專利名稱：基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電子信息產(chǎn)品檢測領(lǐng)域，尤其涉及基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備。
背景技術(shù)：
隨著高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展，對于精密測量系統(tǒng)的需求越來越大，其中又以自動光學(xué)檢測方式為技術(shù)潮流，而傳統(tǒng)的檢測方式和設(shè)備無法應(yīng)用于現(xiàn)代的“輕量化、精密化” 的產(chǎn)品的快速精密的檢測要求?，F(xiàn)有技術(shù)中專門有一種機器視覺，機器視覺是配備有傳感視覺儀器的檢測機器，其中光學(xué)檢測儀器占有比重非常高，可用于檢測出各種產(chǎn)品的缺陷， 或者用與判斷并選擇出物體或者用來測量尺寸等，應(yīng)用在自動化生產(chǎn)線上對物料進行校準(zhǔn)與定位。是計算機視覺中最具有產(chǎn)業(yè)化的部分，主要大量應(yīng)用于工廠自動化檢測及機器人產(chǎn)業(yè)等。機器視覺的應(yīng)用范圍變得更為廣泛，而機器視覺是一門集電子、光學(xué)、機械、控制等綜合性技術(shù)，而目前數(shù)字圖像處理配合機器視覺系統(tǒng)，已被廣泛的用來作為自動化生產(chǎn)的在線自動檢測的重要工具，以改善生產(chǎn)品質(zhì)與生產(chǎn)效率。但是除了大型的測試中心，很少有成套的自動化的測試設(shè)備用于工業(yè)生產(chǎn)中，且大部分的設(shè)備結(jié)構(gòu)復(fù)雜，成本高，無法大規(guī)模的推廣應(yīng)用。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，通過數(shù)控定位，提高檢測精度。整體的結(jié)構(gòu)簡單實用，能大規(guī)模運用到實際生產(chǎn)中。為了達到所述效果，本實用新型采用了如下技術(shù)方案基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，包括底座，底座上設(shè)有安置臺，所述底座后方設(shè)有Y軸平移導(dǎo)軌， 所述底座上方設(shè)有X軸平移導(dǎo)軌，所述X軸平移導(dǎo)軌和Y軸平移導(dǎo)軌上均裝有數(shù)控滑塊，所述數(shù)控滑塊上裝載有精密成像系統(tǒng)。優(yōu)選的，所述精密成像系統(tǒng)包括并排設(shè)置的光學(xué)測量頭和LED燈。LED燈不僅起到補光的作用，同時還能進一步確保光學(xué)測量頭的拍攝質(zhì)量。優(yōu)選的，所述光學(xué)測量頭通過數(shù)據(jù)線連接數(shù)據(jù)處理終端。測量到的數(shù)據(jù)由數(shù)據(jù)處理終端進行處理，檢測人員也可以直接通過數(shù)據(jù)處理終端檢測工件。優(yōu)選的，所述安置臺為玻璃板，玻璃板四周設(shè)有一圈背光燈。背光燈對安置臺上的待測工件自下而上地提供光源，使得其輪廓更為清晰。優(yōu)選的，所述底座上設(shè)有位置微調(diào)裝置。通過微調(diào)裝置可以在不調(diào)整X軸平移導(dǎo)軌和Y軸平移導(dǎo)軌上數(shù)控滑塊的情況下，對待測物的位置進行細(xì)微調(diào)整，確保其落入精密成像系統(tǒng)中最佳檢測位置。由于采用了所述技術(shù)方案，本實用新型基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備上所述X軸平移導(dǎo)軌和Y軸平移導(dǎo)軌上均裝有設(shè)有數(shù)控滑塊上裝載有精密成像系統(tǒng)，定位精準(zhǔn)，立體成像，能夠準(zhǔn)確測繪出待測工件的精密結(jié)構(gòu)，而且操作非常方便，無需額外培訓(xùn)即可使用。以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步說明


圖1為本實用新型基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備整體系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實用新型基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備的俯視示意圖。
具體實施方式
如
圖1以及圖2所示，本實用新型基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，包括底座1，底座1上設(shè)有安置臺2，所述底座1后方設(shè)有Y軸平移導(dǎo)軌3，所述底座1上方設(shè)有X軸平移導(dǎo)軌4，所述X軸平移導(dǎo)軌4和Y軸平移導(dǎo)軌3上均裝有設(shè)有數(shù)控滑塊6， 所述數(shù)控滑塊6上裝載有精密成像系統(tǒng)5。所述精密成像系統(tǒng)5包括并排設(shè)置的光學(xué)測量頭51和LED燈52。所述光學(xué)測量頭51通過數(shù)據(jù)線連接數(shù)據(jù)處理終端。所述安置臺2為玻璃板，玻璃板四周設(shè)有一圈背光燈7。所述底座1上設(shè)有位置微調(diào)裝置8。工作時，只需將待測的工件放置到底座1上的安置臺2上即可。根據(jù)實際情況確認(rèn)是否需要打開安置臺2四周的背光燈7。工件放置好后，即可通過調(diào)整所述X軸平移導(dǎo)軌 4和Y軸平移導(dǎo)軌3上均裝有的數(shù)控滑塊6，帶動精密成像系統(tǒng)5對待測工件進行成像。所述精密成像系統(tǒng)5包括并排設(shè)置的光學(xué)測量頭51和LED燈52。LED燈52能進行補光，所述光學(xué)測量頭51通過數(shù)據(jù)線連接數(shù)據(jù)處理終端，形成一個立體的成像。當(dāng)更換需要測量的工件時，為避免工件放置的位置不在正確位置，也可以直接調(diào)整底座1上的位置微調(diào)裝置8。這樣簡化了操作。本實用新型借助于數(shù)控加工中心的精密移動與定位，可以用于數(shù)控加工中心在位測量產(chǎn)品的尺寸，以及IC芯片導(dǎo)線架的腳位間的距離、電路板文字辨別、薄膜厚度和表面輪廓等檢測，還可以推廣到其他的相關(guān)領(lǐng)域。
權(quán)利要求1.基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，包括底座(1)，其特征在于底座 (1)上設(shè)有安置臺O)，所述底座(1)后方設(shè)有Y軸平移導(dǎo)軌(3)，所述底座(1)上方設(shè)有X 軸平移導(dǎo)軌G)，所述X軸平移導(dǎo)軌(4)和Y軸平移導(dǎo)軌C3)上均裝有數(shù)控滑塊(6)，所述數(shù)控滑塊(6)上裝載有精密成像系統(tǒng)(5)。
2.如權(quán)利要求1所述的基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于所述精密成像系統(tǒng)(5)包括并排設(shè)置的光學(xué)測量頭(51)和LED燈(52)。
3.如權(quán)利要求2所述的基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于所述光學(xué)測量頭(6)通過數(shù)據(jù)線連接數(shù)據(jù)處理終端。
4.如權(quán)利要求1-3其中任一項所述的基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于所述安置臺( 為玻璃板，玻璃板四周設(shè)有一圈背光燈(7)。
5.如權(quán)利要求1-3其中任一項所述的基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，其特征在于所述底座(1)上設(shè)有位置微調(diào)裝置(8)。
專利摘要本實用新型的目的是提供基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，通過數(shù)控定位，提高檢測精度。為了達到所述效果，本實用新型采用了如下技術(shù)方案基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備，包括底座，底座上設(shè)有安置臺，所述底座后方設(shè)有Y軸平移導(dǎo)軌，所述底座上方設(shè)有X軸平移導(dǎo)軌，所述X軸平移導(dǎo)軌和Y軸平移導(dǎo)軌上均裝有數(shù)控滑塊，所述數(shù)控滑塊上裝載有精密成像系統(tǒng)。由于采用了所述技術(shù)方案，本實用新型基于數(shù)控加工中心的工件尺寸精密光學(xué)檢測設(shè)備上所述X軸平移導(dǎo)軌和Y軸平移導(dǎo)軌上均裝有設(shè)有數(shù)控滑塊上裝載有精密成像系統(tǒng)，定位精準(zhǔn)，立體成像，能夠準(zhǔn)確測繪出待測工件的精密結(jié)構(gòu)，而且操作非常方便。
文檔編號B23Q17/20GK202317867SQ20112035144
公開日2012年7月11日 申請日期2011年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月13日
發(fā)明者張克華, 程光明, 許永超, 閔力 申請人:浙江師范大學(xué)