本發(fā)明涉及LCM液晶面板電性不良的鐳射修復(fù)領(lǐng)域，具體是一種修復(fù)液晶面板顯性橫向線性不良的方法。
背景技術(shù)：
部分GOP設(shè)計(jì)的LCM液晶面板，在生產(chǎn)階段，由于TFT鍍膜工藝制程不良導(dǎo)致全屏或半屏間隔性橫線，此類液晶面板顯性橫向線性不良也稱為網(wǎng)格粗，目前一般直接作為報(bào)廢處理；但是經(jīng)過調(diào)查研究發(fā)現(xiàn)，相當(dāng)大部分的網(wǎng)格粗可以修復(fù)，直接報(bào)廢的處理方式過于浪費(fèi)材料。
因此，為解決上述問題，需要提供一種快速修復(fù)液晶面板顯性橫向線性不良的方法。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種快速修復(fù)液晶面板顯性橫向線性不良的方法。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：提供一種修復(fù)液晶面板顯性橫向線性不良的方法，其特征在于，包括六個(gè)步驟，
一）鑒別網(wǎng)格粗：
1.將目標(biāo)產(chǎn)品送電點(diǎn)亮測試；
2.在紅綠藍(lán)三色觀察，全屏或高度不等處出現(xiàn)異常等間隔橫線，間隔數(shù)量為2；
3.在下方(PCBA在上方)末端出現(xiàn)3~4條顏色不同的橫線；
4.多重網(wǎng)格粗為在此類型的疊加；
5.呈現(xiàn)間隔橫線，但間隔條數(shù)為5條橫線，此類異常為非網(wǎng)格粗，通過更換首尾COF修復(fù)；
6.帶狀無間隔性橫紋或有間隔性橫線但伴隨帶狀無間隔性橫紋，此類異常為非網(wǎng)格粗，可稱之為畫面異常，不在此發(fā)明之內(nèi)；
二）確定特征線：
1.通過紅綠藍(lán)不同顏色觀察；
2.在下方(PCBA在上方)末端呈現(xiàn)3條顏色不同的橫線；
3.在下方(PCBA在上方)末端向上數(shù)起，第二條線，就是特征線；
三）切除特征線并確認(rèn)故障點(diǎn)查找方向：
1.顯微鏡5X，5X觀察特征線；
2.顯微鏡逐級切換至5X，50X；
3.找到控制特征線的掃描線；
4.控制鐳射機(jī)X，Y軸定位到該掃描線靠近信號線位置；
5.采用slit X 3um ，Y 8 um，能量85%，1064nm波長激光擊打該信號線位置，切除該掃描線，至此特征線被切除；
6.切除特征線后，畫面變成全屏僅剩半截橫線，此半截橫線即故障點(diǎn)查找方向；
四）查找故障點(diǎn)：
1.從半截橫線一端開始，在顯微鏡10X，20X逐一像素查詢；
2.找到故障點(diǎn)位置（圈內(nèi)ITO蝕刻變形或者蝕刻異常處）；
五）修復(fù)故障點(diǎn)：1.在故障點(diǎn)位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波長激光擊打故障點(diǎn)位置的Drain位置；
六）檢查確認(rèn)：修復(fù)故障點(diǎn)后，檢測各色畫面，全屏無異常，修復(fù)完畢。
上述步驟四和步驟五亦可分三種方法：
1.故障點(diǎn)故障表現(xiàn)為Com ITO與Gateline短路或者Gateline直接與commonline之Metalone短路，在故障點(diǎn)位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波長激光擊打故障點(diǎn)位置的Drain位置，切除短路處，使原有功能Gateline恢復(fù)正常；
2. 故障點(diǎn)故障表現(xiàn)為Gateline與Dataline短路，會出現(xiàn)全屏間隔橫線伴隨豎漸變線，在故障點(diǎn)位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波長激光擊打故障點(diǎn)位置的Drain位置，切除被確認(rèn)的交叉點(diǎn)線路，使Gateling和Dataline信號各自恢復(fù)正常；
3.無法確認(rèn)被查找到的故障點(diǎn)故障表現(xiàn)形式，則切斷此半條掃描線故障點(diǎn)的來源端，再將末梢電路縱向進(jìn)行短接，利用間隔的同組掃描線信號使半條掃描線正常顯現(xiàn)。
采用以上方法后，本發(fā)明改變了一般的液晶面板鐳射修復(fù)方法，采用了結(jié)合面板特性，在數(shù)以千計(jì)的顯性橫向線性不良中快速鎖定特征線，再快速查明異常故障點(diǎn)，并有效的將故障去除，以達(dá)到去除異常，使液晶面板正常顯示；修復(fù)快速方便，減少浪費(fèi)。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的方法步驟簡圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明做詳細(xì)的說明。
如圖1所示，一種修復(fù)液晶面板顯性橫向線性不良的方法，其特征在于，包括六個(gè)步驟，
一）鑒別網(wǎng)格粗：
1.將目標(biāo)產(chǎn)品送電點(diǎn)亮測試；
2.在紅綠藍(lán)三色觀察，全屏或高度不等處出現(xiàn)異常等間隔橫線，間隔數(shù)量為2；
3.在下方(PCBA在上方)末端出現(xiàn)3~4條顏色不同的橫線；
4.多重網(wǎng)格粗為在此類型的疊加；
5.呈現(xiàn)間隔橫線，但間隔條數(shù)為5條橫線，此類異常為非網(wǎng)格粗，通過更換首尾COF修復(fù)；
6.帶狀無間隔性橫紋或有間隔性橫線但伴隨帶狀無間隔性橫紋，此類異常為非網(wǎng)格粗，可稱之為畫面異常，不在此發(fā)明之內(nèi)；
二）確定特征線：
1.通過紅綠藍(lán)不同顏色觀察；
2.在下方(PCBA在上方)末端呈現(xiàn)3條顏色不同的橫線；
3.在下方(PCBA在上方)末端向上數(shù)起，第二條線，就是特征線；
三）切除特征線并確認(rèn)故障點(diǎn)查找方向：
1.顯微鏡5X，5X觀察特征線；
2.顯微鏡逐級切換至5X，50X；
3.找到控制特征線的掃描線；
4.控制鐳射機(jī)X，Y軸定位到該掃描線靠近信號線位置；
5.采用slit X 3um ，Y 8 um，能量85%，1064nm波長激光擊打該信號線位置，切除該掃描線，至此特征線被切除；
6.切除特征線后，畫面變成全屏僅剩半截橫線，此半截橫線即故障點(diǎn)查找方向；
四）查找故障點(diǎn)：
1.從半截橫線一端開始，在顯微鏡10X，20X逐一像素查詢；
2.找到故障點(diǎn)位置（圈內(nèi)ITO蝕刻變形或者蝕刻異常處）；
五）修復(fù)故障點(diǎn)：1.在故障點(diǎn)位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波長激光擊打故障點(diǎn)位置的Drain位置；
六）檢查確認(rèn)：修復(fù)故障點(diǎn)后，檢測各色畫面，全屏無異常，修復(fù)完畢。
上述步驟四和步驟五亦可分三種方法：
1.故障點(diǎn)故障表現(xiàn)為Com ITO與Gateline短路或者Gateline直接與commonline之Metalone短路，在故障點(diǎn)位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波長激光擊打故障點(diǎn)位置的Drain位置，切除短路處，使原有功能Gateline恢復(fù)正常；
2. 故障點(diǎn)故障表現(xiàn)為Gateline與Dataline短路，會出現(xiàn)全屏間隔橫線伴隨豎漸變線，在故障點(diǎn)位置采用Slit X 8um,Y 2um,能量68%，1064nm波長激光擊打故障點(diǎn)位置的Drain位置，切除被確認(rèn)的交叉點(diǎn)線路，使Gateling和Dataline信號各自恢復(fù)正常；
3.無法確認(rèn)被查找到的故障點(diǎn)故障表現(xiàn)形式，則切斷此半條掃描線故障點(diǎn)的來源端，再將末梢電路縱向進(jìn)行短接，利用間隔的同組掃描線信號使半條掃描線正常顯現(xiàn)。
本發(fā)明是利用GOP產(chǎn)品掃描側(cè)模塊集成于面板兩側(cè)，通過自帶邏輯電路自行掃描和傳遞逐行交握信息的特性，面板內(nèi)部任意一條掃描線由于兩側(cè)都有信號送入，故中間部分可斷開而不受影響。