本申請涉及晶體振蕩器生產(chǎn)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于晶體振蕩器的彎角設備。
背景技術(shù):
1、晶體振蕩器是一種用于產(chǎn)生穩(wěn)定頻率的電子元件,常用于各種電子設備中,如通信設備、計算機、數(shù)字鐘表等。晶體振蕩器通常由晶體諧振器和激勵電路組成。晶體諧振器的振蕩頻率受其尺寸和形狀的影響,而通過控制晶體的物理形狀,可以調(diào)整振蕩器的頻率。因此,對晶體振蕩器進行折彎就是為了調(diào)整其振蕩頻率。
2、但在實際應用中晶體振蕩器的折彎過程中出現(xiàn)的移動,導致折彎機構(gòu)對晶體振蕩器的折彎有偏差,從而影響晶體振蕩器折彎的精準度,因此,需要一種提高晶體振蕩器折彎的精準度的用于晶體振蕩器的彎角設備。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、有鑒于此,有必要提供一種提高晶體振蕩器折彎的精準度的用于晶體振蕩器的彎角設備,以解決上述問題。
2、本申請的實施例提供一種用于晶體振蕩器的彎角設備,與工作臺貼合連接,包括:
3、折彎組件,沿豎直方向折彎晶體振蕩器,并位于所述晶體振蕩器的豎直方向的上方;
4、固定組件,沿橫向滑動靠近所述折彎組件,并用于放置并傳送晶體振蕩器;所述固定組件包括滑動件和固定件,所述滑動件與所述固定件固定連接,所述固定件位于靠近所述折彎組件的一端,所述滑動件用于放置并傳送晶體振蕩器,所述固定件用于固定晶體振蕩器在滑動件上的位置;
5、其中,所述滑動件沿橫向傳送晶體振蕩器傳送至所述折彎組件的豎直方向的下方,所述折彎組件沿豎直方向往下滑動折彎晶體振蕩器。
6、在本申請的至少一個實施例中,所述固定組件還包括定位件,所述定位件一端與所述滑動件卡緊連接,另一端與所述折彎組件固定連接。
7、在本申請的至少一個實施例中,所述滑動件包括放置部,所述放置部位于靠近所述折彎組件的一端,所述放置部與所述晶體振蕩器貼合連接。
8、在本申請的至少一個實施例中,所述用于晶體振蕩器的彎角設備還包括微調(diào)組件,所述微調(diào)組件沿豎直方向與所述折彎組件貼合連接,并位于遠離所述工作臺的一端,且用于控制所述折彎組件的精準度。
9、在本申請的至少一個實施例中,所述微調(diào)組件包括導軌和滑塊,所述滑塊與所述導軌滑動連接,沿橫向靠近所述折彎組件的一端連接,所述滑塊用于調(diào)節(jié)折彎組件在橫向上的位置。
10、在本申請的至少一個實施例中,所述微調(diào)組件還包括調(diào)節(jié)桿和調(diào)節(jié)件,所述調(diào)節(jié)桿一端與所述折彎組件連接,另一端與所述調(diào)節(jié)件連接,所述調(diào)節(jié)件用于調(diào)節(jié)所述折彎組件在豎向上的位置。
11、在本申請的至少一個實施例中,所述用于晶體振蕩器的彎角設備還包括傳感組件,所述傳感組件分別與所述折彎組件和所述微調(diào)組件連接。
12、在本申請的至少一個實施例中,所述傳感組件包括第一傳感件,所述第一傳感件位于所述固定組件豎直方向上方,并進行橫向滑動,用于檢測所述固定組件在橫向上的位置。
13、在本申請的至少一個實施例中,所述傳感組件包括第二傳感件,所述第二傳感件與所述微調(diào)組件豎直方向上方,并進行橫向滑動,用于檢測所述折彎組件在豎向上的位置。
14、在本申請的至少一個實施例中,所述傳感組件還包括檢測滑動件,所述檢測滑動件分別與所述第一傳感件和所述第二傳感件連接,所述檢測滑動件沿橫向滑動,并帶動所述第一傳感件和所述第二傳感件沿橫向滑動。
15、上述提供的一種用于晶體振蕩器的彎角設備通過固定組件固定并傳送晶體振蕩器動件上和折彎組件沿豎直方向向下移動以彎曲晶體振蕩器,以確保晶體振蕩器在折彎過程中的準確定位。同時,微調(diào)組件負責控制折彎組件的精準度;以及傳感組件確保折彎過程中的精準度。通過這些部件的協(xié)同作用,實現(xiàn)提高晶體振蕩器折彎的精準度。
1.一種用于晶體振蕩器的彎角設備,與工作臺貼合連接,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述固定組件還包括定位件,所述定位件一端與所述滑動件卡緊連接,另一端與所述折彎組件固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述滑動件包括放置部,所述放置部位于靠近所述折彎組件的一端,所述放置部與所述晶體振蕩器貼合連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述用于晶體振蕩器的彎角設備還包括微調(diào)組件,所述微調(diào)組件沿豎直方向與所述折彎組件貼合連接,并位于遠離所述工作臺的一端,且用于控制所述折彎組件的精準度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述微調(diào)組件包括導軌和滑塊,所述滑塊與所述導軌滑動連接,沿橫向靠近所述折彎組件的一端連接,所述滑塊用于調(diào)節(jié)折彎組件在橫向上的位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述微調(diào)組件還包括調(diào)節(jié)桿和調(diào)節(jié)件,所述調(diào)節(jié)桿一端與所述折彎組件連接,另一端與所述調(diào)節(jié)件連接,所述調(diào)節(jié)件用于調(diào)節(jié)所述折彎組件在豎向上的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述用于晶體振蕩器的彎角設備還包括傳感組件,所述傳感組件分別與所述折彎組件和所述微調(diào)組件連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述傳感組件包括第一傳感件,所述第一傳感件位于所述固定組件豎直方向上方,并進行橫向滑動,用于檢測所述固定組件在橫向上的位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述傳感組件包括第二傳感件,所述第二傳感件與所述微調(diào)組件豎直方向上方,并進行橫向滑動,用于檢測所述折彎組件在豎向上的位置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種用于晶體振蕩器的彎角設備,其特征在于,所述傳感組件還包括檢測滑動件,所述檢測滑動件分別與所述第一傳感件和所述第二傳感件連接,所述檢測滑動件沿橫向滑動,并帶動所述第一傳感件和所述第二傳感件沿橫向滑動。