本發(fā)明涉及顯示裝置制備技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種掩膜板、基板以及顯示裝置。
背景技術(shù):
如圖1所示,現(xiàn)有技術(shù)中黑矩陣掩膜板的開口設(shè)計(jì),其開口角落會(huì)有不同1-10μm不等的尖銳倒角,以前在較低解析度的曝光機(jī)下曝出的圖案開口角落處均比較圓滑,而隨著現(xiàn)有技術(shù)中曝光機(jī)的解析度提高,使曝出的圖案角落分明,雖然高解析度的曝光機(jī)曝出的結(jié)果更加還原黑矩陣掩膜板的圖案,但是高解析度曝光機(jī)曝出的圖案開口角落的倒角處的曲率半徑較小,結(jié)構(gòu)間隙較大,電荷容易聚集,這樣的角落容易殘留帶電粒子,使由高解析度曝光機(jī)生產(chǎn)出的玻璃不容易清洗干凈,進(jìn)而會(huì)引起由此制成的顯示裝置殘像不良。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明提供了一種掩膜板、基板以及顯示裝置,使用該掩膜板配合高解析度曝光機(jī)進(jìn)行構(gòu)圖時(shí),可以較清晰還原掩膜板的圖案,且得到的圖案的開口區(qū)域的角落處兩個(gè)相鄰邊之間圓滑過渡,不容易聚集電荷,有利于殘留的帶電粒子的清洗,進(jìn)而對(duì)利用本發(fā)明提供的掩膜板制備的顯示裝置有改善殘像的效果。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供以下技術(shù)方案:
一種掩膜板,用于顯示裝置制備,包括平板,所述平板上設(shè)有與顯示裝置的像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)開口;其中,每個(gè)所述開口的角落中,每相鄰的兩個(gè)邊之間圓滑過渡。
上述掩膜板,用于顯示裝置制備,掩膜板包括平板,平板上設(shè)有與顯示裝置的像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)開口,每個(gè)開口的角落中,每相鄰的兩個(gè)邊之間圓滑過渡,當(dāng)使用上述掩膜板配合高解析度的曝光機(jī)進(jìn)行構(gòu)圖時(shí),可以更好的還原掩膜板的圖案,且得到的圖案的開口區(qū)域的角落處兩個(gè)相鄰邊之間圓滑過渡,則使相鄰兩邊之間的拐角曲率半徑較大,結(jié)構(gòu)元間隙小,不容易聚集電荷,有利于殘留的帶電粒子的清洗。
因此,使用上述掩膜板配合高解析度曝光機(jī)進(jìn)行構(gòu)圖時(shí),可以較清晰、確切的還原掩膜板的圖案,且得到的圖案的開口區(qū)域的角落處兩個(gè)相鄰邊之間圓滑過渡,不容易聚集電荷,有利于殘留的帶電粒子的清洗,進(jìn)而對(duì)利用本發(fā)明提供的掩膜板制備的顯示裝置有改善殘像的效果。
進(jìn)一步地,所述平板上設(shè)有的多個(gè)開口中,每一個(gè)所述開口中的角落處,每相鄰的兩個(gè)邊的交接處形成圓滑曲線型結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步地,每一個(gè)所述開口的角落處,每相鄰的兩個(gè)邊的交接處形成弧形結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明還提供了一種基板,包括襯底和黑矩陣,所述黑矩陣制備的構(gòu)圖工序中上述技術(shù)方案中所述的任意一種掩膜板進(jìn)行曝光處理。
另外,本發(fā)明還提供了一種顯示裝置,包括上述技術(shù)方案中所述的基板。
附圖說明
圖1為現(xiàn)有技術(shù)中黑矩陣掩膜板的部分結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的掩膜板的部分結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為圖2中ⅰ處的局部放大圖;
圖4為圖2中ⅱ處的局部放大圖。
圖標(biāo):1-平板;2-開口。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請(qǐng)參考圖2,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種掩膜板,用于顯示裝置制備,包括平板1,平板1上設(shè)有與顯示裝置的像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)開口2;其中,每個(gè)開口2的角落中,每相鄰的兩個(gè)邊之間圓滑過渡。
上述掩膜板,用于顯示裝置制備,掩膜板包括平板1,平板1上設(shè)有與顯示裝置的像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)開口2,每個(gè)開口2的角落中,每相鄰的兩個(gè)邊之間圓滑過渡,當(dāng)使用上述掩膜板配合高解析度的曝光機(jī)進(jìn)行構(gòu)圖時(shí),可以更好的還原掩膜板的圖案,且得到的圖案的開口區(qū)域的角落處兩個(gè)相鄰邊之間圓滑過渡,則使相鄰兩邊之間的拐角曲率半徑較大,結(jié)構(gòu)元間隙小,不容易聚集電荷,有利于殘留的帶電粒子的清洗。
因此,使用上述掩膜板配合高解析度曝光機(jī)進(jìn)行構(gòu)圖時(shí),可以較清晰、確切的還原掩膜板的圖案,且得到的圖案的開口區(qū)域的角落處兩個(gè)相鄰邊之間圓滑過渡,不容易聚集電荷,有利于殘留的帶電粒子的清洗,進(jìn)而對(duì)利用本發(fā)明實(shí)施例提供的掩膜板制備的顯示裝置有改善殘像的效果。
如圖3和圖4所示,上述掩膜板中,平板1上設(shè)有的多個(gè)開口2中,每一個(gè)開口2中的角落處,每相鄰的兩個(gè)邊的交接處形成圓滑曲線型結(jié)構(gòu)。開口2角落處相鄰邊之間交接處形成圓滑曲線型結(jié)構(gòu),可以達(dá)到開口2的角落處相鄰的兩個(gè)邊之間圓滑過渡的效果,且結(jié)構(gòu)簡單,易于加工。
具體地,每一個(gè)開口2的角落處,每相鄰的兩個(gè)邊的交接處形成弧形結(jié)構(gòu)。角落處相鄰兩個(gè)邊的交接處形成弧形結(jié)構(gòu),加工簡單方便,易于制造。
本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種基板,包括襯底和黑矩陣,黑矩陣制備的構(gòu)圖工序中上述技術(shù)方案中的任意一種掩膜板進(jìn)行曝光處理。上述基板的黑矩陣圖案的開口角落處相鄰兩邊之間圓滑過渡,有利于清洗殘留的帶電粒子,進(jìn)而對(duì)使用該基板的顯示裝置有改善殘像的效果。
另外,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示裝置,包括上述技術(shù)方案中的基板。
顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi),則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。