專(zhuān)利名稱：液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法及缺陷修補(bǔ)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種修補(bǔ)液晶顯示裝置的像素缺陷的方法及裝置。
背景技術(shù)：
在液晶顯示裝置的制造工序中產(chǎn)生的缺陷中有不得不作為次品廢棄該液晶顯示裝置的嚴(yán)重缺陷；和既便保留該缺陷也可作為成品出廠的輕微缺陷。
例如，在不施加電壓時(shí)為白顯示的常白型顯示裝置的情況下，在對(duì)全部像素施加電壓成為黑顯示時(shí)，如果存在因任何缺陷、光會(huì)透過(guò)的像素，則這種缺陷(下面稱為亮點(diǎn)缺陷)在人的視覺(jué)特性上非常容易識(shí)別，即為明顯缺陷。因此，具有亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示裝置多作為次品處理，不能為成品。
亮點(diǎn)缺陷由于接觸孔外露、ITO片殘余、構(gòu)成像素電路的薄膜晶體管等的電極間漏電、金屬片等異物導(dǎo)致的像素間短路、異物導(dǎo)致的光散射等各種原因而產(chǎn)生，所以對(duì)應(yīng)于原因的修補(bǔ)是困難的。
另外，在對(duì)全部像素施加電壓成為白顯示時(shí)，如果存在因任何缺陷、光不透過(guò)的像素，則這種缺陷(下面稱為黑點(diǎn)缺陷)具有比亮點(diǎn)缺陷難以讓人眼識(shí)別的特性。因此，既便液晶顯示裝置具有黑點(diǎn)缺陷，根據(jù)其程度，有時(shí)也可作為成品。
因此，研究通過(guò)對(duì)亮點(diǎn)缺陷施加某些處理，使其轉(zhuǎn)換成黑點(diǎn)缺陷，從而修理次品，提高成品率，謀求制造成本降低的方法。例如，在特開(kāi)平9-90304號(hào)公報(bào)中，提議如下方法，即通過(guò)對(duì)液晶顯示裝置的缺陷像素照射第1激光束，使包含缺陷像素的周?chē)壕又挟a(chǎn)生氣泡，在該氣泡產(chǎn)生狀態(tài)下，對(duì)該缺陷像素照射第2激光束，以其能量使該缺陷像素的構(gòu)成材料在氣泡內(nèi)飛散，通過(guò)使該飛散物附著、沉積在液晶顯示裝置的相對(duì)向電極上而黑點(diǎn)化。
然而，在產(chǎn)生上述氣泡的現(xiàn)有方法中，難以長(zhǎng)時(shí)間維持供給缺陷像素的部分液晶層的變性，有時(shí)附著、沉積的飛散物脫落，黑點(diǎn)化了的像素再次恢復(fù)為亮點(diǎn)缺陷像素。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種長(zhǎng)時(shí)間維持黑點(diǎn)化狀態(tài)的亮點(diǎn)缺陷的修補(bǔ)方法。
為了解決上述課題，本發(fā)明的液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法修補(bǔ)具備液晶面板的液晶顯示裝置的亮點(diǎn)缺陷像素，該液晶面板由一對(duì)基板、介于該一對(duì)基板間的液晶層、和設(shè)置在基板和液晶層之間限制該液晶層的液晶取向的取向膜而構(gòu)成，其特征在于包含對(duì)對(duì)應(yīng)于取向膜的亮點(diǎn)缺陷像素的范圍照射激光，使取向膜的取向限制力局部地降低或消失的工序，在使液晶顯示時(shí)，通過(guò)降低透過(guò)使取向限制力降低或消失的范圍的光的強(qiáng)度，以修補(bǔ)亮點(diǎn)缺陷像素。
液晶顯示裝置通過(guò)施加電壓、使液晶分子的排列變化，切換明暗顯示。例如，在取向方式為T(mén)N型的液晶顯示裝置中，將液晶分子夾在取向限制力的方向直行的2個(gè)取向膜中。而且，在對(duì)像素不施加電壓的狀態(tài)下，由于取向以使液晶分子沿該取向限制力的方向扭曲，所以射入光的振動(dòng)分量旋轉(zhuǎn)90度。但是，在本發(fā)明的缺陷修補(bǔ)方法中，由于通過(guò)對(duì)對(duì)應(yīng)于取向膜的亮點(diǎn)缺陷像素的范圍照射激光，使取向限制力局部地降低或消失，所以液晶分子不沿取向膜取向。結(jié)果，在對(duì)像素不施加電壓的狀態(tài)下，射入光的振動(dòng)分量即便通過(guò)液晶層也被不旋轉(zhuǎn)。
在液晶顯示裝置中，將液晶面板配置在使振動(dòng)分量相差90度的光透過(guò)的2塊偏光板之間。因此，透過(guò)射入側(cè)的偏光板的光只要在液晶層中其振動(dòng)分量不被旋轉(zhuǎn)，就不能透過(guò)射出側(cè)的偏光板。因而，降低或消失了取向限制力的像素在不施加電壓時(shí)，遮斷透過(guò)光，成為黑顯示。
另一方面，在施加了電壓的狀態(tài)下，由于液晶分子沿與基板垂直的方向排列，所以射入液晶層的光的振動(dòng)分量不被旋轉(zhuǎn)，不能透過(guò)射出側(cè)的偏光板。如上所述，照射激光、使取向膜的取向限制力降低或消失的亮點(diǎn)缺陷像素與施加電壓與否無(wú)關(guān)，通常不使光透過(guò)而黑點(diǎn)化。
對(duì)亮點(diǎn)缺陷像素照射的激光，使用具有取向膜可吸收的波長(zhǎng)的光。例如，最好是在由聚酰亞胺等有機(jī)膜或高分子膜構(gòu)成的取向膜的情況下，使用波長(zhǎng)450nm以下的激光。另外，最好是激光的波長(zhǎng)為200nm以上，以使基板不吸收激光。
另外，最好是本發(fā)明的液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法還包含如下工序，即在照射激光時(shí)，在液晶面板的一面和另一面分別配置偏光板，設(shè)定偏光軸，以使透過(guò)一方偏光板的光在取向膜的取向限制力消失時(shí)能透過(guò)另一方偏光板，測(cè)定透過(guò)一方偏光板和液晶面板的激光透過(guò)另一方偏光板的光量，檢測(cè)變性對(duì)應(yīng)于亮點(diǎn)缺陷像素范圍的取向膜。
如果設(shè)定偏光軸，以使透過(guò)一方偏光板的光在取向膜的取向限制力消失時(shí)能透過(guò)另一方偏光板，則在取向膜的取向限制力充分降低之前，照射的激光不能透過(guò)該另一方偏光板。但是，隨著照射一定時(shí)間后取向限制力降低，透過(guò)該另一方偏光板的激光的光量增加。因此，如果測(cè)定透過(guò)配置在液晶面板的光的射出側(cè)的偏光板之激光的光量，則可評(píng)價(jià)對(duì)應(yīng)于亮點(diǎn)缺陷像素的范圍的取向膜之取向限制力降低的程度。
并且，本發(fā)明還提供一種液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)裝置，其特征在于，具備激光振蕩器；載置液晶顯示裝置的臺(tái)；控制照射位置，以使從激光振蕩器輸出的激光照射到液晶顯示裝置的亮點(diǎn)缺陷像素的部件；和檢測(cè)透過(guò)液晶顯示裝置的激光的量的檢測(cè)器，載置液晶顯示裝置的臺(tái)的一部分或全部具有光透過(guò)性，通過(guò)由檢測(cè)器檢測(cè)照射到亮點(diǎn)缺陷像素的激光透過(guò)液晶顯示裝置的量，可評(píng)價(jià)亮點(diǎn)缺陷像素的缺陷消失的程度。
如上所述，如果在液晶面板的一面和另一面，配置成透過(guò)一方偏光板的光在取向膜的取向限制力消失時(shí)可透過(guò)另一方的偏光板，則可通過(guò)測(cè)定透過(guò)2塊偏光板兩者的激光的光量，評(píng)價(jià)取向膜的取向限制力降低的程度。因而，存在如下優(yōu)點(diǎn)即，通過(guò)構(gòu)成為載置液晶顯示裝置的臺(tái)的一部分或全部具有光透過(guò)性，并可由檢測(cè)器檢測(cè)照射到亮點(diǎn)缺陷像素的激光透過(guò)液晶顯示裝置的量，從而可在評(píng)價(jià)黑點(diǎn)化中也可使用為了變性取向膜而照射到亮點(diǎn)缺陷像素的激光，不必為檢測(cè)亮點(diǎn)缺陷像素的透過(guò)光而準(zhǔn)備其他的光源。


圖1是說(shuō)明亮點(diǎn)缺陷像素的說(shuō)明圖。
圖2是表示亮點(diǎn)缺陷像素因激光照射導(dǎo)致黑點(diǎn)化的說(shuō)明圖。
圖3是表示亮點(diǎn)缺陷像素和黑點(diǎn)缺陷像素的說(shuō)明圖。
圖4是表示本發(fā)明的缺陷修補(bǔ)方法及缺陷修補(bǔ)裝置的構(gòu)成的示意圖。
圖5是表示激光照射裝置之一實(shí)施方式的示意圖。
圖6是表示激光照射裝置之一實(shí)施方式的示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面，參照

本發(fā)明的最佳實(shí)施方式。
首先，使用圖1及圖2，以TN模式的液晶顯示裝置為例，說(shuō)明本發(fā)明的液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法。圖1及圖2分別表示3個(gè)像素A、B、C的截面圖，各像素具備由一對(duì)玻璃基板20a及20b、介于兩基板間的液晶層10、設(shè)置在基板20a及20b和液晶層10之間的取向膜12a及12b構(gòu)成的液晶基板。取向膜12a和12b由聚酰亞胺構(gòu)成，限制取向的方向，即取向限制力的方向相互正交。另外，玻璃基板20a和取向膜12a之間備有像素電極16a～16C，但在玻璃基板20b和取向膜12b之間具備相對(duì)向電極14及黑色掩膜18。在玻璃基板20a和20b的表面設(shè)置有偏光板22a及22b，以使分別相差90度的振動(dòng)分量透過(guò)。
在圖1的液晶顯示裝置中像素6為亮點(diǎn)缺陷像素。
在不對(duì)像素施加電壓時(shí)，如圖1(A)的像素A～C模式地表示的那樣，基于取向膜的取向限制力，包含在液晶層的液晶分子24扭曲地排列。由此，由于透過(guò)偏光板22a的光在通過(guò)液晶層10時(shí)其振動(dòng)分量被旋轉(zhuǎn)90度，所以可透過(guò)偏光板22b。
在由像素電極16a～16C及相對(duì)向電極14對(duì)像素施加電壓時(shí)，如圖1(B)所示，在正常的像素A及C中，液晶分子24沿與基板垂直的方向排列，不使光透過(guò)射入側(cè)偏光板22a的偏光軸變化地通過(guò)液晶層10。因此，通過(guò)液晶層10的光不能透過(guò)射出側(cè)偏光板22b，像素A及C變?yōu)楹陲@示。
另外，因缺陷存在未對(duì)像素B施加電壓，所以液晶24由于取向膜的取向限制力仍扭曲地排列。因此，透過(guò)射入側(cè)偏光板22a及液晶層10的光的振動(dòng)分量被旋轉(zhuǎn)90度，透過(guò)射出側(cè)偏光板22b。結(jié)果，像素B常為白顯示的亮點(diǎn)缺陷像素。如圖3(A)模式地表示的那樣，在畫(huà)面整體為黑顯示中，變?yōu)榱咙c(diǎn)缺陷的像素B容易被人眼識(shí)別，非常明顯，使液晶顯示裝置的品質(zhì)降低。
下面，使用圖2說(shuō)明通過(guò)對(duì)圖1所示的液晶顯示裝置照射激光，使取向膜變性的狀態(tài)。圖2(A)表示未對(duì)像素施加電壓的狀態(tài)。這時(shí)，在正常的像素A及C中，液晶層10的液晶分子因取向膜扭曲地排列，透過(guò)射入側(cè)偏光板22a的光透過(guò)射出側(cè)偏光板22b。結(jié)果，像素A及像素B變?yōu)榘罪@示。
另一方面，像素B因變性取向膜，取向限制力降低或消失，液晶分子不扭曲地排列。結(jié)果，由于既便通過(guò)液晶層10，光的振動(dòng)分量也不變化，所以該光不透過(guò)射出側(cè)偏光板22b，像素B在未施加電壓的狀態(tài)下為黑顯示。
圖2(B)表示對(duì)照射激光后的液晶顯示裝置施加電壓的狀態(tài)。若對(duì)像素A～C施加電壓，則在像素A及C中，液晶分子沿垂直于基板的方向排列。另外，因缺陷存在，對(duì)像素B未施加電壓。因而，在像素A～C全部中，液晶24不扭曲地排列。結(jié)果，透過(guò)偏光板22a的光既便通過(guò)液晶層10，其振動(dòng)分量也不被旋轉(zhuǎn)，不能透過(guò)射出側(cè)偏光板22b，變?yōu)楹陲@示。
這樣，通過(guò)對(duì)像素B照射激光、變性取向膜，可構(gòu)成無(wú)論在施加還是不施加電壓的情況下都始終顯示黑色的黑點(diǎn)缺陷像素。在人眼的特性上，黑點(diǎn)缺陷比亮點(diǎn)缺陷難以引人注目，(參照?qǐng)D3(B))，作為產(chǎn)品可處理為輕微缺陷，所以可考慮利用黑點(diǎn)化來(lái)改善液晶顯示裝置的品質(zhì)。
圖4表示對(duì)缺陷像素的取向膜照射激光的缺陷修補(bǔ)裝置的一實(shí)施方式。激光照射裝置40具備激光振蕩器400；載置液晶顯示裝置的工作臺(tái)(臺(tái))408；和檢測(cè)透過(guò)液晶顯示裝置406的激光的功率表414。
激光振蕩器40可使用能振蕩例如一般的聚酰亞胺取向膜容易吸收的波長(zhǎng)為355nm、405nm、441nm的激光之激光振蕩器。工作臺(tái)408可沿XYZ方向調(diào)整位置，激光振蕩器400振蕩的激光被反射鏡402反射，由透鏡404縮小焦點(diǎn)，照射到液晶顯示裝置406的規(guī)定像素上。由于在工作臺(tái)的中央設(shè)置貫通孔，所以若激光不能透過(guò)液晶顯示裝置，則由功率表414檢測(cè)。
在本實(shí)施方式中，不對(duì)液晶顯示裝置的最終產(chǎn)品，而是對(duì)安裝偏光板前的液晶面板406，即，使液晶層、取向膜、電極、黑色掩膜介于2塊玻璃基板間的結(jié)構(gòu)照射激光，修補(bǔ)亮點(diǎn)缺陷像素。而且，在工作臺(tái)408上載置液晶面板406時(shí)，配置2塊偏光板410及412以?shī)A持該面板。
這里，如果配置成兩偏光板透過(guò)相同方向的光的振動(dòng)分量，則亮點(diǎn)缺陷像素在未施加電壓時(shí)不使光透過(guò)。但是，隨著照射激光、降低取向膜的取向限制力，液晶層的液晶分子未扭曲地取向，由于透過(guò)偏光板410的激光的振動(dòng)分量不被旋轉(zhuǎn)，所以透過(guò)偏光板412。透過(guò)偏光板412的激光經(jīng)工作臺(tái)408的貫通孔，由功率表41檢測(cè)。這樣，功率表414檢測(cè)的光量的增加表示取向膜的取向限制力的降低。
在配置成偏光板使相差90度的光的振動(dòng)分量透過(guò)的情況下，因變性取向膜，光不能透過(guò)偏光板。因而，這時(shí)，由功率表檢測(cè)透過(guò)光減少，可評(píng)價(jià)取向膜的變性。另外，由于通常檢測(cè)光量增加比檢測(cè)透過(guò)光變?nèi)跞菀?，所以如果配置?塊偏光板透過(guò)相同方向的光的振動(dòng)分量，則可更高靈敏度地檢測(cè)取向膜的取向限制力的降低，即缺陷消失的程度。
如果由功率表414檢測(cè)激光，則功率表414向激光振蕩器400輸出使激光振蕩停止的振蕩停止信號(hào)。具體地說(shuō)，例如在功率表414和激光振蕩器400之間設(shè)置反饋控制機(jī)構(gòu)416，通過(guò)該反饋控制機(jī)構(gòu)416，可對(duì)應(yīng)激光振蕩器414檢測(cè)的光的強(qiáng)度，向激光振蕩器400輸出控制激光振蕩的信號(hào)。由此，可照射足以使取向膜的取向限制力降低所需的激光，可高效率地修補(bǔ)缺陷。
另外，在激光照射裝置40中，配置成2塊偏光板410及412使相差90的光的振動(dòng)分量透過(guò)，如果照射激光、由功率表414檢測(cè)透過(guò)光，則也可檢測(cè)亮點(diǎn)缺陷像素的位置。如果檢測(cè)亮點(diǎn)缺陷像素的位置，則若使一方偏光板旋轉(zhuǎn)90度，對(duì)該缺陷像素照射激光，則由功率表檢測(cè)激光透過(guò)偏光板4124的光量，可評(píng)價(jià)缺陷修補(bǔ)的程度。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的缺陷修補(bǔ)方法，通過(guò)一次激光照射的簡(jiǎn)單工序，可不影響周?chē)袼兀沽咙c(diǎn)缺陷像素黑點(diǎn)化。既便時(shí)間經(jīng)過(guò)，由本方法黑點(diǎn)化的像素也不恢復(fù)成亮點(diǎn)而被維持。另外，根據(jù)本發(fā)明的缺陷修補(bǔ)裝置可檢測(cè)缺陷位置及修補(bǔ)程度，有效地破壞缺陷像素的取向膜。
另外，本發(fā)明不只限于上述實(shí)施方式的內(nèi)容，可在本發(fā)明精神的范圍內(nèi)各種變形后實(shí)施。透鏡可使用聚光透鏡，也可使用成像透鏡。取向膜的取向限制力可以不使用激光而使用其他光源來(lái)檢測(cè)。并且，對(duì)缺陷像素位置的特定，可使用功率表，也可使用準(zhǔn)直照相機(jī)。
圖5表示使用聚光透鏡的激光照射裝置之一形態(tài)。激光照射裝置50具備激光振蕩器500；反射鏡502；聚光透鏡504；載置可沿XYZ方向控制位置的液晶顯示裝置的工作臺(tái)508；和準(zhǔn)直照相機(jī)510。從激光振蕩器500輸出的激光由反射鏡504反射，經(jīng)透鏡504照射到液晶顯示裝置506。
缺陷像素的位置可由照相機(jī)510檢測(cè)，通過(guò)沿XYZ方向移動(dòng)工作臺(tái)508，可調(diào)制對(duì)缺陷像素照射激光。
由于504是聚光透鏡，所以照射到液晶顯示裝置506的激光的強(qiáng)度分布如圖5(B)左圖所示，光束形狀如右圖所示。因而，可通過(guò)使工作臺(tái)508沿Z方向移動(dòng)來(lái)控制照射面積，可不影響周?chē)南袼?，僅對(duì)缺陷像素照射激光，。
可由照相機(jī)來(lái)檢測(cè)是否通過(guò)激光的照射而引起取向膜變性。例如，只要將工作臺(tái)508的一部分或全部設(shè)為光透過(guò)的構(gòu)成，在工作臺(tái)508的下部設(shè)置光源，由準(zhǔn)直照相機(jī)510觀察液晶顯示裝置506的光透過(guò)性即可。根據(jù)這樣的構(gòu)成，可觀察變性取向膜的經(jīng)過(guò)，控制若實(shí)現(xiàn)規(guī)定的變性則結(jié)束激光的照射。
圖6表示使用成像透鏡的激光照射裝置之一形態(tài)。激光照射裝置60具備激光振蕩器600、均化器610、矩形掩膜312、反射鏡302、成像透鏡304、可沿XY方向控制位置的工作臺(tái)608及準(zhǔn)直照相機(jī)614，在工作臺(tái)608上載置液晶顯示裝置606。將透過(guò)均化器610及矩形掩膜612的激光由反射鏡反射，經(jīng)成像透鏡照射到液晶顯示裝置606上。照射到液晶顯示裝置606的激光的強(qiáng)度分布如圖6(B)左圖所示，光束形成如右圖所示，如像素的形狀那樣，以相同的強(qiáng)度照射。
因此，在激光照射裝置60中，不必使工作臺(tái)沿Z方向移動(dòng)，只要僅沿XY方向移動(dòng)、對(duì)具有缺陷的像素照射激光即可。
激光照射裝置60的其他結(jié)構(gòu)因與激光照射裝置50相同，這里省略說(shuō)明。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法，修補(bǔ)具備液晶面板的液晶顯示裝置的亮點(diǎn)缺陷像素，該液晶面板由一對(duì)基板、介于該一對(duì)基板間的液晶層、和設(shè)置在所述基板和所述液晶層之間、限制該液晶層的液晶取向的取向膜構(gòu)成，其特征在于包含在對(duì)應(yīng)于所述取向膜的所述亮點(diǎn)缺陷像素的范圍照射激光，使所述取向膜的取向限制力局部降低或消失的工序，在使所述液晶顯示時(shí)，通過(guò)降低透過(guò)使所述取向限制力降低或消失的范圍的光的強(qiáng)度，修補(bǔ)所述亮點(diǎn)缺陷像素。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法，其特征在于所述取向膜由有機(jī)膜或高分子膜構(gòu)成，所述激光的波長(zhǎng)為450nm以下。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)方法，其特征在于還包含如下工序即在照射所述激光時(shí)，在所述液晶面板的一面和另一面分別配置偏光板，設(shè)定偏光軸，以使透過(guò)一方的所述偏光板的光在所述取向膜的取向限制力降低或消失時(shí)可透過(guò)另一方的所述偏光板，透過(guò)一方的所述偏光板和所述液晶面板的所述激光測(cè)定透過(guò)另一所述偏光板的光量，檢測(cè)所述取向膜的取向限制力的降低或消失。
4.一種液晶顯示裝置的缺陷修補(bǔ)裝置，其特征在于，具備激光振蕩器；載置液晶顯示裝置的臺(tái)；控制照射位置，以使從所述激光振蕩器輸出的激光照射到所述液晶顯示裝置的亮點(diǎn)缺陷像素上的部件；和檢測(cè)透過(guò)所述液晶顯示裝置的激光量的檢測(cè)器，所述臺(tái)的一部分或全部具有光透過(guò)性，通過(guò)用所述檢測(cè)器檢測(cè)照射到所述亮點(diǎn)像素的所述激光透過(guò)所述液晶顯示裝置的量，可評(píng)價(jià)亮點(diǎn)缺陷像素的缺陷消失程度。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種亮點(diǎn)缺陷的修補(bǔ)方法，可不影響周?chē)南袼?，采用?jiǎn)易的工序使亮點(diǎn)黑點(diǎn)化，即便時(shí)間經(jīng)過(guò)，也不恢復(fù)亮點(diǎn)而被維持。本發(fā)明修補(bǔ)具備液晶面板的液晶顯示裝置的亮點(diǎn)缺陷像素(B)，該液晶面板由一對(duì)基板(20a、20b)、介于該一對(duì)基板間的液晶層(10)和設(shè)置在基板與液晶層之間，限制液晶層的液晶取向的取向膜(12a、12b)構(gòu)成，其特征在于包含對(duì)應(yīng)于取向膜的亮點(diǎn)缺陷像素的范圍照射激光，使取向膜的取向限制力局部降低或消失的工序；在使液晶顯示時(shí)，通過(guò)降低透過(guò)使所述取向限制力降低或消失的范圍的光的強(qiáng)度，來(lái)修補(bǔ)亮點(diǎn)缺陷像素。
文檔編號(hào)B23K26/00GK1746730SQ20051009902
公開(kāi)日2006年3月15日 申請(qǐng)日期2005年9月5日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月6日
發(fā)明者梅津一成 申請(qǐng)人:精工愛(ài)普生株式會(huì)社