積層膜片檢測系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型是有關(guān)于一種積層膜片檢測系統(tǒng)，以檢測疊合保護(hù)膜與偏光板的積層膜片，可在避免保護(hù)膜的相位差影響下，檢測積層膜片的缺陷。
【背景技術(shù)】
[0002]偏光板為液晶顯示器的關(guān)鍵零組件，其設(shè)置于液晶盒的兩側(cè)，且因為其中一側(cè)直接面向使用者，其外觀若具有明顯瑕疵，將不易被使用者所接受，故在偏光板生產(chǎn)顯示器的組裝過程中，皆需要增加保護(hù)膜于偏光板表面，防止偏光板損傷；然而，在偏光板生產(chǎn)過程，亦需要針對偏光板的各式外觀缺陷、軸向、光學(xué)性質(zhì)等進(jìn)行檢測，例如采用作為基準(zhǔn)的檢測用偏光板與待測的偏光板疊加后，即可在吸收軸相互直交下，檢測出破損、異物、氣泡與刮傷等外觀缺陷所造成的漏光，以及量測其吸收軸角度與偏光度等性質(zhì)，但一般作為保護(hù)膜的基材，例如PET等，普遍具有不規(guī)則相位差分布區(qū)域，因此會造成檢測過程光學(xué)影像的干擾，且為了提高視角、對比等光學(xué)表現(xiàn)，現(xiàn)行偏光板普遍包含補(bǔ)償膜，雖一般補(bǔ)償膜通常具有固定的相位差值，因此可以藉由疊合另一相位差膜將具有單一相位差值的補(bǔ)償膜的影響排除，但對于保護(hù)膜的影響，則僅可在未貼附保護(hù)膜前先對偏光板進(jìn)行檢測，而無法在同時排除補(bǔ)償膜與保護(hù)膜所有區(qū)域的不同相位差影響下，對貼附保護(hù)膜后的偏光板進(jìn)行檢測，然而，在貼附保護(hù)膜后或過程中，偏光板仍可能產(chǎn)生缺陷，而造成偏光板最終產(chǎn)品不良；因此，需要一種可檢測疊合保護(hù)膜與偏光板的積層膜片檢測系統(tǒng)，以在避免保護(hù)膜的不規(guī)則相位差影響下，檢測積層膜片的缺陷。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]有鑒于上述習(xí)知技術(shù)的問題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種積層膜片檢測系統(tǒng)，以期克服現(xiàn)有產(chǎn)品無法對貼附保護(hù)膜后的偏光板進(jìn)行檢測的難點(diǎn)。
[0004]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供一種積層膜片檢測系統(tǒng)，其中積層膜片包含保護(hù)膜與偏光板，該積層膜片檢測系統(tǒng)包含:光源，用以照射積層膜片的偏光板側(cè)，其中積層膜片的保護(hù)膜寬度方向的一端具有記錄保護(hù)膜的各區(qū)域的光學(xué)性質(zhì)的圖案標(biāo)記；可調(diào)相位差裝置，其設(shè)置于積層膜片的保護(hù)膜側(cè)，且包含復(fù)數(shù)區(qū)可獨(dú)立調(diào)整補(bǔ)償值的相位差陣列；檢測用偏光板，其設(shè)置于光源通過可調(diào)相位差裝置后的光路上；標(biāo)記讀取裝置，用以讀取保護(hù)膜的圖案標(biāo)記，并解讀該圖案標(biāo)記所記錄的光學(xué)性質(zhì)；控制單元，其電連接于標(biāo)記讀取裝置與可調(diào)相位差裝置，并依照圖案標(biāo)記所記錄的光學(xué)性質(zhì)調(diào)整可調(diào)相位差裝置的該復(fù)數(shù)區(qū)的相位差陣列的補(bǔ)償值，以與保護(hù)膜的各相應(yīng)區(qū)域的相位差抵消；影像擷取裝置，設(shè)置于光源通過檢測用偏光板后的光路上，用以擷取抵消保護(hù)膜相位差后的積層膜片的透光影像；以及檢測元件，其電連接于影像擷取裝置，并基于所擷取的透光影像，對積層膜片進(jìn)行缺陷檢測。
[0005]在一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，可調(diào)相位差裝置包含單層或多層的液晶盒，以改變補(bǔ)償值的可調(diào)整范圍。
[0006]在又一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，液晶盒為電控或磁控，以改變液晶方向。
[0007]在另一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，液晶盒的補(bǔ)償值&為Onm至180nm。
[0008]在另一實(shí)施例的積層I旲片檢測系統(tǒng)中，液晶盒的液晶為圓盤狀液晶或桿狀液晶。
[0009]在另一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，該積層膜片檢測系統(tǒng)還包含轉(zhuǎn)動裝置，該轉(zhuǎn)動裝置用以改變檢測用偏光板與積層膜片的偏光板的吸收軸的相對角度。
[0010]在另一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，該積層膜片檢測系統(tǒng)還包含缺陷標(biāo)記裝置，該缺陷標(biāo)記裝置電連接于檢測元件，并依據(jù)檢測結(jié)果，將缺陷標(biāo)記于積層膜片的保護(hù)膜。
[0011]本實(shí)用新型設(shè)置有可調(diào)相位差裝置，其具有復(fù)數(shù)區(qū)可獨(dú)立調(diào)整補(bǔ)償值的相位差陣列以抵消保護(hù)膜各區(qū)域的相位差，從而解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法對貼附保護(hù)膜后的偏光板進(jìn)行缺陷檢測的技術(shù)問題。
【附圖說明】
[0012]圖1為本實(shí)用新型的調(diào)光裝置一實(shí)施例的示意圖。
[0013]圖2為本實(shí)用新型的調(diào)光裝置的可調(diào)相位差裝置與所對應(yīng)具有圖案標(biāo)記的保護(hù)膜的示意圖。
[0014]圖3為本實(shí)用新型的調(diào)光裝置另一實(shí)施例的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]為使本實(shí)用新型的特征、內(nèi)容、優(yōu)點(diǎn)及其所能達(dá)成的功效更易了解，茲將本實(shí)用新型配合附圖，并以實(shí)施例的表達(dá)形式詳細(xì)說明如下，而其中所使用的附圖，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本實(shí)用新型實(shí)施后的真實(shí)比例與精準(zhǔn)配置，故不應(yīng)就附圖的比例與配置關(guān)系解讀、局限本實(shí)用新型于實(shí)際實(shí)施上的權(quán)利范圍，合先敘明。
[0016]以下將參照相關(guān)附圖，說明依本實(shí)用新型的積層膜片檢測系統(tǒng)的實(shí)施例，為使便于理解，下述實(shí)施例中的相同元件以相同的符號標(biāo)示來說明。
[0017]請一并參考圖1與圖2，在一較佳實(shí)施態(tài)樣中，本實(shí)用新型提供一種積層膜片檢測系統(tǒng)1，其中積層膜片2包含保護(hù)膜21與偏光板22，且積層膜片2為卷料或片料，積層膜片檢測系統(tǒng)I包含光源3，光源3用以照射積層膜片2的偏光板22側(cè)，其中積層膜片2的保護(hù)膜21的寬度方向的一端具有記錄保護(hù)膜21的各區(qū)域的光學(xué)性質(zhì)的圖案標(biāo)記21a，記錄的方式例如預(yù)先針對層合前的單一保護(hù)膜21，偵測其各區(qū)域的相位差值，再采用噴墨等方式，以一維條碼或二維條碼的型式將保護(hù)膜21各區(qū)域所具有的相位差值記錄于保護(hù)膜21的一端；可調(diào)相位差裝置4，其設(shè)置于積層膜片2的保護(hù)膜21側(cè)，且包含復(fù)數(shù)區(qū)可獨(dú)立調(diào)整補(bǔ)償值的相位差陣列4a ;檢測用偏光板5，其設(shè)置于光源3通過可調(diào)相位差裝置4后的光路上；標(biāo)記讀取裝置6，用以讀取保護(hù)膜21的圖案標(biāo)記21a，并解讀其所記錄的光學(xué)性質(zhì)；控制單元7，其電連接于標(biāo)記讀取裝置6與可調(diào)相位差裝置4，并依照圖案標(biāo)記21a所記錄的光學(xué)性質(zhì)調(diào)整可調(diào)相位差裝置4的各區(qū)的相位差陣列4a的補(bǔ)償值，以與保護(hù)膜21的各相應(yīng)區(qū)域的相位差抵消；影像擷取裝置8，設(shè)置于光源3通過檢測用偏光板5后的光路上，用以擷取抵消保護(hù)膜21相位差后的積層膜片2的透光影像；以及檢測元件9，其電連接于影像擷取裝置8，并基于所擷取的透光影像，對積層膜片2進(jìn)行缺陷檢測。
[0018]在一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，可調(diào)相位差裝置包含單層或多層的液晶盒，以改變其補(bǔ)償值的可調(diào)整范圍，并藉由采用電極陣列，使得每個相位差陣列的補(bǔ)償值可依據(jù)所獲得的保護(hù)膜的各相應(yīng)區(qū)域的相位差獨(dú)立調(diào)整，達(dá)到將保護(hù)膜整體的相位差對偏光板的影響抵消的效果。
[0019]在另一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，液晶盒為電控或磁控以改變液晶方向，而調(diào)控補(bǔ)償值。
[0020]在另一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，液晶盒的補(bǔ)償值R(!為Onm至180nm，當(dāng)疊合多層，例如2層液晶盒時，貝U可以使補(bǔ)償值R(!為Onm至360nm，以符合各式保護(hù)膜的相位差值范圍。
[0021 ] 在另一實(shí)施例的積層I吳片檢測系統(tǒng)中，液晶盒的液晶為圓盤狀液晶或桿狀液晶。
[0022]在另一實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)中，積層膜片檢測系統(tǒng)還包含轉(zhuǎn)動裝置，以改變檢測用偏光板與積層膜片的偏光板的吸收軸相對角度；使得調(diào)整檢測用偏光板與積層膜片的偏光板的吸收軸直交時，可獲得暗態(tài)，而可偵測到偏光板上或偏光板與保護(hù)膜間的異物與缺陷所造成的亮點(diǎn)；或?qū)z測用偏光板的吸收軸作為參考軸向，測得積層膜片的偏光板的吸收軸變化。
[0023]請參考圖3，在另一實(shí)施態(tài)樣的積層膜片檢測系統(tǒng)中，與圖1所示實(shí)施例類似，本實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)I包含積層膜片2、光源3、可調(diào)相位差裝置4、檢測用偏光板5、標(biāo)記讀取裝置6、控制單元7、影像擷取裝置8以及檢測元件9等，與前述實(shí)施例不同在于，本實(shí)施例的積層膜片檢測系統(tǒng)I還包含缺陷標(biāo)記裝置10，缺陷標(biāo)記裝置10電連接于檢測元件9，并依據(jù)檢測結(jié)果，將缺陷標(biāo)記于積層膜片2的保護(hù)膜21，可提供后續(xù)人員復(fù)檢，或提供后續(xù)積層膜片的裁切與加工時，用以排除標(biāo)記缺陷處，避免不良品流出至客戶端。
[0024]以上所述的實(shí)施例僅為說明本實(shí)用新型的技術(shù)思想及特點(diǎn)，其目的在使本領(lǐng)域人員能夠了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，當(dāng)不能以之限定本實(shí)用新型的專利范圍，即大凡依本實(shí)用新型所揭示的精神所作的均等變化或修飾，仍應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的專利范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該積層膜片包含保護(hù)膜與偏光板，該積層膜片檢測系統(tǒng)包含: 光源，用以照射該積層膜片的該偏光板的一側(cè)，其中該積層膜片的該保護(hù)膜的寬度方向的一端具有記錄該保護(hù)膜的各區(qū)域的光學(xué)性質(zhì)的圖案標(biāo)記； 可調(diào)相位差裝置，其設(shè)置于該積層膜片的該保護(hù)膜的一側(cè)，且包含復(fù)數(shù)區(qū)可獨(dú)立調(diào)整補(bǔ)償值的相位差陣列； 檢測用偏光板，其設(shè)置于該光源通過該可調(diào)相位差裝置后的光路上； 標(biāo)記讀取裝置，用以讀取該保護(hù)膜的該圖案標(biāo)記，并解讀該圖案標(biāo)記所記錄的光學(xué)性質(zhì)； 控制單元，其電連接于該標(biāo)記讀取裝置與該可調(diào)相位差裝置，并依照該圖案標(biāo)記所記錄的該光學(xué)性質(zhì)調(diào)整該可調(diào)相位差裝置的該復(fù)數(shù)區(qū)的相位差陣列的補(bǔ)償值，以與該保護(hù)膜的各相應(yīng)區(qū)域的相位差抵消； 影像擷取裝置，設(shè)置于該光源通過該檢測用偏光板后的光路上，用以擷取抵消保護(hù)膜相位差后的該積層膜片的透光影像；以及 檢測元件，其電連接于該影像擷取裝置，并基于所擷取的透光影像，對該積層膜片進(jìn)行缺陷檢測。2.如權(quán)利要求1所述的積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該可調(diào)相位差裝置包含單層或多層的液晶盒，以改變補(bǔ)償值的可調(diào)整范圍。3.如權(quán)利要求2所述的積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該液晶盒為電控或磁控，以改變液晶方向。4.如權(quán)利要求2所述的積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該液晶盒的補(bǔ)償值RC1為Onm至 180nm。5.如權(quán)利要求2所述的積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該液晶盒的液晶為圓盤狀液晶或桿狀液晶。6.如權(quán)利要求1所述的積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該積層膜片檢測系統(tǒng)還包含轉(zhuǎn)動裝置，該轉(zhuǎn)動裝置用以改變該檢測用偏光板與該積層膜片的該偏光板的吸收軸的相對角度。7.如權(quán)利要求1所述的積層膜片檢測系統(tǒng)，其特征在于，該積層膜片檢測系統(tǒng)還包含缺陷標(biāo)記裝置，該缺陷標(biāo)記裝置電連接于該檢測元件，并依據(jù)檢測結(jié)果，將缺陷標(biāo)記于該積層膜片的該保護(hù)膜。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種積層膜片檢測系統(tǒng)，其中積層膜片包含保護(hù)膜與偏光板，且保護(hù)膜的寬度方向具有記錄保護(hù)膜各區(qū)域的光學(xué)性質(zhì)的圖案標(biāo)記，系統(tǒng)包含光源、可調(diào)相位差裝置、檢測用偏光板、標(biāo)記讀取裝置、控制單元、影像擷取裝置以及檢測元件，其中可調(diào)相位差裝置包含復(fù)數(shù)區(qū)可獨(dú)立調(diào)整補(bǔ)償值的相位差陣列以抵消保護(hù)膜各區(qū)域的相位差，因此，可藉由影像擷取裝置擷取抵消保護(hù)膜各區(qū)域的相位差影響后的積層膜片的透光影像，對積層膜片進(jìn)行缺陷檢測。本實(shí)用新型的積層膜片檢測系統(tǒng)解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法對貼附保護(hù)膜后的偏光板進(jìn)行缺陷檢測的技術(shù)問題。
【IPC分類】G01N21/88, G02F1/13
【公開號】CN204666996
【申請?zhí)枴緾N201520251878
【發(fā)明人】吳建宏
【申請人】明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2015年4月23日