金屬管折彎裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機(jī)械加工設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及用于金屬管件的折彎設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場(chǎng)上出現(xiàn)的部分小型折彎機(jī)，由于其設(shè)備成本低、能基本滿足加工要求而得到了廣泛應(yīng)用，其能實(shí)現(xiàn)金屬管件的簡易折彎加工，但其存在以下缺點(diǎn):金屬管件折彎后通過肉眼檢查折彎處是否存在較大的裂紋，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)判斷是否符合要求，從而加工的次品率較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本申請(qǐng)人針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點(diǎn)，進(jìn)行研究和改進(jìn)，提供一種金屬管折彎裝置，其具有結(jié)構(gòu)簡單、加工可靠、成品質(zhì)量高的特點(diǎn)。
[0004]為了解決上述問題，本發(fā)明采用如下方案:
[0005]—種金屬管折彎裝置，包括折彎支撐座、折彎頭及驅(qū)動(dòng)折彎頭的折彎電機(jī)，折彎支撐座上固定管件，所述折彎支撐座上通過支架安裝有超聲波裂紋探測(cè)頭，超聲波裂紋探測(cè)頭的探測(cè)端朝向管件的折彎處外側(cè)，超聲波裂紋探測(cè)頭通過控制器與顯示中心連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過控制器傳送至顯示中心。
[0006]本發(fā)明的技術(shù)效果在于:
[0007]本發(fā)明采用超聲波裂紋探測(cè)頭對(duì)管件的折彎處外側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)信息發(fā)送至顯示中心，無需后期額外添加檢測(cè)設(shè)備，并相比肉眼觀察，其可靠性大大提高，次品率顯著降低。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖中:1、折彎支撐座;2、折彎頭;3、折彎電機(jī);4、管件;5、支架;6、超聲波裂紋探測(cè)頭;7、顯不中;匕、ο
【具體實(shí)施方式】
[0010]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步說明。
[0011]如圖1所示，本實(shí)施例的金屬管折彎裝置，包括折彎支撐座1、折彎頭2及驅(qū)動(dòng)折彎頭2的折彎電機(jī)3，折彎支撐座I上固定管件4，折彎支撐座I上通過支架5安裝有超聲波裂紋探測(cè)頭6，超聲波裂紋探測(cè)頭6的探測(cè)端朝向管件4的折彎處外側(cè)，超聲波裂紋探測(cè)頭6通過控制器與顯示中心7連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過控制器傳送至顯示中心7。
[0012]本發(fā)明采用超聲波裂紋探測(cè)頭6對(duì)管件4的折彎處外側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)信息發(fā)送至顯示中心，無需后期額外添加檢測(cè)設(shè)備，并相比肉眼觀察，其可靠性大大提高，次品率顯著降低。
[0013]以上所舉實(shí)施例為本發(fā)明的較佳實(shí)施方式，僅用來方便說明本發(fā)明，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者，若在不脫離本發(fā)明所提技術(shù)特征的范圍內(nèi)，利用本發(fā)明所揭示技術(shù)內(nèi)容所作出局部改動(dòng)或修飾的等效實(shí)施例，并且未脫離本發(fā)明的技術(shù)特征內(nèi)容，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)特征的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種金屬管折彎裝置，包括折彎支撐座(I)、折彎頭(2)及驅(qū)動(dòng)折彎頭(2)的折彎電機(jī)(3)，折彎支撐座(I)上固定管件(4)，其特征在于:所述折彎支撐座(I)上通過支架(5)安裝有超聲波裂紋探測(cè)頭(6)，超聲波裂紋探測(cè)頭(6)的探測(cè)端朝向管件(4)的折彎處外側(cè)，超聲波裂紋探測(cè)頭(6)通過控制器與顯示中心(7)連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過控制器傳送至顯示中心(7)。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種金屬管折彎裝置，包括折彎支撐座、折彎頭及驅(qū)動(dòng)折彎頭的折彎電機(jī)，折彎支撐座上固定管件，所述折彎支撐座上通過支架安裝有超聲波裂紋探測(cè)頭，超聲波裂紋探測(cè)頭的探測(cè)端朝向管件的折彎處外側(cè)，超聲波裂紋探測(cè)頭通過控制器與顯示中心連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過控制器傳送至顯示中心。本發(fā)明采用超聲波裂紋探測(cè)頭對(duì)管件的折彎處外側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)信息發(fā)送至顯示中心，無需后期額外添加檢測(cè)設(shè)備，并相比肉眼觀察，其可靠性大大提高，次品率顯著降低。
【IPC分類】B21D7/16, B21C51/00
【公開號(hào)】CN105499340
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510848651
【發(fā)明人】譚華
【申請(qǐng)人】譚華
【公開日】2016年4月20日
【申請(qǐng)日】2015年11月28日