、抗靜電添加劑、助擠 劑、有色顏料或其組合。
[0060]再次參考圖1，在某些實施方案中，絕緣材料可W具有任何所需的厚度T。在特 定實施方案中，絕緣材料可W具有至少約0. 0005英寸、至少約0. 001英寸、或甚至至少約 0.0015英寸的平均（標稱）厚度T。在其它實施方案中，絕緣材料可W具有不大于約0.005 英寸、不大于約0. 004英寸、不大于約0. 003英寸、或甚至不大于約0. 0025英寸的平均（標 稱）厚度T。在其它實施方案中，絕緣材料可W具有在上文所提供的任何最小值和最大值的 范圍內(nèi)的平均（標稱）厚度T，諸如在約0. 0005英寸至約0. 004英寸、或甚至約0. 0015英 寸至約0. 0025英寸的范圍內(nèi)。
[0061] 在某些實施方案中，絕緣材料可W具有有利的對比率，并且特別是有利的初始對 比率與有利的熱老化對比率。對比率是絕緣本底和標記的發(fā)光相較于絕緣本底的亮度的差 異的量度。對比率是本領(lǐng)域中充分了解的量度。如本文所用的對比率可W根據(jù)W下等式來 確定：
[0062]C= [ (U-LJ/LJX100 %
[0063] 其中C表示對比率，Lb表示本底材料的亮度，并且Lm表示標記的亮度。在上述等 式中，發(fā)光被定義為"從表面反射的可見光的定量測量"。亮度是用校準過的電光度計來測 定，運個電光度計合并有明視濾光片W模擬人眼的反應。
[0064] 對比率樣品測試構(gòu)推1
[0065] 如本文所用的短語"對比率樣品測試構(gòu)造1"指的是依照SAEAS4373D絕緣電線測 試方法-方法 1001 電線標記對比（TestMethodsforInsulatedElectricWire-Method 1001，WireMarkingContrast)中所規(guī)定的要求在模型構(gòu)造上進行的對比測量。制備具有 介于0. 01英寸與0. 6英寸之間的恒定直徑的柔性或半剛性的細長圓柱形樣品。在某些實 施方案中，進行DSC分析W確保燒結(jié)的絕緣體滿足SAEAS4373方法813或EN3475-414的 要求。在特定實施方案中，進行DSC分析W確保在第一次加熱與第二次加熱之間烙融的能 量差小于3焦耳/克。
[0066] 然后使用SpectrumTechnologiesCMSCAPRIS50-100激光標記系統(tǒng)來標記樣 品，運個系統(tǒng)采用注量為0. 9J'em2的固態(tài)Longbow?UVNd:YAG激光（355nm)。使用也是 由SpectrumTechnologies,Inc.制造的CMS2對比測量系統(tǒng)來測量實點符號（?）的對 比率。
[0067] 如上文所提供，本文所描述的絕緣材料可W具有有利的初始對比率。在某些實施 方案中，絕緣材料可W具有如根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1測量的至少約55%、至少約57%、 至少約60%、至少61 %、至少約62%、至少約63%、至少約64%、至少約65%、至少約66%、 至少約67%、至少約68 %、至少約69 %、至少約70 %、至少約71 %、至少約72%、至少約 73%、至少約74%、或甚至至少約75%的初始對比率。在其它實施方案中，絕緣材料可W具有如根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1測量的不大于約99%、不大于約90%、或甚至不大于約 85%的初始對比率。在其它實施方案中，絕緣材料可W具有在上文所提供的任何最小值和 最大值的范圍內(nèi)的初始對比率，諸如在如根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1測量的約55%至約 99%、約60%至約99%、約65%至約90%、或甚至約70%至約90%的范圍內(nèi)。
[0068] 如上文所提供，本文所描述的絕緣材料可W具有有利的熱老化對比率。如本文所 用的熱老化對比率指的是如上文所概述并且對已經(jīng)在260°C至310°C范圍內(nèi)的溫度下熱老 化168小時的樣品所測試的對比率。在某些實施方案中，絕緣材料可W具有如根據(jù)對比率 樣品測試構(gòu)造1測量的至少約40%、至少約41 %、至少約42%、至少約43%、至少約44%、 至少約45%、至少約46 %、至少約47 %、至少約48 %、至少約49 %、至少約50%、至少約 51 %、至少約52%、至少約53%、至少約54%、至少約55%、至少約56%、至少約57%、至少 約58 %、至少約59 %、或甚至至少約60 %的熱老化對比率。在其它實施方案中，絕緣材料可 W具有如根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1測量的不大于約99%、不大于約90%、或甚至不大于 約85%的熱老化對比率。在其它實施方案中，絕緣材料可W具有在上文所提供的任何最小 值和最大值的范圍內(nèi)的熱老化對比率，諸如在如根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1測量的約40% 至約99%、約45%至約90%、或甚至約50%至約90%的范圍內(nèi)。
[0069] 如本文獻通篇所描述，本發(fā)明者驚訝地發(fā)現(xiàn)盡管不存在產(chǎn)生焦化的、可熱解的有 機協(xié)同劑，但仍產(chǎn)生具有改進的初始和熱老化對比率的絕緣材料的簡單協(xié)同方式，運種絕 緣材料也滿足抗電弧起痕和傳播性的工業(yè)要求。因此，在某些實施方案中，絕緣材料可W基 本上不含產(chǎn)生焦化的、可熱解的有機協(xié)同劑。
[0070] 現(xiàn)在參考圖2,本公開的另一個方面針對電纜或電線組合件50,其含有上文所描 述的絕緣材料10的一個實施方案。舉例來說，如圖2中圖解，電纜或電線組合件50可W包 括傳輸構(gòu)件60W及適于整體上保護傳輸構(gòu)件和電纜或電線組合件50的多個絕緣構(gòu)件10、 70。應了解，激光可標記的絕緣材料10可W含有本文所描述的激光可標記的絕緣材料的任 何實施方案。
[0071] 絕緣構(gòu)件70可W是本領(lǐng)域中所需的任何絕緣材料。舉例來說，絕緣構(gòu)件70可W 含有復合膜。在極特定的實施方案中，絕緣構(gòu)件70可W含有由聚酷亞胺層和含氣聚合物層 組成的復合體。在極特定的實施方案中，絕緣構(gòu)件70可W被著色W改進激光可標記的絕緣 材料10的本底發(fā)光。
[0072] 電纜或電線組合件50可W進一步含有適用于特定應用并且如本領(lǐng)域中所了解的 任何額外層。
[0073] 如上文所論述，絕緣材料可W具有有利的對比率。在運方面，含有絕緣材料的電 纜或電線組合件也可W具有有利的對比率，特別是有利的初始對比率和有利的熱老化對比 率。運樣的話，在某些實施方案中，除了根據(jù)下文所描述的對比率測試中的任一者所測量的 之外，電線或電纜組合件可W具有上文關(guān)于絕緣材料所列的初始和/或熱老化對比率值中 的任一者。用于測量已經(jīng)并入電線組合件中的激光標記的絕緣材料（即，膠帶）的對比率 的標準化過程可W根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1、對比率樣品測試構(gòu)造2、對比率樣品測試構(gòu) 造3、對比率樣品測試構(gòu)造4和/或?qū)Ρ嚷蕵悠窚y試構(gòu)造5中任一者的指南來進行。
[0074]對比率樣品測試構(gòu)推2
[00巧]根據(jù)對比率樣品測試構(gòu)造1的指南來制備和分析樣品。具體地說，將未著色的2. 0 密耳厚的可熱密封含氣聚合物（0. 5密耳）/聚酷亞胺（1. 0密耳）/含氣聚合物（0. 5密耳） 復合膠帶化 25 英寸寬），諸如可購自Saint-GobainPerformancePlasticsColoration 的F!l]Orc_八\Tap?DF1020NAT，使用約53%的重疊率成螺旋形地纏繞在直徑為1.5毫米 的12英寸長的不誘鋼棒上。將2. 0密耳厚的激光可標記的絕緣材料切成0. 25英寸的寬 度，并且使用約53%的重疊率W223克的負荷成螺旋形地纏繞在聚酷亞胺復合層上。然后 在對流烘箱中在388°C下燒結(jié)絕緣材料纏繞的棒5分鐘。
[0076]對比率樣品測試構(gòu)推3
[0077] 除了聚酷亞胺復合體中的一個或多個含氣聚合物層含有Ti化顏料之外，對比率樣 品測試構(gòu)造3與對比率樣品測試構(gòu)造2相同。舉例來說，在本文所描述的對比率測試3中， 可W將激光可標記的絕緣材料纏繞在著色的聚酷亞胺復合體，諸如可購自Saint-Gobain PerformancePlasticsCo巧oration的HuOPOW巧P駁;DF2919WHT上。
[0078]對比率樣品測試構(gòu)推4
[0079] 除了使用126克重量代替223克重量之外，對比率樣品測試構(gòu)造5與對比率樣品 測試構(gòu)造2相同。
[0080]對比率樣品測試構(gòu)推5
[0081] 除了樣品構(gòu)造不含聚酷亞胺復合層，并且使用126克負荷將激光可標記的絕緣材 料成螺旋形地直接纏繞在1. 5mm不誘鋼棒上之外，對比率樣品測試構(gòu)造5與對比率樣品測 試構(gòu)造4相同。
[0082] 在某些實施方案中，用激光可標記的絕緣材料絕緣的電線或電纜組合件當依照對 比率測試2至5測量時可W由上文所列的初始和/或熱老化對比率中的任一者來表征。
[0083] 含有本文所描述的絕緣材料的電纜或電線還可W具有有利的抗電弧起痕和傳播 性。為了評估本文所描述的絕緣材料配方對電線或電纜組合件的抗電弧起痕和傳播性的正 向影響，可W建構(gòu)和比較絕緣電線的樣品構(gòu)造。下文描述了可W用于測試燒結(jié)的激光可標 記的絕緣體防止電線或電纜組合件中的電弧起痕和傳播的能力的各種樣品電線構(gòu)造。
[0084]樣品由線測試構(gòu)推la巧化
[0085] 樣品電線構(gòu)造la由可獲自LeoniWireInc.的直徑介于0. 365英寸與0. 394英 寸之間的20AWG絞合（19X32AWG絞合線）儀包銅導電忍組成。2.0密耳厚的可熱密封復合 膠帶，諸如可購自E.I.DuF*ontde化moursandCompany的DuF*ont?OasisTM200TRT515， 其由被兩個0. 5密耳含氣聚合物層包圍的1. 0密耳聚酷亞胺層組成，W約53%的重疊率成 螺旋形地纏繞在儀包銅導電忍周圍。將2. 0密耳厚的激光可標記的絕緣材料W約53%的 重疊率成螺旋形地纏繞在可密封復合膠帶上。使用雙同屯、包帶頭纏繞膠帶，其中光電眼包 裝直徑傳感器控制向磁滯制動器供給的電壓W隨著包裝直徑減小而降低制動轉(zhuǎn)矩，從而維 持恒定的纏繞張力。然后在由兩個約六英尺長的Glen;ro(Paterson，NJ) "Radaround"福射 過程加熱器組成的雙區(qū)垂直IR烘箱中燒結(jié)電線，其中兩個區(qū)都在593°C下操作。將電線W 50英尺/分鐘的速率牽引通過烘箱。進行DSC分析W確保燒結(jié)的絕緣體滿足SAEAS4373 4. 8. 13方法813和EN3475-414的要求，并且在第一次加熱與第二次加熱之間烙融的能量 差小于3焦耳/克。
[0086] 除了導電忍是22AWG儀包銅導體之外，樣品電線構(gòu)造化與樣品電線測試構(gòu)造la 完全相同。
[0087]樣品由線測試構(gòu)推2a、2b Pi及2c
[0088] 除了樣品電線測試構(gòu)造2a中的聚酷亞胺復合體是可購自E.I.D證ontde 化moursandCompany的DuF*ontTM.Kapt餅I運;200FWR919,并且樣品電線測試構(gòu)造2b和 2c中的聚酷亞胺復合體是可購自Saint-GobainPerformancePlasticsColoration的 FlliOroWrap⑩DF2919NAT和FluoroWrap⑧DF2919WHT之夕F，樣品電線測試構(gòu)造2a和 化與樣品電線測試構(gòu)造la完全相同。DF2919NAT沒有著色，并且DF2919WHT著白色。
[0089]樣品由線測試構(gòu)推3
[0090] 除了樣品電線測試構(gòu)造3中的聚酷亞胺復合體是1. 2密耳可密封復合膠帶，諸如 可購自E.I.DuF*ontde化moursandCompany的DuF*ont?Oasis? 200TRT561，其由被0.10 密耳含氣聚合物層和0. 45含氣聚合物層包圍的0. 65密耳聚酷亞胺層組成之外，樣品電線 測試構(gòu)造3與樣品電線測試構(gòu)造la完全相同。
[0091]樣品由線測試構(gòu)推4
[0092] 除了聚酷亞胺復合體是1.2密耳可密封復合膠帶，諸如可購自E.I.D證ontde 化moursandCompany的DuF*ontTMKapl餅 1 感 120FN616，或可購自KanekaAmericas Holding,Inc.的KanekaApica!⑧ 120AF616，或可購自Saint-GobainPerformance PlasticsCo;rporation的HlSOroWrap麼120F冊16,其由被兩個0. 1密耳含氣聚合物層 包圍的1. 0密耳聚酷亞胺層組成之外，樣品電線測試構(gòu)造4與樣品電線測試構(gòu)造la完全相 同。
[0093]樣品由線測試構(gòu)推5-1牽5-4
[0094] 除了 2. 0密耳厚的激光可標記的絕緣材料W約67%的重疊率纏繞之外，樣品電線 測試構(gòu)造5-1至5-4與樣品電線測試構(gòu)造1至4中所進行的那些相同。
[00巧]樣品由線測試構(gòu)推6-1牽6-4
[0096] 除了將基于含氣聚合物的膠帶的額外層成螺旋形地纏繞在激光可標記的絕緣材 料的第一層下方之外，樣品電線測試構(gòu)造6-1至6-4與樣品電線測試構(gòu)造1至4中的那些 相同。
[0097] 如本文獻通篇所描述，本公開的某些實施方