技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
公開了用于在針對每種靶核酸使用單獨(dú)檢測標(biāo)記的單個孔中通過計算相對于第二靶核酸和第三靶核酸的平均豐度(S)的第一靶核酸的豐度(T)來確定第一靶核酸的平均長度或豐度的方法和組合物。在各個方面，第一靶核酸為端粒。在示例性方面，所公開的方法和組合物可用于確定生物樣品的平均端粒長度。使用所公開的方法和組合物確定的平均端粒長度可以與多種臨床上重要的病狀和指標(biāo)相關(guān)聯(lián)。本摘要意欲作為搜索工具以在特定領(lǐng)域進(jìn)行檢索，而并不意欲限制本發(fā)明。

技術(shù)研發(fā)人員：C·哈利;J·林;K·蓋格勒
受保護(hù)的技術(shù)使用者：端粒診斷公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.22
技術(shù)公布日：2017.09.26