液晶模組用粒子檢測方法和裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及到液晶模組檢測領域，特別是涉及到一種液晶模組用粒子檢測方法和
目.0
【背景技術】
[0002]液晶模組用粒子檢測方法為利用各向異性導電薄膜的粘結力在其薄膜表面預壓接部件的部件材料，利用高溫、高壓的工具實施壓接，在此壓接過程中產(chǎn)生的異性導電薄膜內粒子破裂，以影像提取并檢查，并檢查連接有無缺陷，并加以分別處理。
[0003]現(xiàn)有技術的液晶模組用粒子檢測方法，通過兩個照相機配合拍攝壓痕圖像，成本較高，檢測效率低。
【發(fā)明內容】
[0004]本發(fā)明的主要目的為提供一種節(jié)約檢測設備成本、檢測效率高的液晶模組用粒子檢測方法和裝置。
[0005]為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供一種液晶模組用粒子檢測方法，包括步驟:
[0006]獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息；
[0007]根據(jù)所述壓痕影像信息，判斷所述目標物料是否合格，若合格則將目標物料移動至合格工位，否則移動至不合格工位。
[0008]進一步地，所述獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息的步驟之前，包括:
[0009]將所述壓痕采集裝置設置于檢測臺的下方。
[0010]進一步地，所述根據(jù)所述壓痕影像信息，判斷所述目標物料是否合格，若合格則將目標物料移動至合格工位，否則移動至不合格工位的步驟，包括:
[0011]根據(jù)壓痕影像信息判斷所述目標物料是否合格，并且生成對應的判斷結果信息；
[0012]根據(jù)壓痕影像信息判斷所述目標物料是否合格，并且生成對應的判斷結果信息發(fā)送給PLC控制器；
[0013]根據(jù)結果信息通過PLC控制器控制輸料機構將目標物料輸送至合格工位或不合格工位。
[0014]進一步地，所述獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息的步驟，包括:
[0015]通過壓痕采集裝置的物鏡將目標物料的反射光進行折射擴散至指定倍數(shù)；
[0016]通過壓痕采集裝置的DIC濾波器將透過物鏡且進入線性相機掃描區(qū)域的光線進行濾波；
[0017]通過所述線性相機采集掃描區(qū)域的壓痕影像；
[0018]將采集的壓痕影像轉換為數(shù)字信號，并接收所述數(shù)字信號。
[0019]進一步地，所述線性相機掃描的速度為10m/s?50m/s。
[0020]本發(fā)明還提供一種液晶模組用粒子檢測裝置，包括:
[0021]獲取單元，用于獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息；
[0022]判斷處理單元，用于根據(jù)所述壓痕影像信息，判斷所述目標物料是否合格，若合格則將目標物料移動至合格工位，否則移動至不合格工位。
[0023]進一步地，所述液晶模組用粒子檢測裝置還包括安裝單元，用于將所述壓痕采集裝置設置于檢測臺的下方。
[0024]進一步地，所述判斷處理單元，包括:
[0025]判斷子單元，用于根據(jù)壓痕影像信息判斷所述目標物料是否合格，并且生成對應的判斷結果信息發(fā)送給PLC控制器；
[0026]輸料子單元，用于根據(jù)結果信息通過PLC控制器控制輸料機構將目標物料輸送至合格工位或不合格工位。
[0027]進一步地，所述獲取單元，包括:
[0028]放大模塊，用于通過壓痕采集裝置的物鏡將目標物料的反射光進行折射擴散至指定倍數(shù)；
[0029]過濾模塊，用于通過壓痕采集裝置的DIC濾波器將透過物鏡且進入線性相機掃描區(qū)域的光線進行濾波；
[0030]采集模塊，用于通過所述線性相機采集掃描區(qū)域的壓痕影像；
[0031]轉換接收模塊，用于將采集的壓痕影像轉換為數(shù)字信號，并接收所述數(shù)字信號。
[0032]進一步地，所述線性相機掃描的速度為10m/s?50m/s。
[0033]本發(fā)明的液晶模組用粒子檢測方法和裝置，通過線性相機掃描目標物料的壓痕信息，所以只需要一個線性相機即可，節(jié)約檢測設備的成本，降低檢測設備的體積；而且線性相機采集目標物料的壓痕影像速度快，提高檢測效率；壓痕影像更加清晰，提高判斷結果的準確性。
【附圖說明】
[0034]圖1為本發(fā)明一實施例的液晶模組用粒子檢測方法的流程示意圖；
[0035]圖2為本發(fā)明另一實施例的液晶模組用粒子檢測方法的流程示意圖；
[0036]圖3為本發(fā)明一實施例的判斷處理目標物料是否合格過程的流程示意圖；
[0037]圖4為本發(fā)明一實施例的獲取目標物料壓痕信息過程的流程示意圖；
[0038]圖5為本發(fā)明一實施例的液晶模組用粒子檢測裝置的結構框圖；
[0039]圖6為本發(fā)明另一實施例的液晶模組用粒子檢測裝置的結構框圖；
[0040]圖7為本發(fā)明一實施例的判斷處理單元的結構框圖；
[0041]圖8為本發(fā)明一實施例的獲取單元的結構框圖。
[0042]本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。
【具體實施方式】
[0043]應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0044]參照圖1，本發(fā)明實施例中提出一種液晶模組用粒子檢測方法，，包括步驟:
[0045]S1、獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息；
[0046]S2、根據(jù)所述壓痕影像信息，判斷所述目標物料是否合格，若合格則將目標物料移動至合格工位，否則移動至不合格工位。
[0047]如上述步驟SI所述，通過線性相機掃描目標物料的壓痕信息，所以只需要一個線性相機即可，節(jié)約檢測設備的成本，降低檢測設備的體積；而且線性相機采集目標物料的壓痕影像速度快，提高檢測效率；壓痕影像更加清晰，提高判斷結果的準確性。本實施例中，上述目標物料為經(jīng)過高溫、高壓的工具實施壓接后的液晶模組。
[0048]如上述步驟S2所述，判斷出目標物料是否合格后，會根據(jù)判斷結果將目標物料輸送到指定的工位處，在移動過，可以通過對應目標物料的機械手將目標物料挪移到指定工位，也可以通過對應的輸送軌道將目標物料輸送到制定工位。
[0049]本發(fā)明實施例中，上述獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息的步驟SI之前，包括:S1’、將所述壓痕采集裝置設置于檢測臺的下方。
[0050]參照圖2，如上述步驟SI’，將壓痕采集裝置設置于檢測臺下方，可以節(jié)省設備空間，提供空間利用率，所述的檢測臺為用于放置目標物體的設備。
[0051 ] 參照圖3，本實施例中，上述根據(jù)所述壓痕影像信息，判斷所述目標物料是否合格，若合格則將目標物料移動至合格工位，否則移動至不合格工位的步驟S2，包括:
[0052]S21、根據(jù)壓痕影像信息判斷所述目標物料是否合格，并且生成對應的判斷結果信息發(fā)送給PLC控制器；
[0053]S22、根據(jù)結果信息通過PLC控制器控制輸料機構將目標物料輸送至合格工位或不合格工位；。
[0054]如上述步驟S21所述，首先經(jīng)過壓痕判斷的具體算法，判斷出目標物料是否合格，并生成對應的判斷結果信息，并且會發(fā)送給PLC控制器。PLC控制器是一種電控設備，可以根據(jù)接受的命令信息控制對應的電機、氣缸等電子設備工作。
[0055]如上述步驟S22所述，PLC控制器根據(jù)接收到的判斷結果信息，發(fā)出對應的控制命令，控制輸料機構將目標物料輸送到指定的工位。在一實施例中，輸料機構為傳送帶、伺服電機等組成，伺服電機根據(jù)PLC控制的控制信號進行正轉或反轉，將目標物料輸送到指定的工位。在另一實施例中，熟料機構為機械手，伺服電機根據(jù)PLC控制的控制信號進行抓取、移動、放開等動作，將目標物料移動到指定工位。
[0056]參照圖4，本實施例中，上述獲取目標物料的壓痕影像信息；其中，所述壓痕影像信息是壓痕采集裝置通過線性相機掃描目標物料獲取壓痕影像，并將壓痕影像轉換成數(shù)字信號的信息的步驟Si，包括:
[0057]S11、通過壓痕采集裝置的物鏡將目標物料的反射光進行折射擴散至指定倍數(shù)；
[0058]S12、通過壓痕采集裝置的DIC濾波器(差分干澀濾波器，DifferentialInterference Filter)將透過物鏡且進入線性相機掃描區(qū)域的光線進行濾波；
[0059]S13、通過所述線性相機采集掃描區(qū)域的壓痕影像；
[0060]S14、將采集的壓痕影像轉換為數(shù)字信號，并接收所述數(shù)字信號。
[0061]如上述步驟Sll所述，上述物鏡是直接面對目標物料的設備，其作用是將目標物料中的壓痕放大到指定倍數(shù)。本實施例中，上述物鏡的放大倍數(shù)為3.5倍?30倍，可以滿足各種壓痕檢測。
[0062]如上述步驟S12所述，DIC濾波器放大后的壓痕視覺立體化，提高后續(xù)步驟采集到的壓痕影像具有立體化，從而提高判斷結果的準確性。
[0063]如上述步驟S13所述，