本發(fā)明涉及相變材料顯示,尤其涉及一種顯示器件。
背景技術(shù):
1、結(jié)構(gòu)色僅通過物體自身的納米結(jié)構(gòu)產(chǎn)生色彩,具有重要的科學和實用價值。與傳統(tǒng)染料和顏料相比,結(jié)構(gòu)色在色彩純度、亮度、清晰度、耐用性和環(huán)保性上有顯著優(yōu)勢。因此,它們在光學成像、顯示、檢測設(shè)備、色彩傳感器、防偽技術(shù)以及表面裝飾等領(lǐng)域有重要應用。至今,已有多種物理機制被提出用以產(chǎn)生結(jié)構(gòu)色,例如導波共振(guide?moderesonances,gmr)、表面等離子體共振(surfaceplasmonresonance,spr)和mie共振(米氏共振)。但這些結(jié)構(gòu)通常需要復雜的納米級圖案化,難以大規(guī)?;虼竺娣e制造,成本較高。
2、與此相比,基于無光刻技術(shù)的平面薄膜結(jié)構(gòu)色提供了一種簡單的顏色生成方法。這種設(shè)計方法易于調(diào)節(jié)和擴展,可以通過磁控濺射儀器或者ebe(electronbeamevaporation,電子束蒸發(fā))來進行沉積與擴展。法布里-珀羅(fp)諧振腔是生成結(jié)構(gòu)色最簡單和最常用的薄膜配置之一,由兩個金屬鏡間夾著的透明介質(zhì)或吸收性半導體材料構(gòu)成。在介電層中發(fā)生的構(gòu)造性干涉會在特定波長形成透射峰或反射谷。但是,由于腔體共振導致的窄吸收帶寬,以及rgb色彩空間比cmy大,設(shè)計高純度和亮度的反射rgb顏色仍然具有挑戰(zhàn)性。盡管提出了多種設(shè)計以產(chǎn)生rgb顏色,但由于制備技術(shù)、f-p結(jié)構(gòu)本身或材料固有吸收的限制,通過簡單的薄膜結(jié)構(gòu)和過程來調(diào)節(jié)反射全色結(jié)構(gòu)色,以實現(xiàn)高亮度和純度,仍然充滿挑戰(zhàn)。
3、相變材料由于其具有較高的溫度穩(wěn)定性,較好的光學常數(shù)等優(yōu)勢而備受關(guān)注。因此,許多基于相變材料結(jié)合fp腔來實現(xiàn)高反射率的結(jié)構(gòu)。但是,其實現(xiàn)高反射率往往面臨著非目標峰值區(qū)域的反射率較大。而且在高溫環(huán)境下,由于相變材料本身的性質(zhì)導致其顏色出現(xiàn)波動,這對于其在某些領(lǐng)域的應用是很不利的。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本發(fā)明提供一種顯示器件,用以解決現(xiàn)有技術(shù)中基于相變材料結(jié)合fp腔實現(xiàn)的高反射率結(jié)構(gòu)非目標峰值區(qū)域的反射率較大,顏色飽和度不高缺陷,實現(xiàn)利用相變材料實現(xiàn)高顏色飽和度以及高反射率的結(jié)構(gòu)設(shè)計,在這種結(jié)構(gòu)下,其顏色隨著溫度的變化幾乎保持不變,同時滿足高反射率,高顏色飽和度的特性。
2、本發(fā)明提供一種顯示器件,包括:
3、窄帶吸收體結(jié)構(gòu),包括介質(zhì)層和金屬層;
4、寬帶吸收體結(jié)構(gòu),包括介質(zhì)層、金屬層和相變層,所述寬帶吸收體結(jié)構(gòu)中的金屬層有多層,具有損耗,k值大于預設(shè)閾值,所述相變層位于多層金屬層之間,所述寬帶吸收體結(jié)構(gòu)位于所述窄帶吸收體結(jié)構(gòu)之上,與所述窄帶吸收體結(jié)構(gòu)耦合,產(chǎn)生鮮艷的顏色。
5、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述寬帶吸收體結(jié)構(gòu)包括從下到上依次布設(shè)的第一反射層、相變層、第一金屬層、第一介質(zhì)層和第二介質(zhì)層。
6、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述第一反射層為ag;
7、所述相變層為ge2sb2se5,ge2sb2se5中各個元素比例可調(diào),或者摻雜c、n等元素的硫系相變材料,其相變前后k值和n值變化隨著波長的移動等值減小或者變大;
8、所述第一金屬層為w、ge、ta等元素,其k值大于1;
9、所述第一介質(zhì)層為ta2o3.5、tio2、sio2,其材料的k值要為0;
10、所述第二介質(zhì)層為mgf2,其滿足k值為0,且與第一層介質(zhì)具備折射率梯度。
11、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述第一反射層的厚度在10nm至40nm范圍內(nèi)變化;
12、所述相變層的厚度在1nm至20nm范圍內(nèi)變化;
13、所述第一金屬層的厚度在1nm至20nm范圍內(nèi)變化;
14、所述第一介質(zhì)層的厚度在1nm至500nm范圍內(nèi)變化;
15、所述第二介質(zhì)層的厚度在4nm至500nm范圍內(nèi)變化。
16、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述寬帶吸收體結(jié)構(gòu)還包括第二金屬層和第三金屬層,所述第二金屬層位于所述第一反射層和所述相變層之間,所述第三金屬層位于所述所述相變層和所述第一金屬層之間。
17、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述第二金屬層和所述第三金屬層均為ge、w、ge、ta等元素,其k值大于1。
18、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述第二金屬層和所述第三金屬層的厚度均在1nm至5nm范圍內(nèi)變化。
19、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述窄帶吸收體結(jié)構(gòu)包括從下到上依次布設(shè)的第二反射層、第三介質(zhì)層、第四介質(zhì)層和所述第一反射層。
20、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述第二反射層為ag,所述第三介質(zhì)層為ta2o3.3,所述第四介質(zhì)層為ta2o3.5或者是ta的氧化物,其k值為0,所述第一反射層為ag。
21、根據(jù)本發(fā)明提供的一種顯示器件,所述第二反射層的厚度大于50nm,所述第三介質(zhì)層的厚度為為6nm,所述第四介質(zhì)層的厚度在10nm至1微米范圍內(nèi)變化,所述第一反射層的厚度在10nm至40nm范圍內(nèi)變化。
22、本發(fā)明提供的顯示器件,通過采用基于介質(zhì)層、金屬材料和相變材料構(gòu)成的寬帶吸收體結(jié)構(gòu),以及介質(zhì)和金屬構(gòu)成的窄帶吸收結(jié)構(gòu)共同構(gòu)成顯示器件,寬帶吸收體結(jié)構(gòu)采用多層具有高k值和損耗的金屬,相變材料位于金屬層的中間,具有結(jié)構(gòu)簡單,不易受環(huán)境的影響,在溫度變化時,顏色反射率和飽和度變化不大,角度不敏感等優(yōu)點。
1.一種顯示器件,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示器件,其特征在于,所述寬帶吸收體結(jié)構(gòu)包括從下到上依次布設(shè)的第一反射層、相變層、第一金屬層、第一介質(zhì)層和第二介質(zhì)層。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示器件,其特征在于,所述第一反射層為ag;
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示器件,其特征在于,所述第一反射層的厚度在10nm至40nm范圍內(nèi)變化;
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示器件,其特征在于,所述寬帶吸收體結(jié)構(gòu)還包括第二金屬層和第三金屬層,所述第二金屬層位于所述第一反射層和所述相變層之間,所述第三金屬層位于所述所述相變層和所述第一金屬層之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示器件,其特征在于,所述第二金屬層和所述第三金屬層的材料相同,為ge、w、ge或ta,其k值大于1。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示器件,其特征在于,所述第二金屬層和所述第三金屬層的厚度均在1nm至5nm范圍內(nèi)變化。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示器件,其特征在于,所述窄帶吸收體結(jié)構(gòu)包括從下到上依次布設(shè)的第二反射層、第三介質(zhì)層、第四介質(zhì)層和所述第一反射層。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示器件,其特征在于,所述第二反射層為ag,所述第三介質(zhì)層為ta2o3.3,所述第四介質(zhì)層為ta2o3.5或ta的氧化物,其k值為0,所述第一反射層為ag。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示器件,其特征在于,所述第二反射層的厚度大于50nm,所述第三介質(zhì)層的厚度為為6nm,所述第四介質(zhì)層的厚度在10nm至1微米范圍內(nèi)變化,所述第一反射層的厚度在10nm至40nm范圍內(nèi)變化。