1.一種用于掃描應(yīng)用的有限遠(yuǎn)校正顯微鏡物鏡(2)，包括
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，所述物場(chǎng)直徑(dobj)為至少1.5mm。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，所述顯微鏡物鏡(2)在視場(chǎng)的至少70%上具有至少0.8的strehl比率。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，所述顯微鏡物鏡(2)包括最多18個(gè)光學(xué)元件(l1；1≤i≤18)。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，所述顯微鏡物鏡(2)被設(shè)計(jì)為干物鏡。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，像側(cè)上的主光線角(crai)不大于5°。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，最后面的光學(xué)表面與所述中間像平面(i)之間的距離(bfl)為至少50mm。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，在400nm至800nm之間的波長(zhǎng)范圍內(nèi)，在至少200nm的帶寬上對(duì)所述顯微鏡物鏡(2)進(jìn)行復(fù)消色差校正。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其中，所述第三透鏡組(g3)具有三個(gè)子組(g31、g32和g33)，其中，第一子組(g31)具有正屈光力，第二子組(g32)具有負(fù)屈光力，并且第三子組(g33)具有負(fù)屈光力。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于，所述顯微鏡物鏡不具有非球面透鏡。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)，其特征在于以下光學(xué)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)(以相反順序)：
12.一種顯微鏡(1)，具有根據(jù)權(quán)利要求1至11中任一項(xiàng)所述的顯微鏡物鏡(2)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯微鏡(1)，其特征在于，所述顯微鏡(1)具有不大于250mm×200mm的覆蓋區(qū)。
14.根據(jù)權(quán)利要求12至13中任一項(xiàng)所述的顯微鏡(1)，其特征在于自動(dòng)掃描裝置(14)。
15.一種用于自動(dòng)掃描樣品的方法，包括以下步驟：