液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)及方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供了一種液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)和方法，包括：檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊；控制模塊，用于接收所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息并發(fā)送至處理模塊；處理模塊，用于接收所述調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。由于本發(fā)明提供的系統(tǒng)和方法，在檢測(cè)和調(diào)整的過(guò)程中，不需要人工進(jìn)行操作，因此，提高了液晶顯示器件的檢測(cè)效率，從而提高了液晶顯示器件的生產(chǎn)效率和生產(chǎn)品質(zhì)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，更具體地說(shuō)，涉及一種液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002]隨著技術(shù)的不斷發(fā)展和液晶顯示器件生產(chǎn)工藝的提高，人們對(duì)液晶顯示器件顯示效果的期望也越來(lái)越高。為了能夠生產(chǎn)出高品質(zhì)的液晶顯示產(chǎn)品，液晶顯示模塊的各個(gè)光學(xué)參數(shù)的檢測(cè)和調(diào)節(jié)也變得越來(lái)越重要。
[0003]對(duì)于液晶顯示模塊而言，光學(xué)參數(shù)的檢測(cè)包括亮度、對(duì)比度、色度、響應(yīng)時(shí)間、交叉效應(yīng)等，雖然現(xiàn)有技術(shù)中可以通過(guò)色度儀等設(shè)備，檢測(cè)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)，但是，在檢測(cè)的過(guò)程中，需要人工對(duì)設(shè)備進(jìn)行操作以及調(diào)整，因此，會(huì)導(dǎo)致液晶顯示模塊的檢測(cè)效率較低，從而影響液晶顯示器件的生產(chǎn)效率和生產(chǎn)品質(zhì)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明提供了一種液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)及方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中液晶顯示模塊的檢測(cè)效率低，影響液晶顯示器件的生成效率和生產(chǎn)品質(zhì)的問(wèn)題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
[0006]一種液晶顯不模塊檢測(cè)系統(tǒng),包括:
[0007]檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊；
[0008]控制模塊，用于接收所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息并發(fā)送至處理模塊；
[0009]處理模塊，用于接收所述調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0010]優(yōu)選的，所述控制模塊包括:
[0011]接收模塊，用于接收所述檢測(cè)模塊發(fā)送的檢測(cè)數(shù)據(jù)；
[0012]比較模塊，用于將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，并判斷所述檢測(cè)數(shù)據(jù)是否符合標(biāo)準(zhǔn)；
[0013]計(jì)算模塊，用于在檢測(cè)數(shù)據(jù)不符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法，并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息。
[0014]優(yōu)選的，所述檢測(cè)模塊包括一個(gè)光度儀和一個(gè)點(diǎn)屏檢測(cè)裝置。
[0015]優(yōu)選的，所述光度儀，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)；所述點(diǎn)屏檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的顯示參數(shù)。
[0016]優(yōu)選的，所述控制模塊與至少一個(gè)所述檢測(cè)模塊相連。
[0017]優(yōu)選的，所述控制模塊通過(guò)數(shù)據(jù)線(xiàn)接口與所述光度儀相連，通過(guò)串口線(xiàn)接口與所述點(diǎn)屏檢測(cè)裝置相連。
[0018]優(yōu)選的，所述控制模塊還包括:
[0019]識(shí)別模塊，用于檢測(cè)和識(shí)別檢測(cè)模塊，生成對(duì)應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)并發(fā)送至所述檢測(cè)模塊，以使所述檢測(cè)模塊按照預(yù)設(shè)的組合和順序檢測(cè)液晶顯示模塊的各個(gè)參數(shù)。
[0020]一種液晶顯示模塊檢測(cè)方法，包括:
[0021]檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)；
[0022]將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較；
[0023]如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格；
[0024]如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0025]優(yōu)選的，所述檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)的過(guò)程具體為:
[0026]按照預(yù)設(shè)的組合和順序檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，并獲得對(duì)應(yīng)的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
[0027]優(yōu)選的，所述生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息的過(guò)程具體為:
[0028]根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法，并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息。
[0029]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明所提供的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0030]本發(fā)明所提供的液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)及方法，通過(guò)檢測(cè)模塊自動(dòng)檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，通過(guò)控制模塊對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較判斷，以判斷液晶顯示模塊的參數(shù)是否合格，在不合格的情況下，通過(guò)處理模塊對(duì)液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使該液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。由于本發(fā)明提供的系統(tǒng)和方法，在檢測(cè)和調(diào)整的過(guò)程中，不需要人工進(jìn)行操作，因此，提高了液晶顯示器件的檢測(cè)效率，從而提高了液晶顯示器件的生產(chǎn)效率和生產(chǎn)品質(zhì)。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0031]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0032]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；
[0033]圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的控制模塊的結(jié)構(gòu)圖；
[0034]圖3為本發(fā)明實(shí)施例二提供的液晶顯示模塊檢測(cè)方法的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0035]正如【背景技術(shù)】所述，現(xiàn)有技術(shù)中在檢測(cè)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)時(shí)，需要人工對(duì)設(shè)備進(jìn)行操作以及調(diào)整，因此，會(huì)導(dǎo)致液晶顯示模塊的檢測(cè)效率較低，從而影響液晶顯示器件的生產(chǎn)效率和生產(chǎn)品質(zhì)。
[0036]基于此，本發(fā)明提供了一種液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)，以克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問(wèn)題，包括:
[0037]檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊；控制模塊，用于接收所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息并發(fā)送至處理模塊；處理模塊，用于接收所述調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0038]本發(fā)明還提供了一種液晶顯示模塊檢測(cè)方法，包括:
[0039]檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)；將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較；如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格；如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0040]本發(fā)明所提供的液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)及方法，通過(guò)檢測(cè)模塊自動(dòng)檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，通過(guò)控制模塊對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較判斷，以判斷液晶顯示模塊的參數(shù)是否合格，在不合格的情況下，通過(guò)處理模塊對(duì)液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使該液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。由于本發(fā)明提供的系統(tǒng)和方法，在檢測(cè)和調(diào)整的過(guò)程中，不需要人工進(jìn)行操作，因此，提高了液晶顯示器件的檢測(cè)效率，從而提高了液晶顯示器件的生產(chǎn)效率和生產(chǎn)品質(zhì)。
[0041]以上是本發(fā)明的核心思想，為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】做詳細(xì)的說(shuō)明。
[0042]在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來(lái)實(shí)施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類(lèi)似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開(kāi)的具體實(shí)施例的限制。
[0043]其次，本發(fā)明結(jié)合示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述，在詳述本發(fā)明實(shí)施例時(shí)，為便于說(shuō)明，表示器件結(jié)構(gòu)的剖面圖會(huì)不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應(yīng)限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外，在實(shí)際制作中應(yīng)包含長(zhǎng)度、寬度及深度的三維空間尺寸。
[0044]下面通過(guò)幾個(gè)實(shí)施例詳細(xì)描述。
[0045]實(shí)施例一
[0046]本實(shí)施例提供了一種液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)，用于檢測(cè)和調(diào)節(jié)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)等，本實(shí)施例中的液晶顯示模塊是指LCD (Liquid Crystal Display,液晶顯示器)，當(dāng)然，本發(fā)明并不僅限于此。
[0047]本實(shí)施例提供的檢測(cè)系統(tǒng)，如圖1所示，包括:檢測(cè)模塊10、控制模塊20和處理模塊30。
[0048]檢測(cè)模塊10，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊20。
[0049]檢測(cè)模塊10包括一個(gè)光度儀和一個(gè)點(diǎn)屏檢測(cè)裝置，并且一個(gè)檢測(cè)模塊中的光度儀和點(diǎn)屏檢測(cè)裝置的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系是通過(guò)預(yù)先設(shè)置來(lái)進(jìn)行匹配的。其中，光度儀，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)，所述光學(xué)參數(shù)包括閃爍度、伽馬曲線(xiàn)、亮度、對(duì)比度和色度等；點(diǎn)屏檢測(cè)裝置也可叫做點(diǎn)屏檢測(cè)架，通常由一個(gè)單片機(jī)和連接液晶顯示模組的轉(zhuǎn)接板組成，用于檢測(cè)與轉(zhuǎn)接板連接的液晶顯示模塊的顯示參數(shù)。
[0050]控制模塊20，用于接收所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，發(fā)出合格信號(hào)，如果不符合，則不合格，發(fā)出不合格信號(hào)，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息并發(fā)送至處理模塊30 ；
[0051]處理模塊30，用于接收所述調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。進(jìn)行調(diào)整的過(guò)程包括采用液晶顯示模塊的驅(qū)動(dòng)電路的多次編程燒錄功能對(duì)參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，例如，根據(jù)對(duì)比度和交叉效應(yīng)調(diào)整Vtjp電壓等。進(jìn)行調(diào)整后，還可對(duì)液晶顯示模塊的參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，直到檢測(cè)結(jié)果為合格為止。
[0052]本實(shí)施例中，如圖2所示，控制模塊20包括接收模塊201、比較模塊202和計(jì)算模塊203。接收模塊201，用于接收所述檢測(cè)模塊10發(fā)送的檢測(cè)數(shù)據(jù)；比較模塊202，用于將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，并判斷所述檢測(cè)數(shù)據(jù)是否符合標(biāo)準(zhǔn)，其中，預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)為與檢測(cè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)值合格范圍，可根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)定；計(jì)算模塊203，用于在檢測(cè)數(shù)據(jù)不符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法，并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息。
[0053]其中，控制模塊20采用多線(xiàn)程技術(shù)，每個(gè)工作線(xiàn)程都與一個(gè)檢測(cè)模塊相連，即控制一個(gè)色度儀和一個(gè)點(diǎn)屏檢測(cè)裝置的檢測(cè)進(jìn)程。并且，控制模塊20通過(guò)數(shù)據(jù)線(xiàn)接口與光度儀連接通訊，通過(guò)串口線(xiàn)接口與所述點(diǎn)屏檢測(cè)裝置連接通訊。
[0054]此外，控制模塊20還包括識(shí)別模塊，用于檢測(cè)和識(shí)別檢測(cè)模塊10，生成對(duì)應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)并發(fā)送至所述檢測(cè)模塊10，以使所述檢測(cè)模塊10自動(dòng)按照預(yù)設(shè)的組合和順序檢測(cè)液晶顯示模塊的各個(gè)參數(shù)。
[0055]本實(shí)施例提供的液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)，通過(guò)檢測(cè)模塊自動(dòng)檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，通過(guò)控制模塊對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較判斷，以判斷液晶顯示模塊的參數(shù)是否合格，在不合格的情況下，通過(guò)處理模塊對(duì)液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使該液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。由于本實(shí)施例提供的系統(tǒng)，在檢測(cè)和調(diào)整的過(guò)程中，不需要人工進(jìn)行操作，因此，提聞了液晶顯不器件的檢測(cè)效率，從而提聞了液晶顯不器件的生廣效率和生廣品質(zhì)。
[0056]實(shí)施例二
[0057]本實(shí)施例提供了一種液晶顯示模塊檢測(cè)方法，用于檢測(cè)和調(diào)整液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)等，其流程圖如圖3所示，包括:
[0058]S201:檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)；
[0059]其中，檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)的過(guò)程具體為:按照預(yù)設(shè)的組合和順序檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，并獲得對(duì)應(yīng)的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
[0060]通過(guò)檢測(cè)模塊檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，并獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)。檢測(cè)模塊包括光度儀和點(diǎn)屏檢測(cè)裝置，其中，光度儀，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)，所述光學(xué)參數(shù)包括閃爍度、伽瑪曲線(xiàn)、亮度、對(duì)比度和色度等；點(diǎn)屏檢測(cè)裝置也可叫做點(diǎn)屏檢測(cè)架，通常由一個(gè)單片機(jī)和連接液晶顯示模組的轉(zhuǎn)接板組成，用于檢測(cè)與轉(zhuǎn)接板連接的液晶顯示模塊的顯示參數(shù)。
[0061]S202:將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，如果不符合，則不合格，進(jìn)入步驟S203。
[0062]控制模塊將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，其中，預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)為與檢測(cè)參數(shù)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)值合格范圍，可根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)定，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，并發(fā)出合格信號(hào)，如果不符合標(biāo)準(zhǔn)，則不合格，進(jìn)入步驟S203。
[0063]S203:生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0064]其中，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息的過(guò)程具體為:根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法，并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息。
[0065]如果檢測(cè)結(jié)果為不符合標(biāo)準(zhǔn)，則發(fā)出不合格信號(hào)，根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法，并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以將所述液晶顯示器的參數(shù)調(diào)整至最佳值，使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0066]本實(shí)施例提供的液晶顯示模塊檢測(cè)方法，自動(dòng)檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，并對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較判斷，以判斷液晶顯示模塊的參數(shù)是否合格，然后在不合格的情況下，對(duì)液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使該液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。由于本實(shí)施例提供的方法，在檢測(cè)和調(diào)整的過(guò)程中，不需要人工進(jìn)行操作，因此，提高了液晶顯示器件的檢測(cè)效率，從而提聞了液晶顯不器件的生廣效率和生廣品質(zhì)。
[0067]本說(shuō)明書(shū)中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)于實(shí)施例公開(kāi)的裝置而言，由于其與實(shí)施例公開(kāi)的方法相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡(jiǎn)單，相關(guān)之處參見(jiàn)方法部分說(shuō)明即可。
[0068]對(duì)所公開(kāi)的實(shí)施例的上述說(shuō)明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種液晶顯示模塊檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括: 檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至控制模塊； 控制模塊，用于接收所述檢測(cè)數(shù)據(jù)，并將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格，如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息并發(fā)送至處理模塊； 處理模塊，用于接收所述調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊包括: 接收模塊，用于接收所述檢測(cè)模塊發(fā)送的檢測(cè)數(shù)據(jù)； 比較模塊，用于將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，并判斷所述檢測(cè)數(shù)據(jù)是否符合標(biāo)準(zhǔn)； 計(jì)算模塊，用于在檢測(cè)數(shù)據(jù)不符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法,并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其特征在于，所述檢測(cè)模塊包括一個(gè)光度儀和一個(gè)點(diǎn)屏檢測(cè)裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述光度儀，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的光學(xué)參數(shù)；所述點(diǎn)屏檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)液晶顯示模塊的顯示參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊與至少一個(gè)所述檢測(cè)模塊相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊通過(guò)數(shù)據(jù)線(xiàn)接口與所述光度儀相連，通過(guò)串口線(xiàn)接口與所述點(diǎn)屏檢測(cè)裝置相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊還包括: 識(shí)別模塊，用于檢測(cè)和識(shí)別檢測(cè)模塊，生成對(duì)應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)并發(fā)送至所述檢測(cè)模塊，以使所述檢測(cè)模塊按照預(yù)設(shè)的組合和順序檢測(cè)液晶顯示模塊的各個(gè)參數(shù)。
8.一種液晶顯示模塊檢測(cè)方法，其特征在于，包括: 檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)； 將所述檢測(cè)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較； 如果符合標(biāo)準(zhǔn)，則合格； 如果不符合，則不合格，生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息，并根據(jù)所述調(diào)整信息對(duì)所述液晶顯示模塊進(jìn)行調(diào)整，以使所述液晶顯示模塊的檢測(cè)數(shù)據(jù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)的過(guò)程具體為: 按照預(yù)設(shè)的組合和順序檢測(cè)液晶顯示模塊的參數(shù)，并獲得對(duì)應(yīng)的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息的過(guò)程具體為: 根據(jù)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)和預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)建立反饋調(diào)整算法，并生成對(duì)應(yīng)的調(diào)整信息。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK104133309SQ201410397892
【公開(kāi)日】2014年11月5日 申請(qǐng)日期:2014年8月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月13日
【發(fā)明者】吳柏建, 王月文, 謝雄才, 李孟祥, 何基強(qiáng), 李建華 申請(qǐng)人:信利半導(dǎo)體有限公司