸檢測用信號TSVcom，依次掃描每個(gè)驅(qū)動電極Tx并檢測觸摸操作。觸摸檢測電極Rx輸出觸摸檢測信號Vdet至每個(gè)驅(qū)動電極Tx，
并發(fā)送到觸摸檢測部40。如圖1所示,在驅(qū)動部14與每個(gè)驅(qū)動電極Tx0、Txl、......Txn之
間，設(shè)置有轉(zhuǎn)換開關(guān)SWD1、SWD2、......SWDn。通過依次將轉(zhuǎn)換開關(guān)SWDl、SWD2、......SWDn
進(jìn)行開關(guān)，控制部11依次對每個(gè)驅(qū)動電極TxO、Txl、……Txn發(fā)送觸摸檢測信號TSVcom。轉(zhuǎn)換開關(guān)SWD1、SWD2、……SWDn可以設(shè)置在驅(qū)動部14內(nèi)，也可以設(shè)置在設(shè)有驅(qū)動電極TxO、TxU……Txn的基板(例如玻璃基板)上。
[0065]觸摸檢測部40根據(jù)由控制部11提供的控制信號和由觸摸檢測裝置I的觸摸檢測電極Rx發(fā)送的觸摸檢測信號Vdet，檢測有無對觸摸檢測裝置I的觸摸操作。然后，在有觸摸操作的情況下，觸摸檢測部40求出在觸摸檢測裝置I的觸摸檢測區(qū)域上的、檢測出觸摸操作的位置的坐標(biāo)等。觸摸檢測部40是例如電子電路或IC等?？刂撇?1是例如控制裝載有觸摸檢測裝置I的顯示裝置或電子設(shè)備等的操作的裝置。
[0066]觸摸檢測部40包括:信號放大部42、A/D(模擬/數(shù)字)轉(zhuǎn)換器43、信號處理部44、坐標(biāo)提取部45及檢測定時(shí)控制部47。信號放大部42放大由觸摸檢測裝置I的觸摸檢測電極Rx發(fā)送的觸摸檢測信號Vdet。信號放大部42也可以具有去除觸摸檢測信號Vdet中所含的高頻率成分(噪聲成分)，提取觸摸成分并分別輸出的低通模擬濾波器。A/D變換部43在和觸摸檢測用信號TSVcom同步的定時(shí)，分別對信號放大部42輸出的模擬信號進(jìn)行采樣，并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。
[0067]信號處理部44具有去除A/D變換部43的輸出信號中所含的噪聲成分，并提取觸摸操作所對應(yīng)的信號的數(shù)字濾波器。該噪聲成分是比對觸摸檢測用信號TSVcom進(jìn)行采樣的頻率更高的高頻成分。信號處理部44根據(jù)例如A/D變換部43的輸出信號，檢測有無對觸摸檢測裝置I的觸摸(例如邏輯電路)。
[0068]當(dāng)在信號處理部44檢測到觸摸操作時(shí)，坐標(biāo)提取部45求出在觸摸檢測裝置I的觸摸檢測區(qū)域上的、檢測到觸摸操作的位置的坐標(biāo)(例如邏輯電路)。檢測定時(shí)控制部47進(jìn)行控制，以使信號放大部42、A/D變換部43、信號處理部44及坐標(biāo)提取部45同步地操作。
[0069]電容器Cref具有規(guī)定大小的靜電電容，使驅(qū)動部14和作為檢測部的觸摸檢測部40電連接。具體而言，電容器Cref—端與驅(qū)動部14的輸出端子電連接，另一端與觸摸檢測部40具有的信號放大部42的輸入端子電連接。在本實(shí)施方式中，電容器Cref被電連接在與驅(qū)動部14和觸摸檢測部40電連接的布線Rxref的中間。電容器Cref中輸入有來自驅(qū)動部14的激勵信號，即觸摸檢測用信號TSVcom。觸摸檢測用信號TSVcom在相同的定時(shí)、SP同步地被輸入到電容器Cref和驅(qū)動電極Tx。具體而言，觸摸檢測用信號TSVcom在相同的定時(shí)被輸入到電容器Cref和驅(qū)動電極TxO中，接著在相同的定時(shí)被輸入到電容器Cref和驅(qū)動電極Txl中，直至驅(qū)動電極Txn，依次同樣地重復(fù)輸入。電容器Cref和驅(qū)動電極TxO?Txn也可以通過轉(zhuǎn)換開關(guān)SWDO?SWDn電連接。以這種方式，當(dāng)使轉(zhuǎn)換開關(guān)SWDO?SWDn中的一個(gè)接通時(shí)，電容器Crefjga電極TxO?Txn中的一個(gè)電極及驅(qū)動部14即被電連接?？梢允闺娙萜鰿ref的靜電電容的大小和例如觸摸檢測裝置I的交叉部分CP的靜電電容Ctr相等。
[0070]由于電容器Cref的一端輸入有來自驅(qū)動部14的觸摸檢測用信號TSVcom，因此，從另一端輸出對應(yīng)于該觸摸檢測用信號TSVcom的輸出值Vref。在下文中，來自該電容器Cref的輸出值Vref被適當(dāng)?shù)胤Q為校正輸出值。
[0071]在本實(shí)施方式中，電容器Cref配置在檢測觸摸檢測裝置I的、與檢測對象物的區(qū)域不同的區(qū)域，具體而言，即是不同于配置有驅(qū)動電極Tx及觸摸檢測電極Rx的區(qū)域。例如，電容器Cref配置在如上所述區(qū)域，接近于觸摸檢測部40。在本實(shí)施方式中，電容器Cref安裝在裝有觸摸檢測部40的基板5上。基板5例如是FPC (柔性印刷電路)。接下來，對作為靜電電容型觸摸面板的觸摸檢測裝置I檢測觸摸操作的原理進(jìn)行說明。
[0072][1-2.檢測觸摸操作的原理]
[0073]圖2是用于說明靜電電容型觸摸檢測方式的基本原理，表示手指未接觸或接近觸摸檢測裝置的狀態(tài)的說明圖。圖3是示出圖2所示的手指未接觸或接近觸摸檢測裝置的狀態(tài)下的等效電路的例子的說明圖。圖4是用于說明檢測觸摸操作的原理，表示手指接觸或接近觸摸檢測裝置后的狀態(tài)的說明圖。圖5是示出手指接觸或接近觸摸檢測裝置后的狀態(tài)下的等效電路的例子的說明圖。圖6是表示觸摸檢測用信號及觸摸檢測信號的波形的一個(gè)例子的圖。
[0074]在本實(shí)施方式中，例如，圖2和圖4所示，觸摸檢測裝置I的交叉部分CP的靜電電容Ctr具備作為夾著電介體D而互相相對配置的一對電極的驅(qū)動電極Tx及觸摸檢測電極Rx。如圖3和圖5所示，靜電電容Ctr的一端連接到驅(qū)動部14，另一端P通過電阻R接地，并電連接到觸摸檢測部40。
[0075]如果由驅(qū)動部14對驅(qū)動電極Tx (靜電電容Ctr的一端)施加規(guī)定頻率(例如,大約幾kHz至幾百kHz)的觸摸檢測用信號TSVcom，則在觸摸檢測電極Rx (靜電電容Ctr的另一端P側(cè))上，會出現(xiàn)作為輸出波形的觸摸檢測信號Vdet。在手指未接觸(或接近)的狀態(tài)下(非接觸狀態(tài))，如圖2和圖3所示，伴隨著對靜電電容Ctr的充放電，會流過對應(yīng)于靜電電容Ctr的電容值的電流Itlt5這時(shí)在靜電電容Ctr的另一端P上的電位波形，例如，會成為如圖6所示的波形Vtl,圖3所示的觸摸檢測部40檢測波形％。[0076]在手指接觸(或接近)后的狀態(tài)(接觸狀態(tài))下，如圖4所示，由手指Fng形成的靜電電容C2恰好作為具有靜電電容的元件附加在靜電電容Ctr上起作用。然后，在圖5所示的等效電路中，靜電電容C2成為串聯(lián)地追加在靜電電容Ctr上的形式。在這種狀態(tài)下，伴隨著對靜電電容Ctr、C2的充放電，靜電電容Ctr、C2上會有電流I1U2流過。這時(shí),靜電電容Ctr的另一端P的電位波形例如成為如圖6的波形V1，觸摸檢測部40檢測波形％。這時(shí)，另一端P的電位成為取決于流過靜電電容Ctr、C2的電流I1U2的值的分壓電位。因此，波形V1成為比非接觸狀態(tài)下的波形Vtl更小的值。觸摸檢測部40將檢測到的電壓和規(guī)定的閾值電壓Vth進(jìn)行比較，如果為該閾值電壓Vth以上，則判定為非接觸狀態(tài)，即、未檢測到觸摸操作。而且，如果檢測到的電壓不足閾值電壓Vth，則觸摸檢測部40判斷為接觸狀態(tài)，S卩、檢測到觸摸操作。以這種方式，觸摸檢測裝置I根據(jù)檢測觸摸操作的原理工作，觸摸檢測電極Rx輸出觸摸檢測信號Vdet。觸摸檢測部40可根據(jù)由觸摸檢測電極Rx輸出的觸摸檢測信號Vdet，檢測觸摸操作。
[0077][1-3.來自觸摸檢測電極的輸出值的校正]
[0078]在觸摸檢測裝置I中，由驅(qū)動部14產(chǎn)生的觸摸檢測用信號TSVcom被提供給驅(qū)動電極Tx，通過由觸摸檢測部40檢測作為來自觸摸檢測電極Rx的輸出值的觸摸檢測信號Vdet的變化，檢測觸摸操作。由于電源的變化或溫度變化，在對象物未接近觸摸檢測裝置I的狀態(tài)下，這種裝置的觸摸檢測信號Vdet可能會發(fā)生預(yù)想不到的變化。
[0079]原有技術(shù)是檢測觸摸檢測信號Vdet的變化的大小和速度，經(jīng)分析后，將結(jié)果反饋到觸摸檢測部40來校正觸摸檢測信號Vdet，但這種方法會使觸摸檢測信號Vdet的校正延遲或發(fā)生偏差，有可能使校正的精度降低。并且，也考慮了采用在檢測對象物的接近或接觸的區(qū)域上配置校正用電極的方法，但這種方法難以區(qū)別因?qū)ο笪锝咏a(chǎn)生的觸摸檢測信號Vdet的變化以及由于其它因素而產(chǎn)生的變化。此外，也考慮了在觸摸檢測部40和驅(qū)動部14使用共同電源的方法，但即便如此，仍然存在難以降低因晶體管的溫度特性等產(chǎn)生的噪聲的問題，另一方面，例如在將觸摸檢測裝置與顯示裝置一體化等情況下，會產(chǎn)生布局等的問題，難以共用電源。
[0080]為了解決這些問題，本實(shí)施方式在驅(qū)動部14和觸摸檢測部40之間設(shè)有電容器Cref,在相同的定時(shí)取得來自電容器Cref的輸出值(校正輸出值Vref)及來自觸摸檢測電極Rx的輸出值(觸摸檢測信號Vdet)，并用這些輸出值校正觸摸檢測電極Rx的輸出值。這種情況下，校正輸出值Vref及觸摸檢測信號Vdet被輸入相同的觸摸檢測部40。
[0081]作為來自電容器Cref的輸出值的校正輸出值Vref的變化，是由于觸摸檢測裝置I所具有的電源的變化、溫度變化及其它變化而導(dǎo)致的變化。這些變化是不依賴于對象物的存在的變化，包括成為校正對象的許多預(yù)想不到的變化。而且，電容器Cref的輸出值(校正輸出值)Vref的檢測可與觸摸檢測裝置I中的對象物檢測同時(shí)進(jìn)行。因此，通過使用校正輸出值Vref，可抑制校正的延遲或偏差，并可靠地校正來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet。接下來，對該校正進(jìn)行更詳細(xì)的說明。
[0082]圖7A、圖7B是示出校正來自觸摸檢測電極的輸出值的處理的模式圖。圖8是示出取得來自觸摸檢測電極及電容器的輸出值的定時(shí)的圖。圖8示出了來自觸摸檢測電極RxO?RxlO的觸摸檢測信號Vdetl、Vdet2、以及來自電容器Cref的校正輸出值Vref。觸摸檢測信號Vdetl是未檢測到觸摸操作時(shí)的信號，觸摸檢測信號Vdet2是檢測到觸摸操作時(shí)的信號。圖8的橫軸表示時(shí)間，多條直線的虛線表示在該定時(shí)每個(gè)AT觸摸檢測部40取得的數(shù)據(jù)。
[0083]圖7A所示的處理，由觸摸檢測裝置I執(zhí)行，更具體而言，由觸摸檢測部40執(zhí)行。如圖7A所示，通過加法器Adl將作為來自觸摸檢測電極Rx的輸出值的觸摸檢測信號Vdet、以及未檢測到觸摸操作時(shí)作為由觸摸檢測電極Rx輸出的輸出值的觸摸檢測信號Vdet_Wot進(jìn)行加法計(jì)算。在本實(shí)施方式中，由于加法器Adl是將觸摸檢測信號Vdet_Wot和乘以-1后的觸摸檢測信號Vdet_Wot進(jìn)行加法計(jì)算，因此，結(jié)果可將兩者的差作為輸出值Vdefb輸出。未檢測到觸摸操作時(shí)的觸摸檢測信號Vdet_Wot，可采用例如將預(yù)先取得的值保存在觸摸檢測部40的存儲部中的值。
[0084]加法器Ad2將來自加法器Adl的輸出值Vdetb和來自加法器Ad3的輸出值Vrefb進(jìn)行加法計(jì)算。在本實(shí)施方式中，由于加法器Ad2將輸出值Vdetb和乘以-1后的輸出值Vrefb進(jìn)行加法計(jì)算，因此，結(jié)果可將兩者的差作為輸出值(校正觸摸檢測信號)Vdetc輸出。來自加法器Ad3的輸出值Vrefb是作為來自電容器Cref的輸出值的校正輸出值Vref和未檢測到觸摸操作時(shí)由電容器Cref輸出的輸出值Vref_Wot之間的差。在本實(shí)施方式中，由于加法器Ad3將校正輸出值Vref和乘以-1后的輸出值Vref_Wot進(jìn)行加法計(jì)算，因此，結(jié)果可將兩者的差作為輸出值Vrdfb輸出。觸摸檢測部40將該輸出值Vdetb和規(guī)定的閾值電壓Vth進(jìn)行比較，并根據(jù)結(jié)果檢測有無觸摸操作。
[0085]接下來，對圖7B所示的處理進(jìn)行說明。該處理也是由觸摸檢測裝置I執(zhí)行，更具體而言，由觸摸檢測部40執(zhí)行。如圖7B所示，加法器Adl將作為來自觸摸檢測電極Rx的輸出值的觸摸檢測信號Vdet和作為來自電容器Cref的輸出值的校正輸出值Vref進(jìn)行加法計(jì)算。在本實(shí)施方式中，由于加法器Adl將觸摸檢測信號Vdet和乘以-1后的校正輸出值Vref進(jìn)行加法計(jì)算，因此，結(jié)果可將兩者的差作為輸出值Vdetb’輸出。
[0086]加法器Ad2將來自加法器Adl的輸出值Vdetb’和來自加法器Ad3的輸出值Vdet_wotb’進(jìn)行加法計(jì)算。在本實(shí)施方式中，由于加法器Ad2將輸出值Vdetb’和乘以-1后的輸出值Vdet_Wotb’進(jìn)行加法計(jì)算，結(jié)果可將兩者的差作為輸出值(校正觸摸檢測信號)Vdetc輸出。來自加法器Ad3的輸出值Vdet_Wotb’，在未檢測到觸摸操作時(shí)，是作為由觸摸檢測電極Rx輸出的輸出值的觸摸檢測信號Vdet_Wot與由電容器Cref輸出的輸出值Vref_Wot之間的差。在本實(shí)施方式中，由于加法器Ad3將Vdet_wot和乘以-1后的輸出值Vref_wot進(jìn)行加法計(jì)算，因此，結(jié)果可將兩者的差作為輸出值Vdet_Wotb’輸出。
[0087]來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet包含手指等對象物接近或接觸了觸摸檢測裝置I的信息。觸摸檢測信號Vdet在由于觸摸檢測裝置I的電源的變化等因素導(dǎo)致觸摸檢測用信號TSVcom的振幅改變的情況下會改變，但不能夠根據(jù)該變化區(qū)分是對象物導(dǎo)致的改變，或是噪聲導(dǎo)致的改變。對此,如上所述，由于電容器Cref配置在和檢測對象物的區(qū)域不同的區(qū)域，因此，即使對象物接近檢測對象物的區(qū)域，靜電電容也不改變。結(jié)果，如圖8所示，作為電容器Cref的輸出值的校正輸出值Vref不同于來自觸摸檢測電極RxO?Rxm的觸摸檢測信號Vdetl、Vdet2，不會由于對象物的接近而改變。因此，校正輸出值Vref的變化表示驅(qū)動部14和觸摸檢測部40之間的兩者的特性的變化(偏差)，例如觸摸檢測用信號TSVcom的振幅變化等。
[0088]本實(shí)施方式使得驅(qū)動電極Tx與觸摸檢測電極Rx之間的交叉部分和電容器Cref在用電電學(xué)上相同，且在相同的定時(shí)取得來自觸摸檢測電極Rx及電容器Cref的輸出。然后，如上所述，從來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet (或者從該值中減去觸摸檢測信號Vdet_Wot后的信號)中，減去來自電容器Cref的校正輸出值Vref或基于此的輸出值Vrefb。觸摸檢測部40通過使用以這種方式得到的校正觸摸檢測信號Vdetc，可去除觸摸檢測信號Vdet中所含的、起因于驅(qū)動部14和觸摸檢測部40的特性變化的變動部分。其結(jié)果是，觸摸檢測部40能夠抑制對觸摸檢測裝置I的觸摸操作的檢測精度的降低，即、對象物的檢測精度的降低，并更可靠地檢測觸摸操作。
[0089]圖9是示出對來自觸摸檢測電極的輸出值不進(jìn)行校正時(shí)觸摸檢測信號的一個(gè)例子的圖。圖10是示出對來自觸摸檢測電極的輸出值進(jìn)行校正后的觸摸檢測信號的一個(gè)例子的圖。圖9、10的橫軸對應(yīng)于圖1所示的每個(gè)驅(qū)動電極TxO、Txl、……，縱軸是來自觸摸檢測電極Rx和電容器Cref的輸出值No。而且，圖9的實(shí)線是作為校正輸出值Vref和輸出值Vref_wot之間的差的輸出值Vrefb。圖9所示的虛線是作為來自觸摸檢測電極Rx4的觸摸檢測信號Vdet和Vdet_Wot之間的差的輸出值Vdetb。圖9所示的單點(diǎn)劃線是作為來自觸摸檢測電極Rx5的觸摸檢測信號Vdet和Vdet_Wot的差的輸出值Vdetb。圖10所示的虛線是對于觸摸檢測電極Rx4,從來自加法器Adl的輸出值Vdetb中減去Vrefb而得到的、來自加法器Ad2的校正觸摸檢測信號Vdetc。圖10所示的單點(diǎn)劃線是對于觸摸檢測電極Rx5，從來自加法器Adl的輸出值Vdetb中減去Vrefb而得到的、來自加法器Ad2的校正觸摸檢測信號Vdetc。圖10的實(shí)線是從圖9的實(shí)線所示的Vrefb中減去Vrefb而得到的值，理論上為O。
[0090]在不校正來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet的情況下，如圖9所示，觸摸檢測信號Vdet會顯現(xiàn)不是因?yàn)橛|摸而導(dǎo)致的裝置內(nèi)部的噪聲或外部噪聲的影響，根據(jù)情況，有時(shí)觸摸檢測部40會誤檢測對象物，即、誤檢測觸摸操作。如果用來自電容器Cref的校正輸出值Vref校正來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet，如圖10所示，則可降低觸摸檢測信號Vdet中這些噪聲的影響，其結(jié)果是，可提高由觸摸檢測部40進(jìn)行的觸摸操作的檢測精度。
[0091]圖11是用于說明校正來自觸摸檢測電極的輸出值的定時(shí)的圖。圖12是示出校正觸摸檢測信號的圖。圖11、12的橫軸是時(shí)間T，圖11的縱軸是對應(yīng)于來自觸摸檢測電極Rx、電容器Cref的輸出值及噪聲(Noise)的值Vo。圖12的縱軸是校正觸摸檢測信號Vdetc。校正的定時(shí)可考慮兩種方法。第一種方法是，在圖11所示的例子中，例如，在時(shí)間Ts~時(shí)間Tl之間取得校正輸出值Vref，在時(shí)間Tl~時(shí)間T2之間取得觸摸檢測信號Vdet，進(jìn)行校正。即，觸摸檢測信號Vdet可由在不同于此的定時(shí)取得的校正輸出值Vref進(jìn)行校正。第二種方法是，在圖11所示的例子中，在時(shí)間Ts~時(shí)間Tl之間取得校正輸出值Vref及觸摸檢測信號Vdet，進(jìn)行校正。即，觸摸檢測信號Vdet可由在與此相同的定時(shí)取得的校正輸出值Vref進(jìn)行校正。
[0092]如圖11所示，時(shí)間不同，噪聲情況也不同。因此,如上所述的第一方法,如果使用在不同定時(shí)取得的觸摸檢測信號Vdet和校正輸出值Vref，則無法排除噪聲的影響，結(jié)果，由觸摸檢測部40進(jìn)行的對象物的接近或接觸的檢測精度會降低。如果在由驅(qū)動部14依次對每個(gè)驅(qū)動電極TxO、TxU……Txn提供觸摸檢測用信號TSVcom后校正觸摸檢測信號Vdet，則由于上述原因，例如，如圖12所示的校正觸摸檢測信號Vdetcl，而無法排除噪聲的影響，因此，由觸摸檢測部40進(jìn)行的對象物的接近或接觸的檢測精度會降低。
[0093]本實(shí)施方式使用上述第二方法。如圖8所示，第二方法是在相同定時(shí)取得來自電容器Cref的校正輸出值Vref和來自觸摸檢測電極RxO?RxlO的觸摸檢測信號Vdet。然后，觸摸檢測信號Vdet通過在與此相同定時(shí)取得的校正輸出值Vref，立即得到實(shí)時(shí)校正。在圖11所示的例子中，例如，在時(shí)間Ts?時(shí)間Tl之間，觸摸檢測信號Vdet通過在與此相同的定時(shí)取得的校正輸出值Vref而得到校正。如此地，由于觸摸檢測信號Vdet和校正輸出值Vref受到相同噪聲的影響，因此，成為完全相同的形狀。因此，通過使用在相同定時(shí)取得的觸摸檢測信號Vdet和校正輸出值Vref，觸摸檢測部40如圖12所示的校正觸摸檢測信號Vdetc2那樣，能夠排除噪聲的影響，抑制對象物的接近或接觸的檢測精度的降低，更可靠地檢測觸摸操作。
[0094]如上所述，由于觸摸檢測裝置I具有的電源的變化或溫度變化，在對象物未接近觸摸檢測裝置I的狀態(tài)下，觸摸檢測信號Vdet會發(fā)生預(yù)想不到的變化，結(jié)果，可能觸摸操作會被誤檢測。這是由于在觸摸檢測部40和驅(qū)動部14中電源及接地(地線)不同導(dǎo)致的噪聲影響很大。因此，本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測信號Vdet的校正，特別適于觸摸檢測部40和驅(qū)動部14作為單獨(dú)的電子部件分開，且電源及接地不同的情況。電子部件的例子，可舉例如IC或IC封裝件。如此地，由于本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測信號Vdet的校正中，電源及接地可以不同，因此，可提高觸摸檢測裝置I的布局自由度。例如，在共用觸摸檢測用的驅(qū)動電極和顯示裝置用的公共電極的in-cell式觸摸面板等中，有時(shí)在布局上，很難使觸摸檢測部和驅(qū)動部的電氣特性和溫度特性相同。因此，如果對其應(yīng)用本實(shí)施方式，則可極大地提高噪聲耐性，其結(jié)果是，可顯著地提高觸摸檢測精度。
[0095]而且，由于溫度的影響，觸摸檢測信號Vdet可能會發(fā)生預(yù)想不到的變化。因此，即便在實(shí)現(xiàn)了觸摸檢測部40和驅(qū)動部14在同一 IC等上，并可共用電源及接地的情況下，也可以降低溫度的影響，精度良好地校正觸摸檢測信號Vdet。因此，本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測信號Vdet的校正，也適于觸摸檢測部40和驅(qū)動部14通過同一 IC等實(shí)現(xiàn)的情況。
[0096]而且，在本實(shí)施方式中，不通過觸摸檢測電極Rx，而將作為外部部件的電容器Cref用作校正用元件，并將其配置在與觸摸檢測電極Rx和驅(qū)動電極Tx不同的位置上。通過這種結(jié)構(gòu)，可區(qū)分由于對象物接近而導(dǎo)致的觸摸檢測信號Vdet的變化，或由于其它因素導(dǎo)致的變化。而且，由于可在比較穩(wěn)定的環(huán)境下使用電容器Cref，因此，能夠穩(wěn)定地校正觸摸檢測信號Vdet，抑制檢測對象物的接近或接觸時(shí)的精度降低，更可靠地檢測觸摸操作。接下來，對用于通過校正輸出值Vref校正觸摸檢測信號Vdet的校正用的電路的例子進(jìn)行說明。
[0097][1-4.校正用的電路的例子]
[0098]圖13A至圖15是示出校正用的電路的例子的圖。圖16是圖15所示的校正用的電路的時(shí)序圖。圖16的橫軸是時(shí)間T。下面，按順序?qū)D13A所示的第一電路例、圖13B所示的第二電路例、圖14所示的第三電路例、圖15所示的第四電路例進(jìn)行說明。下面的例子涉及的電路，也可包括觸摸檢測部40的一部分，例如，信號放大部42、A/D變換部43、信號處理部44等。
[0099](第一電路例)
[0100]圖13A所示的校正用的電路(校正電路)50是實(shí)現(xiàn)圖7B所示的校正處理的一個(gè)例子。在校正電路50中，在觸摸檢測電極RxO、......Rxm與驅(qū)動電極TxO、Txl、......Txn交
叉的部分，分別形成有靜電電容CtrOO、......CtrOn、......CtrmO、......Ctrmn。在校正電路
50中，由驅(qū)動部14通過多路復(fù)用器分別對驅(qū)動電極TxO、Txl、……Txn輸入觸摸檢測用信號TSVcom。符號Rx、Tx、Ctr后附的m、η是O以上的整數(shù)，m + I表示觸摸檢測電極Rx的數(shù)目，η + I表示驅(qū)動電極Tx的數(shù)目(以下相同)。
[0101]來自觸摸檢測電極RxO、……Rxm的輸出值被輸入信號放大器CIO、……CIm。在校正電路50中，來自驅(qū)動部14的觸摸檢測用信號TSVcom被直接輸入電容器Cref。來自電容器Cref的輸出值被輸入信號放大器CIref。信號放大器CIO、……CIm、CIref (相當(dāng)于信號放大部42)的輸出，是先被輸入采樣保持電路SHO、……SHm、SHref后，再從采樣保持電路SH0、……SHm、SHref通過多路復(fù)用器16被輸入ADC (模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)43C中。ADC43C相當(dāng)于觸摸檢測部40的A/D變換部43。信號放大器C10、……CIm、CIref是例如組合了運(yùn)算放大器和電容的積分電路。
[0102]在校正電路50中，多路復(fù)用器15依次切換多個(gè)驅(qū)動電極Tx0、Txl、……Τχη。多路復(fù)用器16依次切換多個(gè)觸摸檢測電極RxO、……Rxm。例如，當(dāng)多路復(fù)用器15選擇了驅(qū)動電極RxO時(shí)，分別來自觸摸檢測電極RxO、……Rxm的觸摸檢測信號Vdet通過信號放大器C10、……CIm放大后，被輸入采樣保持電路SH0、……SHm。并且，作為來自電容器Cref的輸出值的校正輸出值Vref將通過信號放大器CIref放大后，被輸入采樣保持電路SHref。
[0103]接下來，多路復(fù)用器16依次切換采樣保持電路SH0、……SHnuSHref，并將每一個(gè)輸出對ADC43C輸出。取得ADC43C的輸出的信號處理部44求出每個(gè)采樣保持電路SHO、……SHm的輸出(相當(dāng)于觸摸檢測信號Vdet)和采樣保持電路SHref的輸出(相當(dāng)于校正輸出值Vref)之間的差。由于采 樣保持電路SH0、……SHm各自的輸出相當(dāng)于觸摸檢測信號Vdet，采樣保持電路SHref的輸出相當(dāng)于校正輸出值Vref，因此，它們的差即為校正觸摸檢測信號Vdetc。如果驅(qū)動電極TxO得到校正觸摸檢測信號Vdetc，則多路復(fù)用器15從驅(qū)動電極Txl依次切換，直至驅(qū)動電極Tm。多路復(fù)用器16和信號處理部44對驅(qū)動電極Txl~Txn也和驅(qū)動電極TxO同樣地，從而得到對應(yīng)于觸摸檢測電極RxO、……Rxm的校正觸摸檢測信號Vdetc。通過這種方式，觸摸檢測部40能夠取得對應(yīng)于所有觸摸檢測電極Rx的校正觸摸檢測信號Vdetc，因此，可排除噪聲的影響，抑制檢測對象物的接近或接觸時(shí)的精度降低，更可靠地檢測觸摸操作。
[0104]當(dāng)校正電路50不具有多路復(fù)用器16時(shí)，ADC43C中，觸摸檢測電極RxO、……Rxm的數(shù)目是加上電容器Cref的布線Rxref的數(shù)目后的數(shù)目，即、具有m+2個(gè)(以下的例子也同樣)。
[0105](第二電路例)
[0106]圖13B所示的第二校正電路50A是實(shí)現(xiàn)圖7B所示的校正處理的一個(gè)例子。在校正電路50A中，每個(gè)觸摸檢測電極RxO、……Rxm均具有電容器Cref。即，校正電路50A具有m個(gè)電容器Crefl、……Crefm。來自驅(qū)動部14的觸摸檢測用信號TSVcom通過反相器
(inverter) 51反轉(zhuǎn)后,被分別輸入電容器Crefl、......Crefm。反轉(zhuǎn)后的觸摸檢測用信號
是 TSVcom 1O
[0107]作為來自觸摸檢測電極RxO、……Rxm的輸出值的觸摸檢測信號Vdet與作為來自電容器Crefl、……Crefm的輸出值的校正輸出值Vref的和，將成為作為來自觸摸檢測電極Rx的輸出值的校正值的校正觸摸檢測信號Vdetc。以這種方式，可從每個(gè)觸摸檢測電極RxO、……Rxm得到從觸摸檢測信號Vdet中減去校正輸出值Vref后的校正觸摸檢測信號Vdetc0
[0108]來自每個(gè)觸摸檢測電極RxO、……Rxm的校正觸摸檢測信號Vdetc通過信號放大器CIO、……CIm (相當(dāng)于信號放大部42A)放大后，被輸入多路復(fù)用器16中。通過依次切換觸摸檢測電極RxO、……Rxm，多路復(fù)用器16可將放大后的校正觸摸檢測信號Vdetc通過ADC43C輸出到信號處理部44。利用這種校正電路50A，觸摸檢測部40可取得對應(yīng)于所有觸摸檢測電極Rx的校正觸摸檢測信號Vdetc，因此，可抑制檢測對象物的接近或接觸時(shí)的精度降低，更可靠地檢測觸摸操作。
[0109](第三電路例)
[0110]圖14所示的校正電路50B和圖13B所示的校正電路50相同，但生成被輸入電容器Cref并被反轉(zhuǎn)的觸摸檢測用信號TSVconT1的方法不同。驅(qū)動部14a具有生成觸摸檢測用信號TSVcom的第一驅(qū)動部Hf、以及作為使第一驅(qū)動部14f生成的觸摸檢測用信號TSVcom的相位反轉(zhuǎn)180度的電路的第二驅(qū)動部14s。第一驅(qū)動部14f和第二驅(qū)動部14s均為使用例如運(yùn)算放大器的電路，并分別相反地輸入H (High)信號和L (Low)信號。如果以這種方式將時(shí)鐘信號CK提供給第一驅(qū)動部14f和第二驅(qū)動部14s，則可得到觸摸檢測用信號TSVcom和該相位被反轉(zhuǎn)180度后的反轉(zhuǎn)觸摸檢測用信號TSVcom—1。通過這樣，可得到從觸摸檢測信號Vdet中減去校正輸出值Vref后的校正觸摸檢測信號Vdetc。校正電路50B的信號放大部42A、ADC43C及其它結(jié)構(gòu)和校正電路50A相同，因此，省略對其的說明。
[0111](第四電路例)
[0112]圖15所示的校 正電路50C使用保持電路來校正觸摸檢測信號Vdet。在校正電路50C中，來自驅(qū)動部14的觸摸檢測用信號TSVcom被以同相位輸入驅(qū)動電極TxO、Txl、……Txn和電容器Cref中。觸摸檢測用信號TSVcom通過多路復(fù)用器15輸入到驅(qū)動電極TxO、TxU……Tm。來自觸摸檢測電極Rx的電荷和電容器Cref中存儲的電荷分別暫時(shí)存儲在第一蓄電器57_0、57_1、……57_m和第二蓄電器58_0、58_1、……58_m中。然后，求出電容器Cref中存儲的電荷和來自觸摸檢測電極Rx的電荷之間的差，并把得到的差當(dāng)成作為來自觸摸檢測電極Rx的輸出值的校正值的校正觸摸檢測信號Vdetc。在本實(shí)施方式中，第
一蓄電器57_0、57_1、......57_m和第二蓄電器58_0、58_1、......58_m均為電容器，但只要
有蓄電的功能，并不僅限于此。而且，在本實(shí)施方式中，使得第一蓄電器57_0、57_1、......57_m和第二蓄電器58_0、58_1、......58_m的靜電電容相等。
[0113]信號放大部42C具有對應(yīng)于每個(gè)觸摸檢測電極RxO、Rxl、......Rxm的信號放大器
CIO、……CIm。各個(gè)信號放大器CIO、……CIm具有例如包括運(yùn)算放大器和電容的積分電路。作為電容器Cref的輸出的校正輸出值Vref被輸入到信號放大器CIref中。信號放大器CIO、……CIm、CIref相當(dāng)于信號放大部42C。
[0114]信號放大器CIO、……CIm的輸出部電連接有第一開關(guān)SWlJK SW1_1、……SW1_m。而且，第一開關(guān)SW1_0、SW1_1、……SWl_m分別和每個(gè)采樣保持電路SH0、……SHm的輸入部電連接。即，信號放大器CIO、……CIm通過第一開關(guān)SW1_0、SW1_1、……SWlji^P采樣保持電路SHO、……SHm電連接。
[0115]在輸入有作為電容器Cref的輸出的校正輸出值Vref的信號放大器CIref的輸出部上，并列地電連接著第二開關(guān)SW2_0、SW2_1、……SW2_m。而且，各個(gè)第二開關(guān)SW2_0、
SW2_U......SW2_m通過第二蓄電器58_0、58_1、......58_m，電連接在第一開關(guān)SWlJK
Sff 1_U......SWl_m和采樣保持電路SHO、......SHm之間。
[0116]第二開關(guān)SW2_0、SW2_1、......SW2_m 與第二蓄電器 58_0、58_1、......58_m 之間的
布線，通過第三開關(guān)SW3JK SW3_1、......SW3_m接地。并且，第二蓄電器58_0、58_1、......58_m與采樣保持電路SHO、……SHm之間的布線，通過第四開關(guān)SW4_0、SW4_1、……SW4_m
接地。而且，第一開關(guān)SW1_0、SW1_1、......SWl_m和第二蓄電器58_0、58_1、......58_m之間
的布線，通過第一蓄電器57_0、57_1、……57_m接地。接下來，參照圖16，對校正電路50C的操作進(jìn)行說明。
[0117]在校正電路50C中，如果第三開關(guān)SW3_0、SW3_1、……SW3_m接通，則觸摸檢測信號Vdet將通過校正輸出值Vref得到校正。而且，如圖15所示，如果第四開關(guān)SW4_0、
SW4_U......SW4_m接通，則第一蓄電器57_0、57_1、......57_m和第二蓄電器58_0、
58_1、……58_m中蓄存的電荷會流向接地側(cè)，因此這些電荷將為O。即，一旦第四開關(guān)SW4_0、SW4_1、......SW4_m接通，校正電路50B將被復(fù)位。
[0118]如圖16所示，由驅(qū)動部14輸入驅(qū)動電極TxO、Txl、……Txn及電容器Cref的觸摸檢測用信號TSVcom在規(guī) 定周期內(nèi)重復(fù)H (High)的狀態(tài)和L (Low)的狀態(tài)。在時(shí)間T =Tl~T2時(shí)，第四開關(guān)SW4_0、SW4_1、……SW4_m接通，因此，校正電路50C是復(fù)位狀態(tài)。當(dāng)
時(shí)間 T = T2 時(shí)，第四開關(guān) SW4_0、SW4_1、......SW4_m 和第三開關(guān) SW3_0、SW3_1、......SW3_
m斷開。在該狀態(tài)下，第一開關(guān)SW1_0、SW1_1、......SWl_m和第二開關(guān)SW2_0、SW2_1、......SW2_m同時(shí)接通，則開始對第一蓄電器57_0、57_1、……57_m和第二蓄電器58_0、58_1、……58_m充電。這時(shí)，第一蓄電器57_0、57_1、……57_m中存儲有對應(yīng)于從觸摸輸出電極RxO、Rxl、……Rxm輸出的、經(jīng)信號放大器CIO、……CIm處理后的觸摸檢測信號Vdet的電壓及第
一蓄電器57_0、57_1、......57_m的靜電電容的電荷。并且，第二蓄電器58_0、58_1、......58_
m中存儲有對應(yīng)于從電容器Cref輸出的、經(jīng)信號放大器CIref處理后的校正輸出值Vref的電壓及第二蓄電器58_0、58_1、......58_m的靜電電容的電荷。
[0119]由于在時(shí)間T = T3，第一開關(guān)SWlJK SW1_1、......SWl_m和第二開關(guān)SW2_0、
SW2_U......SW2_m同時(shí)斷開，因此，對第一蓄電器57_0、57_1、......57_m和第二蓄電器
58_0、58_1、......58_m的充電完成。接下來，在時(shí)間T = T4，第三開關(guān)SW3_0、SW3_1、......SW3_m接通。于是，第二蓄電器58_0、58_1、……58_m中存儲的電荷的一部分通過第三開關(guān)SW3_0、SW3_1、……SW3_m流向接地側(cè)。其結(jié)果是，相當(dāng)于第一蓄電器57_0、57_1、……57_m中存儲的電荷與第二蓄電器58_0、58_1、……58_m中存儲的電荷的差的電壓，被施加到采樣保持電路SH0、……SHm的輸入部。以這種方式，校正電路50C可利用在同一定時(shí)取得的來自電容器Cref的校正輸出值Vref來校正來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet0更具體而言，校正電路50C可取得相當(dāng)于觸摸檢測信號Vdet和校正輸出值Vref之間的差的校正觸摸檢測信號Vdetc。采樣保持電路SHO、……SHm中輸入有校正觸摸檢測信號Vdetc。該校正觸摸檢測信號Vdetc由多路復(fù)用器16通過ADC43C依次輸入信號處理部44。
[0120]由于在時(shí)間T = T5，第四開關(guān)SW4_0、SW4_1、……SW4_m接通，因此，校正電路50C被復(fù)位。在時(shí)間T = T6，第三開關(guān)SW3_0、SW3_1、......SW3_m和第四開關(guān)SW4_0、SW4_1、......SW4_m斷開，再次完成對第一蓄電器57_0、57_1、……57_m和第二蓄電器58_0、58_1、……58_m的充電準(zhǔn)備。而后，重復(fù)進(jìn)行充電、校正、復(fù)位。
[0121]校正電路50C通過使用了第一蓄電器57_0、57_1、……57_m和第二蓄電器58_0、58_1、……58_m的電荷保持電路，校正來自觸摸檢測電極Rx的觸摸檢測信號Vdet。采用這種電路結(jié)構(gòu)，校正電路50C具有僅需一個(gè)電容器Cref的優(yōu)點(diǎn)。
[0122]對校正電路50、50A、50B、50C等四個(gè)例子進(jìn)行了說明，但本實(shí)施方式的校正電路不僅限于此。例如，觸摸檢測部40也可以通過ADC43C，利用數(shù)字轉(zhuǎn)換后的數(shù)字值，對觸摸檢測信號Vdet和校正輸出值Vref進(jìn)行算術(shù)處理，從而求出校正觸摸檢測信號Vdetc。
[0123][1-5.關(guān)于電容器的配置]
[0124]如上所述，電容器Cref配置在觸摸檢測裝置I的不同于檢測對象物的區(qū)域的位置上，具體而言，不同于配置有驅(qū)動電極Tx及觸摸檢測電極Rx的區(qū)域的位置上。以這種方式，可抑制起因于手指等對象物接近觸摸檢測電極Rx而導(dǎo)致的電容器Cref的靜電電容的變化。其結(jié)果是，可提高校正觸摸檢測信號Vdet時(shí)的精度。
[0125]而且，電容器Cref優(yōu)選配置為接近觸摸檢測部40。通過這種方式，能夠盡可能地抑制來自觸摸檢測裝置I的外部的噪聲影響。另外，在由集聚了 IC或多個(gè)電子元件的電子元件集合體等構(gòu)成觸摸檢測部40的情況下，電容器Cref也可以配置在觸摸檢測部40的內(nèi)部。通過這種方式，能夠盡可能地抑制來自觸摸檢測裝置I的外部的噪聲影響。
[0126]電容器Cref也可以安裝在裝有觸摸檢測部40的基板上。通過這種方式，可容易地對連接觸摸檢測部40和電容器Cref的布線進(jìn)行布局。
[0127]電連接電容器Cref和驅(qū)動部14的布線，優(yōu)選為比電連接電容器Cref和觸摸檢測部40的布線更長。這是由于驅(qū)動部14是低阻抗，受到來自觸摸檢測裝置I的外部的噪聲的影響比較小的緣故。因此，可使電連接電容器Cref和驅(qū)動部14的布線長，而使電連接電容器Cref和觸摸檢測部40的布線短。其結(jié)果是，可將電容器Cref配置為更接近于觸摸檢測部40，因此，能夠盡可能地抑制來自觸摸檢測裝置I的外部的噪聲的影響。
[0128](2.應(yīng)用例〉
[0129][2-1.帶觸摸檢測功能的顯示裝置]
[0130]作為本發(fā)明的應(yīng)用例，對將上述觸摸檢測裝置I應(yīng)用在帶觸摸檢測功能的顯示裝置上的例子進(jìn)行說明。
[0131]圖17是示出具備本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置的圖。圖18是表示具備本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置的簡要截面構(gòu)造的截面圖。圖19是表示具備本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的帶觸摸檢測功能的顯示裝置的像素陣列的電路圖。帶觸摸檢測功能的顯示裝置7具有:帶觸摸顯示功能的顯示部10、控制部11、柵極驅(qū)動器12、源極驅(qū)動器13、作為驅(qū)動電極驅(qū)動器的驅(qū)動部14及觸摸檢測部40。帶觸摸檢測功能的顯示裝置7是內(nèi)置觸摸檢測裝置I的觸摸檢測功能的顯示器。帶觸摸檢測功能的顯示裝置7是所謂的in-cell式裝置，具有:作為顯示元件使用液晶顯示元件的液晶顯示器20、使觸摸檢測裝置I所具有的靜電電容式觸摸檢測器30—體化后的帶觸摸檢測功能的顯示部10。另外，帶觸摸檢測功能的顯示裝置7也可以是在作為顯示元件使用了液晶顯示元件的液晶顯示器20上安裝靜電電容式的觸摸檢測器30的、所謂的on-cell式的裝置，[0132]如后文所述，液晶顯示器20是根據(jù)由柵極驅(qū)動器12提供的掃描信號Vscan，依次掃描每一個(gè)水平行，從而進(jìn)行顯示的裝置?？刂撇?1根據(jù)外部提供的影像信號Vdisp，分別對柵極驅(qū)動器12、源極驅(qū)動器13、驅(qū)動部14和觸摸檢測部40發(fā)送控制信號，進(jìn)行控制，以使它們彼此同步地工作?？刂撇?1是例如微電腦。
[0133]柵極驅(qū)動器12具有可根據(jù)控制部11發(fā)送的控制信號，依次選擇成為帶觸摸檢測功能的顯示裝置7的顯示驅(qū)動對象的一水平行的功能。柵極驅(qū)動器13是根據(jù)控制部11發(fā)送的控制信號，對帶觸摸檢測功能的顯示裝置7的后述的各像素Pix發(fā)送像素信號Vpix的電路。
[0134]驅(qū)動部14是根據(jù)控制部11發(fā)送的控制信號，將驅(qū)動信號Vcom提供給帶觸摸檢測功能的顯示裝置7的后述的驅(qū)動電極COML的電路。如圖18、圖19所示，帶觸摸檢測功能的顯示裝置7具有:像素基板2、和該像素基板2相對地配置的對置基板3、以及設(shè)置在像素基板2和對置基板3之間的液晶層6。
[0135]像素基板2具有:作為電路基板的TFT (TFT:薄膜晶體管)基板21、及以矩陣形狀配設(shè)在該TFT基板上的多個(gè)像素電極22。TFT基板21上，形成有圖19所示的各像素Pix的薄膜晶體管(TFT)元件Tr、對將像素信號Vpix提供給各像素電極22的像素信號線SGL及對各TFT元件Tr進(jìn)行驅(qū)動的掃描信號線GCL等布線。圖19所示的液晶顯示器20具有以矩陣形排列的多個(gè)像素Pix。像素Pix具有TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr由薄膜晶體管形成，在該例中，是溝道的MOS (金屬氧化物半導(dǎo)體)型的TFT。TFT元件Tr的源極和像素信號線SGL電連接，柵極和掃描信號線GCL電連接，漏極和液晶元件LC的一端電連接。液晶元件LC 一端和TFT元件Tr的漏極電連接，另一端和驅(qū)動電極COML電連接。
[0136]像素Pix通過掃描信號線GCL，和屬于液晶顯示器20的相同行的其它像素Pix相互電連接。掃描信號線GCL和柵極驅(qū)動器12電連接，由柵極驅(qū)動器12發(fā)送掃描信號Vscan。并且，像素Pix通過像素信號線SGL，和屬于液晶顯示器20的相同列的其它像素Pix相互電連接。像素信號線SGL和源極驅(qū)動器13電連接，由源極驅(qū)動器13發(fā)送像素信號Vpix。而且，像素Pix通過驅(qū)動電極COML和屬于液晶顯示器20的相同行的其它像素Pix相互電連接。驅(qū)動電極COML和驅(qū)動部14連接，由驅(qū)動部14發(fā)送驅(qū)動信號Vcom (顯示驅(qū)動信號Vcomd和觸摸檢測用信號TSVcom)。也就是說，在該例中，屬于相同行的多個(gè)像素Pix共有一根驅(qū)動電極COML。
[0137]圖17所示的柵極驅(qū)動器12通過圖19所示的掃描信號線GCL，將掃描信號Vscan施加在像素Pix的TFT元件Tr的柵極上，從而將矩陣狀地形成在液晶顯示器20上的像素Pix中的I行(一水平行)作為顯示驅(qū)動的對象依次選擇。圖17所示的源極驅(qū)動器13通過圖19所示的像素信號線SGL，將像素信號Vpix分別發(fā)送至由柵極驅(qū)動器12依次選擇的構(gòu)成一水平行的各像素Pix中。然后，這些像素Pix根據(jù)發(fā)送來的像素信號Vpix，顯示出一水平行。圖17所示的驅(qū)動部14施加顯示驅(qū)動信號Vcomd,并在圖18和圖19所示的、由規(guī)定根數(shù)的驅(qū)動電極COML構(gòu)成的每個(gè)塊上驅(qū)動驅(qū)動電極C0ML。
[0138]如上所述，在液晶顯示器20中，以使柵極驅(qū)動器12按行順序掃描掃描信號線GCL的方式進(jìn)行驅(qū)動，可依次選擇一水平行。并且，液晶顯示器20通過由源極驅(qū)動器13對屬于一水平行的像素Pix發(fā)送像素信號Vpix，可一個(gè)水平行一個(gè)水平行地逐行顯示。在進(jìn)行該顯示操作時(shí)，驅(qū)動部14將會對包括一水平行所對應(yīng)的驅(qū)動電極COML的驅(qū)動信號施加塊施加顯示驅(qū)動信號Vcomd。
[0139]對置基板3包括玻璃基板31、在該玻璃基板31的一個(gè)面上形成的彩色濾光片32、以及在與玻璃基板31相反側(cè)的彩色濾光片32的表面上形成的多個(gè)驅(qū)動電極C0ML。在玻璃基板31的另一個(gè)面上，形成有作為觸摸檢測器30的檢測電極的觸摸檢測電極Rx，而且，在該觸摸檢測電極上配設(shè)有偏光板35。
[0140]彩色濾光片32周期性地排列著例如紅(R)、綠(G)、藍(lán)(B)三種顏色的彩色濾光片層，R、G、B三種顏色作為一組，與上述圖19所示的各像素Pix相對應(yīng)。
[0141]驅(qū)動電極COML在作為液晶顯示器20的共用驅(qū)動電極起作用的同時(shí)，也作為觸摸檢測器30的驅(qū)動電極起作用。即，驅(qū)動電極COML對應(yīng)于觸摸檢測器30的驅(qū)動電極Tx。在本實(shí)施方式中，一個(gè)驅(qū)動電極COML配置為對應(yīng)于一個(gè)像素電極22 (構(gòu)成一行的像素電極22)。驅(qū)動電極COML通過未圖示出的具有導(dǎo)電性的觸點(diǎn)導(dǎo)電柱，從驅(qū)動部14對驅(qū)動電極COML施加交流方波的驅(qū)動信號Vcom(顯示驅(qū)動信號Vcomd和上述觸摸檢測用信號TSVcom)。
[0142]液晶層6根據(jù)電場的狀態(tài)調(diào)制通過自身的光。液晶層6可采用例如TN (扭曲向列)型、VA (垂直向列)模式、ECB (電控雙折射)模式等各種模式的液晶。另外，在液晶層6和像素基板2之間以及液晶層6和對置基板3之間，分別配設(shè)有取向膜，而且，也可在像素基板2的下面?zhèn)扰渲萌肷鋫?cè)偏光板。
[0143]驅(qū)動電極COML在作為液晶顯示器20的共用驅(qū)動電極發(fā)揮作用的同時(shí)，也作為觸摸檢測器30的驅(qū)動電極Tx發(fā)揮作用。因此，驅(qū)動信號Vcom可能會互相影響。因此，驅(qū)動電極COML分為執(zhí)行顯示操作的顯示操作期間Pd與執(zhí)行觸摸檢測操作的觸摸檢測操作期間Pt來施加驅(qū)動信號Vcom。驅(qū)動部14在執(zhí)行顯示操作的顯示操作期間Pd，施加顯示驅(qū)動信號Vcomd作為驅(qū)動信號Vcom。而且，驅(qū)動部14在執(zhí)行觸摸檢測操作的觸摸檢測操作期間Pt，施加觸摸檢測用信號TSVcom作為驅(qū)動信號Vcom。
[0144]控制部11根據(jù)外部提供的影像信號Vdisp，分別對柵極驅(qū)動器12、源極驅(qū)動器13、驅(qū)動部14及觸摸檢測部40提供控制信號，進(jìn)行控制，以使其相互同步地工作。柵極驅(qū)動器12在顯示操作期間Pd，將掃描信號Vscan提供給液晶顯示器20，并依次選擇成為顯示驅(qū)動的對象的一水平行。源極驅(qū)動器13在顯示操作期間Pd，將像素信號Vpix供給構(gòu)成由柵極驅(qū)動器12選擇的一水平行的各像素Pix。
[0145]驅(qū)動部14在顯示操作期間Pd，對一水平行相關(guān)的驅(qū)動電極塊施加顯示驅(qū)動信號Vcomd作為驅(qū)動信號Vcom。并且，驅(qū)動部14在觸摸檢測操作期間Pt，對觸摸檢測操作相關(guān)的驅(qū)動電極塊依次施加比顯示驅(qū)動信號Vcomd頻率更高的觸摸檢測用信號TSVcom作為驅(qū)動信號Vcom，并依次選擇一個(gè)檢測塊。
[0146]帶觸摸檢測功能的顯示裝置7在顯示操作期間Pd，根據(jù)由柵極驅(qū)動器12、源極驅(qū)動器13和驅(qū)動部14提供的信號進(jìn)行顯示操作。帶觸摸檢測功能的顯示裝置7在觸摸檢測操作期間Pt，根據(jù)驅(qū)動部14提供的信號檢測觸摸操作，并由觸摸檢測電極Rx輸出觸摸檢測信號Vdet。信號放大部42放大觸摸檢測信號Vdet并輸出。A/D轉(zhuǎn)換部43在和觸摸檢測用信號TSVcom同步的定時(shí)，將信號放大部42輸出的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。信號處理部44根據(jù)A/D轉(zhuǎn)換部43的輸出信號，檢測有無對觸摸檢測器30的觸摸操作。坐標(biāo)提取部45在信號處理部44檢測觸摸操作時(shí)，求出該觸摸檢測裝置的坐標(biāo)。
[0147]由于帶觸摸檢測功能的顯示裝置7具有觸摸檢測裝置1，因此，即便在電源電壓變化，或電源線上附有噪音的情況下，也能夠可靠地檢測觸摸操作。特別是當(dāng)一個(gè)帶觸摸檢測功能的顯示裝置7上組合有液晶顯示器20和觸摸檢測裝置I具有的觸摸檢測器30時(shí)，與分別單獨(dú)使用的情況相比，溫度變化和電源電壓的變化大。觸摸檢測裝置I即使在這種環(huán)境下也能夠可靠地檢測觸摸操作，因而優(yōu)選觸摸檢測裝置I。
[0148][2-2.電子設(shè)備]
[0149]作為本發(fā)明的應(yīng)用例，對將上述觸摸檢測裝置I應(yīng)用于電子設(shè)備的例子進(jìn)行說明。
[0150]圖20至圖31是示出具備本實(shí)施方式涉及的觸摸檢測裝置的電子設(shè)備的一個(gè)例子的圖。觸摸檢測裝置I可適用于電視設(shè)備、數(shù)碼相機(jī)、筆記本電腦、移動電話等便攜終端裝置或攝像機(jī)等所有領(lǐng)域的電子設(shè)備。換言之，觸摸檢測裝置I可適用于將外部輸入的影像信號或內(nèi)部生成的影像信號作為圖像或影像顯示的所有領(lǐng)域的電子設(shè)備。
[0151](應(yīng)用例I)
[0152]圖20所示的電子設(shè)備是應(yīng)用觸摸檢測裝置I的電視設(shè)備。該電視設(shè)備具有例如包括前面板512和濾色玻璃511的影像顯示畫面部510，觸摸檢測裝置I被應(yīng)用于該影像顯示畫面部510上。即，該電視設(shè)備的畫面除具有顯示圖像的功能，還具有檢測觸摸操作的功倉泛。
[0153](應(yīng)用例2)
[0154]圖21和圖22所示的電子設(shè)備是應(yīng)用觸摸檢測裝置I的數(shù)碼相機(jī)。該數(shù)碼相機(jī)具有例如閃光用的發(fā)光部521、顯示部522、菜單開關(guān)523及快門按鈕524，觸摸檢測裝置I被應(yīng)用于該顯示部522上。因此，該數(shù)碼相機(jī)的顯示部522除具有顯示圖像的功能外，還具有檢測觸摸操作的功能。
[0155](應(yīng)用例3)
[0156]圖23所示的電子設(shè)備表示應(yīng)用觸摸檢測裝置I的攝像機(jī)的外觀。該攝像機(jī)具有例如本體部531、設(shè)置在該本體部531的前方側(cè)面上的被攝物體攝影用的鏡頭532、攝影時(shí)的啟動/停止開關(guān)533以及顯示部534。而且，觸摸檢測裝置I被應(yīng)用于顯示部534。因此，該攝像機(jī)的顯示部534除具有顯示圖像的功能外，還具有檢測觸摸操作的功能。
[0157](應(yīng)用例4)
[0158]圖24所示的電子設(shè)備是應(yīng)用觸摸檢測裝置I的筆記本電腦。該筆記本電腦具有例如本體541、用于文字等的輸入操作的鍵盤542以及顯示圖像的顯示部543。觸摸檢測裝置I被應(yīng)用于顯示部543。因此，該筆記本電腦的顯示部543除具有顯示圖像的功能外，還具有檢測觸摸操作的功能。
[0159](應(yīng)用例5)
[0160]圖25至圖31所示的電子設(shè)備是應(yīng)用觸摸檢測裝置I的便攜式電話機(jī)。該便攜式電話機(jī)例如通過連接部(鉸鏈部)553將上側(cè)箱體551和下側(cè)箱體552連接，具有:顯示屏554、副顯示屏555、閃光燈556以及相機(jī)557。觸摸檢測裝置I安裝在該顯示屏554上。因此，該便攜式電話機(jī)的顯示屏554除具有顯示圖像的功能外，還具有檢測觸摸操作的功能。
[0161](3.本發(fā)明的方式〉
[0162]本發(fā)明包括如下方式:
[0163](I) 一種觸摸檢測裝置，包括:驅(qū)動部，其向第一電極提供至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號，以檢測對象物的接近或接觸；檢測部，其和與上述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)上述第二電極的輸出值檢測上述對象物的接近或接觸；以及元件，其電連接上述驅(qū)動部與上述檢測部，輸入有來自上述驅(qū)動部的上述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容，其中，上述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自上述元件的輸出值及來自上述第二電極的輸出值，校正來自上述第二電極的輸出值。
[0164](2)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，上述激勵信號在相同定時(shí)輸入至上述第一電極和上述元件。
[0165](3)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，輸入上述第一電極的上述激勵信號被反轉(zhuǎn)并輸入至上述元件，來自上述第二電極的輸出值和來自上述元件的輸出值的和成為來自上述第二電極的輸出值的校正值。
[0166](4)根據(jù)上述(3)所述的觸摸檢測裝置，輸入上述元件的上述激勵信號由反相器反轉(zhuǎn)。
[0167](5)根據(jù)上述(3)所述的觸摸檢測裝置，輸入上述元件的上述激勵信號由使相位反轉(zhuǎn)的電路反轉(zhuǎn)。
[0168](6)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，來自上述驅(qū)動部的上述激勵信號以相同相位輸入上述第一電極和上述元件；在分別暫時(shí)將上述元件中存儲的電荷和來自上述第二電極的電荷進(jìn)行存儲后，求出兩者的電荷的差，并將所得的上述差作為來自上述第二電極的輸出值的校正值。
[0169](7)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，上述元件靠近上述檢測部而配置。
[0170](8)根據(jù)上述(7)所述的觸摸檢測裝置，上述元件安裝在裝有上述檢測部的基板上。
[0171 ] (9)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，電連接上述元件和上述驅(qū)動部的布線比電連接上述元件和上述檢測部的布線長。
[0172](10)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，上述檢測部和上述驅(qū)動部被作為單獨(dú)的電子兀件分開。
[0173](11)根據(jù)上述(I)所述的觸摸檢測裝置，上述電子元件是IC或IC封裝件。
[0174](12)—種帶觸摸檢測功能的顯示裝置，其具備觸摸檢測裝置，該觸摸檢測裝置包括:驅(qū)動部，其向第一電極提供至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號，以檢測對象物的接近或接觸；檢測部，其和與上述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)上述第二電極的輸出值檢測上述對象物的接近或接觸；以及元件，其電連接上述驅(qū)動部與上述檢測部，輸入有來自上述驅(qū)動部的上述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容，其中，上述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自上述元件的輸出值及來自上述第二電極的輸出值，校正來自上述第二電極的輸出值。
[0175](13) 一種電子設(shè)備，其具備觸摸檢測裝置，該觸摸檢測裝置包括:驅(qū)動部，其向第一電極提供至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號，以檢測對象物的接近或接觸；檢測部，其和與上述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)上述第二電極的輸出值檢測上述對象物的接近或接觸；以及元件，其電連接上述驅(qū)動部與上述檢測部，輸入有來自上述驅(qū)動部的上述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容，其中，上述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自上述元件的輸出值及來自上述第二電極的輸出值，校正來自上述第二電極的輸出值。[0176]上述內(nèi)容對本發(fā)明進(jìn)行了說明，但本發(fā)明不受上述內(nèi)容的限定。而且，在上述本發(fā)明的構(gòu)成要素中，包含本領(lǐng)域技術(shù)人員可以很容易地想到的內(nèi)容、實(shí)質(zhì)上相同的內(nèi)容等所謂的均等范圍的內(nèi)容。并且，上述構(gòu)成要素可適當(dāng)?shù)亟M合。此外，只要在不脫離本發(fā)明宗旨的范圍內(nèi)，可進(jìn)行構(gòu)成要素的各種省略、替代和改變。[0177]符號說明
[0178]1、觸摸檢測裝置2、像素基板
[0179]3、對置基板5、基板
[0180]6、液晶層7、帶觸摸檢測功能的顯示裝置
[0181]10、帶觸摸檢測功能的顯示部11、控制部
[0182]12、柵極驅(qū)動器13、源極驅(qū)動器
[0183]14、14a、驅(qū)動部14f、第一驅(qū)動部
[0184]14s、第二驅(qū)動部15、16、多路復(fù)用器
[0185]20、液晶顯示器21、基板
[0186]22、像素電極30、觸摸檢測器
[0187]31、玻璃基板32、彩色濾光片
[0188]35、偏光板40、觸摸檢測部
[0189]42、42A、信號放大部43、A/D變換器
[0190]44、信號處理部45、坐標(biāo)提取部
[0191]47、檢測定時(shí)控制部50、50A、50B、50C、校正電路
[0192]51、反相器54a ~54k、56、Cref、電容器
[0193]57_0~57_m、第一蓄電器 58_0~58_m、第二蓄電器
[0194]CIO、CIm、CIref、信號放大器Rx、觸摸檢測電極
[0195]Rxref、布線SHO、SHm、SHref、采樣保持電路
[0196]SW1_0 ~SWl_m、第一開關(guān) SW2_0 ~SW2_m、第二開關(guān)
[0197]SW3_0~SW3_m、第三開關(guān) SW4_0~SW4_m、第四開關(guān)
[0198]TSVcom、觸摸檢測用信號 Tx、驅(qū)動電極
[0199]Vdet、觸摸檢測信號Vdetc、校正觸摸檢測信號
[0200]Vref、校正輸出值。
【權(quán)利要求】
1.一種觸摸檢測裝置，包括: 驅(qū)動部，其向第一電極提供至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號，以檢測對象物的接近或接觸； 檢測部，其和與所述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)所述第二電極的輸出值檢測所述對象物的接近或接觸；以及 元件，其電連接所述驅(qū)動部與所述檢測部，輸入有來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容， 所述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自所述元件的輸出值及來自所述第二電極的輸出值，校正來自所述第二電極的輸出值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中，所述激勵信號在相同定時(shí)輸入至所述第一電極和所述元件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中， 輸入所述第一電極的所述激勵信號被反轉(zhuǎn)并輸入至所述元件， 來自所述第二電極的輸出值和來自所述元件的輸出值的和成為來自所述第二電極的輸出值的校正值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所 述的觸摸檢測裝置，其中，輸入所述元件的所述激勵信號由反相器反轉(zhuǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸摸檢測裝置，其中，輸入所述元件的所述激勵信號由使相位反轉(zhuǎn)的電路反轉(zhuǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中， 來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號以相同相位輸入所述第一電極和所述元件， 在分別暫時(shí)將所述元件中存儲的電荷和來自所述第二電極的電荷進(jìn)行存儲后，求出兩者的電荷的差，并將所得的所述差作為來自所述第二電極的輸出值的校正值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中，所述元件靠近所述檢測部而配置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸摸檢測裝置，其中，所述元件安裝在裝有所述檢測部的基板上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中，電連接所述元件和所述驅(qū)動部的布線比電連接所述元件和所述檢測部的布線長。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中，所述檢測部和所述驅(qū)動部被作為單獨(dú)的電子兀件分開。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸檢測裝置，其中，所述電子元件是IC或IC封裝件。
12.—種帶觸摸檢測功能的顯示裝置，其具備觸摸檢測裝置，所述觸摸檢測裝置包括: 驅(qū)動部，其向第一電極提供至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號，以檢測對象物的接近或接觸； 檢測部，其和與所述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)所述第二電極的輸出值檢測所述對象物的接近或接觸；以及 元件，其電連接所述驅(qū)動部與所述檢測部，輸入有來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容， 所述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自所述元件的輸出值及來自所述第二電極的輸出值，校正來自所述第二電極的輸出值。
13.一種電子設(shè)備，其具備觸摸檢測裝置，所述觸摸檢測裝置包括: 驅(qū)動部，其向第一電極提供至少大小以規(guī)定周期變化的激勵信號，以檢測對象物的接近或接觸； 檢測部，其和與所述第一電極相對的第二電極電連接，并根據(jù)所述第二電極的輸出值檢測所述對象物的接近或接觸；以及 元件，其電連接所述驅(qū)動部與所述檢測部，輸入有來自所述驅(qū)動部的所述激勵信號，且具有規(guī)定大小的靜電電容， 所述觸摸檢測裝置使用在相同定時(shí)取得的來自所述元件的輸出值及來自所述第二電極的輸出值，校正來自所述 第二電極的輸出值。
【文檔編號】G02F1/1333GK103902121SQ201310733110
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2013年12月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月26日
【發(fā)明者】安住康平, 木田芳利 申請人:株式會社日本顯示器