本發(fā)明涉及液晶面板技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種探針組件。

背景技術(shù)：

HVA(High Vertical Alignment，高垂直排列)液晶面板屬于VA(Vertical Alignment，垂直配向)液晶面板中的一個(gè)重要類型。在HVA液晶面板的配向制程中，需要使用探針對基板加電?，F(xiàn)有技術(shù)中，給基板加電的探針組件多為機(jī)械彈簧式，通過彈簧機(jī)構(gòu)控制探針伸縮。隨著使用時(shí)間累計(jì)，彈簧機(jī)構(gòu)會發(fā)生磨損和彈性退化，這將引發(fā)探針導(dǎo)電不良或折斷的風(fēng)險(xiǎn)，降低了探針組件的壽命，導(dǎo)致需定期頻繁更換整個(gè)探針組件。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明提供了一種探針組件，所述探針組件不易磨損，彈性更為持久，使用壽命更長。

一種探針組件，包括第一磁體、套筒、第二磁體、探針基座和探針；所述套筒設(shè)于所述第一磁體之上；所述第二磁體與所述探針基座均收容于所述套筒之內(nèi)，并均能沿所述套筒的軸向移動，所述第二磁體位于所述探針基座的底部，所述第二磁體與所述第一磁體相對設(shè)置且互相排斥；所述探針設(shè)于所述探針基座上遠(yuǎn)離所述第二磁體的一端。

其中，所述第一磁體與所述第二磁體均為永磁體。

其中，所述第一磁體為電磁體，所述第二磁體為永磁體。

其中，所述探針與所述探針基座可拆卸地相連。

其中，所述探針基座上設(shè)有用于外接外部電路的電連接部。

其中，所述套筒內(nèi)形成相連通的磁浮腔和電連腔；所述電連腔位于所述套筒內(nèi)靠近所述探針的一端，所述電連腔的徑向尺寸小于所述磁浮腔的徑向尺寸，所述電連腔內(nèi)收容有所述電連接部；所述磁浮腔內(nèi)收容有所述第二磁體與所述探針基座，所述探針基座的徑向尺寸與所述磁浮腔的徑向尺寸相匹配。

其中，所述探針基座和所述探針均由銅材料制成。

由此，本發(fā)明的方案，通過使用第一磁體和第二磁體，借助磁體間的排斥力實(shí)現(xiàn)探針和探針基座的伸縮。此種方式相較現(xiàn)有技術(shù)中的機(jī)械彈簧式探針，由于無需使用彈簧機(jī)構(gòu)，因而不存在機(jī)械磨損和老化，使整個(gè)探針組件的彈性更為持久，避免了對探針的彈性支撐不良。從而大幅減小了探針導(dǎo)電不良或折斷的風(fēng)險(xiǎn)，提升了探針組件的壽命，使得人員無需頻繁更換整個(gè)探針組件，進(jìn)而降低了生產(chǎn)成本。

附圖說明

為更清楚地闡述本發(fā)明的構(gòu)造特征和功效，下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施例來對其進(jìn)行詳細(xì)說明。

圖1是本發(fā)明實(shí)施例的探針組件的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的探針組件的一個(gè)工作流程示意圖。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例的探針組件的另一個(gè)工作流程示意圖。

圖4是本發(fā)明實(shí)施例的探針組件的又一個(gè)工作流程示意圖。

具體實(shí)施例

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明的一部分實(shí)施例，而不是全部實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例的探針組件10包括第一磁體15、套筒12、第二磁體14、探針基座13和探針11。

其中，套筒12中收容有第二磁體14和探針基座13，第二磁體14設(shè)于探針基座13的底部，第二磁體14和探針基座13均能沿套筒12的軸向移動。套筒12設(shè)在第一磁體15之上，第二磁體14與第一磁體15相對設(shè)置，且兩者相向的磁極為互相排斥的同名磁極。由此，在第一磁體15向第二磁體14施加的排斥力作用下，第二磁體14及探針基座13具有沿套筒12的內(nèi)壁朝著遠(yuǎn)離第一磁體15的方向運(yùn)動的趨勢。探針11設(shè)在探針基座13上遠(yuǎn)離第二磁體14的一端，即探針11與第二磁體14分別設(shè)于探針基座13的相對兩端。探針11可在探針基座13的帶動下，沿套筒12的軸向移動。當(dāng)然，應(yīng)理解，探針組件10在不工作時(shí)，探針基座13抵持在套筒12內(nèi)遠(yuǎn)離第一磁體15的一端，探針基座13在這一端被限位，探針基座13受到與所述排斥力相抗衡的限位作用力，因此處于平衡狀態(tài)。相應(yīng)的，探針11也處于平衡狀態(tài)。

探針組件10在工作時(shí)，探針11會抵持在基板的表面，探針11將承受基板施加的壓力。在此壓力作用下，探針1和探針基座13將沿著套筒12軸線，向靠近第一磁體15的方向回縮。此時(shí)，第一磁體15施加的排斥力的力矩將與此壓力的力矩平衡，從而使探針11處于穩(wěn)定抵持狀態(tài)。

本實(shí)施例的探針組件10，通過使用第一磁體15和第二磁體14，借助磁體間的排斥力實(shí)現(xiàn)探針11和探針基座13的伸縮。此種方式相較現(xiàn)有技術(shù)中的機(jī)械彈簧式探針，由于無需使用彈簧機(jī)構(gòu)，因而不存在動力部件的機(jī)械磨損和老化，使整個(gè)探針組件10的彈性更為持久，避免了對探針11的彈性支撐不良。從而，本實(shí)施例的方案大幅減小了探針導(dǎo)電不良或折斷的風(fēng)險(xiǎn)，提升了探針組件的壽命，使得人員無需頻繁更換整個(gè)探針組件，進(jìn)而降低了生產(chǎn)成本。

本實(shí)施例中，可選的，第一磁體15與第二磁體14均為永磁體。例如，均為由鐵氧體永磁材料制成，或者由合金永磁材料制成。永磁體能夠長久保持磁性，使用在探針組件10中便于制造，節(jié)省成本。

或者，可選的，第一磁體15為電磁體，而第二磁體14為永磁體，所述電磁體例如為電磁鐵。電磁體能夠通過電控制，調(diào)節(jié)磁場力大小，以適用于不同的產(chǎn)品設(shè)計(jì)。另外，將電磁體設(shè)在套筒12外部，是為了便于對其進(jìn)行電控制；若將電磁體設(shè)在套筒12內(nèi)，不可避免的會占用套筒12內(nèi)的結(jié)構(gòu)空間，且會增加探針組件10的產(chǎn)品設(shè)計(jì)復(fù)雜度。當(dāng)然，在其他實(shí)施例中，第一磁體15與第二磁體14可以均為電磁體；或者，第一磁體15為永磁體，而第二磁體14為電磁體。

本實(shí)施例中，可選的，探針11與探針基座13形成可拆卸連接，便于在需要時(shí)更換探針11，而不必替換整個(gè)探針組件10。當(dāng)然，探針11也可以是固定連接在探針基座13上。

本實(shí)施例中，如圖1所示，探針基座13包括一個(gè)電連接部131，用于外接外部電流，使探針基座13及探針11導(dǎo)電。電連接部131位于套筒12之內(nèi)，但可與外部電路電連接。例如，電連接部131為接插件或其他走線端子，套筒12上開設(shè)有接插孔，外部電路從接插孔處接入電連接部131。

可選的，如圖1所示，套筒12內(nèi)形成相連通的磁浮腔122和電連腔121。電連腔121位于套筒12內(nèi)靠近探針11的一端，電連腔121用于收容電連接部131。磁浮腔122則位于套筒12內(nèi)靠近第一磁體15的一端，磁浮腔122用于收容探針基座13與第二磁體14。磁浮腔122的徑向尺寸與探針基座13的徑向尺寸相匹配，以保證探針基座13能夠貼合磁浮腔122的內(nèi)壁移動。并且，電連腔121的徑向尺寸小于磁浮腔122的徑向尺寸，從而當(dāng)探針基座13行進(jìn)到磁浮腔122與電連腔121的交界處時(shí)，能夠被限位。

可選的，本實(shí)施例中，探針基座13和探針11均由銅材料制成，銅材料導(dǎo)電性好，抗氧化，機(jī)械性能也較佳。當(dāng)然，在其他實(shí)施例中，可以使用其他金屬材料。

圖2-圖4更為直觀的示出了本實(shí)施例的探針組件10的工作過程。如圖2所示，基板20上設(shè)有多個(gè)加電金屬板201(Curing Pad)，多個(gè)探針組件10分別從多個(gè)所述加電金屬板201處向基板20加電。本實(shí)施例中為了簡潔，僅示出了一個(gè)加電金屬板201與一個(gè)探針組件10?；?0進(jìn)入設(shè)備中，并將加電金屬板201對準(zhǔn)探針組件10的探針，此時(shí)探針組件10還處于空閑狀態(tài)(Idle)。如圖3所示，基板20行進(jìn)到位后，探針組件10將向基板20移動，以使探針接觸到加電金屬板201，此時(shí)探針還未受壓。接下來如圖4所示，探針組件10將繼續(xù)靠近基板20移動，使得探針和探針基座受壓而向套筒內(nèi)回縮。由于磁體的排斥力作用，探針和探針基座最終處于一個(gè)平衡位置，探針則以一定壓力反作用于基板20。此時(shí)，探針能夠穩(wěn)固地抵持在加電金屬板201上，通過加電金屬板201對基板20進(jìn)行加電。分析此過程也可以知道：現(xiàn)有技術(shù)中使用彈簧機(jī)構(gòu)支撐探針，在彈簧機(jī)構(gòu)出現(xiàn)彈性退化、失穩(wěn)時(shí)，探針會出現(xiàn)支撐不良。當(dāng)探針抵持到加電金屬板201上時(shí)，容易引發(fā)導(dǎo)電不良或者被折斷。而本實(shí)施例中依靠磁場力而非彈簧機(jī)構(gòu)向探針提供支撐，不存在彈簧機(jī)構(gòu)的彈性退化、失穩(wěn)現(xiàn)象，因而也避免了探針導(dǎo)電不良或者折斷的風(fēng)險(xiǎn)。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易的想到各種等效的修改或替換，這些修改或替換都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。