本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件制造領(lǐng)域,尤其涉及一種陶瓷覆銅基板及其制備方法和半導(dǎo)體器件。
背景技術(shù):
1、陶瓷覆銅基板具有熱導(dǎo)率高、介電常數(shù)小的優(yōu)勢,已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件;陶瓷覆銅基板通常采用銅箔與陶瓷基材通過直接敷銅法(dbc、direct?bonded?copper)制成。為了實(shí)現(xiàn)銅箔與陶瓷基板的緊密結(jié)合,以及解決銅材與陶瓷基板結(jié)合后熱膨脹系數(shù)不匹配的問題,銅箔與陶瓷基板之間需要形成一層銅氧尖晶石結(jié)構(gòu)化合物,這就導(dǎo)致需要在銅箔與陶瓷基板之間引入氧。
2、目前,傳統(tǒng)工藝中通過對銅箔采用干法氧化方式或濕法氧化方式,在銅箔表面形成cu2o層,cu2o層在高溫下與al2o3反應(yīng)生成cualo2尖晶石化合物,這層尖晶石合物能夠緊密貼合銅箔與陶瓷基板,解決銅箔與陶瓷基板熱膨脹系數(shù)不匹配的問題;其中,干法氧化普遍將銅箔在低氧分壓環(huán)境下使其表面受熱生成一層薄的cu2o,然而這種方式很難調(diào)控cu2o層的均勻性及厚度,并且需要嚴(yán)格控制氧分壓,工藝成本較大;而濕法氧化方式普遍涉及kmno4、na2s2o8、k2s2o8等強(qiáng)氧化劑,不符合綠色環(huán)保的發(fā)展原則,極易對生產(chǎn)環(huán)境造成污染,不利于操作人員健康;此外,無論是采用干法氧化還是濕法氧化,均容易在cu2o層內(nèi)形成cuo雜相,導(dǎo)致銅箔與陶瓷基板敷接鍵合時生成cual2o4尖晶石結(jié)構(gòu)化合物而降低敷接鍵合質(zhì)量,致使陶瓷覆銅基板的可靠性較差。
3、針對上述,特提出本發(fā)明。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請?zhí)峁┮环N陶瓷覆銅基板及其制備方法和半導(dǎo)體器件,旨在解決上述的問題或者至少緩解上述現(xiàn)有技術(shù)中所存在的缺陷。
2、本申請的第一方面提供一種陶瓷覆銅基板的制備方法,包括:
3、將五水硫酸銅溶解于乳酸鈉溶液得到混合溶液,向混合溶液中加入液堿調(diào)節(jié)至預(yù)設(shè)ph值,得到沉積液;
4、對銅箔進(jìn)行表面處理,將表面處理后的銅箔置入沉積液內(nèi)、并在0.4-1ma/cm2電流密度下對表面處理后的銅箔進(jìn)行直流電化學(xué)沉積處理,以得到表面形成有純相cu2o氧化層的濕法氧化后銅箔;
5、將濕法氧化后銅箔與陶瓷基板相貼合并進(jìn)行高溫敷接,得到陶瓷覆銅基板。
6、本申請通過對陶瓷覆銅基板的制備方法進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),采用五水硫酸銅、乳酸鈉溶液及液堿制成的溶液作為電化學(xué)沉積處理時的沉積液,五水硫酸銅作為主鹽,能夠?yàn)榧兿郼u2o氧化層的形成提供銅離子,乳酸鈉作為絡(luò)合劑能夠起到絡(luò)合作用,防止沉積液體系ph升高過程中的銅離子沉淀,液堿能夠提供為電化學(xué)沉積處理過程中陰極發(fā)生的還原反應(yīng)提供氫氧根離子,以利于濕法氧化后銅箔表面形成純相cu2o氧化層;應(yīng)強(qiáng)調(diào)的是,本申請?jiān)?.4-1ma/cm2電流密度下對銅箔進(jìn)行直流電化學(xué)沉積處理,電化學(xué)沉積處理電流密度大于1ma/cm2會導(dǎo)致沉積產(chǎn)物轉(zhuǎn)變?yōu)閏uo,導(dǎo)致cu2o氧化層中出現(xiàn)雜相,而電流密度小于0.4ma/cm2會導(dǎo)致形成的cu2o氧化層均勻性較差,且沉積速率較低;通過電流密度控制在0.4-1ma/cm2范圍內(nèi),能夠綜合控制cu2o氧化層的純度與形貌,進(jìn)而有效提高濕法氧化后銅箔與陶瓷基板結(jié)合時的敷接鍵合質(zhì)量,促使陶瓷覆銅基板的可靠性顯著提高。
7、由此,本申請采用濕法結(jié)合電化學(xué)沉積的方式,沉積液所用試劑價格低廉,工藝操作簡單,不需進(jìn)行控制氧分壓等復(fù)雜流程,工藝成本明顯降低;同時,五水硫酸銅、乳酸鈉及液堿均不具備強(qiáng)氧化性和腐蝕性,配方更為環(huán)保,以符合綠色環(huán)保的發(fā)展原則,避免對生產(chǎn)環(huán)境造成污染,有效地保護(hù)了操作人員健康;相比于傳統(tǒng)干法氧化方式或濕法氧化方式而言,本申請銅箔與陶瓷基板之間形成的氧化產(chǎn)物為純相的cu2o氧化層,不會產(chǎn)生cuo雜質(zhì),成膜穩(wěn)定可靠,以避免銅箔與陶瓷基板敷接鍵合時生成cual2o4尖晶石結(jié)構(gòu)而降低敷接鍵合質(zhì)量。
8、一些實(shí)施方式中,上述制備方法滿足以下條件中的至少一者:
9、(1)沉積液內(nèi)的五水硫酸銅濃度為40-120g/l;沉積液內(nèi)的乳酸鈉濃度為300-400g/l;沉積液的ph為9-12;
10、(2)液堿為氫氧化鈉;
11、(3)銅箔為無氧銅,厚度為0.2-0.4mm;
12、(4)陶瓷基板為al2o3陶瓷基板、aln陶瓷基板、zta陶瓷基板中的任一種,陶瓷基板的厚度為0.3mm-0.4mm;
13、(5)將五水硫酸銅溶解于乳酸鈉溶液在磁力攪拌下進(jìn)行,攪拌轉(zhuǎn)速為550-650r/min,溫度為50-70℃;
14、(6)高溫敷接在氮?dú)夥諊逻M(jìn)行,敷接溫度為1065-1083℃,敷接時間為10-20min。
15、一些實(shí)施方式中,電化學(xué)沉積處理中的陽極為304不銹鋼,陰極為表面處理后的銅箔,且電極之間的間距控制為15mm,電流由恒流源提供。
16、一些實(shí)施方式中,電化學(xué)沉積處理在沉積溫度為50-70℃的條件下進(jìn)行,沉積時間為20-30分鐘;電化學(xué)沉積處理在磁力攪拌下進(jìn)行。
17、一些實(shí)施方式中,純相cu2o氧化層表面上的顆粒呈片狀緊密排布、且分布均勻;純相cu2o氧化層的厚度為5μm-10μm。
18、一些實(shí)施方式中,對銅箔進(jìn)行表面處理滿足以下條件中的至少一者:
19、a、去除銅箔表面油污與氧化膜;
20、b、向銅箔非敷接面貼覆絕緣膠帶。
21、一些實(shí)施方式中,去除銅箔表面油污與氧化膜具體包括:將銅箔浸入除油液中進(jìn)行超聲波清洗處理得到去油后銅箔,將去油后銅箔用去離子水洗凈后再浸入鹽酸溶液內(nèi)進(jìn)行超聲波清洗處理,得到表面處理后的銅箔。
22、一些實(shí)施方式中,將濕法氧化后銅箔與陶瓷基板相貼合并進(jìn)行高溫敷接之前還包括,去除濕法氧化后銅箔上的絕緣膠帶并進(jìn)行離子水沖洗,隨后將經(jīng)過離子水沖洗后的濕法氧化后銅箔置入乙醇中進(jìn)行超聲波清洗處理。
23、本申請的第二方面提供一種陶瓷覆銅基板,采用如上述的制備方法制備得到。
24、本申請的第三方面提供一種半導(dǎo)體器件,包括如上述的陶瓷覆銅基板或陶瓷覆銅基板制成的電子元件。
1.一種陶瓷覆銅基板的制備方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法滿足以下條件中的至少一者:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述電化學(xué)沉積處理中的陽極為304不銹鋼,陰極為所述表面處理后的銅箔,且電極之間的間距控制為15mm,電流由恒流源提供。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述電化學(xué)沉積處理在沉積溫度為50-70℃的條件下進(jìn)行,沉積時間為20-30分鐘;所述電化學(xué)沉積處理在磁力攪拌下進(jìn)行。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述純相cu2o氧化層表面上的顆粒呈片狀緊密排布、且分布均勻;
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述對銅箔進(jìn)行表面處理滿足以下條件中的至少一者:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述去除銅箔表面油污與氧化膜具體包括:將銅箔浸入除油液中進(jìn)行超聲波清洗處理得到去油后銅箔,將所述去油后銅箔用去離子水洗凈后再浸入鹽酸溶液內(nèi)進(jìn)行超聲波清洗處理,得到表面處理后的銅箔。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述將所述濕法氧化后銅箔與陶瓷基板相貼合并進(jìn)行高溫敷接之前還包括,去除所述濕法氧化后銅箔上的絕緣膠帶并進(jìn)行離子水沖洗,隨后將經(jīng)過所述離子水沖洗后的濕法氧化后銅箔置入乙醇中進(jìn)行超聲波清洗處理。
9.一種陶瓷覆銅基板,其特征在于,采用權(quán)利要求1~8任一項(xiàng)所述的制備方法制備得到。
10.一種半導(dǎo)體器件,其特征在于,包括如權(quán)利要求9所述的陶瓷覆銅基板或所述陶瓷覆銅基板制成的電子元件。