本發(fā)明涉及電池片刻蝕技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種可降低nox排放的太陽(yáng)能電池片刻蝕工藝。
背景技術(shù):
電池片擴(kuò)散工藝采取的是兩片電池片背靠背單面擴(kuò)散技術(shù),擴(kuò)散后的硅片上表面以及邊緣均會(huì)擴(kuò)散上磷原子,形成pn結(jié),在光照作用下即可形成光伏效應(yīng)。但其產(chǎn)生的電子會(huì)沿著邊緣pn結(jié)傳導(dǎo)至電池片下表面造成電池片短路。因此,太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)的另一個(gè)重要工序--刻蝕,其主要目的是去除電池片邊緣pn結(jié),避免電池片漏電失效。
濕法刻蝕工藝的原理是,硅片通過(guò)滾輪支撐和傳導(dǎo),漂浮在刻蝕槽液上前進(jìn),電池片有pn結(jié)一面朝上,僅下表面及邊緣沾附含有硝酸、氫氟酸的藥液,邊緣的pn會(huì)隨著酸液腐蝕而被剝離去除,達(dá)到刻蝕的目的。
現(xiàn)有技術(shù)中,刻蝕工藝存在以下兩點(diǎn)較為明顯的缺陷:1、由于擴(kuò)散后的硅片表面親水,邊緣接觸酸液的同時(shí)由于張力作用,酸液會(huì)被吸附擴(kuò)散至硅片上表面,電池片上表面周邊會(huì)形成一圈刻蝕線,對(duì)硅片的外觀以及效率造成負(fù)面影響;
2、為了達(dá)到良好的刻蝕效果,優(yōu)化刻蝕線,傳統(tǒng)的刻蝕配方會(huì)增大硝酸比例,一般體積比hf:hno3=1:5,而且刻蝕硝酸產(chǎn)物nox污染環(huán)境,且產(chǎn)物nox的處理成本較高,為了保護(hù)環(huán)境同時(shí)降低公司運(yùn)營(yíng)成本,有必要進(jìn)行降低硝酸使用量的研究。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種可降低nox排放的太陽(yáng)能電池片刻蝕工藝,以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
一種可降低nox排放的太陽(yáng)能電池片刻蝕工藝,包括以下步驟:
步驟1:在待刻蝕硅片的上表面均勻附著去離子水,形成水膜;
步驟2:調(diào)整刻蝕槽內(nèi)滾輪的平整度,使刻蝕槽內(nèi)所有滾輪保持絕對(duì)水平;
步驟3:向刻蝕槽內(nèi)加入優(yōu)化刻蝕液;
步驟4:將待刻蝕硅片放入刻蝕槽內(nèi)進(jìn)行刻蝕。
優(yōu)選的,步驟3中的優(yōu)化刻蝕液由硝酸與氫氟酸按照體積比2.8:1~3.2:1進(jìn)行配比制成。
優(yōu)選的,步驟1中的水膜應(yīng)均勻覆蓋于待刻蝕硅片的上表面,不能有邊角未覆蓋和破水現(xiàn)象。
優(yōu)選的,硝酸的濃度為69%、相對(duì)水的密度為1.4;
氫氟酸的濃度為49%、相對(duì)水的密度為1.57。
優(yōu)選的,步驟4放置待刻蝕硅片時(shí),將待刻蝕硅片的下表面朝向刻蝕槽底部緩慢放置在優(yōu)化刻蝕液液面上。
優(yōu)選的,步驟1至步驟4中,待刻蝕硅片始終保持水平。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:
本發(fā)明通過(guò)在硅片上表面形成有一層去離子水膜,可以很好的實(shí)現(xiàn)隔絕刻蝕酸液由邊緣擴(kuò)散到硅片上表面的作用,能夠防止電池片上表面周邊形成刻蝕線,從而減輕對(duì)硅片的外觀以及效率造成的負(fù)面影響;而且當(dāng)刻蝕酸液無(wú)法擴(kuò)散到硅片上表面后,也就減少了刻蝕液的浪費(fèi),從而使得刻蝕液的用量大大減小,配合著優(yōu)化體積配比后的硝酸和氫氟酸混合溶液,能夠很好的減少硝酸的用量,從原來(lái)的hno3:hf=5:1減小為hno3:hf=2.8:1~3.2:1,從而大大降低nox的排放量,在保證電池片效率和刻蝕效果的前提下,可以實(shí)現(xiàn)保護(hù)環(huán)境以及減小nox處理成本的效果。
具體實(shí)施方式
下面將對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
實(shí)施例:
本發(fā)明提供一種技術(shù)方案:
一種可降低nox排放的太陽(yáng)能電池片刻蝕工藝,包括以下步驟:
步驟1:在待刻蝕硅片的上表面均勻附著去離子水,形成水膜;
將去離子水均勻的附著在待刻蝕硅片的上表面,然后靜置30秒,使其上表面形成一層去離子水膜,而且水膜應(yīng)完全均勻的覆蓋于待刻蝕硅片的上表面,不能有邊角未覆蓋以及破水現(xiàn)象的發(fā)生,以防止在刻蝕時(shí)造成水膜突然破裂。
步驟2:調(diào)整刻蝕槽內(nèi)滾輪的平整度,使刻蝕槽內(nèi)所有滾輪保持絕對(duì)水平;
事先對(duì)刻蝕機(jī)器的刻蝕槽進(jìn)行調(diào)整,將用來(lái)起到支撐和傳導(dǎo)作用的滾輪進(jìn)行調(diào)整,使得滾輪與地面保持絕對(duì)的水平,避免硅片上表面的去離子水膜因?yàn)闈L輪的傾斜造成破碎,從而使去離子水流入刻蝕槽內(nèi),對(duì)槽內(nèi)的刻蝕液進(jìn)行稀釋,這樣會(huì)直接導(dǎo)致刻蝕液耗用量的上升。
步驟3:向刻蝕槽內(nèi)加入優(yōu)化刻蝕液;
將刻蝕槽內(nèi)的滾輪調(diào)整完畢后,首先進(jìn)行優(yōu)化刻蝕液的配比制作,原有的刻蝕液中硝酸與氫氟酸體積比為5:1,按照刻蝕反應(yīng)過(guò)程的化學(xué)方程式,3si+4hno3+18hf=3h2[sif6]+4no2↑+8h2o,按照以上方程式進(jìn)行計(jì)算,理論上需要的硝酸和氫氟酸的體積比為0.56:1,而老工藝實(shí)際比值為5,理論上存在較大降低硝酸的空間,所以我們對(duì)刻蝕液進(jìn)行優(yōu)化;
但是為了保證電池片效率和刻蝕效果,優(yōu)化后的刻蝕液中硝酸與氫氟酸體積比定為3.1:1,而且采用工業(yè)上最常見濃度、密度的硝酸和氫氟酸進(jìn)行制作,即濃度為69%、相對(duì)水的密度為1.4的硝酸以及濃度為49%、相對(duì)水的密度為1.57的氫氟酸進(jìn)行配比,制成優(yōu)化后的刻蝕液后,向刻蝕槽內(nèi)加入此優(yōu)化后的刻蝕液,使刻蝕液的液面高度剛剛高過(guò)滾輪的高度。
步驟4:將待刻蝕硅片放入刻蝕槽內(nèi)進(jìn)行刻蝕;
當(dāng)優(yōu)化后的刻蝕液添加完畢后,向刻蝕槽內(nèi)放置待刻蝕硅片,在放置待刻蝕硅片時(shí),將待刻蝕硅片的下表面朝向刻蝕槽底部緩慢放置在優(yōu)化刻蝕液液面上,緩慢的放置可以很好的防止在放置時(shí)對(duì)刻蝕液沖擊力過(guò)大,導(dǎo)致刻蝕液被濺起,掉落到硅片的上表面上;
而且放置時(shí)不能將硅片向刻蝕液液面下方按壓,防止液面漫過(guò)硅片的上表面,對(duì)硅片上表面造成刻蝕,造成對(duì)硅片的外觀以及效率的負(fù)面影響。
在本發(fā)明的刻蝕工藝的步驟1至步驟4中,對(duì)待刻蝕硅片應(yīng)該始終保持水平,全程都必須防止在移動(dòng)待刻蝕硅片時(shí)造成硅片的傾斜,因?yàn)楣杵绻麅A斜,硅片上表面的去離子水膜會(huì)因?yàn)橹亓σ蛩貙?dǎo)致破碎,從而使得水膜不再對(duì)刻蝕工藝中的刻蝕液起到阻擋作用,進(jìn)而導(dǎo)致刻蝕液對(duì)硅片上表面造成損壞。
刻蝕工藝對(duì)比:
在保證電池片效率和刻蝕效果的前提下,使用原有工藝以及本發(fā)明實(shí)施例中的工藝對(duì)160000片待刻蝕硅片進(jìn)行刻蝕,對(duì)比結(jié)果如下表1所示:
表1
通過(guò)對(duì)表1中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,能夠發(fā)現(xiàn)本發(fā)明工藝在對(duì)160000片硅片進(jìn)行刻蝕時(shí),硝酸用量為232.73l,相比較原有工藝中363.64l的硝酸用量,酸耗減幅比達(dá)到36.00%,很好的實(shí)現(xiàn)了減少硝酸使用量的目的,從而可以有效的降低硝酸產(chǎn)物nox的排放量,大大降低了nox的處理成本,還保護(hù)了環(huán)境。
盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。