基于arm 處理器控制的lcm 測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種基于ARM處理器控制的LCM測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]IXD以及其他液晶顯示屏產(chǎn)品變得越來越輕薄、消耗能源低、輻射小、屏幕圖像顯示清晰，因此被人們廣泛采用。而液晶模組是液晶顯示產(chǎn)品的主要組件，它包含著液晶面板和背光燈等元件，伴隨著電氣元件的生產(chǎn)普遍采用流水線式機(jī)械加工，因此液晶模組的測試已經(jīng)成為顯示屏生產(chǎn)中一項(xiàng)重要的任務(wù)。不同規(guī)格的顯示屏需要不同的電流參數(shù)和電壓參數(shù)來支持顯示屏的正常工作?，F(xiàn)有技術(shù)中關(guān)于LCM的測試裝置功能單一，值能對LCM的一項(xiàng)數(shù)據(jù)指標(biāo)進(jìn)行測試，并且測試方法繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明公開了一種基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，包括電源轉(zhuǎn)換電路和測試控制電路，所述測試控制電路與待測液晶模組相連接，所述電源轉(zhuǎn)換電路上設(shè)置有多個外部接口電路，所述電源轉(zhuǎn)換電路上連接有電壓調(diào)節(jié)模塊，所述電源轉(zhuǎn)換電路通過電壓調(diào)節(jié)模塊與測試控制電路相連接。
[0004]所述測試控制電路包括ARM處理器和存儲器，所述存儲器內(nèi)存儲有應(yīng)用程序和處理數(shù)據(jù)信息以及圖形數(shù)據(jù)信息，所述ARM處理器與存儲器相連接、將存儲器內(nèi)部的程序和圖像信息加載進(jìn)行LCM測試。
[0005]該系統(tǒng)還包括用于對測試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)顯示的顯示電路。
[0006]本發(fā)明公開的基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，利用測試控制電路與待測液晶模組相連接，首先進(jìn)行電壓轉(zhuǎn)換，將電壓值調(diào)整到合適待測液晶模組工作的電壓范圍，然后利用ARM處理器驅(qū)動存儲器內(nèi)部的程序和圖像信息進(jìn)行LCM測試，并將測試的圖形信息和數(shù)據(jù)信息顯示在顯示電路上。
【附圖說明】
[0007]為了更清楚地說明本申請實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請中記載的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0008]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]為使本發(fā)明的技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚完整的描述:
[0010]如圖1所示的基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，包括電源轉(zhuǎn)換電路和測試控制電路，所述測試控制電路與待測液晶模組相連接，所述電源轉(zhuǎn)換電路上設(shè)置有多個外部接口電路，所述電源轉(zhuǎn)換電路上連接有電壓調(diào)節(jié)模塊，所述電源轉(zhuǎn)換電路通過電壓調(diào)節(jié)模塊與測試控制電路相連接。通過外部接口電路與其他外圍電路相連接。接口可以是RS232接口等串行接口。
[0011]所述測試控制電路包括ARM處理器和存儲器，所述存儲器內(nèi)存儲有應(yīng)用程序和處理數(shù)據(jù)信息以及圖形數(shù)據(jù)信息，所述ARM處理器與存儲器相連接、將存儲器內(nèi)部的程序和圖像信息加載進(jìn)行LCM測試。
[0012]該系統(tǒng)還包括用于對測試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)顯示的顯示電路。
[0013]以上所述，僅為本發(fā)明較佳的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，其特征在于:包括電源轉(zhuǎn)換電路和測試控制電路，所述測試控制電路與待測液晶模組相連接，所述電源轉(zhuǎn)換電路上設(shè)置有多個外部接口電路，所述電源轉(zhuǎn)換電路上連接有電壓調(diào)節(jié)模塊，所述電源轉(zhuǎn)換電路通過電壓調(diào)節(jié)模塊與測試控制電路相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，其特征還在于:所述測試控制電路包括ARM處理器和存儲器，所述存儲器內(nèi)存儲有應(yīng)用程序和處理數(shù)據(jù)信息以及圖形數(shù)據(jù)信息，所述ARM處理器與存儲器相連接、將存儲器內(nèi)部的程序和圖像信息加載進(jìn)行LCM測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，其特征還在于:該系統(tǒng)還包括用于對測試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)顯示的顯示電路。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，包括電源轉(zhuǎn)換電路和測試控制電路，所述測試控制電路與待測液晶模組相連接，所述電源轉(zhuǎn)換電路上設(shè)置有多個外部接口電路，所述電源轉(zhuǎn)換電路上連接有電壓調(diào)節(jié)模塊，所述電源轉(zhuǎn)換電路通過電壓調(diào)節(jié)模塊與測試控制電路相連接。本發(fā)明公開的基于ARM處理器控制的LCM測試裝置，利用測試控制電路與待測液晶模組相連接，首先進(jìn)行電壓轉(zhuǎn)換，將電壓值調(diào)整到合適待測液晶模組工作的電壓范圍，然后利用ARM處理器驅(qū)動存儲器內(nèi)部的程序和圖像信息進(jìn)行LCM測試，并將測試的圖形信息和數(shù)據(jù)信息顯示在顯示電路上。
【IPC分類】G02F1-13
【公開號】CN104698617
【申請?zhí)枴緾N201310666255
【發(fā)明人】高鵬
【申請人】大連龍寧科技有限公司
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2013年12月6日