專利名稱：電鏡用樣品觀察臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種釹鐵硼晶粒生長及鍍層厚度檢測領(lǐng)域，特別是電鏡用樣品觀察臺。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的釹鐵硼晶粒的大小及鍍層的厚度直接影響到成品的質(zhì)量。利用電子顯微鏡可以非常直觀的觀測到釹鐵硼磁體的晶粒生長情況及鍍層的厚度。由于電鏡的電子槍在工作時會產(chǎn)生磁場，因此需將釹鐵硼磁體牢固地粘到樣品臺上。普通的樣品觀察臺為圓餅形， 此種結(jié)構(gòu)導(dǎo)致每次只能觀測一片磁鋼。由于觀測腔室需要抽真空處理，每次抽真空的時間5 分鐘左右，磁鋼檢測結(jié)束后需放掉真空才能進行下一片磁鋼的檢測，大大浪費了時間，降低工作效率。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種省時、效率高的電鏡用樣品觀察臺。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型所設(shè)計的電鏡用樣品觀察臺，包括底座、置于底座上方的樣品觀察臺以及連接在底座和樣品觀察臺之間的螺桿，其特征是所述樣品觀察臺頂面設(shè)有兩個凹槽，在凹槽的垂直方向、樣品觀察臺的側(cè)邊設(shè)有高于凹槽底面的螺紋孔。為了穩(wěn)固置于凹槽內(nèi)的釹鐵硼磁體，螺紋孔可以為通孔。本實用新型得到的電鏡用樣品觀察臺，通過在樣品觀察臺上開設(shè)凹槽且在側(cè)邊設(shè)置螺紋孔供螺桿頂住釹鐵硼磁體，實現(xiàn)了一次可以觀察幾片甚至幾十片磁鋼的目的。

圖I是實施例的整體結(jié)構(gòu)示意圖。圖中底座I、樣品觀察臺2、凹槽21、螺紋孔22、螺桿3。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。實施例如圖I所示，本實施列提供的電鏡用樣品觀察臺，包括底座I、置于底座I上方的樣品觀察臺2以及連接在底座I和樣品觀察臺2之間的螺桿3，所述樣品觀察臺2頂面設(shè)有兩個凹槽21，在凹槽21的垂直方向、樣品觀察臺2的側(cè)邊設(shè)有高于凹槽21底面的螺紋孔22， 螺紋孔22為通孔。下面就被實施列的具體實施過程作詳細說明，首先，把磁鋼較小的一端放入凹槽 21內(nèi)，然后用螺栓穿過螺紋孔22并旋轉(zhuǎn)，致使磁鋼被牢牢的固定在樣品觀察臺2上，然后再進行觀測。
權(quán)利要求1.一種電鏡用樣品觀察臺，包括底座(1)、置于底座(1)上方的樣品觀察臺(2)以及連接在底座(I)和樣品觀察臺(2)之間的螺桿(3)，其特征是所述樣品觀察臺(2)頂面設(shè)有兩個凹槽(21)，在凹槽(21)的垂直方向、樣品觀察臺(2)的側(cè)邊設(shè)有高于凹槽(21)底面的螺紋孔(22)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電鏡用樣品觀察臺，其特征是螺紋孔(22)為通孔。
專利摘要本實用新型公開了一種電鏡用樣品觀察臺，包括底座、置于底座上方的樣品觀察臺以及連接在底座和樣品觀察臺之間的螺桿，其特征是所述樣品觀察臺頂面設(shè)有兩個凹槽，在凹槽的垂直方向、樣品觀察臺的側(cè)邊設(shè)有高于凹槽底面的螺紋孔，螺紋孔為通孔。本實用新型得到的電鏡用樣品觀察臺，通過在樣品觀察臺上開設(shè)凹槽且在側(cè)邊設(shè)置螺紋孔供螺桿頂住釹鐵硼磁體，實現(xiàn)了一次可以觀察幾片甚至幾十片磁鋼的目的。
文檔編號H01J37/20GK202351192SQ20112051443
公開日2012年7月25日 申請日期2011年12月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月9日
發(fā)明者周威, 彭烊, 易鵬鵬, 汪志通, 汪維杰, 王士剛, 童斐, 鄧婉箐 申請人:寧波松科磁材有限公司