壓痕采集裝置、液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)及其檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及到液晶模組檢測領(lǐng)域，特別是涉及到一種壓痕采集裝置、液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)及其檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶模組用粒子檢測方法為利用各向異性導(dǎo)電薄膜的粘結(jié)力在其薄膜表面預(yù)壓接部件的部件材料，利用高溫、高壓的工具實施壓接，在此壓接過程中產(chǎn)生的異性導(dǎo)電薄膜內(nèi)粒子破裂，以影像提取并檢查，并檢查連接有無缺陷，并加以分別處理。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)的液晶模組用粒子檢測方法，通過兩個照相機(jī)配合拍攝壓痕圖像，成本較高，檢測效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的主要目的為提供一種可以節(jié)約檢測設(shè)備成本、檢測效率高的壓痕采集裝置、液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)及其檢測方法。
[0005]為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提出一種壓痕采集裝置，包括物鏡、第一鏡筒、DIC濾波器、第二鏡筒和線性相機(jī)；
[0006]所述物鏡設(shè)置于所述第一鏡筒的一端，第一鏡筒的另一端設(shè)置所述DIC濾波器，DIC濾波器還設(shè)置于所述第二鏡筒的一端，第二鏡筒的另一端設(shè)置所述線性相機(jī)。
[0007]進(jìn)一步地，所述壓痕采集裝置還包括照明光源，突出設(shè)置于所述第一鏡筒或第二鏡筒的外側(cè)面。
[0008]進(jìn)一步地，所述壓痕采集裝置還包括第三鏡筒和照明光源，所述照明光源突出設(shè)置于所述第三鏡筒的外側(cè)面；
[0009]所述第三鏡筒的一端連接所述DIC濾波器，另一端連接所述第二鏡筒。
[0010]進(jìn)一步地，所述照明光源為LED光源。
[0011]本發(fā)明還提供一種液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)，包括壓痕采集裝置、圖像數(shù)據(jù)分析裝置、PLC控制裝置和輸料裝置；
[0012]所述壓痕采集裝置采集壓痕影像并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號輸送至所述圖像數(shù)據(jù)分析裝置；圖像數(shù)據(jù)分析裝置根據(jù)所述數(shù)字信號判斷目標(biāo)物體是否合格，并生成對應(yīng)的控制命令發(fā)送至所述PLC控制裝置；PLC控制裝置根據(jù)所述控制命令控制輸料裝置將目標(biāo)物料輸送至指定工位；
[0013]所述壓痕采集裝置包括物鏡、第一鏡筒、DIC濾波器、第二鏡筒和線性相機(jī)；所述物鏡設(shè)置于所述第一鏡筒的一端，第一鏡筒的另一端設(shè)置所述DIC濾波器，DIC濾波器還設(shè)置于所述第二鏡筒的一端，第二鏡筒的另一端設(shè)置所述線性相機(jī)。
[0014]進(jìn)一步地，所述的液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)還包括檢測臺裝置，該檢測臺裝置下方設(shè)置所述壓痕采集裝置，所述物鏡對準(zhǔn)所述檢測臺裝置上的檢測工位。
[0015]進(jìn)一步地，所述壓痕采集裝置還包括照明光源，突出設(shè)置于所述第一鏡筒或第二鏡筒的外側(cè)面。
[0016]進(jìn)一步地，所述壓痕采集裝置還包括第三鏡筒和照明光源，所述照明光源突出設(shè)置于所述第三鏡筒的外側(cè)面；
[0017]所述第三鏡筒的一端連接所述DIC濾波器，另一端連接所述第二鏡筒。
[0018]進(jìn)一步地，所述照明光源為LED光源。
[0019]本發(fā)明還提供一種液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)的檢測方法，包括:
[0020]圖像數(shù)據(jù)分析裝置獲取設(shè)置于檢測臺裝置下方的壓痕采集裝置采集并轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號的目標(biāo)物料的壓痕影像信息；其中，壓痕采集裝置包括物鏡、第一鏡筒、DIC濾波器、第二鏡筒和線性相機(jī)；所述物鏡設(shè)置于所述第一鏡筒的一端，第一鏡筒的另一端設(shè)置所述DIC濾波器，DIC濾波器還設(shè)置于所述第二鏡筒的一端，第二鏡筒的另一端設(shè)置所述線性相機(jī)；
[0021]根據(jù)壓痕影像信息判斷目標(biāo)物料是否合格，并生成對應(yīng)的控制信號發(fā)送給PLC控制裝置；
[0022]通過PLC控制裝置根據(jù)所述控制信號控制輸料裝置將目標(biāo)物料輸送至對應(yīng)的工位。
[0023]本發(fā)明的壓痕采集裝置，以及含有壓痕采集裝置的液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)和檢測方法，通過線性相機(jī)掃描目標(biāo)物料的壓痕信息，所以只需要一個線性相機(jī)即可，節(jié)約檢測設(shè)備的成本，降低檢測設(shè)備的體積；而且線性相機(jī)采集目標(biāo)物料的壓痕影像速度快，提高檢測效率；壓痕影像更加清晰，提高判斷結(jié)果的準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0024]圖1本發(fā)明一實施例的壓痕采集裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2本發(fā)明一實施例的液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意框圖；
[0026]圖3本發(fā)明一實施例的液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)的檢測方法的流程示意圖。
[0027]本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
【具體實施方式】
[0028]應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0029]參照圖1，本發(fā)明實施例提供一種壓痕采集裝置10，包括物鏡11、第一鏡筒12、DIC濾波器13、第二鏡筒15和線性相機(jī)16 ;所述物鏡11設(shè)置于所述第一鏡筒12的一端，第一鏡筒12的另一端設(shè)置所述DIC濾波器13，DIC濾波器13還設(shè)置于所述第二鏡筒15的一端，第二鏡筒15的另一端設(shè)置所述線性相機(jī)16。本實施例中，物鏡的放大倍數(shù)一般為3.5倍?30倍，線性相機(jī)16的掃描速度一般為10m/s?50m/s。
[0030]本實施例的壓痕采集裝置10，上述物鏡11將目標(biāo)物料50的反射光進(jìn)行折射擴(kuò)散至指定倍數(shù)，并且進(jìn)入到上述第一鏡筒12內(nèi)，然后透過DIC濾波器13 (差分干澀濾波器，Differential Interference Filter)，將透過物鏡11且進(jìn)入線性相機(jī)16掃描區(qū)域的光線進(jìn)行濾波處理，DIC濾波器13將放大后的壓痕視覺立體化，提高后續(xù)步驟采集到的壓痕影像具有立體化，從而提高判斷結(jié)果的準(zhǔn)確性；然后將經(jīng)過DIC濾波器13處理后的光線通過第二鏡頭被線性相機(jī)16接收。通過線性相機(jī)16掃描目標(biāo)物料50的壓痕信息，只需要一個線性相機(jī)16即可，無需兩個或兩個以上相機(jī)進(jìn)行采集壓痕影像，節(jié)約壓痕采集裝置10的成本，降低壓痕采集裝置10的體積；而且線性相機(jī)16采集目標(biāo)物料50的壓痕影像速度快，提高檢測效率；壓痕影像更加清晰，提高判斷結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0031]本實施例中，上述壓痕采集裝置10還包括照明光源14，突出設(shè)置于所述第一鏡筒12或第二鏡筒15的外側(cè)面，照明光源14主要用于給線性相機(jī)16提供良好的掃描環(huán)境，使拍攝的壓痕影像更加的清晰，以提高后續(xù)檢測的準(zhǔn)確性。照明光源14直接設(shè)置于第一鏡筒12或第二鏡筒15的外側(cè)面，只需要生產(chǎn)時設(shè)置好照明光源14的出光角度即可，使用方便，使壓痕采集裝置10在采集壓痕影像時無需使用外部光源，提高使用的便利性。
[0032]本實施例中，上述壓痕采集裝置10還包括第三鏡筒17和照明光源14，所述照明光源14突出設(shè)置于所述第三鏡筒17的外側(cè)面；上述第三鏡筒17的一端連接所述DIC濾波器13，另一端連接所述第二鏡筒15。第三鏡頭的設(shè)置，可以加長壓痕采集裝置10的長度，方便控制線性相機(jī)16進(jìn)行調(diào)焦等操作，而將照明光源14設(shè)置于第三鏡筒17的外側(cè)，同樣只需要生產(chǎn)時設(shè)置好照明光源14的出光角度即可，使用方便，使壓痕采集裝置10在采集壓痕影像時無需使用外部光源，提高使用的便利性。
[0033]本實施例中，上述照明光源14為LED光源，LED光源能耗低，使用壽命長，可以通過多顆LED燈珠的布置，提供光強(qiáng)度較為均勻的光照。
[0034]本實施例的壓痕采集裝置10，相對于現(xiàn)有技術(shù)的設(shè)備，減少了一個照相機(jī)的設(shè)置，可以大大的減小壓痕采集裝置10的生產(chǎn)成本，減小壓痕采集裝置10的體積，節(jié)約空間；采集壓痕影像快速，提尚檢測效率。
[0035]參照圖1和2，本發(fā)明實施例中還提供一種液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)，包括壓痕采集裝置10、圖像數(shù)據(jù)分析裝置20、PLC控制裝置30和輸料裝置40 ;所述壓痕采集裝置10采集壓痕影像并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號輸送至所述圖像數(shù)據(jù)分析裝置20 ;圖像數(shù)據(jù)分析裝置20根據(jù)所述數(shù)字信號判斷目標(biāo)物體是否合格，并生成對應(yīng)的控制命令發(fā)送至所述PLC控制裝置30 ；PLC控制裝置30根據(jù)所述控制命令控制輸料裝置40將目標(biāo)物料50輸送至指定工位；所述壓痕采集裝置10包括物鏡11、第一鏡筒12、DIC濾波器13、第二鏡筒15和線性相機(jī)16 ;所述物鏡11設(shè)置于所述第一鏡筒12的一端，第一鏡筒12的另一端設(shè)置所述DIC濾波器13，DIC濾波器13還設(shè)置于所述第二鏡筒15的一端，第二鏡筒15的另一端設(shè)置所述線性相機(jī)16。本實施例中，物鏡的放大倍數(shù)一般為3.5倍?30倍，線性相機(jī)16的掃描速度一般為 10m/s ?50m/s。
[0036]本實施例的液晶模組用粒子檢測系統(tǒng)終中的壓痕采集裝置10，上述物鏡11將目標(biāo)物料50的反射光進(jìn)行折射擴(kuò)散至指定倍數(shù)，并且進(jìn)入到上述第一鏡筒12內(nèi)，然后透過DIC濾波器13 (差分干濕濾波器，Differential Interference Filter)，將透過物鏡11且進(jìn)入線性相機(jī)16掃描區(qū)域的光線進(jìn)行濾波處理，DIC濾波器13將放大后的壓痕視覺立體化，提高后續(xù)步驟采集到的壓痕影像具有立體化，從而提高判斷結(jié)果的準(zhǔn)確性；然后將經(jīng)過DIC濾波器13處理后的光線通過第二鏡頭被線性相機(jī)16接收。通過線性相機(jī)16掃描目標(biāo)物料50的壓痕信息，只需要一個線性相機(jī)16即可，無需兩個或兩個以上相機(jī)進(jìn)行采集壓痕影像，節(jié)約壓痕采集裝置10的成本，降低壓痕采集裝置10的體積；而且線性相機(jī)16采集目標(biāo)物料50的壓痕影像速度快，提高檢測效率；