棒襯墊D32和B短路棒襯墊D33均設(shè)于激光切割路徑上，受激光切割后，所述R短路棒襯墊D31和所述金屬襯墊層D1熔融相互電連接，所述G短路棒襯墊D32和所述金屬襯墊層D1熔融電連接，所述B短路棒襯墊D33和所述金屬襯墊層D1電連接。
[0047]本實(shí)施例中，以第二橋接襯墊0為例，所述短路棒襯墊031、032、033在所述金屬襯墊層D1上的正投影均落在所述金屬襯墊層D1上，并且每個(gè)所述短路棒襯墊在激光切割方向上的長(zhǎng)度大于64微米。此時(shí)，所述橋接襯墊的導(dǎo)通阻抗為百歐級(jí)別，阻抗較小，可滿足R短路棒D31、G短路棒D32和B短路棒33的導(dǎo)通要求。第一橋接襯墊C的結(jié)構(gòu)與第二橋接襯墊D相類似，在此不再贅述。
[0048]本實(shí)施例陣列基板，可輔助現(xiàn)有的檢測(cè)儀器快速檢測(cè)出是否存在因多條測(cè)試導(dǎo)線未被激光切斷而引起畫面顯示品質(zhì)出現(xiàn)問題的情況。具體是:進(jìn)行顯示面板檢測(cè)后，在使用激光將測(cè)試導(dǎo)線切斷的過程中，因?yàn)樗龅谝粯蚪右r墊C和所述第二橋接襯墊D受激光切割后，所述第一橋接襯墊C的三個(gè)短路棒襯墊C31、C32、C33和所述金屬襯墊層C1熔融相互電連接，所述第一短路棒組A的三條短路棒Al、A2、A3通過所述第一橋接襯墊C相互電連接，即三個(gè)相互獨(dú)立的短路棒之間形成導(dǎo)電通路。當(dāng)有多條測(cè)試導(dǎo)線未被激光切斷時(shí)，將被檢測(cè)出來。如圖2所示，在顯示面板完成VT測(cè)試后沿Η路徑將測(cè)試導(dǎo)線切斷，但存在未被激光切斷的測(cè)試導(dǎo)線7 (三條分別連接R像素61、G像素62及Β像素63的測(cè)試導(dǎo)線)，當(dāng)顯示純色畫面紅色時(shí)，1C輸出高電平信號(hào)至R像素61，而G像素62和Β像素63為低電平信號(hào)，高電平信號(hào)會(huì)從與R像素61連接的測(cè)試導(dǎo)線進(jìn)入與其電連接的R短路棒Α1，接著進(jìn)入與R短路棒Α1連接的R短路棒襯墊C31，接著由R短路棒襯墊C31進(jìn)入G短路棒襯墊C32和Β短路棒襯墊C33，接著進(jìn)入與G短路棒襯墊C32和Β短路棒襯墊C33分別電連接的G短路棒Α2和Β短路棒A3，最后進(jìn)入G像素62連接的測(cè)試導(dǎo)線和Β像素63連接的測(cè)試導(dǎo)線，這樣由于三條測(cè)試導(dǎo)線均通有高電平信號(hào)，相互之間會(huì)出現(xiàn)信號(hào)相互干擾，最后導(dǎo)致顯示的畫面出現(xiàn)異常。通過本實(shí)施例提供的一種陣列基板就可輔助現(xiàn)有的檢測(cè)儀器快速檢測(cè)出是否存在因多條測(cè)試導(dǎo)線未被激光切斷而引起畫面顯示品質(zhì)出現(xiàn)問題的情況，這樣，多條測(cè)試導(dǎo)線沒有被切斷的陣列基板就可于電測(cè)純色畫面得到有效攔截(即從R、G、B畫面垂直線是否有缺陷可看出)，檢測(cè)信號(hào)無需通過外部再輸入，檢驗(yàn)畫面也無需新增，因此，可節(jié)省制程成本和檢測(cè)成本。
[0049]本實(shí)施例中設(shè)置了兩個(gè)短路棒組，可使得每根短路棒降低負(fù)載，在其他實(shí)施例中也可以設(shè)置一個(gè)或者多個(gè)短路棒組。
[0050]本實(shí)施例中，所述第一橋接襯墊C位于所述多條測(cè)試導(dǎo)線的左側(cè)，所述第二橋接襯墊D位于所述多條測(cè)試導(dǎo)線的右側(cè)，并且所述第一橋接襯墊C和所述第二橋接襯墊D也位于所述像素單元和所述短路棒組之間。
[0051]本實(shí)施例中，所述兩個(gè)短路棒組在所述非顯示區(qū)從靠近所述顯示區(qū)到遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的方向依次排列。
[0052]相應(yīng)地，如圖8所示，本實(shí)施例還提供一種顯示面板，包括如上所述的一種陣列基板 100 ；
[0053]與所述陣列基板相對(duì)設(shè)置的彩膜基板200，
[0054]以及位于所述陣列基板100和所述彩膜基板200間的液晶層300。
[0055]實(shí)施例2
[0056]本實(shí)施例的其他結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同，不同之處在于:如圖5所示，只包括一個(gè)第一短路棒組A和一個(gè)第一橋接襯墊C。當(dāng)陣列基板的空間不足以放置很多的短路棒組和橋接襯墊時(shí)，只放置一個(gè)短路棒組和一個(gè)橋接襯墊也可以實(shí)現(xiàn)輔助現(xiàn)有的檢測(cè)儀器快速檢測(cè)出是否存在多條測(cè)試導(dǎo)線未被激光切斷而引起畫面顯示品質(zhì)出現(xiàn)問題的情況。
[0057]實(shí)施例3
[0058]本實(shí)施例的其他結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同，不同之處在于:如圖6所示，包括一個(gè)第一短路棒組A和兩個(gè)橋接襯墊，分別是第一橋接襯墊C和第二橋接襯墊D。
[0059]—個(gè)短路棒組可節(jié)省占用空間。兩個(gè)橋接襯墊可提高激光切割的有效性，當(dāng)?shù)谝粯蚪右r墊c被激光切割后金屬襯墊層C1和短路棒襯墊層不能實(shí)現(xiàn)電連接時(shí)，依靠另一個(gè)第二橋接襯墊D被激光切割后金屬襯墊層D1和短路棒襯墊層可以實(shí)現(xiàn)電連接就可達(dá)到測(cè)試的目的。當(dāng)然，橋接襯墊的個(gè)數(shù)也可以為兩個(gè)以上，本實(shí)用新型對(duì)此不作限制。
[0060]實(shí)施例4
[0061]本實(shí)施例的其他結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同，不同之處在于:如圖7所示，所述第二橋接襯墊D包括位于所述襯底8上的短路棒襯墊層D3、位于所述短路棒襯墊層D3上的絕緣層D2、位于所述絕緣層D2上的金屬襯墊層D1，橋接襯墊的哪一層位于襯底8是根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置，以能夠減少橋接為準(zhǔn)。
[0062]以上對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的一種陣列基板和使用該陣列基板的顯示面板進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本實(shí)用新型的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種陣列基板，其特征在于，包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)； 至少一個(gè)短路棒組，設(shè)置于所述非顯示區(qū)，每個(gè)所述短路棒組包括多條短路棒； 至少一個(gè)橋接襯墊，設(shè)置于所述非顯示區(qū)，所述橋接襯墊包括層疊設(shè)置的金屬襯墊層、絕緣層和短路棒襯墊層，所述短路棒襯墊層包括多個(gè)相互獨(dú)立的短路棒襯墊； 所述短路棒襯墊和所述短路棒組的各短路棒一一對(duì)應(yīng)設(shè)置并且電連接。2.如權(quán)利要求1所述的一種陣列基板，其特征在于:所述橋接襯墊受激光切割后，所述多個(gè)短路棒襯墊和所述金屬襯墊層熔融相互電連接，所述多條短路棒通過所述橋接襯墊相互電連接。3.如權(quán)利要求1所述的一種陣列基板，其特征在于:所述顯示區(qū)包括多條掃描線和多條數(shù)據(jù)線，所述多條掃描線和多條數(shù)據(jù)線絕緣相交形成多個(gè)呈行陣列排列的像素單元，所述多個(gè)像素單元分為顯示不同的顏色的像素單元； 所述像素單元和所述短路棒組之間設(shè)置有多條測(cè)試導(dǎo)線； 所述多條數(shù)據(jù)線分別通過對(duì)應(yīng)的測(cè)試導(dǎo)線連接到對(duì)應(yīng)的短路棒，其中，連接至同一短路棒的數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)于顯示同一顏色的像素單元。4.如權(quán)利要求3所述的一種陣列基板，其特征在于:所述橋接襯墊位于所述多條測(cè)試導(dǎo)線的左側(cè)或者右側(cè)，并且所述橋接襯墊也位于所述像素單元和所述短路棒組之間。5.如權(quán)利要求1所述的一種陣列基板，其特征在于:包括多個(gè)橋接襯墊，所述各橋接襯墊的短接路襯墊和所述短路棒組的各短路棒一一對(duì)應(yīng)設(shè)置并且電連接。6.如權(quán)利要求1所述的一種陣列基板，其特征在于:包括多個(gè)短路棒組，所述多個(gè)短路棒組在所述非顯示區(qū)從靠近所述顯示區(qū)到遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的方向依次排列。7.如權(quán)利要求6所述的一種陣列基板，其特征在于:對(duì)應(yīng)每個(gè)所述短路棒組，至少設(shè)置有一個(gè)所述橋接襯墊。8.如權(quán)利要求1所述的一種陣列基板，其特征在于:所述陣列基板包括襯底，所述橋接襯墊包括位于所述襯底上的金屬襯墊層、位于所述金屬襯墊層上的絕緣層、位于所述絕緣層上的短路棒襯墊層；或者，所述橋接襯墊包括位于所述襯底上的短路棒襯墊層、位于所述金屬襯墊層上的絕緣層、位于所述絕緣層上的金屬襯墊層。9.如權(quán)利要求1所述的一種陣列基板，其特征在于:所述短路棒襯墊在所述金屬襯墊層上的正投影均落在所述金屬襯墊層上，并且每個(gè)所述短路棒襯墊在激光切割方向上的長(zhǎng)度大于64微米。10.一種顯示面板，其特征在于，包括:權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的一種陣列基板； 與所述陣列基板相對(duì)設(shè)置的彩膜基板， 以及位于所述陣列基板和所述彩膜基板間的液晶層。
【專利摘要】一種陣列基板及顯示面板，涉及半導(dǎo)體集成電路技術(shù)領(lǐng)域，陣列基板包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)，至少一個(gè)短路棒組設(shè)置于所述非顯示區(qū)，每個(gè)所述短路棒組包括多條短路棒，至少一個(gè)橋接襯墊設(shè)置于所述非顯示區(qū)，所述橋接襯墊包括層疊設(shè)置的金屬襯墊層、絕緣層和短路棒襯墊層，所述短路棒襯墊層包括多個(gè)相互獨(dú)立的短路棒襯墊；所述短路棒襯墊和所述短路棒組的各短路棒一一對(duì)應(yīng)設(shè)置并且電連接。顯示面板，包括如上所述的一種陣列基板、與所述陣列基板相對(duì)設(shè)置的彩膜基板、以及位于所述陣列基板和所述彩膜基板間的液晶層。本實(shí)用新型的陣列基板可輔助現(xiàn)有的檢測(cè)儀器快速檢測(cè)出是否存在因多條測(cè)試導(dǎo)線未被激光切斷而引起畫面顯示品質(zhì)出現(xiàn)問題的情況。
【IPC分類】G02F1/1362
【公開號(hào)】CN204964956
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520716656
【發(fā)明人】顏華生, 王磊, 謝玉練
【申請(qǐng)人】廈門天馬微電子有限公司, 天馬微電子股份有限公司
【公開日】2016年1月13日
【申請(qǐng)日】2015年9月16日