放射線圖像讀出裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及放射線圖像讀出裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]存在將激發(fā)光照射于支撐了放射線圖像信息的蓄積性熒光體薄片并且檢測由該激發(fā)光的照射而發(fā)生的熒光的放射線圖像讀出裝置(例如參照專利文獻1)。該放射線圖像讀出裝置能夠從熒光的檢測結(jié)果獲得圖像信號。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)文獻
[0004]專利文獻
[0005]專利文獻1:日本特開昭63-1760621號公報(日本特公平6-18415號公報)

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]發(fā)明所要解決的問題
[0007]在上述的放射線圖像讀出裝置中，光檢測器檢測熒光。作為光檢測器，考慮使用光電二極管。作為光檢測器，在使用受光區(qū)域的面積小的光電二極管的情況下，不得不將熒光聚光于小面積的受光區(qū)域，所以存在對于光電二極管中的光檢測來說產(chǎn)生損失的擔憂。因此，優(yōu)選光電二極管的受光區(qū)域的面積大。在光電二極管產(chǎn)生的暗電流基本上與受光區(qū)域的面積成比例。因此，如果受光區(qū)域的面積變大的話，則恐怕會產(chǎn)生暗電流以及噪音增大等的問題。
[0008]本發(fā)明的目的在于，提供一種能夠減小由暗電流引起的噪音并且能夠恰當?shù)貦z測發(fā)光的放射線圖像讀出裝置。
[0009]解決問題的技術(shù)手段
[0010]在本發(fā)明的一個方式中，放射線圖像讀出裝置具備:光掃描單元，在記錄有放射線圖像的記錄介質(zhì)上掃描激發(fā)光；光檢測單元，將光電二極管陣列作為一個信道(channel)且具有多個信道，檢測從記錄介質(zhì)上的激發(fā)光被照射的位置產(chǎn)生的光；控制單元，將多個信道中對應(yīng)于激發(fā)光被照射的位置的信道決定為檢測光的檢測信道；讀出單元，從控制單元決定的檢測信道讀出光的檢測結(jié)果。
[0011]在本方式中，放射線圖像讀出裝置從對應(yīng)于激發(fā)光被照射的位置的信道(檢測信道)讀出光的檢測結(jié)果，所以能夠恰當?shù)貦z測來自記錄介質(zhì)的光。放射線圖像讀出裝置不讀出來自對應(yīng)于從激發(fā)光被照射的位置分開的位置的信道的檢測結(jié)果，所以減小了由暗電流引起的噪音。
[0012]在本方式中，控制單元也可以向光掃描單元輸出基于激發(fā)光被照射的位置的第1控制信號，并且向讀出單元輸出基于激發(fā)光被照射的位置的第2控制信號。在此情況下，讀出單元將對應(yīng)于第2控制信號的信道作為檢測信道，從該檢測信道讀出檢測結(jié)果?？刂茊卧軌蚯‘?shù)剡M行激發(fā)光被照射的位置與讀出對象的信道(檢測信道)的對應(yīng)關(guān)聯(lián)。
[0013]在本方式中，控制單元也可以將配置于激發(fā)光被照射的位置的附近的信道決定為檢測信道。在此情況下，放射線圖像讀出裝置將接近于激發(fā)光被照射的位置的信道決定為檢測信道，所以能夠更加恰當?shù)貦z測光。
[0014]在本方式中，光電二極管陣列也可以具有以蓋革模式(Geiger mode)進行動作的多個雪崩光電二極管(avalanche photod1de)、以及相對于各個雪崩光電二極管串聯(lián)連接的降壓電阻(quenching resistor)。在此情況下，放射線圖像讀出裝置不從對應(yīng)于自激發(fā)光被照射的位置分開的位置的信道讀出檢測結(jié)果，所以能夠使可以由雪崩倍增增大的噪音的影響停留在最小限度。在放射線圖像讀出裝置中，因為由雪崩倍增而提高光電二極管陣列的靈敏度，所以來自記錄介質(zhì)的光即使是微弱光，也能夠恰當?shù)剡M行檢測。
[0015]發(fā)明的效果
[0016]根據(jù)本發(fā)明的上述一個方式，能夠提供一種能夠減小由暗電流引起的噪音并且能夠恰當?shù)貦z測發(fā)光的放射線圖像讀出裝置。
【附圖說明】
[0017]圖1是表示實施方式所涉及的放射線圖像讀出裝置的概略結(jié)構(gòu)圖。
[0018]圖2是表示實施方式所涉及的熒光檢測單元的概略結(jié)構(gòu)圖。
[0019]圖3是表示實施方式所涉及的放射線圖像讀出裝置的方塊圖。
[0020]圖4是實施方式所涉及的光電二極管陣列的立體圖。
[0021]圖5 (a)是圖4所表不的光電二極管陣列的I1-1I箭頭截面圖，圖5 (b)是其電路圖。
[0022]圖6是實施方式所涉及的光電二激光陣列的整體的電路圖。
[0023]圖7是用于說明讀出電路中的讀出動作的圖。
[0024]圖8是用于表示第1以及第2控制信號的線圖。
【具體實施方式】
[0025]以下，參照附圖，對本發(fā)明的實施方式進行詳細的說明。還有，在說明中，將相同的符號標注于相同的要素或者具有相同功能的要素，省略重復(fù)的說明。
[0026]首先，參照圖1?圖3，說明本實施方式所涉及的放射線圖像讀出裝置20。圖1是表示本實施方式所涉及的放射線圖像讀出裝置的概略結(jié)構(gòu)圖。圖2是表示本實施方式所涉及的熒光檢測單元的概略結(jié)構(gòu)圖。圖3是表示本實施方式所涉及的放射線圖像讀出裝置的方塊圖。
[0027]放射線圖像讀出裝置20將激發(fā)光照射于成像板IP并檢測從成像板IP放射的光(發(fā)光光)。從成像板IP放射的發(fā)光光(熒光)的波長與激發(fā)光的波長不同。成像板IP為記錄有放射線圖像的記錄介質(zhì)的一個例子。
[0028]放射線圖像讀出裝置20具有由各種控制電路構(gòu)成的控制單元2。控制單元2控制放射線圖像讀出裝置20整體。控制單元2控制激光二極管3、MEMS(Micro ElectroMechanical Systems (微機電系統(tǒng)))鏡4以及搬送機構(gòu)8的動作。在控制單元2中，控制電路18從焚光檢測單元5取得焚光的檢測結(jié)果?？刂茊卧?由CPU(Central ProcessingUnit(中央處理器))等的運算電路、RAM (Random Access Memory (隨機存取存儲器))以及ROM (Read Only Memory (只讀存儲器))等的存儲器、電源電路、包含A/D變換器的讀出電路、以及包含D/A變換器的驅(qū)動電路等的硬件構(gòu)成。該控制單元2，其一部分或者整體也可以由ASIC(Applicat1n Specific Integrated Circuit(專用集成電路))或者FPGA(FieldProgrammable Gate Array (現(xiàn)場可編程門陣列))等的集成電路構(gòu)成。
[0029]放射線圖像讀出裝置20具備沿著在規(guī)定方向上延伸的搬送路搬送成像板IP的搬送機構(gòu)8。搬送機構(gòu)8具有搬送用滾子以及驅(qū)動搬送用滾子的馬達(沒有圖示)。
[0030]放射線圖像讀出裝置20通過使上述搬送機構(gòu)8工作從而沿圖中Y方向搬送成像板IP。激光源、即激光二極管3出射激發(fā)光(激光束)。出射的激發(fā)光在MEMS鏡4上反射，并被照射于成像板IP上。激發(fā)光被照射于成像板IP上的結(jié)果為，從該成像板IP放射熒光。MEMS鏡4是在記錄有放射圖像的記錄介質(zhì)上掃描激發(fā)光的單元(光掃描單元)的一個例子。
[0031 ] MEMS鏡4對應(yīng)于由MEMS鏡驅(qū)動電路15發(fā)出的控制信號進行工作。其結(jié)果，MEMS鏡4的傾斜發(fā)生變化。這樣，MEMS鏡驅(qū)動電路15向MEMS鏡4輸出控制信號，改變MEMS鏡4的傾斜，從而改變激發(fā)光在MEMS鏡4上反射的方向。因此，在成像板IP上激發(fā)光被照射的位置發(fā)生改變。即，放射線圖像讀出裝置20通過改變MEMS鏡4的傾斜從而能夠在成像板IP上沿圖中X方向掃描激發(fā)光。
[0032]放射線圖像讀出裝置20具備2個光檢測元件6。該2個光檢測元件6檢測經(jīng)由激發(fā)光去除濾光器7而從成像板IP放射的熒光。在放射線圖像讀出裝置20中，具備2個光檢測元件6，但是，也可以僅具備1個光檢測元件6。放射線圖像讀出裝置20具備熒光檢測單元5。熒光檢測單元5包含光檢測元件6以及激發(fā)光去除濾光器7。熒光檢測單元5輸出熒光的檢測結(jié)果。
[0033]如圖2所示，熒光檢測單元5具備激發(fā)光去除濾光器7、具有多個光電二極管陣列10 (在本實施方式中，9個光電二極管10A?101)的光檢測元件6、具有聚光功能的柱面透鏡9、被連接于各個光電二極管陣列10的陣列狀的放大器11、具有被連接于各個放大器11的開關(guān)SW(在本實施方式中，9個開關(guān)SW1?SW9)的讀出電路12、放大器13、以及AD變換器14。
[0034]光檢測元件6將光電二極管陣列10作為一