專利名稱：一種晶振切腳成形設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種成形設(shè)備，尤其是涉及對一種晶振切腳成形設(shè)備的結(jié)構(gòu)改良。
背景技術(shù)：
在大多數(shù)LED，電阻，電容，晶體等電子元件的成形中采用的立式單工位成形，這種成形方法實用于本體較大，引腳較粗，較硬的元件。對于那些本體較小，引腳較軟，引腳變形的元件，很難使用這種成形方法達(dá)到客戶的要求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的技術(shù)問題；提供了一種不采用元件引腳來限位，因此對于元件引腳沒有太高的要求的一種晶振切腳成形設(shè)備。本發(fā)明還有一目的是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的等的技術(shù)問題；提供了一種采用平躺式成形方法，分割器傳動平穩(wěn)，精確并且各個成形工位分開，互不影響的一種晶振切腳成形設(shè)備。本發(fā)明的上述技術(shù)問題主要是通過下述技術(shù)方案得以解決的
一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，包括機(jī)架以及設(shè)置在機(jī)架上用于晶振送料的送料裝置、設(shè)置在送料裝置旁的成形裝置以及用于控制成形裝置和送料裝置的調(diào)試報警裝置。在上述的一種晶振切腳成形設(shè)備，所述的送料裝置包括設(shè)置在成形裝置旁的振動機(jī)構(gòu)，所述的振動機(jī)構(gòu)以及成形裝置之間還設(shè)置有輸送機(jī)構(gòu)。在上述的一種晶振切腳成形設(shè)備，所述振動機(jī)構(gòu)包括振動盤以及周向設(shè)置在所述振動盤邊緣的振動盤輸送軌道，所述的輸送機(jī)構(gòu)包括一端與上述振動盤輸送軌道相銜接的輸送軌道，所述輸送軌道的另一端與所述成形裝置銜接。在上述的一種晶振切腳成形設(shè)備，上述振動盤輸送軌道以及輸送軌道上設(shè)有用于平放晶振的晶振平放槽，所述輸送軌道上還設(shè)置有用于調(diào)整晶振方位的擋塊，所述的擋塊上設(shè)有與所述晶振平放槽相對應(yīng)的晶振調(diào)整通道。在上述的一種晶振切腳成形設(shè)備，所述成形裝置包括設(shè)置在輸送軌道的另一端上方的用于將晶振從上述輸送軌道上取出的晶振吸嘴，以及設(shè)置在晶振吸嘴旁的旋轉(zhuǎn)工作臺，所述旋轉(zhuǎn)工作臺外壁周向設(shè)有用于晶振成形的成形工位。在上述的一種晶振切腳成形設(shè)備，所述的成形工位包括依次順時針設(shè)置在旋轉(zhuǎn)工作臺外壁的晶振成形固定卡鍵以及設(shè)置在機(jī)架上與所述晶振成形固定卡鍵相配合的成形器，所述的成型器依次包括晶振調(diào)腳器、晶振腳彎腳器、晶振彎腳角度調(diào)整器、晶振彎腳一次直角成型器、晶振彎腳二次直角成型器以及晶振彎腳校正器。在上述的一種晶振切腳成形設(shè)備，所述調(diào)試報警裝置包括固定桿以及設(shè)置在固定桿上的調(diào)試報警控制器，所述調(diào)試報警控制器包括用于調(diào)試上述成形工位的調(diào)試模塊以及用于檢測晶振弓I腳成形的報警模塊。
因此，本發(fā)明具有如下優(yōu)點1.設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，噪聲較小且完全實用；2.整個測試裝置的輸出零點不會隨溫度的變化而變化，由此很大程度上降低了測試誤差；3.不會使整個裝置的輸出信號產(chǎn)生非線性。


圖1為本發(fā)明的立體結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明的主視結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為圖2的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為圖3的A處的放大結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面通過實施例，并結(jié)合附圖，對本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的說明。圖中， 機(jī)架1、送料裝置2、振動機(jī)構(gòu)201、輸送機(jī)構(gòu)202、振動盤203、振動盤輸送軌道204、輸送軌道205、晶振平放槽206、擋塊207、晶振調(diào)整通道208、成形裝置3、晶振吸嘴301、旋轉(zhuǎn)工作臺302、晶振成形固定卡鍵303、成形器304、調(diào)試報警裝置4、固定桿401、調(diào)試報警控制器 402。實施例
一種晶振切腳成形設(shè)備，包括機(jī)架1以及設(shè)置在機(jī)架1上用于晶振送料的送料裝置2、 設(shè)置在送料裝置2旁的成形裝置3以及用于控制成形裝置3和送料裝置2的調(diào)試報警裝置 4。送料裝置2包括設(shè)置在成形裝置3旁的振動機(jī)構(gòu)201，所述的振動機(jī)構(gòu)201以及成形裝置3之間還設(shè)置有輸送機(jī)構(gòu)202，振動機(jī)構(gòu)201包括振動盤203以及周向設(shè)置在所述振動盤203邊緣的振動盤輸送軌道204，所述的輸送機(jī)構(gòu)202包括一端與上述振動盤輸送軌道204相銜接的輸送軌道205，所述輸送軌道205的另一端與所述成形裝置3銜接，振動盤輸送軌道204以及輸送軌道205上設(shè)有用于平放晶振的晶振平放槽206，所述輸送軌道205 上還設(shè)置有用于調(diào)整晶振方位的擋塊207，所述的擋塊207上設(shè)有與所述晶振平放槽206相對應(yīng)的晶振調(diào)整通道208。成形裝置3包括設(shè)置在輸送軌道205的另一端上方的用于將晶振從上述輸送軌道 205上取出的晶振吸嘴301，以及設(shè)置在晶振吸嘴301旁的旋轉(zhuǎn)工作臺302，所述旋轉(zhuǎn)工作臺 302外壁周向設(shè)有用于晶振成形的成形工位，
成形工位包括依次順時針設(shè)置在旋轉(zhuǎn)工作臺302外壁的晶振成形固定卡鍵303以及設(shè)置在機(jī)架1上與所述晶振成形固定卡鍵303相配合的成形器304，所述的成型器依次包括 晶振調(diào)腳器、晶振腳彎腳器、晶振彎腳角度調(diào)整器、晶振彎腳一次直角成型器、晶振彎腳二次直角成型器以及晶振彎腳校正器。調(diào)試報警裝置4包括固定桿401以及設(shè)置在固定桿401上的調(diào)試報警控制器402， 所述調(diào)試報警控制器402包括用于調(diào)試上述成形工位的調(diào)試模塊以及用于檢測晶振引腳成形的報警模塊。本文中所描述的具體實施例僅僅是對本發(fā)明精神作舉例說明。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，但并不會偏離本發(fā)明的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定義的范圍。
盡管本文較多地使用了機(jī)架1、送料裝置2、振動機(jī)構(gòu)201、輸送機(jī)構(gòu)202、振動盤 203、振動盤輸送軌道204、輸送軌道205、晶振平放槽206、擋塊207、晶振調(diào)整通道208、成形裝置3、晶振吸嘴301、旋轉(zhuǎn)工作臺302、晶振成形固定卡鍵303、成形器304、調(diào)試報警裝置 4、固定桿401、調(diào)試報警控制器402等術(shù)語，但并不排除使用其它術(shù)語的可能性。使用這些術(shù)語僅僅是為了更方便地描述和解釋本發(fā)明的本質(zhì)；把它們解釋成任何一種附加的限制都是與本發(fā)明精神相違背的。
權(quán)利要求
1.一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，包括機(jī)架(1)以及設(shè)置在機(jī)架(1)上用于晶振送料的送料裝置(2 )、設(shè)置在送料裝置(2 )旁的成形裝置(3 )以及用于控制成形裝置(3 ) 和送料裝置(2)的調(diào)試報警裝置(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，所述的送料裝置(2) 包括設(shè)置在成形裝置(3)旁的振動機(jī)構(gòu)(201)，所述的振動機(jī)構(gòu)(201)以及成形裝置(3)之間還設(shè)置有輸送機(jī)構(gòu)(202)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，所述振動機(jī)構(gòu)(201)包括振動盤(203)以及周向設(shè)置在所述振動盤(203)邊緣的振動盤輸送軌道(204)，所述的輸送機(jī)構(gòu)(202 )包括一端與上述振動盤輸送軌道(204 )相銜接的輸送軌道(205 )，所述輸送軌道(205)的另一端與所述成形裝置(3)銜接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，上述振動盤輸送軌道 (204)以及輸送軌道(205)上設(shè)有用于平放晶振的晶振平放槽(206)，所述輸送軌道(205) 上還設(shè)置有用于調(diào)整晶振方位的擋塊(207)，所述的擋塊(207)上設(shè)有與所述晶振平放槽 (206)相對應(yīng)的晶振調(diào)整通道(208)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，所述成形裝置(3)包括設(shè)置在輸送軌道(205)的另一端上方的用于將晶振從上述輸送軌道(205)上取出的晶振吸嘴(301)，以及設(shè)置在晶振吸嘴(301)旁的旋轉(zhuǎn)工作臺(302)，所述旋轉(zhuǎn)工作臺(302)外壁周向設(shè)有用于晶振成形的成形工位。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，所述的成形工位包括依次順時針設(shè)置在旋轉(zhuǎn)工作臺(302)外壁的晶振成形固定卡鍵(303)以及設(shè)置在機(jī)架(1) 上與所述晶振成形固定卡鍵(303)相配合的成形器(304)，所述的成型器依次包括晶振調(diào)腳器、晶振腳彎腳器、晶振彎腳角度調(diào)整器、晶振彎腳一次直角成型器、晶振彎腳二次直角成型器以及晶振彎腳校正器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，所述調(diào)試報警裝置(4) 包括固定桿(401)以及設(shè)置在固定桿(401)上的調(diào)試報警控制器(402)，所述調(diào)試報警控制器(402)包括用于調(diào)試上述成形工位的調(diào)試模塊以及用于檢測晶振引腳成形的報警模塊。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種成形設(shè)備，尤其是涉及對一種晶振切腳成形設(shè)備的結(jié)構(gòu)改良。一種晶振切腳成形設(shè)備，其特征在于，包括機(jī)架(1)以及設(shè)置在機(jī)架(1)上用于晶振送料的送料裝置(2)、設(shè)置在送料裝置(2)旁的成形裝置(3)以及用于控制成形裝置(3)和送料裝置(2)的調(diào)試報警裝置(4)。因此，本發(fā)明具有如下優(yōu)點1.設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，噪聲較小且完全實用；2.整個測試裝置的輸出零點不會隨溫度的變化而變化，由此很大程度上降低了測試誤差；3.不會使整個裝置的輸出信號產(chǎn)生非線性。
文檔編號B21F23/00GK102366801SQ20111028354
公開日2012年3月7日 申請日期2011年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月22日
發(fā)明者詹偉 申請人:武漢昊昱微電子股份有限公司