技術(shù)特征：

1.一種γ射線檢測的曝光曲線計算方法，其特征在于所述曝光曲線計算方法是：

(一)基礎(chǔ)參數(shù)獲得；利用如下器材獲取基礎(chǔ)參數(shù)：所需制作曲線的γ射線發(fā)生器、裝有膠片的暗袋若干、射線用階梯試塊1塊、墊板(10mm厚為宜)1～3塊、卷尺1把、黑度計1臺；

獲取基礎(chǔ)參數(shù)的步驟：

a)采用較長時間t₁和較短時間t₂，焦距F₀固定，暗室處理過程全部固定，拍攝階梯試塊，獲得兩張不同時間的底片，用黑度計測定獲得透照厚度與對應(yīng)黑度的兩個時間曝光下的數(shù)據(jù)，繪制兩張D-T曲線圖；

b)選定一基準黑度值(如3.0)，從D-T曲線圖中查出對應(yīng)于該黑度的透照厚度，得到較長時間t₁和較短時間t₂曝光量對應(yīng)的透照厚度值T₁、T₂；

(二)曝光曲線計算法理論推導(dǎo)；

曝光曲線是基于射線的衰減公式及互易律公式繪制而成的，其中：

c)衰減公式I＝I₀e^(-μT)……………………④

I……透過工件后的射線強度 I₀……初始射線強度

μ……衰減系數(shù) T……透照厚度

注：射線強度只與源活度關(guān)

d)互易律公式E＝t₁＝I₂t₂＝I₃t₃＝…………………………⑤

由④式和⑤式得，I₀t₁e^(-μT₁＇)＝I₀t₂e^(-μT₂)＝I₃t₃e^(-μT₃)……⑥

I₃……實際檢測時源強度

t₃……實際檢測時使用的曝光時間

T₃……實際檢測時射線的透照厚度

e)由⑥式得：μ＝ln(t₁/t₂)/(T₁-T₂)

t₃＝I₀t₁e^(μ(T₃-T₁))/I₃

＝I₀t₁e^(ln(t₁/t₂)(T₃-T₁)/(T₁-T₂))/I₃

＝I₀t₁(t₁/t₂)^((T₃-T₁)/(T₁-T₂))/I₃

或

t₃＝I₀t₂(t₁/t₂)^((T₃-T₂)/(T₁-T₂))/I₃

γ射線源活度衰減服從實數(shù)規(guī)律：N＝N₀e^(-λT)

T……實際檢測距制作曝光曲線時經(jīng)過的時間

N₀……制作曝光曲線時的原子核數(shù)目

N……實際檢測時的原子核數(shù)目

λ……γ射線源衰變常數(shù)，為已知條件

I₀/I₃＝N₀/N＝e^(λT)

從而得t₃＝e^(λT)t₁(t₁/t₂)^((T₃-T₁)/(T₁-T₂))

或

t₃＝e^(λT)t₂(t₁/t₂)^((T₃-T₂)/(T₁-T₂))。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的γ射線檢測的曝光曲線計算方法，其特征在于所述的曝光時間t₃使用曝光因子公式Ψ＝At/F²＝A₁t₁/F₁²＝A₂t₂/F₂²＝…….進行修正計算，以便消除實際檢測中實際使用的焦距F和制作曝光曲線時的焦距F₀不一致帶來的影響；修正后，

t₃＝F²e^(λT)t₁(t₁/t₂)^((T₃-T₁)/(T₁-T₂))/F₀²

或

t₃＝F²e^(λT)t₂(t₁/t₂)^((T₃-T₂)/(T₁-T₂))/F₀²。