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一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)的制作方法

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一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供了一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),用于利用熱光源對(duì)待成像物體進(jìn)行關(guān)聯(lián)成像,包括:物臂光路,其中設(shè)有第一桶探測(cè)器和待成像物體,第一桶探測(cè)器采樣物臂光路中經(jīng)過(guò)待成像物體后的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm;第一參考臂光路,其中設(shè)有采樣第一參考臂光路的光場(chǎng)強(qiáng)度分布信息的參考探測(cè)器裝置;參考探測(cè)器裝置包括至少一個(gè)參考探測(cè)器單元,每一參考探測(cè)器單元包括時(shí)序控制器和由其控制的多個(gè)具有空間分辨能力的參考探測(cè)器,在時(shí)序控制器控制下多個(gè)參考探測(cè)器能依次進(jìn)行曝光以進(jìn)行采樣。本發(fā)明采用多個(gè)參考探測(cè)器按時(shí)間順序交替曝光,使得曝光幀率可迭加起來(lái),突破了現(xiàn)有參考探測(cè)器在采樣速度上的限制,從而大大提高了采樣速度,縮短了成像時(shí)間。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光場(chǎng)成像技術(shù),特別是涉及一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]關(guān)聯(lián)成像技術(shù)(也稱(chēng)“鬼”成像)是一種基于熱光場(chǎng)或量子光場(chǎng)的二階關(guān)聯(lián)特性,對(duì)物體信息在非定域上進(jìn)行重建的一種技術(shù)。根據(jù)光場(chǎng)統(tǒng)計(jì)性質(zhì)的不同,關(guān)聯(lián)成像有量子成像和熱光關(guān)聯(lián)成像之分,但二者實(shí)現(xiàn)的成像結(jié)果是一致的。由于熱光源(例如太陽(yáng)光)與我們?nèi)粘I钕⑾⑾嚓P(guān),研究方向趨向于基于熱光源的關(guān)聯(lián)成像技術(shù)。近年來(lái),基于熱光源的關(guān)聯(lián)成像技術(shù)得到了迅猛發(fā)展,不同于傳統(tǒng)的透鏡成像或照相機(jī)技術(shù),熱光源的關(guān)聯(lián)成像技術(shù)具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),比如,可不用透鏡而成像,并且不受大氣湍流或其它散射介質(zhì)的影響,可以在大氣湍流、云霧遮擋的情況下依然獲得物體清晰的成像,這是傳統(tǒng)經(jīng)典成像無(wú)法做到的。關(guān)聯(lián)成像技術(shù)在國(guó)防、軍事、遙感,通訊、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有重要的潛在應(yīng)用價(jià)值,是傳統(tǒng)透鏡成像技術(shù)所不可替代的。
[0003]關(guān)聯(lián)成像技術(shù)的不足之處,則是重建圖像所需要的數(shù)據(jù)量大,約為IO4采樣的量級(jí),而目前相機(jī)曝光幀率較低,一般為60幀每秒,兩者之間的矛盾成為實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)關(guān)聯(lián)成像的瓶頸。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的一個(gè)目的是要提供一種采樣速度高、成像時(shí)間快的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)。
[0005]本發(fā)明一個(gè)進(jìn)一步的目的是提供一種實(shí)用化的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)。
[0006]特別地,本發(fā)明提供了一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),用于利用熱光源對(duì)待成像物體進(jìn)行關(guān)聯(lián)成像,包括:
[0007]物臂光路,所述物臂光路中設(shè)有第一桶探測(cè)器和所述待成像物體,所述第一桶探測(cè)器用于采樣所述物臂光路中經(jīng)過(guò)所述待成像物體后的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm,m表示采樣次序;
[0008]第一參考臂光路,所述第一參考臂光路中設(shè)有用于采樣所述第一參考臂光路的光場(chǎng)強(qiáng)度分布信息的參考探測(cè)器裝置;
[0009]其中,所述參考探測(cè)器裝置包括至少一個(gè)參考探測(cè)器單元,每一所述參考探測(cè)器單元包括時(shí)序控制器和由所述時(shí)序控制器控制的多個(gè)具有空間分辨能力的參考探測(cè)器;其中,在所述時(shí)序控制器控制下所述多個(gè)參考探測(cè)器能依次進(jìn)行曝光以進(jìn)行所述采樣。
[0010]進(jìn)一步地,每一所述參考探測(cè)器單元還包括:分束裝置,用于從所述第一參考臂光路中分出并列的多個(gè)子參考光路,每一所述參考探測(cè)器分別布置在對(duì)應(yīng)的所述子參考光路中。
[0011]進(jìn)一步地,還包括:
[0012]第二參考臂光路,所述第二參考臂光路中設(shè)有第二桶探測(cè)器,用于采樣所述第二參考臂光路的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm ;和[0013]閾值構(gòu)建單元,用于根據(jù)所述總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm和總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm的比值信號(hào)Tm (Sm/Rm)的預(yù)定采樣次數(shù)M0的平均值T。確定針對(duì)所述比值信號(hào)Tm的上閾值T。+和下閾值T?!?,其中,T:>TQ>T?!?;
[0014]其中,所述參考探測(cè)器裝置設(shè)置成僅在所述比值信號(hào)Tm大于所述上閾值T。+的情況下或者所述比值信號(hào)Tm小于所述下閾值T。一的情況下進(jìn)行所述采樣。
[0015]進(jìn)一步地,所述閾值構(gòu)建單元包括:
[0016]第一除法器,用于接收來(lái)自所述第一桶探測(cè)器的所述總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm和來(lái)自所述第二桶探測(cè)器的所述總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm,并產(chǎn)生所述比值信號(hào);
[0017]累加器,用于對(duì)所述預(yù)定采樣次數(shù)Mtl的所述比值信號(hào)Tm進(jìn)行累加;
[0018]第二除法器,用于根據(jù)所述累加器的累加結(jié)果和所述預(yù)定采樣次數(shù)Mtl獲得所述平均值T0 ;和
[0019]鑒別器, 用于根據(jù)所述平均值T。生成所述上閾值T:和所述下閾值T?!?,將所述比值信號(hào)與所述上閾值T。+和下閾值T。一進(jìn)行比較,并僅在所述比值信號(hào)大于所述上閾值T:時(shí)或者所述比值信號(hào)Tm小于所述下閾值T。一時(shí)向所述參考探測(cè)器裝置發(fā)送一曝光觸發(fā)信號(hào),以觸發(fā)所述參考探測(cè)器裝置進(jìn)行所述采樣。
[0020]進(jìn)一步地,所述閾值構(gòu)建單元還包括:
[0021]計(jì)數(shù)比較器,用于對(duì)所述比值信號(hào)Tm的采樣次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),以獲取所述比值信號(hào)Tm的采樣次序m,并將所述采樣次序m與所述預(yù)定采樣次數(shù)M0進(jìn)行比較;
[0022]其中,在所述采樣次序m不大于所述預(yù)定采樣次數(shù)M0的情況下,來(lái)自所述第一除法器的所述比值信號(hào)Tm被送入所述累加器;并且,所述采樣次序m大于所述預(yù)定采樣次數(shù)M0的情況下,來(lái)自所述第一除法器的所述比值信號(hào)Tm被送入所述鑒別器。
[0023]進(jìn)一步地,所述至少一個(gè)參考探測(cè)器單元包括第一參考探測(cè)器單元和第二參考探測(cè)器單元;
[0024]其中,在所述比值信號(hào)大于所述上閾值T。+時(shí),所述曝光觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)所述第一參考探測(cè)器單元中的一個(gè)參考探測(cè)器進(jìn)行曝光;在所述比值信號(hào)TVj、于所述下閾值T。—時(shí),所述曝光觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)所述第二參考探測(cè)器單元中的一個(gè)參考探測(cè)器進(jìn)行曝光。
[0025]進(jìn)一步地,所述上閾值T。+和所述下閾值T。一分別設(shè)定為Τx?+α RdPT^a-a )Tci,其中α為可調(diào)節(jié)參數(shù)且0〈 a〈I。
[0026]進(jìn)一步地,所述第一參考探測(cè)器單元和所述第二參考探測(cè)器單元采樣所得的圖像矩陣數(shù)據(jù)分別送入不同的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址A和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址B。
[0027]進(jìn)一步地,在計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址A和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址B接收的圖像矩陣數(shù)據(jù)數(shù)量均為M時(shí),將兩者接收的圖像矩陣數(shù)據(jù)相減并對(duì)相減結(jié)果進(jìn)行累加求和,通過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)對(duì)累加求和結(jié)果進(jìn)行圖像處理來(lái)得到重建圖像。
[0028]進(jìn)一步地,所述多個(gè)參考探測(cè)器排列為具有空間分辨能力的(XD(charge coupleddevice,電荷稱(chēng)合兀件)或 CMOS (complementary metal oxide semiconductor,互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)面陣列相機(jī)。
[0029]本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例基于如下構(gòu)思:通過(guò)獲取第一桶探測(cè)器和第二桶探測(cè)器的光強(qiáng)度比值,來(lái)估算光場(chǎng)強(qiáng)度漲落平均值,根據(jù)所述光強(qiáng)漲落平均值,設(shè)定兩個(gè)光強(qiáng)閾值,及與其對(duì)應(yīng)的兩個(gè)電壓閾值,在高于上閾值或低于下閾值時(shí),觸發(fā)參考探測(cè)器曝光采樣。[0030]本發(fā)明克服了傳統(tǒng)關(guān)聯(lián)成像方法中參考探測(cè)器采樣速度慢的限制,采用多個(gè)參考探測(cè)器按時(shí)間順序交替曝光,使得曝光幀率可迭加起來(lái),突破了現(xiàn)有參考探測(cè)器在采樣速度上的限制,從而大大提高了采樣速度,縮短了成像時(shí)間。
[0031]本發(fā)明提高了采樣的效率,一是采樣數(shù)可極大降低,二是計(jì)算中不再使用現(xiàn)有技術(shù)中矩陣關(guān)聯(lián)乘法運(yùn)算而使用矩陣加減運(yùn)算,節(jié)省了計(jì)算時(shí)間。兩者的結(jié)合,使得在理論上可實(shí)現(xiàn)秒量級(jí)的準(zhǔn)實(shí)時(shí)成像,突破了現(xiàn)有器件不能實(shí)現(xiàn)高速采樣和不能滿足實(shí)時(shí)關(guān)聯(lián)成像的限制,使關(guān)聯(lián)成像在成像時(shí)間上有質(zhì)的飛躍,得到的關(guān)聯(lián)成像的圖像與特定的圖像處理方式相結(jié)合,使得關(guān)聯(lián)成像技術(shù)無(wú)論在成像質(zhì)量還是成像時(shí)間上都接近于實(shí)用化。
[0032]根據(jù)下文結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明具體實(shí)施例的詳細(xì)描述,本領(lǐng)域技術(shù)人員將會(huì)更加明了本發(fā)明的上述以及其他目的、優(yōu)點(diǎn)和特征。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0033]后文將參照附圖以示例性而非限制性的方式詳細(xì)描述本發(fā)明的一些具體實(shí)施例。附圖中相同的附圖標(biāo)記標(biāo)示了相同或類(lèi)似的部件或部分。附圖中:
[0034]圖1是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)的示意性結(jié)構(gòu)布置圖;
[0035]圖2是圖1所示第一參考探測(cè)器單元的示意性結(jié)構(gòu)組成圖;
[0036]圖3是圖1所示第二參考探測(cè)器單元的示意性結(jié)構(gòu)組成圖;
[0037]圖4是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)的示意性工作流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0038]圖1是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)的示意性結(jié)構(gòu)布置圖。圖1中的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng)可以包括物臂光路0A、第一參考臂光路RAl和第二參考臂光路RA2。物臂光路OA中可以具有第一桶探測(cè)器45和待成像物體3。第一桶探測(cè)器45用于采樣所述物臂光路OA中經(jīng)過(guò)所述待成像物體3后的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm。第一參考臂光路RAl中具有參考探測(cè)器裝置,用于采樣所述第一參考臂光路RAl的光場(chǎng)強(qiáng)度分布信息。參考探測(cè)器裝置可以具有多個(gè)參考探測(cè)器單元。在圖1所示實(shí)施例中,參考探測(cè)器裝置具有第一參考探測(cè)器單元15和第二參考探測(cè)器單元16。在其它實(shí)施例中,參考探測(cè)器裝置還可以設(shè)置更多或更少個(gè)參考探測(cè)器單元。第二參考臂光路RA2具有第二桶探測(cè)器78和閾值構(gòu)建單元。第二桶探測(cè)器78用于采樣所述第二參考臂光路RA2的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm。閾值構(gòu)建單元可以包括第一除法器9、計(jì)數(shù)比較器10、累加器11、第二除法器12及鑒別器13。
[0039]對(duì)照?qǐng)D1和圖4,熱光源I發(fā)出的光可以經(jīng)非偏振分束器2分成1: (Ntl-1)光強(qiáng)比例的兩束光束,Ntl為大于等于2的自然數(shù)。其中,分束器2分出的1/X光束進(jìn)入到物臂光路0A,并經(jīng)過(guò)待成像物體3。經(jīng)過(guò)待成像物體3的光可以是以透射形式經(jīng)過(guò)也可以是以反射形式經(jīng)過(guò)。然后用透鏡4收集經(jīng)過(guò)待成像物體3的光并將其匯聚到點(diǎn)探測(cè)器5。點(diǎn)探測(cè)器5可以為例如光電二極管。透鏡4和點(diǎn)探測(cè)器5—起組成了第一桶探測(cè)器45。第一桶探測(cè)器45得到待成像物體3透射或反射的光的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm,m表示采樣次序。
[0040]由分束器2分出的強(qiáng)度為(Nq-1)/Ntl的另一光束進(jìn)入非偏振分束器6按照1:1分成光強(qiáng)相等的兩束光束。分束器6分出的一束光束進(jìn)入到第二參考臂光路RA2,并由其中的第二桶探測(cè)器78接收,得到進(jìn)入第二參考臂光路RA2的光束的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm。同樣地,m表示采樣次序。這里的第二桶探測(cè)器78可以由透鏡7和點(diǎn)探測(cè)器8組成。
[0041]分束器6分出的另一束光束進(jìn)入到第一參考臂光路RA1,并由設(shè)置在第一參考臂光路RAl中的參考探測(cè)器裝置采樣該光路的光場(chǎng)強(qiáng)度分布信息。在圖1所示實(shí)施例中,該參考探測(cè)器裝置包括并聯(lián)設(shè)置的第一參考探測(cè)器單元15和第二參考探測(cè)器單元16。為此,可以在該第一參考臂光路RAl中設(shè)置1:1分束器14。由分束器14分出的兩束光速經(jīng)端口14a和端口 14b分別進(jìn)入第一參考探測(cè)器單元15和第二參考探測(cè)器單元16。
[0042]第一參考探測(cè)器單元15和第二參考探測(cè)器單元16每個(gè)均由多個(gè)參考探測(cè)器構(gòu)成,多個(gè)參考探測(cè)器可以加快獲取圖像矩陣數(shù)據(jù)的速度。每個(gè)參考探測(cè)器均具有空間分辨能力,例如可以為CCD、CMOS相 機(jī)或任何其它類(lèi)型的相機(jī),作為一個(gè)舉例,CCD可以為EMCCD(electronic multiplying charge coupled device,電子倍增電荷f禹合器件)。多個(gè)參考探測(cè)器為CCD、CMOS面陣列相機(jī),或任何其它類(lèi)型的面陣列相機(jī)。為了實(shí)現(xiàn)關(guān)聯(lián)成像,應(yīng)保證第一參考探測(cè)器單元15和第二參考探測(cè)器單元16內(nèi)部的每個(gè)參考探測(cè)器以及第二桶探測(cè)器78中的透鏡7,與待成像物體3到熱光源I的距離相等。第二桶探測(cè)器78 —方面提高了探測(cè)速度,另一方面用于選擇性觸發(fā)參考探測(cè)器裝置,減少參考探測(cè)器裝置的曝光次數(shù)。
[0043]將來(lái)自第一桶探測(cè)器45的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm和來(lái)自第二桶探測(cè)器78的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm輸入除法器9,將產(chǎn)生的比值信號(hào)Tm=S1VRm送入計(jì)數(shù)比較器10待處理。計(jì)數(shù)比較器10用于對(duì)比值信號(hào)的采樣次數(shù)m進(jìn)行計(jì)數(shù),并將所述采樣次序m與預(yù)定采樣次數(shù)Mtl進(jìn)行比較。預(yù)定采樣次數(shù)Mtl可以預(yù)先存入計(jì)數(shù)比較器10,同時(shí)也存入第二除法器12。Mtl可以人為設(shè)定,例如可以設(shè)定Mq=500。當(dāng)m < Mq時(shí),計(jì)數(shù)比較器10讓比值信號(hào)Tm從端
口 IOa輸出至累加器11。累加器11累加Mtl次,最終得到累加值
【權(quán)利要求】
1.一種關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),用于利用熱光源(I)對(duì)待成像物體(3)進(jìn)行關(guān)聯(lián)成像,包括: 物臂光路,所述物臂光路中設(shè)有第一桶探測(cè)器(45)和所述待成像物體(3),所述第一桶探測(cè)器(45)用于采樣所述物臂光路中經(jīng)過(guò)所述待成像物體(3)后的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm,m表示采樣次序; 第一參考臂光路,所述第一參考臂光路中設(shè)有用于采樣所述第一參考臂光路的光場(chǎng)強(qiáng)度分布信息的參考探測(cè)器裝置; 其中,所述參考探測(cè)器裝置包括至少一個(gè)參考探測(cè)器單元(15、16),每一所述參考探測(cè)器單元(15、16)包括時(shí)序控制器和由所述時(shí)序控制器控制的多個(gè)具有空間分辨能力的參考探測(cè)器;其中,在所述時(shí)序控制器控制下所述多個(gè)參考探測(cè)器能依次進(jìn)行曝光以進(jìn)行所述采樣。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中, 每一所述參考探測(cè)器單元還包括:分束裝置,用于從所述第一參考臂光路中分出并列的多個(gè)子參考光路,每一所述參考探測(cè)器分別布置在對(duì)應(yīng)的所述子參考光路中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2中任一項(xiàng)所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中,還包括: 第二參考臂光路,所述第二參考臂光路中設(shè)有第二桶探測(cè)器(78),用于采樣所述第二參考臂光路的總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm ;和 閾值構(gòu)建單元,用于根據(jù)所述總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm和總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm的比值信號(hào)Tm(SVRm)的預(yù)定采樣次數(shù)M0的平均值T。確定針對(duì)所述比值信號(hào)Tm的上閾值T。+和下閾值T?!?,其中,T:>TQ>T。—; 其中,所述參考探測(cè)器裝置設(shè)置成僅在所述比值信號(hào)T大于所述上閾值T。+的情況下或者所述比值信號(hào)T小于所述下閾值T。一的情況下進(jìn)行所述采樣。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中,所述閾值構(gòu)建單元包括: 第一除法器(9),用于接收來(lái)自所述第一桶探測(cè)器的所述總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Sm和來(lái)自所述第二桶探測(cè)器(78)的所述總光場(chǎng)強(qiáng)度信號(hào)Rm,并產(chǎn)生所述比值信號(hào)Tm ; 累加器(11),用于對(duì)所述預(yù)定采樣次數(shù)Mtl的所述比值信號(hào)Tm進(jìn)行累加; 第二除法器(12),用于根據(jù)所述累加器的累加結(jié)果和所述預(yù)定采樣次數(shù)Mtl獲得所述平均值T0 ;和 鑒別器(13),用于根據(jù)所述平均值T。生成所述上閾值T:和所述下閾值T。—,將所述比值信號(hào)T與所述上閾值T。+和下閾值T。一進(jìn)行比較,并僅在所述比值信號(hào)T大于所述上閾值T:時(shí)或者所述比值信號(hào)Tm小于所述下閾值T。一時(shí)向所述參考探測(cè)器裝置發(fā)送一曝光觸發(fā)信號(hào),以觸發(fā)所述參考探測(cè)器裝置進(jìn)行所述采樣。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中,所述閾值構(gòu)建單元還包括: 計(jì)數(shù)比較器(10),用于對(duì)所述比值信號(hào)Tm的采樣次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù),以獲取所述比值信號(hào)Tm的采樣次序m,并將所述采樣次序m與所述預(yù)定采樣次數(shù)M0進(jìn)行比較; 其中,在所述采樣次序m不大于所述預(yù)定采樣次數(shù)M0的情況下,來(lái)自所述第一除法器(9)的所述比值信號(hào)Tm被送入所述累加器(11);并且,所述采樣次序m大于所述預(yù)定采樣次數(shù)Mtl的情況下,來(lái)自所述第一除法器(9)的所述比值信號(hào)Tm被送入所述鑒別器(13)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中, 所述至少一個(gè)參考探測(cè)器單元(15、16)包括第一參考探測(cè)器單元(15)和第二參考探測(cè)器單元(16); 其中,在所述比值信號(hào)TM大于所述上閾值T。+時(shí),所述曝光觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)所述第一參考探測(cè)器單元(15)中的一個(gè)參考探測(cè)器進(jìn)行曝光;在所述比值信號(hào)Tm小于所述下閾值T。—時(shí),所述曝光觸發(fā)信號(hào)觸發(fā)所述第二參考探測(cè)器單元(16)中的一個(gè)參考探測(cè)器進(jìn)行曝光。
7.根據(jù)權(quán)利要求3-6中任一項(xiàng)所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中, 所述上閾值T。+和所述下閾值T。一分別設(shè)定為IV=(Ha)Tc^PTcT= (1-COTtl,其中α為可調(diào)節(jié)參數(shù)且0〈 α〈1。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中, 所述第一參考探測(cè)器單元(15)和所述第二參考探測(cè)器單元(16)采樣所得的圖像矩陣數(shù)據(jù)分別送入不同的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址A和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址B。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中, 在計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址A和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器地址B接收的圖像矩陣數(shù)據(jù)數(shù)量均為M時(shí),將兩者接收的圖像矩陣數(shù)據(jù)相減并對(duì)相減結(jié)果進(jìn)行累加求和,通過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)對(duì)累加求和結(jié)果進(jìn)行圖像處理來(lái)得到重建圖像。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的關(guān)聯(lián)成像系統(tǒng),其中, 所述多個(gè)參考探測(cè)器排列為具有空間分辨能力的CCD或CMOS面陣列相機(jī)。
【文檔編號(hào)】G02B27/00GK103955057SQ201410125688
【公開(kāi)日】2014年7月30日 申請(qǐng)日期:2014年3月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月31日
【發(fā)明者】李明飛, 吳令安 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院物理研究所
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