顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板。該顯示器陣列基板的外圍測試線路包括：多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。本發(fā)明的外圍測試電路改善了現(xiàn)有外圍測試電路中測試墊引線與測試信號線具有重疊跨接、容易造成靜電釋放而導致測試墊引線與測試信號線短接的問題，能夠降低靜電釋放的擊傷風險。
【專利說明】顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示器領域，尤其涉及一種顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板。
【背景技術(shù)】
[0002]一般，在制作液晶顯示器的前段過程中，使用外延的方法在基板上形成數(shù)百萬顆的薄膜晶體管以作為控制單元，然而，若有部分的薄膜晶體管在制作時質(zhì)量達不到預期效果，導致無法表現(xiàn)出其開關(guān)控制特性，則會產(chǎn)生如亮點或暗點的缺陷，大幅地降低液晶顯示器的質(zhì)量。因此，必須對薄膜晶體管進行有效地測試，以維持液晶顯示器的質(zhì)量。
[0003]在現(xiàn)有的對液晶顯示器的薄膜晶體管進行測試的方案中，TFT陣列基板外圍區(qū)域的測試信號線與測試墊的連接結(jié)構(gòu)具體可參考圖1。如圖1所示，基板外圍區(qū)域的測試信號線Ml通過ITO與測試信號線Ml連接的鈍化層過孔Vl、以及ITO與測試墊引線M2連接的鈍化層過孔V2與測試墊引線M2連接，進而連接到相應的測試墊P上。從圖中可以看出，在不同的測試信號線Ml通過測試墊引線M2連接到相應的測試墊P的過程中，測試墊引線M2必然會橫跨其他的測試信號線M1，在測試信號線Ml與測試墊引線M2交界跨接的過程中容易造成靜電施放而使測試信號線Ml和測試墊引線M2短接，導致測試信號線短路而無法檢測，因而降低產(chǎn)品的合格率。
[0004]因此，需要一種解決方案來改善現(xiàn)有技術(shù)中測試信號線和測試墊引線容易短接的問題，降低靜電施放的擊傷風險，提升產(chǎn)品測試準確率，進而提高產(chǎn)品合格率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題之一是需要提供一種顯示器陣列基板的外圍測試線路，該外圍測試線路能夠解決測試信號線和測試墊引線容易短接的問題，降低靜電施放的擊傷風險。另外，還提供了一種顯示器陣列基板和液晶顯示面板。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種顯示器陣列基板的外圍測試線路，包括:多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。
[0007]在一個實施例中，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中，第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一 ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一 ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。[0008]在一個實施例中，多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。
[0009]在一個實施例中，每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，還提供了一種顯示器陣列基板，包括:顯示區(qū)；位于所述顯示區(qū)周圍的外圍測試線路，該外圍測試線路包括:多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。
[0011]在一個實施例中，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中，第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一 ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一 ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。
[0012]在一個實施例中，多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。
[0013]在一個實施例中，每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，還提供了一種液晶顯示面板，包括上述的顯示器陣列基板。
[0015]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的一個或多個實施例可以具有如下優(yōu)點:
[0016]本發(fā)明的外圍測試線路，通過改變測試信號線與測試墊的連接方式，避免測試墊引線與測試信號線跨界現(xiàn)象的出現(xiàn)，且在測試墊引線與測試信號線連接處，通過過孔使測試墊引線不跨界到測試信號線。降低靜電釋放的擊傷風險，提升產(chǎn)品測試準確率，提高產(chǎn)品良率
[0017]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和獲得。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本發(fā)明的實施例共同用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0019]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中TFT陣列基板外圍區(qū)域的測試信號線與測試墊的連接結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的顯示器陣列基板的外圍測試線路示意圖。
【具體實施方式】
[0021]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，以下結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步地詳細說明。[0022]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的顯示器陣列基板的外圍測試線路示意圖。
[0023]如圖2所示，該外圍測試線路包括:多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線Ml和第二測試信號線Ml’組成；多條測試墊引線M2，每條測試墊引線M2設置在相應組的第一測試信號線Ml和第二測試信號線Ml’的間隔處，且每條測試墊引線M2與第一測試信號線Ml和第二測試信號線Ml’連接、且不與其他組的第一測試信號線Ml和第二測試信號線Ml’重疊；多個測試墊P，每個測試墊P設置在每條測試墊引線M2上。測試墊P可將信號發(fā)生器產(chǎn)生的測試信號通過測試信號線Ml和Ml’傳輸?shù)较鄳臄?shù)據(jù)線或掃描線，以測試數(shù)據(jù)線或掃描線是否斷路。
[0024]在一個實施例中，每條測試墊引線M2的一端通過第一鈍化層過孔Vl和第二鈍化層過孔V2與相應組的第一測試信號線Ml非重疊連接，且每條測試墊引線M2的另一端通過第三鈍化層過孔VI’和第四鈍化層過孔V2’與相應組的第二測試信號線Ml’非重疊連接，其中，第一鈍化層過孔Vl為ITO層與該第一測試信號線Ml連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔V2為ITO層與該測試墊引線M2的一端連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔VI’為另一 ITO層與該第二測試信號線Ml’連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔V2’為該另一 ITO層與該測試墊引線M2的另一端連接的鈍化層過孔。優(yōu)選地，多條測試墊引線M2以相互平行錯位的方式排列，而且每組的第一測試信號線Ml和第二測試信號線Ml’分別與相應的測試墊引線M2垂直連接，具體如圖2所示。
[0025]本發(fā)明實施例的外圍測試電路改善了現(xiàn)有外圍測試電路中測試墊引線與測試信號線具有重疊跨接、容易造成靜電釋放而導致測試墊引線與測試信號線短接的問題。能夠降低靜電釋放的擊傷風險，提升產(chǎn)品測試準確率，提高產(chǎn)品的合格率。
[0026]本發(fā)明還提供了一種顯示器陣列基板，該顯示器陣列基板包括顯示區(qū)和位于該顯示區(qū)周圍的外圍測試線路，其中，該外圍測試線路為上述結(jié)構(gòu)的外圍測試線路。另外，本發(fā)明還提供了一種液晶顯示面板，該液晶顯示面板包括上述的顯示器陣列基板。
[0027]以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施案例，本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)的技術(shù)人員在本發(fā)明所述的技術(shù)規(guī)范內(nèi)，對本發(fā)明的修改或替換，都應在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種顯示器陣列基板的外圍測試線路，其特征在于，包括: 多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成； 多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊； 多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外圍測試線路，其特征在于，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中， 第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一 ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一 ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的外圍測試線路，其特征在于， 多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的外圍測試線路，其特征在于， 每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。
5.一種顯示器陣列基板，其特征在于，包括: 顯示區(qū)； 位于所述顯示區(qū)周圍的外圍測試線路，該外圍測試線路包括: 多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成； 多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊； 多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示器陣列基板，其特征在于，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中， 第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一 ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一 ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示器陣列基板，其特征在于， 多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示器陣列基板，其特征在于， 每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。
9.一種液晶顯示面板，其特征在于，包括如權(quán)利要求5至8中任一項所述的顯示器陣列基板。
【文檔編號】G02F1/13GK104035217SQ201410216387
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2014年5月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月21日
【發(fā)明者】付延峰 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司