本發(fā)明屬于光學(xué)顯微成像領(lǐng)域,特別涉及一種基于機器學(xué)習(xí)的高速像差校正方法。
背景技術(shù):
在顯微成像用于生物組織深區(qū)成像時,光路中由于光學(xué)元器件的生產(chǎn)精度誤差以及生物組織折射率不均勻性引起的波前像差會嚴(yán)重影響光斑的聚焦情況,并且隨著成像深度的增加,信噪比和分辨率降低,成像質(zhì)量急劇下降。針對這一現(xiàn)象,研究者們提出了許多解決方案,其中自適應(yīng)光學(xué)技術(shù)是較為常用且效果良好的解決手段。
自適應(yīng)光學(xué)技術(shù)提高成像質(zhì)量的原理如下:首先利用波前傳感器實時測量各種干擾引起的光學(xué)系統(tǒng)的波前畸變,然后通過波前校正器如變形鏡、空間光調(diào)制器等對畸變進(jìn)行補償,恢復(fù)衍射極限。傳統(tǒng)的自適應(yīng)校正算法的弱點是校正速度非常慢,研究者們也提出了一系列加快校正速度的算法,比如COAT算法。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
為了解決背景技術(shù)中存在的問題,本發(fā)明提供了一種基于機器學(xué)習(xí)的高速像差校正方法,結(jié)合機器學(xué)習(xí)理論與自適應(yīng)光學(xué)技術(shù)中澤尼克多項式重構(gòu)入射波前進(jìn)行像差校正。本發(fā)明能夠通過大量的樣本訓(xùn)練學(xué)習(xí),建立起一個非線性映射關(guān)系,快速得到焦斑所對應(yīng)的入射波前澤尼克系數(shù)組合,從而重構(gòu)波前,進(jìn)行像差校正。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案是針對散射介質(zhì)較深層處實現(xiàn)高速高分辨顯微成像,采用以下步驟:
1)平行光束先經(jīng)過不加載波前相位分布(即置零)的空間光調(diào)制器(SLM)反射,再經(jīng)過透鏡聚焦,在焦平面位置得到理想的聚焦光斑(艾里斑);
2)利用澤尼克多項式進(jìn)行處理獲得一系列的波前相位分布;波前相位分布用于加載到空間光調(diào)制器上,調(diào)制入射光波前相位分布情況。
3)針對步驟2)獲得的每一波前相位分布,將該波前相位分布加載到空間光調(diào)制器上,平行光束先經(jīng)過加載有波前相位分布的空間光調(diào)制器反射,再經(jīng)過透鏡聚焦,在焦平面位置得到一畸變聚焦光斑;
4)將步驟3)獲得的各個畸變聚焦光斑的光強分布I與其各自對應(yīng)的在空間光調(diào)制器中加載的波前相位分布下的各項澤尼克系數(shù)ak一起輸入到機器學(xué)習(xí)中進(jìn)行訓(xùn)練獲得具有非線性映射關(guān)系的校正模型;
5)在待測情況下,平行光束先經(jīng)過不加載波前相位分布的空間光調(diào)制器反射,再經(jīng)過透鏡聚焦,到達(dá)焦平面位置前穿過待測散射介質(zhì),在焦平面位置得到待測散射介質(zhì)的畸變聚焦光斑圖;
7)利用機器學(xué)習(xí)得到的非線性映射關(guān)系,將待測散射介質(zhì)的畸變聚焦光斑圖的光強分布輸入到步驟4)獲得的校正模型中,獲得對應(yīng)的各項澤尼克系數(shù)ak的數(shù)值;
8)將步驟7)中得到的各項澤尼克系數(shù)ak的數(shù)值進(jìn)行處理獲得校正相位分布,校正相位分布用于校正入射光波前,然后重復(fù)步驟5)并將校正相位分布加載到空間光調(diào)制器上,使入射平行光束經(jīng)過空間光調(diào)制器和散射介質(zhì)后的聚焦光斑接近理想聚焦光斑,實現(xiàn)像差校正。
所述步驟2)具體是:利用澤尼克多項式的前n項采用以下公式計算獲得入射光束的波前相位分布:
其中,ak表示第k項澤尼克系數(shù),k=1,2,3,4,5,6,...n,Zk表示澤尼克多項式的第k項表達(dá)式,n表示澤尼克多項式的項數(shù);
對每一項澤尼克系數(shù)ak依次進(jìn)行等間隔取值,獲得一系列的波前相位分布。
所述的對每一項澤尼克系數(shù)ak依次進(jìn)行等間隔取值獲得一系列的波前相位分布具體是:
先對第一項澤尼克系數(shù)a1等間隔取值,在第一項澤尼克系數(shù)a1每一取值下對第二項澤尼克系數(shù)a2等間隔取值,再在第二項澤尼克系數(shù)a2每一取值下對第三項澤尼克系數(shù)a3等間隔取值,以此方式完成對所有項澤尼克系數(shù)ak的等間隔取值,以各項澤尼克系數(shù)ak的不同取值組合作為一波前相位分布,從而獲得一系列的波前相位分布。即針對各項澤尼克系數(shù)ak的所有等間隔取值進(jìn)行排列組合,獲得各項澤尼克系數(shù)ak等間隔取值下的不同取值組合作為波前相位分布。
所述各項澤尼克系數(shù)ak進(jìn)行等間隔取值的間隔相同或者不同。
所述步驟8)中校正相位分布具體采用以下方式獲得:將步驟7)中得到的各項澤尼克系數(shù)ak的數(shù)值取負(fù)值后代入以下公式表示的澤尼克多項式波前相位函數(shù)中,獲得校正相位分布:
其中,ak表示第k項澤尼克系數(shù),k=1,2,3,4,5,6,...n,Zk表示澤尼克多項式的第k項表達(dá)式,n表示澤尼克多項式的項數(shù)。
所述步驟4)中機器學(xué)習(xí)具體是對輸入的各個畸變聚焦光斑的光強分布I與波前相位分布下的各項澤尼克系數(shù)ak先依次進(jìn)行降維降噪分析、權(quán)重分析處理后提取關(guān)鍵特征,然后建立非線性映射關(guān)系y=f(x1,x2,...,xn)作為校正模型,其中x表示澤尼克系數(shù)的數(shù)值,y表示不同畸變情況下畸變聚焦光斑的光強分布。
所述步驟5)待測散射介質(zhì)也是利用澤尼克多項式表示的,其系數(shù)組合不在訓(xùn)練庫中。
本發(fā)明是首先產(chǎn)生足量的樣本庫,樣本庫中包含一系列一一對應(yīng)的澤尼克系數(shù)組合和焦斑光強分布圖,通過機器學(xué)習(xí)對其進(jìn)行降維分解,提取關(guān)鍵信息訓(xùn)練樣本庫,先初步得到一個非線性映射關(guān)系。給定一定數(shù)量的散射后的焦斑光強分布圖作為測試樣本,對澤尼克多項式每一項進(jìn)行影響因子權(quán)重分析,誤差允許范圍分析,最后調(diào)整算法參數(shù)最終得到一個精度高的非線性映射關(guān)系作為校正模型。
本發(fā)明的有益效果是:
本發(fā)明提出的方法校正速度快且精確度高,通過本發(fā)明方法能夠高速而準(zhǔn)確地校正波前像差,解決了傳統(tǒng)自適應(yīng)光學(xué)算法速度慢的問題,實現(xiàn)生物組織較深層高速高分辨顯微成像。
本發(fā)明的實施將首次實現(xiàn)結(jié)合機器學(xué)習(xí)理論的高速光學(xué)像差校正,顯著提高厚生物組織樣本的顯微成像分辨率,同時也為自適應(yīng)光學(xué)提供一種全新的快速光學(xué)像差校正算法。
附圖說明
圖1(a)和圖1(b)分別為本發(fā)明方法中沒有散射介質(zhì)和有散射介質(zhì)時的光路示意圖。SLM表示空間光調(diào)制器,CMOS表示cmos相機。
圖2為本發(fā)明方法流程圖。
圖3為實施例用機器學(xué)習(xí)建立的非線性映射關(guān)系得到的澤尼克系數(shù)組合,用于像差校正的結(jié)果。其中(a)為重構(gòu)的波前相位a1=0;a2=0.004;a3=-0.006;a4=0.002;a5=-0.0012;a6=0.0016;(b)為校正前的焦斑;(c)為校正后的光斑。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
由于波前探測器的使用會增加光路的復(fù)雜度,帶入波前測量誤差等一系列問題,因此本發(fā)明不使用波前探測器,而是直接根據(jù)聚焦光斑分布情況來分析得到波前相位分布。
本發(fā)明的實施例如下:
1)平行光束先經(jīng)過不加載波前相位分布的空間光調(diào)制器反射,再經(jīng)過透鏡聚焦,在焦平面位置得到理想的聚焦光斑;
2)利用澤尼克多項式采用以下公式計算獲得入射光束的波前相位分布:
其中,ak表示第k項澤尼克系數(shù),k=1,2,3,4,5,6,...n,Zk表示澤尼克多項式的第k項表達(dá)式,n表示澤尼克多項式的項數(shù);
對每一項澤尼克系數(shù)ak依次進(jìn)行等間隔取值,獲得一系列的波前相位分布。
在(-0.8,0.8)范圍內(nèi)以0.4為間隔選取澤尼克系數(shù)a2和a3,兩者排列組合可得到25個不同的波前相位分布。其中一個表達(dá)式為ψ1=-0.8Z2+0.4Z3;
3)針對步驟2)獲得的每一波前相位分布,將每個波前相位分布依次加載到空間光調(diào)制器上,平行光束先經(jīng)過空間光調(diào)制器反射,再經(jīng)過透鏡聚焦,在焦平面位置得到對應(yīng)的25個畸變聚焦光斑;
4)將步驟3)獲得的各個畸變聚焦光斑的光強分布I與其各自對應(yīng)的波前相位分布下的各項澤尼克系數(shù)ak一起輸入到機器學(xué)習(xí)中進(jìn)行訓(xùn)練。對輸入的各個畸變聚焦光斑的光強分布I與波前相位分布下的各項澤尼克系數(shù)ak先依次進(jìn)行降維降噪分析、權(quán)重分析處理后提取關(guān)鍵特征,然后通過極限學(xué)習(xí)機(ELM),稀疏隨機投影等方法建立起非線性映射關(guān)系y=f(x1,x2,...,xn)作為校正模型,其中x表示澤尼克系數(shù)的數(shù)值,y表示不同畸變情況下畸變聚焦光斑的光強分布。
5)平行光束先經(jīng)過不加載波前相位分布的空間光調(diào)制器反射,再經(jīng)過透鏡聚焦,到達(dá)焦平面位置前穿過待測散射介質(zhì),在焦平面位置得到待測散射介質(zhì)的畸變聚焦光斑圖;
7)將待測散射介質(zhì)的畸變聚焦光斑圖的光強分布輸入到步驟4)獲得的校正模型中,獲得對應(yīng)的各項澤尼克系數(shù)ak的數(shù)值;
8)將步驟7)中得到的各項澤尼克系數(shù)ak的數(shù)值取負(fù)值后代入以下公式表示的澤尼克多項式波前相位函數(shù)中,獲得校正相位分布:
其中,ak表示第k項澤尼克系數(shù),k=1,2,3,4,5,6,...n,Zk表示澤尼克多項式的第k項表達(dá)式,n表示澤尼克多項式的項數(shù)。
然后重復(fù)步驟5)并將校正相位分布加載到空間光調(diào)制器上,使入射平行光束經(jīng)過空間光調(diào)制器和散射介質(zhì)后的聚焦光斑接近理想聚焦光斑,實現(xiàn)像差校正,實現(xiàn)散射介質(zhì)較深層處高速高分辨顯微成像。