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半自動t型導軌扭曲校直機校對裝置的制作方法

文檔序號:3044898閱讀:190來源:國知局
專利名稱:半自動t型導軌扭曲校直機校對裝置的制作方法
技術領域
本發(fā)明屬于T型導軌扭曲校直技術領域,具體涉及一種半自動T型導軌扭曲校直 機校對裝置。
背景技術
電梯T型導軌作為電梯的導向系統(tǒng),是電梯重要的組成部件之一,在電梯的安裝 調試性能維護中占有重要的地位。電梯在運行過程中,如果T型導軌面不直,就會引發(fā)轎箱 振動,影響電梯乘坐的舒適性和運行的穩(wěn)定性,T型導軌過大的不直度甚至會造成重大運行 事故,危及人身安全。因此,電梯T型導軌在出廠時必須要經過嚴格的直線度、扭曲度檢測 以控制軌的質量。電梯T型導軌經過冷加工工序后,T型導軌的直線度達不到規(guī)定要求,需要校直機 校直,提高其直線度性能。一支T型導軌需要怎樣校直、加多大的校直力,依賴于從生產線 上對T型導軌直線度進行測量所得的數據;如何依據測量結果對不同彎曲情況的T型導軌 進行局部或整體校直,校直作用需持續(xù)多長時間,需要多少次反復校直,校直后T型導軌的 性能達到怎樣的直線度精度,依賴于在線校直的準確度。傳統(tǒng)的電梯T型導軌檢驗和校直 一般由人工完成,檢驗采用檢測平臺為基準,檢驗時間長,過程繁瑣,效率低,可靠性差;校 直則需要人工反復校驗,多次檢測試校,由于人的經驗有限,其準確度很難達到要求,人為 因素對校直結果有很大影響,無法實現高精度T型導軌的工藝要求,并且滿足不了大批量 生產加工的需要。因此,如果能在生產線上動態(tài)地對工件的直線度進行測量并根據在線測 量結果對T型導軌彎曲進行校直,可以顯著的縮短生產時間,提高T型導軌的生產效率,保 證電梯T型導軌的扭曲度控制在允許范圍內。所以為實現電梯T型導軌直線度的自動精確 測量和自動準確校直,設計開發(fā)出具有自動化、智能化、信息化、高效化的精密T型導軌校 直機已成為電梯T型導軌行業(yè)一個亟待解決的課題。本發(fā)明基于此背景而來。
發(fā)明內容本發(fā)明目的在于提供一種半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,提供了 T型導軌 的基準校對平臺,通過基準校對平臺可以校準半自動T型導軌扭曲校直機的T型導軌底面 檢測機構,作為T型導軌底面的基準平臺。為了解決現有技術中的這些問題,本發(fā)明提供的技術方案是一種半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,包括測量基準板和檢測感應器,其特 征在于所述測量基準板上設置驅動裝置,所述驅動裝置與校直機座體連接驅動測量基準板 與檢測感應器接觸的程度。優(yōu)選的,所述驅動裝置包括旋轉套,所述校直機座體上固定有定位柱,所述旋套套 設在定位柱上,且以定位柱為中心旋轉。優(yōu)選的,所述旋轉套與定位柱間設置軸承,所述軸承內圈外側設置軸承蓋,所述軸 承蓋通過螺栓與定位柱固定。[0009]優(yōu)選的,所述校直機座體上固定設置感應器固定板,所述感應器固定板通過感應 器連接板固定檢測感應器。優(yōu)選的,所述旋套上固定定位銷,所述校直機座體與定位銷配合定位測量基準板。優(yōu)選的,所述定位銷外圈設置有壓縮彈簧,所述校直機座體上開設定位孔,當測量 基準板旋轉到預定位置時,所述定位銷與定位孔配合定位測量基準板,而壓縮彈簧限位測 量基準板轉動。優(yōu)選的,T型導軌底面檢測機構的檢測感應器包括用于校對的固定觸頭和用于檢 測的活動觸頭,通過T型導軌底面檢測機構的活動觸頭與測量基準板的底面基準面接觸的 程度判斷T型導軌底面檢測機構的活動觸頭是否處于標準位置。本發(fā)明技術方案通過水平設置的測量基準板來提供校直機的T型導軌底面檢測 機構的基準平臺,通過測量基準板來校準T型導軌底面的檢測機構,使T型導軌底面檢測機 構的固定觸頭與活動觸頭處于同一水平時,與活動觸頭連接的檢測器讀數為零。當T型導 軌底面檢測機構進行T型導軌檢測時,固定觸頭作為檢測的標尺與T型導軌底面接觸,活動 觸頭也與T型導軌底面接觸,如果固定觸頭與活動觸頭處于同一水平時,其顯示器數為零, 當不在同一水平有誤碼差時,其顯示器讀數顯示為士N值,但只要顯示器的讀數(士N值) 在設定的期間,就表明T型導軌的扭曲度符合標準。T型導軌底面檢測機構使用一段時間,T型導軌底面檢測機構檢測的結果與校對 裝置的標準結果可能不同,其兩裝置讀數有誤差時,就需要通過校對裝置對T型導軌底面 檢測機構進行校對調整。進行校對調整時,由于半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置固定在校直機上,通 過定位銷與所述校直機座體上設置的定位孔配合定位,而彈簧限位測量基準板轉動,使半 自動T型導軌扭曲校直機校對裝置與T型導軌底面檢測機構處于同一區(qū)域。T型導軌底面檢測機構的固定觸頭和活動觸頭與半自動T型導軌扭曲校直機校對 裝置的測量基準板底面接觸,判斷固定觸頭和活動觸頭與標準底面接觸時是否處于同一水 平。T型導軌底面檢測機構的固定觸頭與本發(fā)明的測量基準板底面處于同一水平時,其顯示 器數為零;不處于同一水平時,可以對T型導軌底面檢測機構的固定觸頭的垂直位置或活 動觸頭的形變進行調整。相對于現有技術中的方案,本發(fā)明的優(yōu)點是本發(fā)明技術方案半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置使用校對方便。進行T型導 軌底面檢測機構的校準時,旋轉測量基準板的驅動裝置驅動測量基準板與T型導軌底面檢 測機構在同一區(qū)域內。不進行校準時,旋轉測量基準板的驅動裝置驅動測量基準板轉到校 直機的一側,不會阻礙T型導軌的校直扭曲作業(yè)。
以下結合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步描述


圖1為本發(fā)明實施例半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置的結構示意圖。1為測量基準板;2為檢測感應器;3為旋套;4為校直機座體;5為軸承;6為定位 銷;7為壓縮彈簧;41為感應器連接板;42為感應器固定板;43為定位孔。
具體實施方式
以下結合具體實施例對上述方案做進一步說明。應理解,這些實施例是用于說明 本發(fā)明而不限于限制本發(fā)明的范圍。實施例中采用的實施條件可以根據具體廠家的條件做 進一步調整,未注明的實施條件通常為常規(guī)實驗中的條件。實施例如
圖1所示,該半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,包括測量基準板1和 檢測感應器2,所述測量基準板1上設置驅動裝置,所述驅動裝置與校直機座體4連接驅動 測量基準板1與檢測感應器2接觸的程度。驅動裝置包括旋套3,所述旋套3套設在所述校直機座體4上端的定位柱上,且以 定位柱為中心旋轉。所述旋套3與定位柱間設置軸承5,所述軸承內圈外側設置軸承蓋,所 述軸承蓋通過螺栓與定位柱固定。所述校直機座體4上固定設置感應器固定板42,所述感應器固定板42通過感應器 連接板41固定檢測感應器2。所述旋套3上裝有固定定位銷6,所述校直機座體4與定位 銷6配合定位測量基準板1。所述定位銷外圈設置有壓縮彈簧7,所述校直機座體上開設定 位孔,壓縮彈簧7限制測量基準板1位移。當測量基準板1旋轉到預定位置時,所述定位銷 與定位孔配合定位測量基準板,而壓縮彈簧限位測量基準板轉動。由于校對裝置固定在校直機上,通過定位銷與所述校直機座體上設置的定位孔配 合定位,實現進行T型導軌底面檢測機構的校準。進行T型導軌底面檢測機構的校準時,旋 轉測量基準板的驅動裝置驅動測量基準板與T型導軌底面檢測機構在同一區(qū)域內。不進行 校準時,旋轉測量基準板的驅動裝置驅動測量基準板轉到校直機的一側,不會阻礙T型導 軌的校直扭曲作業(yè)。校直機的T型導軌底面檢測機構包括具有固定觸頭和活動觸頭的檢測感應器,本 發(fā)明技術方案中為一個固定觸頭和一個活動觸頭。進行校準時,測量基準板的底面基準面 與固定觸頭和活動觸頭一起接觸,校準使T型導軌底面檢測機構與本發(fā)明的測量基準板處 于同一水平,這時的顯示器讀數為零。而根據測量基準板的底面基準面與活動觸頭接觸的 程度的不同,顯示器就會顯示不同的數據。當檢測裝置工作一段時間后,就得用檢測裝置與 校對裝置進行比對,其兩裝置讀數有誤差時,就得對檢測裝置進行調整。上述實例只為說明本發(fā)明的技術構思及特點,其目的在于讓熟悉此項技術的人是 能夠了解本發(fā)明的內容并據以實施,并不能以此限制本發(fā)明的保護范圍。凡根據本發(fā)明精 神實質所做的等效變換或修飾,都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。
權利要求1.一種半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,包括檢測感應器( 和水平設置的測量 基準板(1),其特征在于所述測量基準板(1)上設置驅動裝置,所述驅動裝置與校直機座體 (4)連接驅動測量基準板(1)與檢測感應器( 接觸。
2.根據權利要求1所述的半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,其特征在于所述驅動 裝置包括旋轉套(3),所述旋轉套C3)套設在所述校直機座體(4)上端的定位柱上,且以定 位柱為中心旋轉。
3.根據權利要求2所述的半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,其特征在于所述旋轉 套C3)與定位柱間設置軸承(5),所述軸承內圈外側設置軸承蓋,所述軸承蓋通過螺栓與定 位柱固定。
4.根據權利要求2所述的半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,其特征在于所述校 直機座體(4)上固定設置感應器固定板(42),所述感應器固定板0 通過感應器連接板 (41)固定檢測感應器(2)。
5.根據權利要求2所述的半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,其特征在于所述旋轉 套(3)上固定定位銷(6),所述校直機座體(4)與定位銷(6)配合定位測量基準板(1)。
6.根據權利要求5所述的半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,其特征在于所述定 位銷(6)外圈設置有壓縮彈簧(7),所述校直機座體(4)上開設定位孔(43),當測量基準板(1)旋轉到預定位置時,所述定位銷與定位孔配合在壓縮彈簧的作用下限位測量基準板 ⑴。
專利摘要本實用新型公開了一種半自動T型導軌扭曲校直機校對裝置,包括檢測感應器(2)和水平設置的測量基準板(1),其特征在于所述測量基準板(1)上設置驅動裝置,所述驅動裝置與校直機座體(4)連接驅動測量基準板(1)與檢測感應器(2)接觸與否。該裝置提供了T型導軌的基準校對平臺,可以對半自動T型導軌扭曲校直機的T型導軌底面檢測機構校準作業(yè)。
文檔編號B21D3/00GK201871578SQ20102064438
公開日2011年6月22日 申請日期2010年12月7日 優(yōu)先權日2010年12月7日
發(fā)明者王四新 申請人:蘇州塞維拉上吳電梯軌道系統(tǒng)有限公司
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