1.一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:所述步驟s?8,所述壓頭向下壓縮所述靶材坯料的過程中控制壓頭勻速下降,在大變量壓縮過程中壓頭的下壓速度為大變量壓縮過程中壓縮高度除以大變量壓縮所使用的時間,在壓縮靶材坯料的大變量壓縮完成動態(tài)再結(jié)晶過程。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:所述步驟s?4,采用水冷的冷卻方式是使棒材靶材穿過水槽,所述水槽長度為0.8-1.2m,所述棒材靶材穿過水槽的時間控制在3-5秒,通過所述穿水冷卻方式使棒材靶材的溫度降低至20-35℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:所述壓頭的底面和下平臺的平面度為≤±0.05mm/m,所述導(dǎo)體金屬靶材的上表面的平面為等于壓頭的底面的平面度,導(dǎo)體金屬靶材的下表面的平面為等于下平臺的頂面的平面度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:所述靶材原始鑄錠為純度大于5n的純錫靶材鑄錠,
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:所述步驟s1,所述靶材原始鑄錠為純度大于5n的純鋁靶材鑄錠;
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:所述步驟s1,所述靶材原始鑄錠為純度大于5n的純銅靶材鑄錠;
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于:
9.根據(jù)權(quán)利要求1至9任意一項(xiàng)所述的一種低熔點(diǎn)靶材的制備方法,其特征在于: