檢測基板缺陷的檢測方法及檢測裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測基板缺陷的檢測方法，該檢測方法包括：S1、獲取待檢測基板的圖像；其中，所述檢測方法還包括精檢步驟，該精檢步驟包括：S2、判斷所述待檢測基板的圖像中上是否存在第一缺陷區(qū)；當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，所述精檢步驟包括：S3、將所述第一缺陷區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述圖像中的正常區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。本發(fā)明還提供一種檢測裝置。在本發(fā)明所提供的檢測方法中，提高了所述第一缺陷區(qū)與所述正常區(qū)的對(duì)比度，便于檢驗(yàn)員區(qū)分第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，減少漏檢情況的出現(xiàn)。
【專利說明】檢測基板缺陷的檢測方法及檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及基板的檢測領(lǐng)域，具體地，涉及一種檢測基板缺陷的檢測方法和一種實(shí)施上述檢測方法的檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前生產(chǎn)液晶基板的彩膜基板時(shí)，通常要利用檢測裝置裝置檢測彩膜基板上是否存在色彩不均勻(Mura)的不良。
[0003]檢測裝置包括圖像采集單元，利用圖像采集單元采集彩膜基板的圖像，并將該圖像處理轉(zhuǎn)換為灰度圖，隨后由操作員對(duì)灰度圖像進(jìn)行觀察判斷，看是否存在灰度與周邊區(qū)域變化較大的區(qū)域。若存在，則該區(qū)域?yàn)槿毕輩^(qū)。
[0004]目前的檢測裝置只能生成灰度圖像，當(dāng)缺陷區(qū)面積較大且與周邊區(qū)灰度差異較大時(shí)，則容易被發(fā)現(xiàn)。在現(xiàn)有技術(shù)中采用的檢測方法中，獲取待檢測基板的圖像為灰度圖，檢驗(yàn)員憑肉眼判斷檢測基板的圖像上是否存在缺陷區(qū)和正常區(qū)。有時(shí)缺陷區(qū)與周圍正常區(qū)對(duì)比度較小(或者色差較小)，檢驗(yàn)員則難以判斷該缺陷區(qū)，從而導(dǎo)致漏檢現(xiàn)象。
[0005]因此，如何避免出現(xiàn)漏檢的情況成為本領(lǐng)域亟待解決的技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種檢測基板缺陷的檢測方法及檢測裝置，利用所述檢測裝置執(zhí)行所述檢測方法可以降低漏檢情況的發(fā)生。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，作為本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種檢測基板缺陷的檢測方法，該檢測方法包括:
[0008]S1、獲取待檢測基板的圖像；其中，
[0009]所述檢測方法還包括精檢步驟,該精檢步驟包括:
[0010]S2、判斷所述待檢測基板的圖像中上是否存在第一缺陷區(qū)；
[0011]當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，所述精檢步驟包括:
[0012]S3、將所述第一缺陷區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述圖像中的正常區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。
[0013]優(yōu)選地，在所述步驟SI中獲取的所述待檢測基板的圖像為灰度圖，所述步驟SI包括:
[0014]S11、獲取所述圖像上各像素的灰度值；
[0015]S12、計(jì)算所述圖像上各像素的灰度值與標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值；
[0016]在所述步驟S2中，將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述第一缺陷區(qū)，將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值在不超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述正常區(qū)。
[0017]優(yōu)選地，在所述步驟Sll和所述步驟S12之間包括:
[0018]S115、計(jì)算所述圖像中各個(gè)像素的灰度值的平均灰度值，將該平均灰度值設(shè)置為所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值。
[0019]優(yōu)選地，所述第一缺陷區(qū)沿所述待檢測基板的圖像的高度方向延伸。
[0020]優(yōu)選地，所述步驟SI與所述步驟S2之間包括粗檢步驟，該粗檢步驟包括:
[0021]S15、判斷所述待檢測基板的圖像上是否存第二缺陷區(qū)，所述第二缺陷區(qū)的面積大于所述第一缺陷區(qū)的面積，和/或所述第二缺陷區(qū)沿所述待檢測基板的圖像的寬度方向延伸，
[0022]當(dāng)所述待檢測基板的圖像上不存在所述第二缺陷區(qū)時(shí)，則執(zhí)行所述步驟S2。
[0023]作為本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供一種檢測基板缺陷的檢測裝置，該檢測裝置包括圖像采集單元，該圖像采集單元能夠采集待檢測基板的圖像，其中，所述檢測裝置包括處理器和色彩轉(zhuǎn)換單元，所述圖像采集單元分別與所述處理器和所述色彩轉(zhuǎn)換單元連接，以能夠?qū)⑺鰣D像分別發(fā)送給所述處理器和所述色彩轉(zhuǎn)換單元，所述處理器能夠判定所述圖像中的第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，并將判定結(jié)果發(fā)送至所述色彩轉(zhuǎn)換單元，所述色彩轉(zhuǎn)換單元能夠根據(jù)所述判斷結(jié)果將所述第一缺陷區(qū)中的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色、將所述正常區(qū)中的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。
[0024]優(yōu)選地，所述圖像為灰度圖，所述處理器能夠獲取所述圖像上各像素的灰度值以及所述圖像上各像素的灰度值與標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值，且所述處理器能夠?qū)⒒叶戎蹬c所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述第一缺陷區(qū)、將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值 之差的絕對(duì)值在不超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述正常區(qū)。
[0025]優(yōu)選地，所述處理器能夠計(jì)算所述圖像中各個(gè)像素的灰度值的平均灰度值，并能夠?qū)⒃撈骄叶戎翟O(shè)置為所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值。
[0026]優(yōu)選地，所述第一缺陷區(qū)沿所述基板的高度方向延伸。
[0027]在本發(fā)明所提供的檢測方法中，首先計(jì)算待檢測基板的圖像中是否存在第一缺陷區(qū)。當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，將所述第一缺陷區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述正常區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色，從而提高了所述第一缺陷區(qū)與所述正常區(qū)的對(duì)比度，便于檢驗(yàn)員區(qū)分第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，減少漏檢情況的出現(xiàn)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0028]附圖是用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0029]圖1是本發(fā)明所提供的檢測方法的流程圖；
[0030]圖2是圖1中所示的檢查方法中，步驟SI的流程圖；
[0031]圖3是本發(fā)明所提供的檢測裝置的示意圖。
[0032]附圖標(biāo)記說明
[0033]100:圖像采集單元200:處理器
[0034]300:色彩轉(zhuǎn)換單元400:顯示單元
【具體實(shí)施方式】
[0035]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的【具體實(shí)施方式】僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0036]作為本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種檢測基板缺陷的檢測方法，該檢測方法包括:
[0037]S1、獲取待檢測基板的圖像；其中，所述檢測方法還包括精檢步驟，該精檢步驟包括:
[0038]S2、判斷所述待檢測基板的圖像中上是否存在第一缺陷區(qū)；
[0039]當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，所述精檢步驟還包括:
[0040]S3、將所述第一缺陷區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述待檢測基板的正常區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。
[0041]在本發(fā)明所提供的檢測方法中，首先計(jì)算待檢測基板的圖像中是否存在第一缺陷區(qū)。當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，將所述第一缺陷區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述正常區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色，從而提高了所述第一缺陷區(qū)與所述正常區(qū)的對(duì)比度，便于檢驗(yàn)員區(qū)分第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，減少漏檢情況的出現(xiàn)。[0042]在本發(fā)明中，對(duì)第一純色和第二純色的具體色彩并沒有特殊的規(guī)定，只要第一純色與第二純色之間具有較大的對(duì)比度，便于檢驗(yàn)員區(qū)分即可。例如，第一純色可以為黑色，第二純色可以為白色；或者第一純色可以為紅色，第二純色可以為白色等。
[0043]由于第一純色和第二純色之間具有較大的對(duì)比度，因此本發(fā)明所提供的檢測方法尤其適用于檢測面積較小、不易被發(fā)現(xiàn)的缺陷。待檢測的基板可以為用于顯示面板的彩膜基板。
[0044]如圖1中所示，當(dāng)待檢測基板的圖像中不存在第一缺陷區(qū)時(shí)，則可以直接進(jìn)入下
一道工序。
[0045]可以通過引入標(biāo)準(zhǔn)灰度值的方法判斷所述待檢測基板的圖像中是否存在第一缺陷區(qū)。如果基板的灰度圖中，像素的灰度值等于所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值，則說明該像素正常，即，該像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域?yàn)檎^(qū)域。因此，優(yōu)選地，如圖2所示，在所述步驟SI中獲取的所述待檢測基板的圖像為灰度圖，所述步驟SI包括:
[0046]S11、獲取所述圖像上各像素的灰度值Xi (i為自然數(shù)，且i小于所述圖像上的像素總數(shù));
[0047]S12、計(jì)算所述圖像上各像素的灰度值Xn與標(biāo)準(zhǔn)灰度值Xs之差的絕對(duì)值I ΛΧ| ;
[0048]在所述步驟S2中，將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過預(yù)定值Spec的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述第一缺陷區(qū)，將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值在不超過預(yù)定值Spec的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述正常區(qū)。
[0049]例如，在計(jì)算圖像上第i個(gè)像素是否位于第一缺陷區(qū)中時(shí)，首先獲取所述圖像上第i個(gè)像素的灰度值Xi，然后計(jì)算第i個(gè)像素的灰度值Xi與標(biāo)準(zhǔn)灰度值Xs之差的絕對(duì)值
AXl = IX1-XsU當(dāng)|ΛΧ| > Spec時(shí)，則判定所述圖像上第i個(gè)像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域?yàn)榈谝蝗毕輩^(qū)；當(dāng)I ΛΧ|≤Spec時(shí)，則判定第i個(gè)像素不處于所述第一缺陷區(qū)中。在本發(fā)明中，對(duì)預(yù)定值Spec并沒有特殊的限定,例如,預(yù)定值Spec可以為O至3之間的任意數(shù)值。
[0050]在本發(fā)明中，可以人為地設(shè)置所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值，也可以通過在所述步驟Sll和所述步驟S12之間進(jìn)行的如下步驟S115計(jì)算所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值Xs:
[0051]S115、計(jì)算所述圖像中各個(gè)像素的灰度值的平均灰度值Ii將該平均灰度值\,設(shè)置為所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值Xs。[0052]當(dāng)一個(gè)像素的灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過所述預(yù)設(shè)值Spec時(shí)，則可判定所述像素處于所述第一缺陷區(qū)中。
[0053]可以利用本發(fā)明所提供的檢測方法檢測檢驗(yàn)員利用現(xiàn)有技術(shù)中的檢測方法不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。
[0054]例如，所述第一缺陷區(qū)的面積可以不大于2mm2，或者所述第一缺陷區(qū)沿所述基板的高度方向延伸，且第一缺陷區(qū)的寬度不大于1mm。所謂“基板的高度方向”是指，基板用于顯示裝置中且該顯示裝置正常顯示時(shí)，圖像的高度方向。當(dāng)所述第一缺陷區(qū)寬度較窄時(shí)(例如，所述第一缺陷區(qū)的寬度小于1_時(shí))，圖像高度方向的缺陷不易被發(fā)現(xiàn)。并且，如果所述第一缺陷區(qū)各像素的灰度值與該第一缺陷區(qū)周圍的正常區(qū)灰度值比較接近時(shí)(例如，第一缺陷區(qū)的各像素的灰度值與該第一缺陷區(qū)周圍的正常區(qū)的灰度值之差的絕對(duì)值小于2時(shí))，檢驗(yàn)員利用現(xiàn)有技術(shù)中的檢測方法難以發(fā)現(xiàn)上述第一缺陷區(qū)。由于第一純色與第二純色之間具有較大的對(duì)比度，利用本發(fā)明所提供的檢測方法則容易檢出所述第一缺陷區(qū)。
[0055]可以將本發(fā)明所提供的檢測方法中的精檢步驟與現(xiàn)有技術(shù)中的檢測方法配合使用。即，如圖1所示，在本發(fā)明所提供的檢測方法中，所述步驟SI與所述步驟S2之間可以包括粗檢步驟，該粗檢步驟包括:S15、判斷所述待檢測基板的圖像上是否存第二缺陷區(qū)，該第二缺陷區(qū)的面積大于所述第一缺陷區(qū)的面積(例如，第二缺陷區(qū)的面積可以大于2mm2)，當(dāng)?shù)诙毕輩^(qū)為條形缺陷時(shí)，該第二缺陷區(qū)的寬度可以大于1mm。又或者，所述第二缺陷區(qū)可以沿所述待檢測基板的圖像的寬度方向延伸。又或者，第二缺陷區(qū)各像素的灰度值與該第二缺陷區(qū)周圍的正常區(qū)的灰度值相差較大(例如，第二缺陷區(qū)各像素的灰度值與該第二缺陷區(qū)周圍的正常區(qū)的灰度值之差的絕對(duì)值大于3)。總之，與第一缺陷區(qū)相比，第二缺陷區(qū)是相對(duì)較明顯的缺陷，便于檢驗(yàn)員肉眼發(fā)現(xiàn)。所謂“基板的寬度方向”是指，基板用于顯示裝置中且該顯示裝置正常顯示時(shí)，圖像的寬度方向。
[0056]當(dāng)所述待檢測基板的圖像上不存在所述第二缺陷區(qū)時(shí)，則執(zhí)行所述步驟S2。
[0057]在本發(fā)明所提供的檢測方法中增加所述粗檢步驟之后，可以快速地篩選出包括第二缺陷區(qū)的基板，可以縮短整個(gè)檢測方法所需的時(shí)間，提高檢測方法的效率，并且可以最大限度地避免漏檢。
[0058]作為本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供一種檢測基板缺陷的檢測裝置，該檢測裝置用于執(zhí)行上述檢測方法。如圖3所示，所述檢測裝置可以包括圖像采集單元100，該圖像采集單元100可以采集待檢測基板的圖像，其中，所述檢測裝置還包括處理器200和色彩轉(zhuǎn)換單元300，圖像采集單元100分別與處理器200和色彩轉(zhuǎn)換單元300連接，以將所述待檢測基板的圖像分別發(fā)送給處理器200和色彩轉(zhuǎn)換單元300，處理器200可以判定所述圖像中的第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，并將判定結(jié)果發(fā)送至色彩轉(zhuǎn)換單元300，該色彩轉(zhuǎn)換單元300可以根據(jù)所述判斷結(jié)果將所述第一缺陷區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色、將所述正常區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。
[0059]容易理解的是，所述色彩轉(zhuǎn)換單元300與顯示單元400電連接，顯示單元400可以顯示經(jīng)過色彩單元300轉(zhuǎn)換后的圖像。圖像采集單元采集到待檢測基板的圖像后，將該圖像發(fā)送給處理器200和色彩轉(zhuǎn)換單元300。
[0060]處理器200中生成的“判斷結(jié)果”包括所述圖像中是否存在所述第一缺陷區(qū)以及當(dāng)所述圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，該第一缺陷區(qū)的位置等信息。[0061]如上文中所述，將所述第一缺陷區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述正常區(qū)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色之后，提高了所述第一缺陷區(qū)與所述正常區(qū)的對(duì)比度，便于檢驗(yàn)員區(qū)分第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，減少漏檢情況的出現(xiàn)。
[0062]在本發(fā)明中，對(duì)圖像采集單元100的具體形式并沒有特殊的限制。例如圖像采集單元100可以包括線性相機(jī)和照明單元，所述線性相機(jī)與所述處理器相連，所述照明單元可以發(fā)出照射在待檢測基板上的光線。
[0063]當(dāng)所述圖像為灰度圖時(shí)，為了執(zhí)行步驟Sll和步驟S12，所述處理器可以獲取所述圖像上各像素的灰度值以及所述圖像上各像素的灰度值與標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值，且所述處理器能夠?qū)⒒叶戎蹬c所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述第一缺陷區(qū)、將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值在不超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述正常區(qū)。
[0064]為了執(zhí)行步驟S115，所述處理器設(shè)置為該處理器可以計(jì)算所述圖像中各個(gè)像素的灰度值的平均灰度值，并能夠?qū)⒃撈骄叶戎翟O(shè)置為所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值。
[0065]優(yōu)選地，所述第一缺陷區(qū)沿所述基板的高度方向延伸。
[0066]可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種檢測基板缺陷的檢測方法，該檢測方法包括: S1、獲取待檢測基板的圖像；其特征在于， 所述檢測方法還包括精檢步驟，該精檢步驟包括: S2、判斷所述待檢測基板的圖像中上是否存在第一缺陷區(qū)； 當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，所述精檢步驟包括: S3、將所述第一缺陷區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述圖像中的正常區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在所述步驟SI中獲取的所述待檢測基板的圖像為灰度圖，所述步驟SI包括: S11、獲取所述圖像上各像素的灰度值； S12、計(jì)算所述圖像上各像素的灰度值與標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值； 在所述步驟S2中，將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述第一缺陷區(qū)，將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值在不超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述正常區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，在所述步驟Sll和所述步驟S12之間包括: S115、計(jì)算所述圖像中各個(gè)像素的灰度值的平均灰度值，將該平均灰度值設(shè)置為所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的檢測方法，其特征在于，所述第一缺陷區(qū)沿所述待檢測基板的圖像的聞度方向延伸。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟SI與所述步驟S2之間包括粗檢步驟，該粗檢步驟包括: S15、判斷所述待檢測基板的圖像上是否存第二缺陷區(qū)，所述第二缺陷區(qū)的面積大于所述第一缺陷區(qū)的面積，和/或所述第二缺陷區(qū)沿所述待檢測基板的圖像的寬度方向延伸， 當(dāng)所述待檢測基板的圖像上不存在所述第二缺陷區(qū)時(shí)，則執(zhí)行所述步驟S2。
6.一種檢測基板缺陷的檢測裝置，該檢測裝置包括圖像采集單元，該圖像采集單元能夠采集待檢測基板的圖像，其特征在于，所述檢測裝置包括處理器和色彩轉(zhuǎn)換單元，所述圖像采集單元分別與所述處理器和所述色彩轉(zhuǎn)換單元連接，以能夠?qū)⑺鰣D像分別發(fā)送給所述處理器和所述色彩轉(zhuǎn)換單元，所述處理器能夠判定所述圖像中的第一缺陷區(qū)和正常區(qū)，并將判定結(jié)果發(fā)送至所述色彩轉(zhuǎn)換單元，所述色彩轉(zhuǎn)換單元能夠根據(jù)所述判斷結(jié)果將所述第一缺陷區(qū)中的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色、將所述正常區(qū)中的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測裝置，其特征在于，所述圖像為灰度圖，所述處理器能夠獲取所述圖像上各像素的灰度值以及所述圖像上各像素的灰度值與標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值，且所述處理器能夠?qū)⒒叶戎蹬c所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述第一缺陷區(qū)、將灰度值與所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值之差的絕對(duì)值在不超過預(yù)定值的像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域判定為所述正常區(qū)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述處理器能夠計(jì)算所述圖像中各個(gè)像素的灰度值的平均灰度值，并能夠?qū)⒃撈骄叶戎翟O(shè)置為所述標(biāo)準(zhǔn)灰度值。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的 檢測裝置，其特征在于，所述第一缺陷區(qū)沿所述基板的高度方向延伸。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK103792705SQ201410041819
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年1月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月28日
【發(fā)明者】毛繼禹, 張然 申請人:北京京東方顯示技術(shù)有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司